JPH11352083A - 穀物水分測定装置 - Google Patents

穀物水分測定装置

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JPH11352083A
JPH11352083A JP14787899A JP14787899A JPH11352083A JP H11352083 A JPH11352083 A JP H11352083A JP 14787899 A JP14787899 A JP 14787899A JP 14787899 A JP14787899 A JP 14787899A JP H11352083 A JPH11352083 A JP H11352083A
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grain
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 燥機内から採取する試料穀粒に混入する塵埃
を効率よく自動的に排除し、測定の誤差を少なくする。 【解決手段】 基台6に形成した凹窩部6aに傾斜させ
て嵌挿したもので、上面を開放し、底面の傾斜上方には
一対のロール電極41,42間に試料10を落下供給す
るための試料供給口31aを、下方には塵埃排出口31
bを設けたホッパ31と、ホッパ31の中心に嵌挿した
回転軸32と、回転軸32に装着され、その回転に連れ
てホッパ31内傾斜下方から傾斜上方へと試料穀粒10
を搬送する切欠き33aを周縁部に設けるとともに、試
料穀粒10の通過を阻止する程度の幅で中心から放射状
に配置した複数の細孔33bを有する搬送プレート33
と、回転軸32に固定し、ホッパ31の上面を覆う形状
でその一部に試料穀粒10を受け入れるための開口34
aを設けたシャッタ板34とを具備した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、穀粒水分測定装
置に係り、特に一対のロール電極間で試料穀粒を一粒毎
に圧砕し、その際試料を介在させた状態での両電極間の
電気抵抗を検出して試料穀粒の水分を測定するものの改
良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の技術としては、本出願人の出願に
係る実開昭64−40056号公報及び実開平1−14
2854号公報に記載されたものがある。
【0003】図11〜図15により従来の技術を説明す
る。図11〜図14において、符号1で示す穀物水分測
定装置は、乾燥機の機壁2の開口2aに臨む位置に装着
するべく、試料採取部3と、この試料採取部3からの試
料供給を受けて試料を圧砕するロール電極部4と、この
ロール電極部4及び試料採取部3とをそれぞれに駆動す
る駆動機構5とからなる。
【0004】前記試料採取部3は、前記乾燥機の機壁2
に添う基台6の凹窩部6aに、試料採取用のホッパ31
を嵌挿するとともに、このホッパ31の中心に嵌挿する
回転軸32と、該回転軸32に固定してホッパ31内で
回転する搬送プレート33及び前記ホッパ31の上面を
覆うシャッタ板34とで構成する。前記ホッパ31は傾
斜して設けるとともに、その底面の上方には穀粒の供給
口3laを、下方には排出口31bを設けている。前記
回転軸32の下端には駆動力を受けるためのベベルギア
32aを設けている。又、前記搬送プレート33にはそ
の円周方向外縁に複数箇所の切欠き33aを設けて、そ
こに穀粒を一粒あて嵌合させて前記ホッパ31の底面を
支えとして周方向へ搬送する。さらに前記シャッタ板3
4には、所定角度にわたる開口34aを形成し、該シャ
ッタ板34が回転するに連れて、前記開口2aに対向す
る位置に開口34aを停止すると乾燥機内(実際には乾
燥機の搬送機構)を落下する穀粒をホッパ31内へ取り
込むことができる。
【0005】前記ロール電極部4は、基台6に対して垂
直に形成する隔壁6bに軸受け部6cにより回転自在に
支持された一の回転軸(図13の符号55)に固定され
た一方のロール電極41と、これと所定の間隙を形成し
て設けた他方のロール電極42とからなり、前記試料採
取部3の供給口31aの下方に位置して設けられる。な
