JPH11337579A - コンタクトプローブ及びプローブ装置 - Google Patents

コンタクトプローブ及びプローブ装置

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JPH11337579A
JPH11337579A JP14345898A JP14345898A JPH11337579A JP H11337579 A JPH11337579 A JP H11337579A JP 14345898 A JP14345898 A JP 14345898A JP 14345898 A JP14345898 A JP 14345898A JP H11337579 A JPH11337579 A JP H11337579A
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film
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Application number
JP14345898A
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English (en)
Inventor
Atsushi Matsuda
厚 松田
Hideaki Yoshida
秀昭 吉田
Nobuyoshi Tachikawa
宣芳 立川
Toshinori Ishii
利昇 石井
Mitsuyoshi Ueki
光芳 植木
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Mitsubishi Materials Corp
Original Assignee
Mitsubishi Materials Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 コンタクトプローブの剛性が高くてもコンタ
クトピンの位置調整を容易に行える。 【解決手段】 コンタクトプローブ20のフィルム21
の領域でパターン配線2の延在方向に交差する方向に第
一湾曲部22と第二湾曲部23を設け、S字状に湾曲さ
せる。第一及び第二湾曲部は、グラウンド層25bと第
2の二層フィルム27との間の第二接着層28に第一除
去部28Aと第二除去部28Bを設けて低剛性にする。
このコンタクトプローブ20をプローブ装置50に組み
込んで、基部20bを固定するプリント基板8及びボト
ムクランプ15とマウンティングベース13との間に第
一及び第二湾曲部を位置させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板に組
み込まれて、半導体ICチップやLSIチップ、液晶デ
バイス等の被検査部材の各端子に接触させて電気的なテ
ストを行うために用いられるコンタクトプローブ及びプ
ローブ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、ICチップやLSIチップ等の
半導体チップ、またはLCD(液晶表示体)等の被検査
部材の電気的なテストを行うために、コンタクトピンが
備えられたコンタクトプローブがプリント基板に装着さ
れたプローブ装置が用いられている。例えば、先行技術
として図17及び図18に示すコンタクトプローブ1で
は、例えばNi基合金等からなるパターン配線2が配列
され、その上に接着層3を介してフィルム4が被着され
ており、フィルム4は例えばポリイミド樹脂等からなる
樹脂フィルム層5とCu等の金属層であるグラウンド6
とが積層されている。パターン配線2の先端部は狭ピッ
チで略平行に配列されてグラウンド6及び樹脂フィルム
層5の先端から突出しており、それぞれコンタクトピン
2a…を構成する。コンタクトプローブ1は、図17に
示す平面視で略ホームベース形状とされ、漸次幅が狭く
なる狭幅部の先端からコンタクトピン2a…が突出する
先端部1aと、先端部1aの反対側端部の最大幅で形成
される基部1bとを有している。基部1bにはパターン
配線2に交差する方向に延びる略長方形状の窓部7が形
成されている。この窓部7でパターン配線2の各配線引
き出し部2b…が後述のプリント基板の電極と接続され
る。
【0003】このようなコンタクトプローブ1は図19
及び図20に示すようにプリント基板8と共にメカニカ
ルパーツ9で組み込まれてプローブ装置10とされ、コ
ンタクトピン2a…に半導体ICチップやLCD等の被
検査部材の端子が接触させられることになる。即ち、図
19及び図20に示すプローブ装置10において、円板
形状をなし中央窓部8aを有するプリント基板8の上
に、例えばトップクランプ12が取り付けられ、コンタ
クトプローブ1をその下面に両面テープ等で取り付けた
マウンティングベース13を、中央窓部8aを通してト
ップクランプ14にボルト等で固定する。そして略額縁
形状のボトムクランプ15でコンタクトプローブ1の基
部1bを押さえつけることにより、基部1bはボトムク
ランプ15の弾性体16でプリント基板8の下面に押し
つけられて固定される。この状態で、コンタクトプロー
ブ1の先端部1aは図20で下方に向けて傾斜状態に保
持される。これによって、パターン配線2の配線引き出
し部2bが窓部7を通してプリント基板8の下面の電極
8bに押しつけられて接触状態に保持されることにな
る。このような状態で、半導体ICチップ18等の被検
査部材のパッドやバンプ等の端子18a…がコンタクト
ピン2a…に押圧接触させられて電気的なテストが行わ
れることになる。
【0004】ところで、このようなコンタクトプローブ
1においては、その製造途中等にICチップ18やプリ
ント基板8等に設計変更が発生することがある。このよ
うな場合、プローブ装置の組立の際、通常、先にコンタ
クトプローブ1をプリント基板8と連結固定するため
に、プローブ装置10に組み込まれた後、メカニカルパ
ーツ9等に組み込まれた微調整機構(図示せず)等を用
いて、コンタクトピン2a…をICチップ18の端子1
8a…と整合するようにコンタクトプローブ1の先端部
1aをずらせて位置調整をしていた。そのため、コンタ
クトプローブ1は無理に曲げられたり撓ませられたりし
て応力がかかることになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、コンタクト
プローブ1は、フィルム4に金属層であるグラウンド6
が積層されている等のために剛性が高く、コンタクトピ
ン2a…の位置ずれを十分に矯正できるほどの柔軟性に
欠けるためにコンタクトピン2a…の十分な位置調整が
困難であるという問題がある。また無理にコンタクトプ
ローブ1をずらすと折り曲げられてグラウンド6やパタ
ーン配線2に割れ等が生じ、導通不良、性能不良等を起
こすおそれがあった。またICチップ18等の被検査部
材やプリント基板8等に設計変更等がない場合でも、プ
ローブ装置10の各部品の製造誤差や組み立て誤差等に
よってコンタクトピン2aと被検査部材の端子とに位置
ずれ等が生じるために、上述した問題が同様に発生する
ことがある。
【0006】本発明は、このような課題に鑑みて、被検
査部材の端子との接続のための調整を容易に行えるよう
にしたコンタクトプローブ及びプローブ装置を提供する
ことを目的とする。また本発明の他の目的は、パターン
