JPH10173122A - メモリモジュール - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 マザーボードの設計変更を行わずにユニット
ボードの設計変更のみで半導体記憶装置の世代交替が可
能なメモリモジュールを提供する。 【解決手段】 マザーボードが、少なくとも2種類のユ
ニットボードに接続可能なユニットボードとの接続端子
を有し、半導体記憶装置の世代交替に伴う接続端子の変
更が発生した場合、上記ユニットボードとの接続端子か
ら適当な端子を選択することによりマザーボードとユニ
ットボードとを接続する。
ボードの設計変更のみで半導体記憶装置の世代交替が可
能なメモリモジュールを提供する。 【解決手段】 マザーボードが、少なくとも2種類のユ
ニットボードに接続可能なユニットボードとの接続端子
を有し、半導体記憶装置の世代交替に伴う接続端子の変
更が発生した場合、上記ユニットボードとの接続端子か
ら適当な端子を選択することによりマザーボードとユニ
ットボードとを接続する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体記憶装置を
搭載したユニットボードおよび該ユニットボードを搭載
するためのマザーボードからなるメモリモジュールに関
する。
搭載したユニットボードおよび該ユニットボードを搭載
するためのマザーボードからなるメモリモジュールに関
する。
【0002】
【従来の技術】従来、マザーボードに搭載する半導体記
憶装置の容量の増加を図る場合、マザーボードの上面お
よび下面に多数の半導体記憶装置を直接実装していたた
め、マザーボードの実装可能な面積との関係で大容量化
が困難であった。かかる問題点を解決するために、複数
の半導体記憶装置の高密度実装が可能なユニットボード
を作製し、かかるユニットボードに半導体記憶装置を実
装した後、ユニットボード自体をマザーボードに搭載す
る方法(特願平8−76947号)により、マザーボー
ドの大容量化を図っていた。
憶装置の容量の増加を図る場合、マザーボードの上面お
よび下面に多数の半導体記憶装置を直接実装していたた
め、マザーボードの実装可能な面積との関係で大容量化
が困難であった。かかる問題点を解決するために、複数
の半導体記憶装置の高密度実装が可能なユニットボード
を作製し、かかるユニットボードに半導体記憶装置を実
装した後、ユニットボード自体をマザーボードに搭載す
る方法(特願平8−76947号)により、マザーボー
ドの大容量化を図っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】半導体記憶装置は、世
代が進むに従って記憶容量が4倍ずつ増加するが、上記
方法では、ユニットボードに搭載される半導体記憶装置
を次世代の装置(即ち、記憶容量が4倍の記憶装置)に
換えた場合、ユニットボードとマザーボードを接続する
ための端子の数や配置も変わるため、マザーボード上の
接続端子の数や配置も半導体記憶装置の世代が代わる毎
にその都度変更する必要があった。そこで本発明は、マ
ザーボードの設計変更を行わずにユニットボードの設計
変更のみでメモリモジュールに使用される半導体記憶装
置の世代交替が可能なメモリモジュールを提供すること
を目的とする。
代が進むに従って記憶容量が4倍ずつ増加するが、上記
方法では、ユニットボードに搭載される半導体記憶装置
を次世代の装置(即ち、記憶容量が4倍の記憶装置)に
換えた場合、ユニットボードとマザーボードを接続する
ための端子の数や配置も変わるため、マザーボード上の
接続端子の数や配置も半導体記憶装置の世代が代わる毎
にその都度変更する必要があった。そこで本発明は、マ
ザーボードの設計変更を行わずにユニットボードの設計
変更のみでメモリモジュールに使用される半導体記憶装
置の世代交替が可能なメモリモジュールを提供すること
を目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】そこで、発明者らは鋭意
研究の結果、マザーボードが、少なくとも2種類のユニ