お、符号43、43は各ロール電極42、42に接続し
た電極端子であり、44、45はそれぞれロール電極面
の掃除を行うための回転ブラシと固定ブラシである。
又、46は試料の落下経路に沿って試料が脇へ飛んで行
かないように設けたガイドてある。
【0006】前記駆動機構5は、前記隔壁6bの前記ロ
ール電極部4とは異なる面に設けたギア機構と、これら
に駆動力を与えるモータ51とからなる。前記モータ5
1の出力軸5laにギア5lbを固定する。又、このギ
ア5lbに歯合するギア52aを固定した回動軸52を
前記隔壁6bに回動自在に設け、かつその他端には電極
支持プレート53を回動自在に嵌挿する。
【0007】この電極支持プレート53には、さらに前
記ギア52aに歯合するギア54aを回転自在に支持す
る回転軸54を設け、その他端に前記ロール電極部4の
他方のロール電極42を固定している。さらにこの電極
支持プレート53は、前記隔壁6bに形成した突起6d
との間に掛けわたして、前記一対のロール電極41、4
2をそれぞれ接近する方向に付勢する第lのスプリング
53aに係合するとともに、基台6に設けたストッパ6
eに当接して、両電極間の間隙を調節規制する調整螺子
53bを有する。
【0008】前記ギア54aに歯合するギア55aは、
前記一方のロール電極41を固定した回転軸55の他端
に固定されている。なお、前記ギア55a及び52aに
歯合するギア56aは、隔壁6bに回転自在に支持され
た回転軸56に固定され、その他端に固定されたべベル
ギア56bを介して、前記試料採取部3の回転軸32の
下端のべベルギア32aに動力を伝達し、前記搬送プレ
ート33及び前記シャッタ板34を回転させる。
【0009】そして、符号57は、前記ギア56aに形
成したカム56bによって作動するリミットスイッチて
あり、所定のシーケンスによって作動する水分測定の停
止制御を行うものである。加えて、図15に示すよう
に、試料穀粒が大粒であるときに、試料を押えて両ロー
ル電極41、42間に噛み込み易くするため、カム7及
ひ第2のスプリング8によって作動する押し込み部材9
を設けた試料押圧機構を設けている。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記の構成
になる穀物水分測定装置には次のような問題点があっ
た。即ち、ア、採取した試料穀粒に塵埃が混入している
ときは、前記搬送プレートの切欠きで穀粒以外の塵埃を
試料として供給することが生じ、それが両電極間に落下
して、測定精度を低下させる原因ともなっていた。又、
その精度の低下した測定値を一定の基準に基づいて、除
外するようにすれば、さらに測定回数を増やして測定を
行うので、測定時間が長くなるという不都合が生じる。
イ、前記試料採取部において、時に試料が搬送プレート
の切欠きから完全に排除されないで、ホッパの周囲壁と
で穀粒を挟み込んで、搬送プレートがロックして回転で
きなくなる不都合が生じることがあった。あるいは、そ
の残粒が次回の測定時に試料として混入する不都合が生
じていた。
【0011】そこで、この出願の発明は、上記不都合を
解消するために、次のような目的を有する。即ち、乾燥
機内から採取する試料穀粒に混入する塵埃を効率よく自
動的に排除し、もって測定の誤差を少なくした穀物水分
測定装置を提供することにあり、又、試料穀粒が搬送プ
レートによって確実に搬送されることはもちろん、その
穀粒が確実に排除されて、該搬送プレートの回転がロッ
クしたり、前回の試料が次の測定時に混入して精度を低
下させることのない穀物水分測定装置を提供することに
ある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達するため、
この出願の第1の発明は、基台に設けた一対のロール電
極間にて試料穀粒を一粒毎に圧砕し、該ロール電極間に
生じた電気抵抗値を検出して試料穀粒の水分値を測定す
るものにおいて、前記基台に形成した凹窩部に傾斜させ
て嵌挿したもので、上面を開放し底面の傾斜上方には前
記一対のロール電極間に試料を落下供給するための試料
供給口を、下方には塵埃排出口を設けたホッパと、前記
ホッパの中心に嵌挿した回転軸と、前記回転軸に装着さ
