JPH1070217A - 樹脂封止型半導体装置及びその金型構造 - Google Patents
樹脂封止型半導体装置及びその金型構造Info
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Abstract
ールド成形時における樹脂バリの発生を抑えることので
きる樹脂封止型半導体装置及びその金型構造を得る。 【解決手段】 樹脂封止型半導体装置21において、半
導体素子23と、半導体素子23の一方の面にこの面の
縁より内側で設けたリード25と、半導体素子23の一
方の面と対向するリード25の面の反対面を露出させて
このリード25及び半導体素子23とを封止するモール
ド樹脂29と、隣接するリード25間のモールド樹脂外
表面にリード25間に亘って形成した断面略円弧形状の
溝31とを設ける。
Description
装置及びその金型構造に関するものである。
急速に発達し、これに伴ってカードの中に搭載される樹
脂封止型半導体装置も薄型、小型のものが要求されてお
り、これを実現する種々の構造のものが提案されてい
る。この種の樹脂封止型半導体装置の一例として例えば
富士通株式会社カタログ「SON Small Outline Nonlead
Package 」に開示されるものを図5、図6に示す。
図、図6は図5のA矢視図である。樹脂封止型半導体装
置(半導体装置)1は、半導体素子3の一方の面(回路
形成面)に、半導体素子3と略同等サイズのリード5を
回路形成面からはみ出さないように設けてあり、半導体
素子3とリード5を金線7によって接続し、半導体素子
3の他方の面及びリード5の一方の面を露出させてモー
ルド樹脂9により封止して形成してある。この半導体装
置1によれば、半導体素子3の他方の面を露出させるこ
とで、省略したモールド樹脂9の厚み分装置を薄くでき
るとともに、半導体素子3のサイズ内でリード5を設け
たので、装置を半導体素子3のサイズと略同等に小型化
することができた。
た従来の半導体装置1では、リード5の露出面(電気接
触面)5aとモールド樹脂9の外表面9aとを同一平面
上で配しているため、外表面9a上でのリード5間の絶
縁距離が最短となり、図7(a)に示すように、基板1
1への実装時或いは実装後において、外表面9aに付着
した不純物13によってリード5間で電気的リークが発
生し易く、装置特性を損なう虞れがあった。そして、露
出面5aと外表面9aとを同一平面上に配することは、
リード5間に形成される絶縁空間を小さくすることにも
なり、この絶縁空間に不純物がたまれば、電気的リーク
を容易に発生させることとなった。また、リード5の露
出面5aとモールド樹脂9の外表面9aとを同一平面上
で形成するため、モールド成形時に、リード5の露出面
5aにモールド樹脂9が流れ出て、図7(b)に示すよ
うに、露出面5aに樹脂バリ15が発生して電気的特性
を低下させる虞れがあった。本発明は上記状況に鑑みて
なされたもので、不純物によるリード間の電気的リーク
及びモールド成形時における樹脂バリの発生を抑えるこ
とのできる樹脂封止型半導体装置及びその金型構造の提
供を目的とするものである。
の本発明に係る樹脂封止型半導体装置は、半導体素子
と、該半導体素子の一方の面に該面の縁より内側で設け
たリードと、前記半導体素子の一方の面と対向する該リ
ードの面の反対面を露出させて該リード及び前記半導体
素子とを封止するモールド樹脂と、隣接する前記リード
間のモールド樹脂外表面に該リード間に亘って形成した
断面略円弧形状の溝とを具備したことを特徴とするもの
である。本発明に係る金型構造は、キャビティを有し該
キャビティに半導体素子及びリードを収容する下金型
と、前記キャビティに配置したリードに接触して該キャ
ビティを塞ぐ上金型と、該上金型のリード接触面に形成
してあり複数整列した各リードを凹部で圧接するととも
にリード間に凸部を挿入する断面波形状の凹凸面とを具
備したことを特徴とするものである。