配線が多数配列されていても、配線用基板の電極に的確
に接続できるようにしたコンタクトプローブを提供する
ことである。また本発明の更に他の目的は、フィルム層
やパターン配線の剛性が高くてもコンタクトピンの位置
調整を容易に行えて被検査部材の端子との接続を行える
ようにしたコンタクトプローブ及びプローブ装置を提供
することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係るコンタクト
プローブは、パターン配線がフィルム上に形成され、パ
ターン配線の先端部がフィルムから突出してコンタクト
ピンとされてなるコンタクトプローブにおいて、フィル
ムの領域でパターン配線の延在方向に交差する方向の湾
曲部がパターン配線の延在方向に沿って2つ以上設けら
れてなることを特徴とする。コンタクトプローブに湾曲
部を2つ以上設けることで、プローブ装置に組み込まれ
てコンタクトピンの位置調整をする際に、湾曲部を支点
としてコンタクトプローブが容易に弾性変形するために
位置調整が容易で正確に行える。尚、少なくとも2つの
湾曲部は反対方向に湾曲させることが好ましい。
【0008】また本発明に係るコンタクトプローブは、
パターン配線がフィルム上に形成され、パターン配線の
先端部がフィルムから突出してコンタクトピンとされて
なるコンタクトプローブにおいて、フィルムは、コンタ
クトピンが突出する先端部に対して反対側に位置する基
部が複数に分割されて分割基部がそれぞれ形成され、各
分割基部にそれぞれパターン配線が配設されてなること
を特徴とする。コンタクトピンが多数配列されている場
合でも、基部側で複数の分割基部とされてパターン配線
が分割されているから、プリント基板などの配線用基板
の形状や電極配置に応じて各分割基部のパターン配線を
個別に配線用基板の電極に接続でき、接続の自由度が大
きい上にコンタクトピンの位置調整も行える。また、請
求項2に係るコンタクトプローブでは、フィルムの領域
でパターン配線の延在方向に交差する方向の湾曲部がパ
ターン配線の延在方向に沿って2つ以上設けられていて
もよい。コンタクトプローブの分割基部をそれぞれ互い
に離間する方向に曲げた際、湾曲部が設けられているこ
とで分割基部が無理なくスムーズに位置調整できて、配
線用基板の電極に容易に接続でき、コンタクトピンの位
置調整も容易である。
【0009】また 湾曲部は、非湾曲部の領域よりも低
剛性に構成されていてもよい。湾曲部におけるコンタク
トプローブの曲げやねじれ等を容易におこなえ、コンタ
クトプローブのプローブ装置への組み込み及びコンタク
トピンの位置調整の自由度が大きい。尚、フィルムは、
パターン配線上に第一接着層を介して設けられた第一樹
脂フィルム及びグラウンド層からなる第一フィルムと、
グラウンド層に第二接着層を介して設けられた第二樹脂
フィルム及び電源層からなる第二フィルムとが少なくと
も積層されて構成されていてもよい。コンタクトプロー
ブがそれぞれ樹脂フィルムを介してパターン配線とグラ
ウンド層と電源層を有する3層以上の構造とされ、パタ
ーン配線や電源層で発生したノイズはグラウンド層で吸
収され互いに悪影響を及ぼさない。また電源層をパター
ン配線と別個に設けることで大電流を流す幅広の電源層
を設計することもでき、供給電流の自由度が増す。電源
層やグラウンド層はそれぞれ対応するパターン配線に導
電性材料を介して導通させられている。
【0010】また、コンタクトプローブの湾曲部を低剛
性部とする構成として、少なくともグラウンド層または
電源層にメッシュ状の孔が形成されて構成されていても
よい。或いは、少なくとも第二接着層に接着剤の除去部
が形成されて構成されていてもよい。或いは、パターン
配線の断面積が非湾曲部の断面積よりも小さく形成され
ていてもよい。これらの構成を重複して採用してもよ
い。
【0011】本発明に係るプローブ装置は、請求項1,
請求項3乃至8のいずれか記載のコンタクトプローブ
と、このコンタクトプローブのパターン配線がその電極
(基板側パターン配線)に接続させられた配線用基板
と、コンタクトプローブを配線用基板に接続固定するク
ランプ部材とが備えられたプローブ装置であって、コン
タクトプローブは、クランプ部材とコンタクトピンの間
に2つ以上の湾曲部が設けられていることを特徴とす
る。プローブ装置に装着されたコンタクトプローブにつ
いて、被検査部材の端子と正確に接触するようにコンタ
クトピンの位置調整を行う際、一部が配線用基板に固定
されていても、2つ以上の湾曲部で容易に弾性変形する
ためにコンタクトピンを有する先端部の位置調整の自由
度が大きく、応力を吸収して容易にコンタクトピンの位
置調整ができる。
【0012】コンタクトプローブは、その基部を配線用
基板に固定するクランプ部材と、その先端部を位置調整
可能に支持するベース部材との間に2つ以上の湾曲部が
設けられていてもよい。コンタクトプローブは基部と先
端部がクランプ部材とベース部材などのメカニカルパー
ツに支持もしくは固定されていても、湾曲部は自由の状
態であるから、ベース部材などを介してコンタクトピン
の位置調整を行う際に、コンタクトプローブの剛性が高
くても、クランプ部材で固定された基部によって調整作
業が阻害されたり、精密な調整ができない等の悪影響は
受けない。またフィルムは、1つ以上の湾曲部の延在方
向をコンタクトピンの配列方向と非平行に配設すること
によって、コンタクトピンが突出する先端部と、クラン
プ部材で固定された基部とで延在方向が異なるように角
度をもたせてもよい。プローブ装置でコンタクトプロー
ブの基部を固定する際、基部の配置固定方向に対して被
検査部材の端子の配列方向が非平行で或る角度が設定さ
れている場合でも、コンタクトプローブの先端部に角度
が持たされているから、コンタクトピンの配列方向を端
子の配列方向に一致させることができ、その際、コンタ
クトプローブの形状を変化させる必要もない。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面により説明するが、上述の先行技術と同一の部分に
は同一の符号を用いてその説明を省略する。図1は第一
の実施の形態によるコンタクトプローブの概略構成を示
す斜視図、図2は図1に示すコンタクトプローブの展開
状態の平面図、図3は図2に示すコンタクトプローブの
要部縦断面図であって、(a)はグラウンド用配線とグ
ラウンド層の導通状態を示す構成図、(b)は電源用配
線と電源層の導通状態を示す構成図、図4は接着層の構
成を示すコンタクトプローブの要部縦断面図、図5
(a)、(b)、(c)は電源層の構成例をそれぞれ示
す展開状態の要部平面図、図6はコンタクトプローブが
プローブ装置に装着された状態を示す部分縦断面図であ
る。
【0014】図1に示すように第一の実施の形態に係る
コンタクトプローブ20はNiまたはNi基合金などか
らなるパターン配線2にフィルム21が被着されてな
り、パターン配線2の先端部がフィルム21から突出し
てコンタクトピン2aとされている。しかもこのコンタ
クトプローブ20は、フィルム21の領域でパターン配
線2の延在方向に交差する方向、例えばコンタクトピン
2aに直交する方向に延在する2つの湾曲部が設けられ
ており、フィルム21のコンタクトピン2aに近い側か
ら第一湾曲部22と第二湾曲部23とされている。これ