れ、その回転に連れてホッパ内傾斜下方から傾斜上方へ
と試料穀粒を搬送する切欠きを周縁部に設けるととも
に、試料穀粒の通過を阻止する程度の幅で中心から放射
状に配置した複数の細孔を有する搬送プレートと、前記
回転軸に固定し、前記ホッパの上面を覆う形状でその一
部に試料穀粒を受け入れるための開口を設けたシャッタ
板と、を具備したことを特徴としている。
【0013】又第2の発明は、上記第1の発明に加え
て、前記ホッパの底面であって、前記搬送プレートが回
転する方向の、前記試料供給口の前方に位置して、前記
搬送プレートの切欠きと対向する位置に設けた弾性体か
らなる突起部材と、前記ホッパの底面であって、前記搬
送プレートが回転する方向の、前記突起部材の前方にお
いて形成した穀粒の排除溝と、を設けたことを特徴とし
ている。
【0014】
【作用】この出願の発明は上記の通りの構成であるか
ら、それぞれ次のように作用する。即ち、第1の発明で
は、試料採取部のホッパからの試料穀粒の供給を行う
際、搬送プレートを回転させると、その上側にある穀粒
及び混入する塵埃は搬送プレート上面を滑り落ちること
となり、そのとき搬送プレートに形成した複数の細孔か
ら塵埃のみか落下し、さらにホッパの底面上を滑落して
塵埃排出口を経て、乾燥機内に戻されることとなり、試
料穀粒中から塵埃を分離するので、両電極間には試料と
して適切な穀粒のみが供給されることになる。従って、
毎回の測定は確実に穀粒を対象として行われ、測定精度
を向上させる。
【0015】第2の発明では、前記搬送プレートの切欠
きによって運ばれた試料穀粒が、試料供給口の上方を通
過しても何らかの理由で、例えば穀粒自体に穂切れがつ
いていたりして、落下しない場合に、前記供給口の前方
において、残留している試料穀粒を確実に排除する弾性
体からなる突起部材を設けているので、もしも切欠きに
試料穀粒がはまったままで供給口を通過しても、突起部
材によって漏れなく跳ね飛ばされることとなり、搬送プ
レートのロック現象を生ずることがなく円滑な測定が行
われると同時に、残粒が次回の測定試料に混入すること
もない。
【0016】
【発明の実施の形態】次にこの出願の発明を図示した実
施例に基づいて詳細に説明する。なお、従来例と共通す
る部分には同じ符号を付して説明を省略する。
【0017】図1〜図3において、改良した試料押圧機
構を示す。まず前記一の回転軸55に固定したロール電
極41と、他の回転軸54に固定したロール電極42と
を所定の間隙をもって対向回転するように設置する。こ
の両ロール電極41、42の間に供給された試料穀粒1
0を押し込む作用を果たす押し込み部材9を前記他の回
転軸54にロール電極42と同芯で回動可能に嵌挿す
る。
【0018】この押し込み部材9は、前記回転軸54に
装着されるボス部9aと、前記ロール電極42に電極面
42aに対してわずかな間隙(lmm以下)で対向する
円弧状の内周面9bと、さらに前記ロール電極42の周
面に沿って回動して両電極間に試料穀粒を押し込む先端
部9cと、後述のカムに当接するロール部9d及びこの
ロール部9dを装着する軸部9eとを有する構成とす
る。
【0019】一方、前記回動軸52の軸端52bには、
前記押し込み部材9の軸部9eとの間に掛けわたされた
スプリング8を係止するとともに、前記押し込み部材9
のロール部9dと当接するカム7を回動軸52に固定し
て、カム7の回転につれて前記押し込み部材9が前記回
転軸54を中心にして図の右回り方向に押戻され(図
3)、さらにカム7が回転してスブリング8の作用で図
の左回り方向に回動する如く、往復揺動自在とする。
【0020】次に図4〜図10により前記試料採取部3
の改良した構成を示す。図において、ホッパ31の中心
に支持する前記回転軸32には搬送プレート33、シャ
ッタ板34及びベベルギア32aがそれぞれ固定されて
いる。前記シャッタ板34は半円形に近い抜き穴を設け
て所定角度にわたる開口34aを形成している。又、前
記搬送プレート33は、周縁に沿って複数個の切欠き3
3a、33a、・・を形成するとともに、中心部から放
射状に延びる形状に複数の細孔33b、33b、・・を
設ける。
【0021】さらに前記ホッパ31には傾斜した上方に