型半導体装置では、リード間に断面略円弧状の溝を設け
たことにより、リード間に挟まれたモールド樹脂の外表
面の距離が長くなり、モールド樹脂外表面上における絶
縁距離が長く確保されることになる。また、モールド樹
脂外表面がリード露出面から離れることになり、リード
間の絶縁空間が大きく確保されることになる。本発明に
係る金型構造では、モールド成形時、リードの露出面を
上金型のリード接触面に当接して、半導体素子を下金型
と上金型とで挟み込んだ時、リード接触面に形成した凹
凸面の凹部がリードの角部に線接触して、高い接圧でリ
ードを押さえることになる。同時に、凸部をリード間に
挿入することで、リード間に断面略円弧形状の溝が形成
されることとなる。
導体装置及びその金型構造の好適な実施の形態を図面を
参照して詳細に説明する。図1は本発明による樹脂封止
型半導体装置の断面図、図2は図1のB矢視図である。
樹脂封止型半導体装置(半導体装置)21には半導体素
子23を設けてあり、半導体素子23は一方の面(図1
中、上側の面)を回路形成面としている。半導体素子2
3の一方の面にはこの半導体素子23と略同等サイズの
リード25を回路形成面からはみ出さないように設けて
あり、リード25は金線27によって半導体素子23に
接続してある。
の面及びリード25の一方の面(図1中、上側の面)2
5aを露出させてモールド樹脂29により封止してあ
る。これにより半導体装置21は、小型化、薄厚化を達
成している。
は、複数のリード25を、一方の面(露出面)25aが
同一平面上で露出するようにして平行に並設してある。
このリード25の相互間には、モールド樹脂29の外表
面を窪ませた溝31を形成してある。溝31の深さは、
リード25の厚みの略半分程度で形成してある。溝31
の形状としては、例えば、隣接するリード25の角部
(リード露出面25aの縁部)同士を略円弧形状で連続
させた断面形状が考えられる。また、溝31の形状は、
図示は省略するが、隣接するリード25の角部同士をV
字形状で連続させた断面形状等であってもよい。従っ
て、この半導体装置21では、溝31を挟むことでリー
ド露出面25aのみが同一平面上で配されていることと
なる。
リード25同士の間に断面略円弧状の溝31を設けたこ
とにより、リード25同士に挟まれたモールド樹脂29
の外表面29aの距離が、リード露出面とモールド樹脂
外表面とを同一平面上で配した従来構造に比べて、長く
なる。即ち、リード25同士のモールド樹脂外表面29
a上における絶縁距離が長く確保されることになる。
とモールド樹脂外表面とを同一平面上で配した従来構造
に比べて、モールド樹脂外表面29a(溝31の底面)
が、リード露出面25aから離れることになる。即ち、
溝31を設けたことにより、リード25同士間の絶縁空
間が大きく確保されることになる。
ば、リード25同士の間に溝31を形成し、その溝31
の形状を、隣接するリード25の角部同士を略円弧形状
で連続させた断面形状としたので、モールド樹脂外表面
29a上におけるリード25間の絶縁距離を長く確保す
ることができる。この結果、基板への実装時或いは実装
後において、モールド樹脂外表面29a上に付着した不
純物によるリード25間での電気的リークを低減させる
ことができる。更に、リード25間に溝31を形成する
ことで、リード25間に形成される絶縁空間が大きくな
り、この絶縁空間にたまった不純物による電気的リーク
も低減させることができる。
露出面25aとモールド樹脂外表面29aとが同一平面
でなくなり、モールド成形時に、モールド樹脂29がモ
ールド樹脂外表面29a側からリード露出面25a上に
流出しにくくなり、リード露出面25a上での樹脂バリ
15(図7(b)参照)を防止することができる。
用いて好適な金型の構造を図3、図4に基づき説明す
る。図3は半導体装置を内側に設けた状態の本発明の金
型構造を示す断面図、図4は図3のC−C断面図であ