ットボードとの接続端子を有し、半導体記憶装置の記憶
容量の世代交替に伴ったユニットボード上のマザーボー
ドとの接続端子の変更が発生した場合、上記ユニットボ
ードとの接続端子から適当な端子を選択しマザーボード
とユニットボードとを接続することにより、マザーボー
ドの設計変更を行わずにユニットボードの設計変更のみ
で半導体記憶装置の世代交替に対応できることを見出し
本発明を完成した。
研究の結果、マザーボードが、少なくとも2種類のユニ
ットボードとの接続端子を有し、半導体記憶装置の記憶
容量の世代交替に伴ったユニットボード上のマザーボー
ドとの接続端子の変更が発生した場合、上記ユニットボ
ードとの接続端子から適当な端子を選択しマザーボード
とユニットボードとを接続することにより、マザーボー
ドの設計変更を行わずにユニットボードの設計変更のみ
で半導体記憶装置の世代交替に対応できることを見出し
本発明を完成した。
【0005】即ち、本発明は、複数の半導体記憶装置が
載置され、該半導体記憶装置と接続されるマザーボード
との接続端子を有する第1のユニットボードおよび上記
半導体記憶装置の次世代半導体記憶装置に相当する複数
の半導体記憶装置が載置され、該半導体記憶装置と接続
されるマザーボードとの接続端子を有する第2のユニッ
トボードの少なくとも2種類のユニットボードと、複数
の上記第1または第2のユニットボードを入れ換えて載
置可能なマザーボードとを含むメモリモジュールであっ
て、上記第1のユニットボードに代えて上記第2のユニ
ットボードを上記マザーボード上に載置する場合の第2
のユニットボードの占有領域が、上記第1のユニットボ
ードを上記マザーボード上に載置する場合の第1のユニ
ットボードの占有領域と実質的に同一であることを特徴
とするメモリモジュールである。かかる構造のメモリモ
ジュールを用いることにより、半導体記憶装置の世代交
替が必要となった場合、ユニットボードのみ設計変更を
行い、該ユニットボードをマザーボードに予め設けられ
たユニットボードとの接続端子中から必要な端子を選択
して接続することにより、マザーボードの設計変更を行
わずに設計変更後のユニットボードの搭載が可能とな
り、これによりマザーボードの設計変更なしに半導体記
憶装置の世代交替が可能となる。特に、上記第2のユニ
ットボードを接続するにあたり、該第2のユニットボー
ドが占有する領域が、前世代の半導体記憶装置を搭載す
る第1のユニットボードを接続する場合に該ユニットボ
ードが占有する領域と実質的に同一にすることより、マ
ザーボード上のユニットボードの実装領域の変更を行わ
ずに、または変更を最小限にとどめながらユニットボー
ドの交換を行うことが可能となる。また、上述のよう
に、本発明では、ユニットボードの取り替えに際してマ
ザーボードの変更が不要なため、半導体記憶装置の世代
交替に伴ってユニットボードが大きくなってもマザーボ
ードの大きさは変わらず、メモリモジュール自体の大き
さを変えずに半導体記憶装置の世代交替、例えば記憶容
量の増加を図ることができる。尚、マザーボード上に3
種類のユニットボードとの接続端子を設け、それに対応
する3種類のユニットボードを用いることにより、3世
代の半導体記憶装置の世代交替が可能となる。ここに、
半導体記憶装置の世代とは、一般には半導体記憶装置の
記憶容量の世代をいい、具体的には、1メガビット、4
メガビット、16メガビット等、4倍ずつ増加する半導
体記憶装置の記憶容量の世代をいうが、ここでは、この
他に記憶容量が同じであってアクセスビット数が増加す
る場合等も含むものとする。
載置され、該半導体記憶装置と接続されるマザーボード
との接続端子を有する第1のユニットボードおよび上記
半導体記憶装置の次世代半導体記憶装置に相当する複数
の半導体記憶装置が載置され、該半導体記憶装置と接続
されるマザーボードとの接続端子を有する第2のユニッ
トボードの少なくとも2種類のユニットボードと、複数
の上記第1または第2のユニットボードを入れ換えて載
置可能なマザーボードとを含むメモリモジュールであっ
て、上記第1のユニットボードに代えて上記第2のユニ