ら第一湾曲部22と第二湾曲部23は、側面視で略S字
状をなすように互いに反対側に湾曲させられている。こ
のようなコンタクトプローブ20を平面状に展開した状
態で示す図2乃至図5によって、その構成を説明する。
【0015】即ち、図2及び図3に示すように、このコ
ンタクトトプローブ20は、第1の樹脂フィルム25a
(例えばポリイミド樹脂)および第1の金属フィルム
(例えば銅箔からなる接地用のグラウンド層25b)が
積層されてなる第1の二層フィルム25(二層テープ)
の第1の樹脂フィルム25aを、複数本のパターン配線
2に張り付けた構造になっており、各パターン配線2に
第1接着層26を介して第1の樹脂フィルム25aが接
着されている。パターン配線2は、例えば信号用配線2
s、グラウンド用配線2gおよび電源用配線2pの3種
類が配設されてなり、パターン配線2の先端部は、第1
の二層フィルム25の先端から突出してコンタクトピン
2aとされている。信号用配線2sのコンタクトピンは
信号用コンタクトピン2asとなり、グラウンド用配線
2gのコンタクトピンはグラウンド用コンタクトピン2
agとなり、電源用配線2pのコンタクトピンは電源用
コンタクトピン2apとなっている。なお、信号用コン
タクトピン2asは被検査部材との間で信号(高周波信
号や通常の信号)授受するものであり、電源用コンタク
トピン2apは被検査部材に駆動電流を供給するための
ものである。
【0016】第1の二層フィルム25のグラウンド層2
5b上には、第2の樹脂フィルム27a(例えばポリイ
ミド樹脂)および第2の金属フィルム(例えば銅箔から
なる電源層27b)からなる第2の二層フィルム27
(二層テープ)の第2の樹脂フィルム27aが、第二接
着層28を介して積層されている。このように、本実施
形態のコンタクトプローブ20は、パターン配線2、グ
ラウンド層25bおよび電源層27bの三層構造となっ
ており、パターン配線2とグラウンド層25bとの間、
およびグラウンド層25bと電源層27bとの間には、
誘電体である第1および第2の樹脂フィルム25a,2
7aがそれぞれ設けられている。また第1の二層フィル
ム25と第2の二層フィルム27とでフィルム21を構
成する。
【0017】図3(a)に示すように、各グラウンド用
配線2gは、第1の二層フィルム25の中途部にそれぞ
れ形成されたバイアホール29内の導電性材料30(例
えば銀ペーストが固化したもの)を介して、グラウンド
層25bに導通している。また、図3(b)に示すよう
に、各電源用配線2pは、第1及び第2の二層フィルム
にそれぞれ形成された連通するバイアホール32a,3
2b内の導電性材料33(例えば銀ペーストが固化した
もの)を介して、電源層27bに導通している。導電性
材料33の周囲のグラウンド層25bには大径のスルー
ホール34が形成され、このスルーホール34内には絶
縁材35(例えば接着剤)が充填されている。これによ
り、導電性材料33とグラウンド層25bとは不導通と
なっている。
【0018】またコンタクトプローブ20は、図2に示
す平面視でフィルム21が例えば略ホームベース形状と
され、漸次幅が狭くなりその先端からコンタクトピン2
aが突出する部分が先端部20aとされ、幅広で一定幅
の部分が基部20bとされている。そして、基部20b
は好ましくは湾曲させやすいように従来のコンタクトプ
ローブ1よりも長さが大きく形成されていて、フィルム
21をパターン配線2に直交して切除した窓部37が形
成され、窓部37内のパターン配線2はプリント基板8
の電極8bに接続される配線引き出し部2bとされてい
る。
【0019】そして、フィルム21のコンタクトピン2
aと窓部37との間に、上述した第一湾曲部22と第二
湾曲部23が設けられており、図2及び図4に示すよう
に第一湾曲部22の領域には第二接着層28の接着剤が
除去されて第一除去部28Aが形成され、第二湾曲部2
3の領域にも同様に第二接着層28の接着剤が除去され
て第二除去部28Bが形成されている。これら第一及び
第二除去部28A,28Bは、好ましくはパターン配線
2の領域と交差して平面視略長方形状に形成されている
が、接着剤を除去した第一及び第二除去部28A,28
Bはその形状は任意でよく、複数に分割されて形成され
ていてもよい。そのため、コンタクトプローブ20で
は、第一及び第二湾曲部22,23は第2接着層28に
接着剤が塗布された他の部分と比較して剛性の小さい低
剛性部を構成することになる。このように構成されたコ
ンタクトプローブ20について、図2に示す平板状に展
開した状態から、図1に示すように略S字状に湾曲され
た立体形状に形成するには、平板状のコンタクトプロー
ブ20がメカニカルパーツに固定されてない自由の状態
で、第一及び第二湾曲部22,23でS字状に湾曲させ
て、常温もしくは高温で加圧することで塑性変形させる
ことができる。尚、図2ではコンタクトプローブ20の
先端部20aが基部20bより上に位置するように湾曲
しているが、逆にしてもよい。
【0020】尚、コンタクトプローブ20の電源層27
bの形状として、例えば図5(a)に示す構成が採用さ
れている。 図において電源層27bは、被検査部材に
印加する電圧が2種類の場合(V1,V2)、電源層2
7bをなす金属箔を二分割して第1及び第2電源層27
ba、27bb間に絶縁物36を設けて電気絶縁する。
他方、第1及び第2電源層27ba、27bbはそれぞ
れ各導電性材料33を介して電源用配線2p…に接続さ
れている。これによって、電源用コンタクトピン2ap
…にそれぞれ適切な電圧V1またはV2を印加すること
ができる。印加すべき電圧(V1、V2)が異なるコン
タクトピン2apが例えば交互に配列されている等混在
して配列されている場合には、電源層27bの第1及び
第2電源層27ba、27bbの仕切構成を例えば図5
(b)のようにパターン配線2に交差して階段状または
凹凸状に形成して、対応する電圧を印加する電源用配線
2pの配設領域と重なるように互いに入り組ませればよ
い。また印加電圧が3種類(V1,V2,V3)または
それ以上の場合でも、例えば図5(C)に示すように各
電源層27ba,27bb,27bc…がパターン配線
2に交差して凹凸状とし、対応する電源用配線2pの配
設領域と重なるように互いに入り組んで延在するように
形成すればよい。
【0021】このコンタクトプローブ20をプローブ装
置50に組み込んだ構成が図6に示されている。図6に
示すプローブ装置50において、コンタクトプローブ2
0の基部20bはボトムクランプ15(クランプ部材)
で下方から押圧され、弾性体16によって窓部37を介
してパターン配線2の配線引き出し部2bがプリント基
板8の電極8bに押圧接触させられて固定される。コン
タクトプローブ20の先端部20aはその上面がマウン
ティングベース13(ベース部材)に両面テープなどで
固定されている。この状態でコンタクトプローブ20
は、マウンティングベース13とプリント基板8及びボ
トムクランプ15との間に第一及び第二湾曲部22,2
3が略S字状に湾曲させられて配置されることになる。
第一及び第二湾曲部22,23はマウンティングベース
13やボトムクランプ15等のメカニカルパーツ9で固
定されることなくフリーの状態に保持される。
【0022】本実施の形態によるプローブ装置50は上