る。成形金型41は、下金型43と上金型45とにより
構成してある。下金型43には、モールド成形時、半導
体素子23及びリード25を収容し、熱硬化性樹脂を圧
入するためのキャビティ47を形成してある。半導体素
子23は、他方の面をキャビティ47の底面に接触さ
せ、リード25の露出面25aを上金型45のリード接
触面49に当接した状態でキャビティ47内に収容され
る。
触面49には断面波形状の凹凸面51を形成してある。
凹凸面51の凹部51aは、複数並設したリード25と
同一のピッチで形成してある。従って、リード25を露
出面25a側から押さえた上金型45は、凹凸面51の
凹部51aにリード25を配置させるとともに、凸部5
1bをリード25間に挿入することとなる。リード25
間に挿入する凸部51bの高さは、リード25の厚みの
略半分程度に設定してある。
ールド成形時、半導体素子23の他方の面をキャビティ
43の底面に当接させ、リード25の露出面25aを上
金型45のリード接触面49に当接して、半導体素子2
3を下金型43と上金型45とで挟み込んだ時、リード
接触面49に形成した凹凸面51の凹部51aがリード
25の角部に線接触して、高い接圧でリード25を押さ
えることになる。
することにより、熱硬化性樹脂を圧入して成形を行った
際には、リード25間のモールド樹脂外表面29aに断
面略円弧形状の溝31が形成されることとなる。
上金型45のリード接触面49に断面波形状の凹凸面5
1を形成したので、モールド成形時、下金型43と上金
型45とでリード25を挟み込んだ際、リード25の角
部を高い接圧で押さえることができ、リード露出面25
aへの樹脂の流出を防止することができる。
て成形を行うことにより、リード25間に断面略円弧形
状の溝31を容易に形成することができる。
る樹脂封止型半導体装置によれば、リード間に溝を形成
し、その溝の形状を断面略円弧形状としたので、モール
ド樹脂外表面上におけるリード間の絶縁距離を長く確保
することができる。この結果、モールド樹脂外表面上に
付着した不純物によるリード間の電気的リークを低減さ
せることができる。また、リード露出面とモールド樹脂
外表面とが同一平面でなくなるため、モールド成形時
に、モールド樹脂がリード露出面上に流出しにくくな
り、リード露出面上で発生する樹脂バリを防止すること
ができる。また、本発明に係る金型構造によれば、上金
型のリード接触面に断面波形状の凹凸面を形成したの
で、モールド成形時、リードの角部を高い接圧で押さえ
ることができ、リード露出面への樹脂の流出を防止する
ことができる。また、凹凸面の凸部をリード間に挿入し
て成形を行うことにより、リード間に断面略円弧形状の
溝を容易に形成することができる。
ある。
構造を示す断面図である。
ーク、樹脂バリを(a)(b)で説明する図である。
子 25 リード 29 モールド
樹脂 29a モールド樹脂外表面 31 溝 43 下金型 45 上金型 47 キャビティ 49 リード接
触面 51 凹凸面 51a 凹部 51b 凸部
Claims (2)
- 【請求項1】 半導体素子と、 該半導体素子の一方の面に該面の縁より内側で設けたリ
ードと、 前記半導体素子の一方の面と対向する該リードの面の反
対面を露出させて該リード及び前記半導体素子とを封止
するモールド樹脂と、 隣接する前記リード間のモールド樹脂外表面に該リード
間に亘って形成した断面略円弧形状の溝とを具備したこ
とを特徴とする樹脂封止型半導体装置。 - 【請求項2】 キャビティを有し該キャビティに半導体
素子及びリードを収容する下金型と、 前記キャビティに配置したリードに接触して該キャビテ
ィを塞ぐ上金型と、 該上金型のリード接触面に形成してあり複数整列した各
リードを凹部で圧接するとともにリード間に凸部を挿入
する断面波形状の凹凸面とを具備したことを特徴とする
金型構造。
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