ットボードを上記マザーボード上に載置する場合の第2
のユニットボードの占有領域が、上記第1のユニットボ
ードを上記マザーボード上に載置する場合の第1のユニ
ットボードの占有領域と実質的に同一であることを特徴
とするメモリモジュールである。かかる構造のメモリモ
ジュールを用いることにより、半導体記憶装置の世代交
替が必要となった場合、ユニットボードのみ設計変更を
行い、該ユニットボードをマザーボードに予め設けられ
たユニットボードとの接続端子中から必要な端子を選択
して接続することにより、マザーボードの設計変更を行
わずに設計変更後のユニットボードの搭載が可能とな
り、これによりマザーボードの設計変更なしに半導体記
憶装置の世代交替が可能となる。特に、上記第2のユニ
ットボードを接続するにあたり、該第2のユニットボー
ドが占有する領域が、前世代の半導体記憶装置を搭載す
る第1のユニットボードを接続する場合に該ユニットボ
ードが占有する領域と実質的に同一にすることより、マ
ザーボード上のユニットボードの実装領域の変更を行わ
ずに、または変更を最小限にとどめながらユニットボー
ドの交換を行うことが可能となる。また、上述のよう
に、本発明では、ユニットボードの取り替えに際してマ
ザーボードの変更が不要なため、半導体記憶装置の世代
交替に伴ってユニットボードが大きくなってもマザーボ
ードの大きさは変わらず、メモリモジュール自体の大き
さを変えずに半導体記憶装置の世代交替、例えば記憶容
量の増加を図ることができる。尚、マザーボード上に3
種類のユニットボードとの接続端子を設け、それに対応
する3種類のユニットボードを用いることにより、3世
代の半導体記憶装置の世代交替が可能となる。ここに、
半導体記憶装置の世代とは、一般には半導体記憶装置の
記憶容量の世代をいい、具体的には、1メガビット、4
メガビット、16メガビット等、4倍ずつ増加する半導
体記憶装置の記憶容量の世代をいうが、ここでは、この
他に記憶容量が同じであってアクセスビット数が増加す
る場合等も含むものとする。
【0006】上記第1および第2のユニットボードのマ
ザーボードとの接続端子に接続するように上記マザーボ
ード上に設けられた2種類のユニットボードとの接続端
子は、夫々平行に2列ずつ配置され、上記第2のユニッ
トボードを接続するためのユニットボードとの接続端子
が、上記第1のユニットボードを接続するためのユニッ
トボードとの接続端子に対して平行かつ外方に配置さ
れ、かつ夫々のユニットボードとの接続端子間で共通す
る端子同士が接続されていることが好ましい。上記第1
および第2のユニットボードに設けられたマザーボード
との接続端子の配置は、各ユニットボードに搭載される
半導体記憶装置のピン配置等に合わせて設計されるた
め、マザーボードに設けられる2種類のユニットボード
との接続端子の配置もこれらに合わせる必要がある。従
って、一般には上記2種類のユニットボードとの接続端
子の配置(配列の順番等)が異なるため、共通端子を設
けて両者共通で用いることは困難である。そこで、本発
明では第2のユニットボードを接続するためのユニット
ボードとの接続端子を、第1のユニットボードを接続す
るためのユニットボードとの接続端子の外方に平行にな
るように配置し、かつ夫々のユニットボードとの接続端
子間で共通する端子同士をマザーボード上の配線により
接続することとしている。従って、第1および第2のユ
ニットボードを接続するためのユニットボードとの接続
端子は、両者に共通する端子同士が可能な限り近くに配
置されるように設計することが、マザーボード上の配線
を短くし、積層配線の減少を図る上で好ましい。
ザーボードとの接続端子に接続するように上記マザーボ
ード上に設けられた2種類のユニットボードとの接続端
子は、夫々平行に2列ずつ配置され、上記第2のユニッ
トボードを接続するためのユニットボードとの接続端子
が、上記第1のユニットボードを接続するためのユニッ
トボードとの接続端子に対して平行かつ外方に配置さ
れ、かつ夫々のユニットボードとの接続端子間で共通す
る端子同士が接続されていることが好ましい。上記第1