述のように構成されており、被検査部材として、例えば
ICチップ18の端子18aにコンタクトピン2aが押
圧接触させられて電気的テストが行われる。ところで、
例えばコンタクトプローブ20の製造途中にICチップ
18やプリント基板8に設計変更があったり、プローブ
装置50の各部品の製造誤差や組み立て誤差等によっ
て、コンタクトピン2aとICチップ18の端子18a
との間に位置ずれを生じることがある。このような場
合、図示しない微調整機構等を用いて例えばマウンティ
ングベース13を介してコンタクトプローブ20の先端
部20aと共にコンタクトピン2aを位置調整する。
【0023】本実施の形態では、コンタクトプローブ2
0がパターン配線2に第1の二層フィルム25と第2の
二層フィルム27とが積層された3層構造とされ、上述
の先行技術におけるコンタクトプローブ1よりもその剛
性が高いが、低剛性部である第一及び第二湾曲部22,
23でS字状に湾曲させられた部分がメカニカルパーツ
9で拘束されていないために、先端部20aが容易にX
−Y方向及び/またはZ方向に微少移動し、コンタクト
ピン2aの位置を任意の方向に微調整できる。この時、
コンタクトプローブ20は基部20bが固定されている
が、第一及び第二湾曲部22,23を支点としてこの部
分で容易に弾性変形して微少移動する。コンタクトピン
2aを平行移動させることも容易である。また先端部2
0aを水平方向に回動させた場合でも第一及び第二湾曲
部22,23が変形することで容易に対応でき、コンタ
クトピン2aの角度を水平方向に微調整することも容易
である。従って、ICチップ18等をプローブ装置50
に載置した状態でコンタクトピン2aが端子18aと位
置ずれしていても容易かつ精密に微調整でき、その際に
コンタクトプローブ20の固定された基部20bに対し
て先端部20aを微少移動させることでコンタクトプロ
ーブ20にかかる応力は第一及び第二湾曲部22,23
の弾性変形で確実かつ容易に吸収できる。
【0024】尚、コンタクトプローブ20の各電源用コ
ンタクトピン2apをICチップ18の所定の端子18
aにそれぞれ接触させて、電源層27bより導電性材料
33、電源用配線2gおよび電源用コンタクトピン2a
pを介してICチップ18に所定の電圧を印加して駆動
するとともに、ICチップ18の所定の端子18aにグ
ランウンド用コンタクトピン2agを接触させて接地す
ることができる。この際、信号用コンタクトピン2as
よりICチップ18の所定の端子18aから信号(高周
波信号や通常の信号)を取り出し、これを信号用配線2
sを通してプリント基板8から図示しないテスターに導
くことができる。
【0025】このコンタクトプローブ20においては、
パターン配線2上に第1の樹脂フィルム25aを介して
接地用のクラウンド層25bが積層され、さらに、この
クラウンド層25b上に第2の樹脂フィルム27aを介
して電源層27bが積層された多層構成をなすので、パ
ターン配線2および電源層27bで発生したノイズはク
ラウンド層25bで吸収され、互いに悪影響を及ぼすこ
とはない。なお、パターン配線2、クラウンド層25b
および電源層27bの3層構造に限らず、電源層27b
の上にさらにグラウンド層を積層して、接地を強化した
4層構造や、このグラウンド層にさらに電源層を積層し
た5層構造や、さらには、この電源層にグラウンド層を
積層した6層構造や、それ以上の積層構造としてもよ
い。その際、第一及び第二湾曲部22,23の領域につ
いて、第2の二層フィルム27とその上に積層する他の
二層フィルムとの間に設ける接着層に、第一及び第二除
去部28A,28Bと同様に接着剤を除去した切除部を
設ければよい。
【0026】ここで、図7および図8を参照して、実施
の形態に係るコンタクトプローブ20の製作工程につい
て工程順に説明する。 〔ベースメタル層形成工程〕先ず、図7(a)に示すよ
うに、ステンレス製の支持金属板40の上に、Cu
(銅)メッキによりベースメタル層41を形成する。こ
のベースメタル層41は、支持金属板40の上面に均一
の厚さで形成する。 〔パターン形成工程〕次に、このベースメタル層41の
上に、例えば約16〜100μmの厚さのフォトレジス
ト層(マスク)42を形成した後、図7(b)に示すよ
うに、写真製版技術により、フォトレジスト層42に所
定のパターンのフォトマスク43を施して露光し、図7
(c)に示すように、フォトレジスト層42を現像して
パターン配線2となる部分を除去して残存するフォトレ
ジスト層42に開口部42aを形成する。なお、開口部
42aの幅は例えば約50μmとする。また、本実施形
態においては、フォトレジスト層42をネガ型フォトレ
ジストによって形成しているが、ポジ型フォトレジスト
を採用して所望の開口部42aを形成しても構わない。
また、フォトマスク43を用いた露光・現像工程を経て
開口部42aが形成されるものに限定されるわけではな
い。例えば、めっき処理される箇所に予め開口部42a
が形成された(すなわち、予め、図7(c)の符号42
で示す状態に形成されている)フィルム等でもよい。
【0027】〔電解メッキ工程〕そして、図7(d)に
示すように、開口部42aにパターン配線2となるNi
またはNi合金層をめっき処理により形成した後、図7
(e)に示すように、フォトレジスト層42を除去す
る。 〔金属層およびフィルムの被着工程〕次に、図7(f)
に示すように、NiまたはNi合金層の上であって、パ
ターン配線2の先端、すなわち、コンタクトピン2aと
なる部分以外に、第1の二層フィルム25を接着剤によ
る接着層26により接着する。この第1の二層フィルム
25は、ポリイミド樹脂25aに銅箔のグラウンド層2
5bが一体に設けられた二層テープである。このフィル
ム被着工程の前までに、グラウンド面を形成しておき、
このフィルム被着工程では、第1の二層テープ25のポ
リイミド樹脂25aを接着層26を介してパターン配線
2に被着させる。なお、グラウンド層25bは、銅箔に
代えてNi、Ni合金等でもよい。
【0028】また、フィルム被着工程の前までに、図3
(a)および(b)に示したように、第1の二層テープ
25のグラウンド用配線2gや電源用配線2pの中途部
に対応する部位に、スルーホール29,32aをそれぞ
れ形成しておく。また、第1の二層テープ25のグラウ
ンド層25bの、スルーホール32aの周縁部に大径孔
部34を形成し、この大径孔部34に絶縁材35(例え
ば接着剤)を充填しておく。第1の二層フィルム25の
被着後、スルーホール29のみに、ペースト状の導電性
材料30(例えば銀)を充填して、硬化した導電性材料
30により、各グラウンド用配線2gとグラウンド層2
5bとを導通させる。
【0029】グラウンド層25b上に第2の二層テープ
27を接着剤を介して被着させる。この時、第二接着層
28を形成する接着剤は、第一及び第二湾曲部22,2
3に重なる第一及び第二除去部28A,28Bに相当す
る領域(図2及び図5参照)については塗布しないよう
にする。第2の二層テープ27は前述の第1の二層テー
プ25と同様に、ポリイミド樹脂27aに銅箔の電源層
27bが一体に設けられた二層テープである。なお、図
3(b)に示すように、この第2の二層フィルム27の
被着工程の前までに、第2の二層フィルム27に、第1