位置して試料穀粒を前記電極間に供給する供給口31a
を、下方には前記搬送プレート33の細孔33bを通過
した塵埃を落下させるための塵埃排出口31bをそれぞ
れ設ける。
【0022】又、このホッパ31には、図6、図7から
明らかなように、周方向壁面に残余の穀粒を排出するた
めの開放部31cを形成する。そして、前記供給口3l
aの、前記搬送プレート33の回転前方に位置してその
切欠き33aと対向するように、図8に示す弾性体から
なる突起部材31dを設ける。この突起部材31dは、
上端が前記搬送プレート33の上面とほぼ同等の高さと
する。
【0023】さらに、この突起部材31dを設ける部分
のホッパ31の底面31eは、他の部分の底面31fよ
り若干低く形成して、弾性体である突起部材3ldを容
易に曲がりやすくする。そして、これより前記開放部3
1cに向けてはさらに一段低くして排出穀粒が流れやす
いように穀粒の排除溝31gを設ける。
【0024】次にこの出願の発明の作用について説明す
る。所定のプログラムタイマ等により起動されるモータ
51は所定時間間隔で、一度に一回から数回の測定動作
を行う。即ち、モータ51の駆動力はギア51bからギ
ア52aに伝えられ順次各ギアを動かす。前記ベベルギ
ア32aを介して駆動される回転軸32はシャッタ板3
4を回転させて、開口部34aを乾燥機壁の開口2aに
対向する位置に合わせて所定時間停止する。これによ
り、前記開口部34aから乾燥機内の穀粒をホッパ31
内へ取り込むことができる。
【0025】取り込まれた穀粒は、ホッパ31内の前記
搬送プレート33の上面に収容される。そして回転軸3
2がさらに回転すると、シャッタ板34はホッパ31の
上面を覆い、新たな穀粒の流入を阻止し、一方、前記搬
送ブレート33の切欠き33aには、傾斜したホッパ3
1の下方を通過するとき試料穀粒を一粒ずつ嵌合させ
て、回転に連れて傾斜上方へ搬送する。又、この時前記
搬送プレート33の回転により、ホッパ31の底部にあ
る穀粒は、下方から上方へと運ばれるが、切欠き33a
に嵌合していない穀粒は上方から下方へと滑落する。そ
の際、前記搬送プレート33に形成した細孔33b、3
3b、・・から細かい塵埃のみを落下させる。搬送ブレ
ート33から落下した塵埃は、ホッパ31の底面上をも
滑落して塵埃排出口31bから再ひ乾燥機の中に戻る。
もちろん乾燥機自体は塵埃の除去機構を備えているの
で、徐々に穀粒と塵埃の選別分離が進む。
【0026】又、前記搬送プレート33の切欠き33a
に嵌合している穀粒は、通常は前記ホッパ31の上方に
設けた試料供給口31aに対向する位置に至れば、底支
えがなくなるので落下するはずであるが、穂切れなどが
あって落下しないこともある。そのような場合には、図
10に示すように、搬送プレート33の回転に連れて、
前記突起部材31dはしなって曲がっているが、切欠き
33aに対向する位置に至れば、弾力によって形状復帰
して、切欠き33aに嵌合している穀粒を跳ね飛ばす作
用を果たす。これにより、前記搬送プレート33の切欠
き33aに嵌合している穀粒は、確実に排除されるの
で、前記開放部31cに臨むホッパ31の周壁との間で
ロック現象を起こすことがなくなる。
【0027】さらに、前記供給口31aから前記ロール
電極41、42の間に供給された試料穀粒10は、カム
7及びスプリング8の作用で間欠的に揺動する試料の押
し込み部材9によって、確実に両ロール電極間に押し込
まれる。押し込まれた試料穀粒10は、両ロール電極4
1、42の回転によって圧砕される。このとき、通電を
行って両電極間の電気抵抗値を検出する。検出値を安定
的に得るために、前記電極支持プレート53はスプリン
グ8の付勢により一定の圧砕圧力を維持している。この
ようにして、試料穀粒が大粒であっても円滑に、両電極
間で穀粒を圧砕して水分の測定を行うことができる。そ
して、圧砕後の測定試料かすは、ロール電極41、42
の回転に連れて、ブラシ44、45で除去される。特に
前記試料の押し込み部材9の円弧状の内周面9bは、ロ
ール電極42の電極面42aに対してわずかな間隙で対
向するよう設けてあるのて、前記電極面42aに付着し
ている試料かすを確実に除去する。
【0028】