および第2のユニットボードに設けられたマザーボード
との接続端子の配置は、各ユニットボードに搭載される
半導体記憶装置のピン配置等に合わせて設計されるた
め、マザーボードに設けられる2種類のユニットボード
との接続端子の配置もこれらに合わせる必要がある。従
って、一般には上記2種類のユニットボードとの接続端
子の配置(配列の順番等)が異なるため、共通端子を設
けて両者共通で用いることは困難である。そこで、本発
明では第2のユニットボードを接続するためのユニット
ボードとの接続端子を、第1のユニットボードを接続す
るためのユニットボードとの接続端子の外方に平行にな
るように配置し、かつ夫々のユニットボードとの接続端
子間で共通する端子同士をマザーボード上の配線により
接続することとしている。従って、第1および第2のユ
ニットボードを接続するためのユニットボードとの接続
端子は、両者に共通する端子同士が可能な限り近くに配
置されるように設計することが、マザーボード上の配線
を短くし、積層配線の減少を図る上で好ましい。
【0007】上記ユニットボードは、4個の半導体記憶
装置を搭載し、該半導体記憶装置の次世代半導体記憶装
置の記憶容量を有するユニットボードを形成することが
好ましい。半導体記憶装置の記憶容量は、世代が交替す
るごとに4倍ずつ増加するため、ユニットボードに4個
の半導体記憶装置を搭載することにより、かかるユニッ
トボードを一体として、上記半導体記憶装置の次世代の
記憶容量を有する半導体記憶装置として取り扱うことが
可能となるからである。また、一般に最新世代の半導体
記憶装置は供給量が不安定であるため、供給量の安定し
た前世代の半導体記憶装置を4個用いて最新世代の半導
体記憶装置の代わりとして使用することも可能となる。
装置を搭載し、該半導体記憶装置の次世代半導体記憶装
置の記憶容量を有するユニットボードを形成することが
好ましい。半導体記憶装置の記憶容量は、世代が交替す
るごとに4倍ずつ増加するため、ユニットボードに4個
の半導体記憶装置を搭載することにより、かかるユニッ
トボードを一体として、上記半導体記憶装置の次世代の
記憶容量を有する半導体記憶装置として取り扱うことが
可能となるからである。また、一般に最新世代の半導体
記憶装置は供給量が不安定であるため、供給量の安定し
た前世代の半導体記憶装置を4個用いて最新世代の半導
体記憶装置の代わりとして使用することも可能となる。
【0008】上記半導体記憶装置は、ユニットボードの
表面および裏面に夫々2個ずつ設けられることが好まし
い。かかる構造によりユニットボードへの高密度実装が
可能となるからである。
表面および裏面に夫々2個ずつ設けられることが好まし
い。かかる構造によりユニットボードへの高密度実装が
可能となるからである。
【0009】上記半導体記憶装置は、ユニットボードの
表面に搭載された2個の半導体記憶装置を制御するため
の第1の制御系統と、ユニットボード裏面に搭載された
2個の半導体記憶装置を制御するための第2の制御系統
との2系統により制御されることが好ましい。このよう
にユニットボードの表面と裏面に搭載された半導体記憶
装置を夫々独立して制御する回路構成を採用することに
より、第1系統を用いたユニットボード表面の半導体記
憶装置へのアクセスと、第2系統を用いたユニットボー
ド表面の半導体記憶装置へのアクセスを交互に行うこと
により、半導体記憶装置へのアクセスに必要な時間を低
減し、半導体記憶装置への高速書込み/読出しが可能と
なる。尚、上記2系統により制御されるユニットボード
において、ユニットボード上面の半導体記憶装置または
下面の半導体記憶装置のいずれか一方を取り外すことに
より、1系統制御によるユニットボードとしての動作が
可能となる。
表面に搭載された2個の半導体記憶装置を制御するため
の第1の制御系統と、ユニットボード裏面に搭載された
2個の半導体記憶装置を制御するための第2の制御系統
との2系統により制御されることが好ましい。このよう
にユニットボードの表面と裏面に搭載された半導体記憶
装置を夫々独立して制御する回路構成を採用することに
より、第1系統を用いたユニットボード表面の半導体記