の二層フィルム25の各スルーホール32aと合致する
ようなスルーホール32bをそれぞれ形成しておく。こ
の被着後、各二層フィルム25,27の各スルーホール
32a,32bに、ペースト状の導電性材料33(例え
ば銀)を充填して、硬化した導電性材料33により、各
電源用配線2pと電源層27bとを導通させる。
【0030】〔分離工程〕そして、図7(g)に示すよ
うに、第1および第2の二層フィルム25,27とパタ
ーン配線2とベースメタル層41とからなる部分を、支
持金属板40から分離させた後、Cuエッチングによっ
てベースメタル層41を除去する。ここで、ベースメタ
ル層41を除去する際に電源層27bもCu等で構成さ
れているためにCuエッチングで除去されてしまうこと
になる。これを防ぐために図8に示すように、ベースメ
タル層41のCuエッチングに先立って電源層27b上
に例えばAuめっき44を施しておくとよい。このよう
にしてベースメタル層41を除去することで、第1及び
第2の二層フィルム25,27からなるフィルム21に
パターン配線2のみを接着させた構成とする。 〔金コーティング工程〕最後に、露出状態のパターン配
線2に、図7(h)に示すように、Auメッキを施し表
面にAuメッキ層Aを形成する。このとき、フィルム2
1から突出状態とされたコンタクトピン2aでは、全周
に亙る表面全体にAu層Aが形成される。尚、図7
(h)と図8に示す金めっき層44とAu層Aは他の図
では省略されている。
【0031】上述のように本実施の形態によるコンタク
トプローブ20及びプローブ装置50によれば、3層構
造にしたコンタクトプローブ20の剛性が高くても低剛
性部である第一及び第二湾曲部22,23を設けたか
ら、プローブ装置50においてコンタクトピン2aをI
Cチップ18等の端子18aと位置調整する際に容易に
弾性変形させることができ、応力を吸収してコンタクト
ピン2aの位置を任意の方向に位置調整でき、ICチッ
プ18の端子18aに確実かつ容易に接触できる。
【0032】ところで、コンタクトプローブ20に形成
する第一及び第二湾曲部22,23の低剛性部は必ずし
も第二接着層28に除去部28A,28Bを形成する構
成を採用しなくても製作できる。例えば図9及び図10
に示す第一の変形例として、電源層27b(及び金めっ
き層44)にメッシュ状に複数の孔52…を形成して第
一メッシュ部52A、第二メッシュ部52Bをそれぞれ
形成してそれぞれ低剛性部を構成してもよい。このよう
な孔52によるメッシュ部52A,52Bを形成するに
は、図7に示すコンタクトプローブ20の製作過程にお
いて、例えばフィルムの被着工程が終了した後、金めっ
き層44とCu層である電源層27bにレーザー光をス
ポット照射して孔52をコンタクトピン2aと交差する
方向に順次穿孔して形成すればよい。この場合、各孔5
2はパターン配線2の間隙に穿孔するのが好ましい。
【0033】尚、低剛性部を構成する孔52は電源層2
7bに限定されることなく第1の接着層26を除いてフ
ィルム21の適宜層に形成することができる。例えば、
電源層27bだけでなく第2の樹脂フィルム層27aに
も穿孔して孔52からなるメッシュ部を構成してもよ
く、或いは樹脂フィルム層27aだけに孔52のメッシ
ュ部を構成してもよい。また第1の二層フィルム25の
グラウンド層25bと第1の樹脂フィルム層25aのい
ずれか一方または両方に形成してもよい。
【0034】また、他の低剛性部を形成した第二の変形
例として、図11に示すようにパターン配線2の一部に
他の部分より断面積の小さい部分、例えば配線の幅の狭
い狭幅部54を形成してもよい。これらの狭幅部54は
信号用配線2s、グラウンド用配線2g、電源用配線2
pのいずれにも形成でき、それぞれの配線の性能を低下
させない程度に断面積を小さくすることができる。パタ
ーン配線2の各配線に、各配線の延在方向に交差する方
向に断面積の小さい狭幅部54を形成することで低剛性
部を構成できる。これら低剛性部をフィルム21上で少
なくとも2つ形成することで第一低剛性部54Aと第二
低剛性部54Bを形成でき、第一湾曲部22と第二湾曲
部23を構成する。このような狭幅部54を製作するに
は、図7に示すコンタクトプローブ20の製作過程にお
いて、例えば(b)に示すパターン形成工程でマスク4
3の開口部43aの幅を部分的に小さく形成して露光す
る等して、レジスト42の開口部42aを部分的に狭い
幅にして断面積を小さくしてめっき処理すればよい。
【0035】また第一湾曲部22と第二湾曲部23は必
ずしもパターン配線2と略直交する方向に形成しなくて
もよい。例えば、図12に示す第二の実施の形態による
コンタクトプローブ55では、パターン配線2に直交す
る方向に対して鋭角θをなす方向に第一湾曲部56と第
二湾曲部57がそれぞれ形成されている。この場合、各
湾曲部56,57に沿って複数の孔52が例えば電源層
27b(及び金めっき層44)に穿孔されて第一メッシ
ュ部54A、第二メッシュ部54Bが形成されて低剛性
部とされている。このように構成することで、コンタク
トプローブ55はベースクランプ15とプリント基板8
で挟持されて固定される基部20bに対して先端部20
a及びコンタクトピン2aは水平方向に角度θを以て傾
斜させられる。そのため、ICチップ18がコンタクト
プローブ55に対して水平方向に角度θを以て載置され
ている場合に対応できる。この場合でも、コンタクトピ
ン2aを含む第一湾曲部56から先端側の領域につい
て、第一及び第二湾曲部56,57でX−Y方向及びZ
方向に任意に微調整してコンタクトピン2aの位置を調
整できる。
【0036】尚、上述の実施の形態や変形例に関わら
ず、コンタクトプローブ20、55について、低剛性部
をなす第一湾曲部22、56と第二湾曲部23、57を
それぞれ任意の方向に変形させることで、コンタクトピ
ン2aを基部20bに対して任意の角度方向に配設で
き、被検査部材やプリント基板18の設計変更やプロー
ブ装置50の組み立て時の位置ずれなどに対応できる。
特に第二湾曲部23、57の湾曲方向に関わらず、コン
タクトピン2aに近い第一湾曲部22,56の湾曲方向
によってコンタクトピン2aの位置や方向及び角度を適
宜設定でき、コンタクトプローブ20,55の剛性が高
くてもベースクランプ15及びプリント基板8で固定さ
れる基部20bに対してコンタクトピン2aの配置の自
由度が高い。
【0037】次に本発明の他の実施の形態について説明
するが、上述の実施の形態や変形例と同一または同様な
部分については同一の符号を用いるものとする。図13
及び図14はプローブ装置の第三の実施の形態を示すも
のであり、図13はプローブ装置の要部平面図、図14
は図13に示すプローブ装置の要部斜視図である。尚、
各図において、プローブ装置のメカニカルパーツは省略
されており、被検査部材とコンタクトプローブだけが示
されている。本実施の形態は、2枚の略四角形のICチ
ップ59A,59Bが例えば対角方向に配列されて同時
に電気的テストに供される状態を示している。図におい
て、各ICチップ59A、59Bはその四辺に沿ってパ
ッドやバンプなどの端子59a、59bが各一列に配列
されている。プローブ装置60において、一方のICチ
ップ59Aの電気的テストに供されるコンタクトプロー
ブ62として第一コンタクトプローブ62A、第二コン