【発明の効果】この出願の発明は、上記の通りの構成に
より次の効果を奏する。第lの発明では、取り込んだ試
料中に混入する塵埃を自動的に分離して穀粒のみをロー
ル電極問に供給することができて、測定の精度を向上さ
せることができた。
【0029】第2の発明では、穀粒の形状や穂切れの有
無に関係なく、搬送プレートの切欠きに残る穀粒を確実
に除去することができて、測定に支障をきたすロック現
象を解消することができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】この出願の実施例を示す正面図である。
【図2】その側面図である。
【図3】同じくその作用を示す説明図である。
【図4】この出願の実施例の試料採取部を示し、図5の
A−A線、図6のB−B線及び図7のC−C線における
断面図である。
【図5】図4のD−D矢視図である。
【図6】図4のE−E断面図である。
【図7】図4のF−F断面図である。
【図8】図7のG−G断面図である。
【図9】図7のH−H断面図である。
【図10】突起部材の作用を示す説明図である。
【図11】この発明の従来例を示し、図12のK−K断
面図である。
【図12】図11のL−L断面図である。
【図13】図12の一部を破断して示すM−M矢視図で
ある。
【図14】図11のN−N矢視図である。
【図15】要部の構成を示す説明図である。
【符号の説明】
1 穀物水分測定装置 3 試料採取部 31 ホッパ 31a 供給口 31
b 塵埃排出口 31c 開放部 31d 突起部材
31g 排除溝 32 回転軸 33 搬送プレート
33a 切欠き 33b 細孔 34 シャッタ板 3
4a 開口部 4 ロール電極部 41,42 ロール電極 43 電
極端子 44 回転ブラシ 45 固定ブラシ 46
ガイド 5 駆動機構 51 モータ 52 回動軸 53 電
極支持プレート 54,55,56 回転軸 5lb,
52a,54a,55a,56a ギア 53a スプ
リング 53b 調整螺子 56b カム 57 リミ
ットスイッチ 6 基台 6a 凹窩部 6b 隔壁 6c 軸受け部
6d 突起 6eストッパ 7 カム 8 スプリング 9 押し込み部材 9b 内周面 9c 先端部 10 試料穀粒

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基台に設けた一対のロール電極間にて試
    料穀粒を一粒毎に圧砕し、該ロール電極間に生じた電気
    抵抗値を検出して試料穀粒の水分値を測定するものにお
    いて、 前記基台に形成した凹窩部に傾斜させて嵌挿したもの
    で、上面を開放し、底面の傾斜上方には前記一対のロー
    ル電極間に試料を落下供給するための試料供給口を、下
    方には塵埃排出口を設けたホッパと、前記ホッパの中心
    に嵌挿した回転軸と、前記回転軸に装着され、その回転
    に連れてホッパ内傾斜下方から傾斜上方へと試料穀粒を
    搬送する切欠きを周縁部に設けるとともに、試料穀粒の
    通過を阻止する程度の幅で中心から放射状に配置した複
    数の細孔を有する搬送プレートと、前記回転軸に固定
    し、前記ホッパの上面を覆う形状でその一部に試料穀粒
    を受け入れるための開口を設けたシャッタ板と、を具備
    したことを特徴とする穀物水分測定装置。
  2. 【請求項2】 前記ホッパの底面であって、前記搬送プ
    レートが回転する方向の、前記試料供給口の前方に位置
    して、前記搬送プレートの切欠きと対向する位置に設け
    た弾性体からなる突起部材と、前記ホッパの底面であっ
    て、前記搬送プレートが回転する方向の、前記突起部材
    の前方において形成した穀粒の排除溝と、を具備したこ
    とを特徴とする請求項1記載の穀物水分測定装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101135679B1 (ko) 2010-05-11 2012-06-27 대한민국 사일리지용 수분측정장치
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