タクトプローブ62B、第三コンタクトプローブ62
C、第四コンタクトプローブ62Dの4枚が用いられて
いる。
【0038】各コンタクトプローブ62A〜Dはそれぞ
れフィルム58とパターン配線2の積層構造は上述のコ
ンタクトプローブ20,55と同一である。フィルム5
8は上述のフィルム21と同一構成で略々台形状に形成
され、台形の頂部に相当する先端部62aからパターン
配線2の先端部が突出してコンタクトピン2aとされて
いる。各コンタクトプローブ62A〜Dの台形の底面部
分に相当する各基部62bが図示しないベースクランプ
15とプリント基板8で挟持固定されており、プリント
基板8の電極8bと導通状態とされている。各コンタク
トプローブ62A〜Dは、コンタクトピン2a側から第
一湾曲部22と第二湾曲部23が形成され、第一湾曲部
22はフィルム58のパターン配線2と反対側の面であ
る電源層27bが凹曲面とされるように湾曲させられ、
第二湾曲部23は電源層27bが凸曲面とされるように
湾曲させられ、全体として略S字状に湾曲させられてい
る。
【0039】そして、第一コンタクトプローブ62A
は、第一湾曲部22を境にしてその基部20b側に対し
てコンタクトピン2aを含む先端部20aが略90°横
方向に捻られており、これによって、各コンタクトピン
2aがICチップ59Aの一辺の端子59a…に押圧接
触させられている。第四コンタクトプローブ62Dも同
様で略線対称な配置構成とされており、しかも第一湾曲
部22から先の先端部20aは第一コンタクトプローブ
62Aとは反対側の横方向に略90°捻られている。ま
た第二コンタクトプローブ62Bも第一コンタクトプロ
ーブ62Aとほぼ同様な構成とされているが、第一湾曲
部22を境にしてその基部20b側に対してコンタクト
ピン2aを含む先端部20aは90°より小さい角度だ
け横方向に捻られて、コンタクトピン2aがICチップ
59Aの一辺の端子59aに接続させられている。第三
コンタクトプローブ62Cは第二コンタクトプローブ6
2Bと略線対称に構成されて配設されている。
【0040】このように、ICチップ59Aの四辺の端
子59a…にそれぞれ電気的に接続される第一乃至第四
コンタクトプローブ62A〜Dは、検査される2枚のI
Cチップ59Aと59Bの間で仕切る仮想線Lで二分割
される略半円の領域に配設されてICチップ59Aの四
辺の端子59aにそれぞれ接続される構成とされてい
る。また他方のICチップ59Bの四辺にそれぞれ配列
される端子59bに対しても同様に四枚のコンタクトプ
ローブ63A〜Dが接触するように配置構成されてお
り、各コンタクトプローブ63A〜Dは、仮想線Lに対
してコンタクトプローブ62A〜Dと同一構成でそれぞ
れ略線対称に形成されて配設されている。しかも各コン
タクトプローブ62A〜D、63A〜Dは、各コンタク
トピン2aがICチップ59A、59Bの各端子59
a、59bに正確に押圧接触するように、低剛性部であ
る第一及び第二湾曲部22、23によってコンタクトピ
ン2aの位置調整を容易に行える。
【0041】この構成によって、8枚のコンタクトプロ
ーブ62A〜D、63A〜Dは基部20bの窓部37の
領域が同一平面状に配設されているから、略円板形状の
プリント基板8の裏面の同一平面状の電極8bにベース
クランプ15によって同時に押圧接触させることができ
る。同時に三次元的に捻られて配置された8枚のコンタ
クトプローブ62A〜D、63A〜Dを介して同一平面
上に載置された2枚のICチップ59A、59Bの各端
子59a、59bに接続させることができる。このた
め、2枚のICチップ59A、59Bをコンタクトプロ
ーブ62A〜D、63A〜Dを介して1枚のプリント基
板8に接続したプローブ装置60を得ることができて、
同時に電気的テストに供することができる。
【0042】上述のように本実施の形態によれば、プロ
ーブ装置60に装着されたコンタクトピン2aの位置の
微調整を容易に行えると共に、各コンタクトプローブ6
2A〜D、63A〜Dをねじれた状態で三次元配置する
ことで、複数枚のICチップ59A、59Bを同時にテ
ストできる。
【0043】次に図15及び図16は本発明の第四の実
施の形態によるプローブ装置を示すものであり、図15
は要部平面図、図16は要部斜視図である。尚、各図に
おいて、プローブ装置のメカニカルパーツは省略されて
おり、被検査部材とコンタクトプローブだけが示されて
いる。本第四の実施の形態は、ICチップ用のプローブ
装置70に関するものである。このICチップ71は例
えば略長方形板状とされ、その対向する二つの長辺に沿
って多数の端子71aが配列されており、コンタクトプ
ローブを介してプリント基板8の電極8bに接続させて
電気的テストを行う場合、コンタクトピン2aは例えば
40〜50μm程度の細密間隔で配列されているため
に、ICチップ71の端子配置に対応できるが、パター
ン配線2の基部側の引き出し用配線2bは間隔が広げら
れて配列されているために、例えば円板形状のプリント
基板8に設けられた電極8bの配置構成では全ての引き
出し用配線2bに対応できないという問題が生じる。本
実施の形態は、上述のような課題にも対応できるように
したプローブ装置70を提案したものである。
【0044】図15及び図16に示すプローブ装置70
において、コンタクトプローブ72は、パターン配線2
にフィルム21と同一構成の3層構造のフィルム73が
被着され、フィルム73の先端から突出するパターン配
線2の先端部はコンタクトピン2aとされている。特
に、フィルム73はコンタクトピン2a近傍の先端部7
2aでは全体が一体に形成されているが、図示しない配
線引き出し部2bを含む基部72bは複数分割(図では
3分割)されており、先端部72aと基部72bの途中
の分岐部72cでフィルム73は例えば三つに枝分かれ
されている。そのため、3つに分割された基部72bは
第一基部72bx、第二基部72by、第三基部72b
z(分割基部)とされ、分岐部72cからコンタクトピ
ン2aと反対方向に向かって漸次幅広とされている。
【0045】特に第二基部72byは両側の第一及び第
三基部72bx、72bzよりも幅広であり、第二基部
72byはコンタクトピン2aと略反対方向に延在して
いる。しかも第二基部72byの中心線に対して、第二
基部72by、そして第一及び第三基部72bx、72
bzはそれぞれ略線対称に形成されている。第一及び第
三基部72bx、72bzは分岐部72cから略直角に
左右外側に湾曲して形成されている。そのため、フィル
ム73に被着されたパターン配線2も先端部72aでは
一列に配列されているが、分岐部72bで3分割され
て、第一乃至第三基部72bx〜72bzにそれぞれ分
かれて被着されて配列されている。特に第二基部72b
yは両側の第一及び第三基部72bx、72bzよりも
幅広であり、被着されているパターン配線2の本数も多
い。
【0046】そして、分岐された各基部は、例えば各3
回湾曲させられている。即ち、第二基部72byは、分
岐部73の近傍で略鈍角の凹曲面状に湾曲する第一湾曲
部75が平面視で谷線が略山形に形成され、次いで略鈍
角の凹曲面状に湾曲する第二湾曲部76は谷線が略V字
状に形成され、更に凸曲面状に湾曲する第三湾曲部77
は稜線が略直線状に形成されている。そして基部72b
yの第三湾曲部77に続く基端側の端部領域に形成され
た窓部37で図示しないプリント基板8に固定されてそ
の電極8bと配線引き出し部2bが電気的に接続されて
いる。また第一基部72bx及び第三基部72bzも、
分岐部72cから基部側に向かうに従って外側にほぼ水
平に曲げられた後、同様に第一湾曲部75、第二湾曲部
76、第三湾曲部77で湾曲させられつつ捻られて三次
元的に配置されている。第一基部72bx及び第三基部
72bzも第三湾曲部77に続く基端側の領域で図示し
ないプリント基板8に固定されてその電極8bと配線引
き出し部2bが電気的に接続されている。尚、第一乃至
第三湾曲部75,76,77は、第2の接着層28の除
去部またはメッシュ部等が設けられて他の部分に対して
低剛性部とされている。
【0047】また、ICチップ71に対して、上述のコ
ンタクトプローブ72と反対側に配置される他のコンタ
クトプローブ72も略線対称で同一の配置構成とされて
いる。この構成によって、2枚のコンタクトプローブ7
2,72は各第一乃至第三基部72bx、72by、7
2bzの各窓部37の領域が同一平面状に配設されてい
るから、プリント基板8の裏面の電極8bにベースクラ
ンプ15によって同時に押圧接触させることができる。
このような構成においても、コンタクトプローブ72の
先端部72aを例えば図示しないマウンティングベース
を介して微調整する場合、第一乃至第三基部72bx,
72by,72bzに設けられた第一乃至第三湾曲部7
5,76,77で弾性変形させることで、容易にコンタ
クトピン2aの位置がICチップ71の端子と整合する
ように微調整できる。
【0048】上述のように本実施の形態によれば、IC
チップ71の端子の配列数が多いために、第一の実施の
形態等で示すホームベース型のコンタクトプローブ2
0,55等ではパターン配線2の基部側の配線引き出し
部2bが円板形等のプリント基板8の電極配置と対応で
きない場合でも、基部72bを複数分割、例えば三分割
して略々円弧状に配置できるから、各配線引き出し部2
bをプリント基板8の電極8bと確実に導通状態にして
固定できる。
【0049】尚、上述の説明はICチップを被検査部材
としたものであるが、これに限定されることなくLCD
(液晶表示体)等を被検査部材としてもよく、LCD用
プローブとして切り出されたコンタクトプローブ及びL
CD用プローブ装置にも本発明を適用できる。この場
合、特に第四の実施の形態に対応する態様では、LCD
用コンタクトプローブの分割された複数の基部(分割基
部)の配線引き出し部2bに複数のドライバーICであ
るTABIC(回路)側の端子をそれぞれ押圧固定させ
ればよい。
【0050】また上述の各実施の形態等では、3層構造
のコンタクトプローブ20,55,62A〜D、63A
〜D、72について説明したが、これに限定されること
なく、更に接着層と誘電体層である樹脂フィルム層を介
してグラウンド層や電源層を構成する金属フィルム層を
1または複数層積層してもよい。これらの場合でも、湾
曲部の適宜の層に低剛性部を構成すれば、本発明に係る
コンタクトプローブを容易に湾曲状態に塑性変形でき
る。また2つ以上の湾曲部を設けた本発明に係るコンタ
クトプローブとして、図17及び図18に示すような2
層構造のコンタクトプローブを採用してもよい。このよ
うな構成も本発明の範囲に含まれる。この場合には、2
つ以上の湾曲部として、グラウンド層6と樹脂フィルム
層5の少なくともいずれかに孔52からなるメッシュ部
52A、52Bを設けるか、パターン配線2に狭幅部5
4A,54Bを形成すればよい。尚、コンタクトプロー
ブ22,55,62A〜D,63A〜D,72に設ける
湾曲部は四つ以上でもよい。
【0051】
【発明の効果】上述のように、本発明に係るコンタクト
プローブでは、フィルムの領域でパターン配線の延在方
向に交差する方向の湾曲部がパターン配線の延在方向に
沿って2つ以上設けられているから、プローブ装置に組
み込まれてコンタクトピンの位置調整をする際に、湾曲
部を支点としてコンタクトプローブが容易に弾性変形す
るために位置調整が容易で正確に行える。
【0052】また本発明に係るコンタクトプローブは、
フィルムはコンタクトピンが突出する先端部に対して反
対側の基部が複数に分割されて分割基部がそれぞれ形成
され、各分割基部にそれぞれパターン配線が配設されて
いるから、コンタクトピンが多数配列されている場合で
も、プリント基板などの配線用基板の形状や電極配置に
応じてパターン配線を個別に配線用基板の電極に確実に
接続でき、接続の自由度が大きい上にコンタクトピンの
位置調整も容易である。また、請求項2に係るコンタク
トプローブでは、フィルムの領域でパターン配線の延在
方向に交差する方向の湾曲部がパターン配線の延在方向
に沿って2つ以上設けられているから、コンタクトプロ
ーブの分割基部をそれぞれ互いに離間する方向に曲げた
際、湾曲部が設けられていることで分割基部が無理なく
スムーズに位置調整できて、パターン配線を配線用基板
の電極に容易に接続できる。
【0053】また 湾曲部は、非湾曲部の領域よりも低
剛性に構成されているから、湾曲部におけるコンタクト
プローブの曲げやねじれ等を容易に行え、コンタクトプ
ローブのプローブ装置への組み込みが容易でコンタクト
ピンの位置調整の自由度が大きい。また、フィルムは、
パターン配線上に第一接着層を介して設けられた第一樹
脂フィルム及びグラウンド層からなる第一フィルムと、
グラウンド層に第二接着層を介して設けられた第二樹脂
フィルム及び電源層からなる第二フィルムとが少なくと
も積層されて構成されているから、パターン配線や電源
層で発生したノイズはグラウンド層で吸収され互いに悪
影響を及ぼさない。また電源層をパターン配線と別個に
設けることで大電流を流す幅広の電源層を設計すること
もでき、設計の自由度が増すという効果を奏する。
【0054】本発明に係るプローブ装置は、請求項1,
請求項3乃至8のいずれか記載のコンタクトプローブ
と、このコンタクトプローブのパターン配線がその電極
に接続させられた配線用基板と、コンタクトプローブを
配線用基板に接続固定するクランプ部材とが備えられた
プローブ装置であって、コンタクトプローブは、クラン
プ部材とコンタクトピンの間に2つ以上の湾曲部が設け
られているから、コンタクトピンの位置調整を行う際、
コンタクトプローブの一部が配線用基板に固定されてい
ても、2つ以上の湾曲部で容易に変形するためにコンタ
クトピンを有する先端部の位置調整の自由度が大きく、
応力を吸収して容易にコンタクトピンの位置調整ができ
る。
【0055】コンタクトプローブは、その基部を配線用
基板に固定するクランプ部材と、その先端部を位置調整
可能に支持するベース部材との間に2つ以上の湾曲部が
設けられているから、湾曲部は変形と微少移動が自由の
状態に保持され、コンタクトピンの位置調整を行う際に
コンタクトプローブの剛性が高くても、メカニカルパー
ツで固定された部分によって位置調整作業が妨げられた
り、精密な調整ができない等の悪影響は受けない。また
フィルムは、1つ以上の湾曲部の延在方向をコンタクト
ピンの配列方向と非平行に配設することによって、コン
タクトピンが突出する先端部と、クランプ部材で固定さ
れた基部とで延在方向が異なるように角度をもたせてい
るから、プローブ装置でコンタクトプローブの基部を固
定する際、基部の配置方向に対して被検査部材の端子の
配列方向が非平行で或る角度が設定されている場合で
も、コンタクトピンの配列方向を端子の配列方向に一致
させることができ、その際、コンタクトプローブの形状
を変化させる必要もない。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第一の実施の形態によるコンタクト
プローブの斜視図である。
【図2】 図1に示すコンタクトプローブを展開状態で
示す平面図である。
【図3】 図2に示すコンタクトプローブの要部縦断面
図であって、(a)はグラウンド用配線とグラウンド層
との導通状態を示す構成図、(b)は電源用配線と電源
層との導通状態を示す構成図である。
【図4】 図2に示すコンタクトプローブについて、第
二接着層の第1及び第2の除去部を示す要部縦断面図で
ある。
【図5】 (a),(b),(c)は図2に示すコンタ
クトプローブの電源層の構成の態様を示す平面図であ
る。
【図6】 実施の形態によるコンタクトプローブをプロ
ーブ装置に装着した状態を示す要部縦断面図である。
【図7】 図2に示すコンタクトプローブの製造工程
(a),(b),(c),(d),(e),(f),
(g),(h)を示す部分縦断面図である。
【図8】 図7に示すコンタクトプローブの製造工程に
おいて、電源層に対する金めっき工程を示す部分縦断面
図である。
【図9】 実施の形態によるコンタクトプローブの第一
変形例を示す平面図である。
【図10】 図9に示すコンタクトプローブのメッシュ
部の部分縦断面図である。
【図11】 実施の形態によるコンタクトプローブの第
二変形例であるパターン配線を示す要部平面図である。
【図12】 第二の実施の形態によるコンタクトプロー
ブを示す斜視図である。
【図13】 第三の実施の形態によるコンタクトプロー
ブ及びプローブ装置の要部を示す平面図である。
【図14】 図13に示すプローブ装置の要部斜視図で
ある。
【図15】 第四の実施の形態によるコンタクトプロー
ブ及びプローブ装置の要部を示す平面図である。
【図16】 図15に示すプローブ装置の要部斜視図で
ある。
【図17】 先行技術によるコンタクトプローブの平面
図である。
【図18】 図17に示すコンタクトプローブの要部縦
断面図である。
【図19】 コンタクトプローブが装着されたプローブ
装置の分解斜視図である。
【図20】 図19に示すプローブ装置の要部縦断面図
である。
【符号の説明】
2 パターン配線 2a コンタクトピン 8 プリント基板(配線用基板) 9 メカニカルパーツ 13 マウンティングベース(ベース部材) 15 ボトムクランプ(クランプ部材) 18,59A,59B,71 ICチップ(被検査部
材) 18a,59a,59b 端子 20,55,62A,62B,62C,62D,63
A,63B,63C,63D,72 コンタクトプロー
ブ 21 フィルム 22 第一湾曲部 23 第二湾曲部 25b グラウンド層 27b 電源層 28 第二接着層 50,60,70 プローブ装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石井 利昇 兵庫県三田市テクノパーク十二番地の六 三菱マテリアル株式会社三田工場内 (72)発明者 植木 光芳 兵庫県三田市テクノパーク十二番地の六 三菱マテリアル株式会社三田工場内

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パターン配線がフィルム上に形成され、
    前記パターン配線の先端部がフィルムから突出してコン
    タクトピンとされてなるコンタクトプローブにおいて、 前記フィルムの領域でパターン配線の延在方向に交差す
    る方向の湾曲部がパターン配線の延在方向に沿って2つ
    以上設けられてなることを特徴とするコンタクトプロー
    ブ。
  2. 【請求項2】 パターン配線がフィルム上に形成され、
    前記パターン配線の先端部がフィルムから突出してコン
    タクトピンとされてなるコンタクトプローブにおいて、 前記フィルムは、コンタクトピンが突出する先端部に対
    して反対側に位置する基部が複数に分割されて分割基部
    がそれぞれ形成され、該各分割基部にそれぞれパターン
    配線が配設されてなることを特徴とするコンタクトプロ
    ーブ。
  3. 【請求項3】 前記フィルムの領域でパターン配線の延
    在方向に交差する方向の湾曲部がパターン配線の延在方
    向に沿って2つ以上設けられてなることを特徴とする請
    求項2記載のコンタクトプローブ。
  4. 【請求項4】 前記湾曲部は、非湾曲部の領域よりも低
    剛性に構成されていることを特徴とする請求項1または
    3記載のコンタクトプローブ。
  5. 【請求項5】 前記フィルムは、パターン配線上に第一
    接着層を介して設けられた第一樹脂フィルム及びグラウ
    ンド層からなる第一フィルムと、前記グラウンド層に第
    二接着層を介して設けられた第二樹脂フィルム及び電源
    層からなる第二フィルムとが少なくとも積層されて構成
    されていることを特徴とする請求項1、3及び4のいず
    れか記載のコンタクトプローブ。
  6. 【請求項6】 前記湾曲部は、少なくともグラウンド層
    または電源層にメッシュ状の孔が形成されて構成されて
    いることを特徴とする請求項5記載のコンタクトプロー
    ブ。
  7. 【請求項7】 前記湾曲部は、少なくとも第二接着層に
    接着剤の除去部が形成されて構成されていることを特徴
    とする請求項5または6記載のコンタクトプローブ。
  8. 【請求項8】 前記湾曲部では、パターン配線の断面積
    が非湾曲部の断面積よりも小さく形成されていることを
    特徴とする請求項1、請求項3乃至7のいずれか記載の
    コンタクトプローブ。
  9. 【請求項9】 請求項1,請求項3乃至8のいずれか記
    載の前記コンタクトプローブと、該コンタクトプローブ
    のパターン配線がその電極に接続させられた配線用基板
    と、前記コンタクトプローブを配線用基板に接続固定す
    るクランプ部材とが備えられたプローブ装置であって、 前記コンタクトプローブは、前記クランプ部材とコンタ
    クトピンの間に2つ以上の湾曲部が設けられていること
    を特徴とするプローブ装置。
  10. 【請求項10】 前記コンタクトプローブは、その基部
    を配線用基板に固定するクランプ部材と、その先端部を
    位置調整可能に支持するベース部材との間に前記2つ以
    上の湾曲部が設けられていることを特徴とする請求項9
    記載のプローブ装置。
  11. 【請求項11】 前記フィルムは、1つ以上の前記湾曲
    部の延在方向を前記コンタクトピンの配列方向と非平行
    に配設することによって、前記コンタクトピンが突出す
    る先端部と、前記クランプ部材で固定された基部とで延
    在方向が異なるように角度をもたせたことを特徴とする
    請求項9または10記載のプローブ装置。
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