憶装置へのアクセスと、第2系統を用いたユニットボー
ド表面の半導体記憶装置へのアクセスを交互に行うこと
により、半導体記憶装置へのアクセスに必要な時間を低
減し、半導体記憶装置への高速書込み/読出しが可能と
なる。尚、上記2系統により制御されるユニットボード
において、ユニットボード上面の半導体記憶装置または
下面の半導体記憶装置のいずれか一方を取り外すことに
より、1系統制御によるユニットボードとしての動作が
可能となる。
【0010】上記マザーボードとの接続端子には、リー
ド型端子を採用しても良い。リード型端子を用いること
により、バンプ接続の場合に比べて取り扱いが容易とな
るためである。
ド型端子を採用しても良い。リード型端子を用いること
により、バンプ接続の場合に比べて取り扱いが容易とな
るためである。
【0011】上記マザーボードとの接続端子は、上記ユ
ニットボードの周囲の4つの辺に沿って設けられた4方
向タイプであることが好ましい。4方向タイプのマザー
ボードとの接続端子を採用することにより、対応して設
けられるユニットボードとの接続端子も矩形形状に配置
することができ、この結果、ユニットボードとの接続端
子の間隔が広くでき、マザーボード上の回路配線の引き
回しが容易となり、積層配線(内層での配線)を減らし
回路配線の低容量化等を図ることが可能となる。
ニットボードの周囲の4つの辺に沿って設けられた4方
向タイプであることが好ましい。4方向タイプのマザー
ボードとの接続端子を採用することにより、対応して設
けられるユニットボードとの接続端子も矩形形状に配置
することができ、この結果、ユニットボードとの接続端
子の間隔が広くでき、マザーボード上の回路配線の引き
回しが容易となり、積層配線(内層での配線)を減らし
回路配線の低容量化等を図ることが可能となる。
【0012】上記半導体記憶装置は、ECC機能および
/またはパリティ機能用に用いることも可能である。こ
のように、メモリモジュール中の半導体記憶装置の一部
をECC機能および/またはパリティ機能用に使用する
ことにより、メモリモジュールに半導体記憶装置のチェ
ック機能を持たせることが可能となるからである。
/またはパリティ機能用に用いることも可能である。こ
のように、メモリモジュール中の半導体記憶装置の一部
をECC機能および/またはパリティ機能用に使用する
ことにより、メモリモジュールに半導体記憶装置のチェ
ック機能を持たせることが可能となるからである。
【0013】
【発明の実施の形態】図1に本発明の実施の形態にかか
るメモリモジュールの外観図を示す。該メモリモジュー
ルは、マザーボード1およびユニットボード2から構成
され、マザーボード1はユニットボードとの接続端子を
有し、該ユニットボードとの接続端子上にマザーボード
との接続端子7を配置し接続することにより、マザーボ
ード1上にユニットボード2の搭載が可能となる。上記
ユニットボード2には、ユニットボード表面に2個、裏
面に2個の合計4個の半導体記憶装置3が搭載され、夫
々マザーボードとの接続端子と回路配線により接続され
ている。上記ユニットボード2は、搭載される半導体記
憶装置の世代の異なったユニットボードが2種類用意さ
れ、一方、上記マザーボード1にはかかる2種類のユニ
ットボードとの接続端子4が設けられている。これによ
り、上記ユニットボード2をそれに対応したユニットボ
ードとの接続端子4を選択して接続することにより、ユ
ニットボード2の取り替えが可能となり、マザーボード
1に搭載される半導体記憶装置の世代交替、即ちメモリ
モジュールの記憶容量の増加を図ることが可能となる。
尚、本実施の形態では2種類のユニットボードを用いる
場合について述べるが、3種類以上のユニットボードへ
の対応も可能である。
るメモリモジュールの外観図を示す。該メモリモジュー
ルは、マザーボード1およびユニットボード2から構成
され、マザーボード1はユニットボードとの接続端子を
有し、該ユニットボードとの接続端子上にマザーボード
との接続端子7を配置し接続することにより、マザーボ
ード1上にユニットボード2の搭載が可能となる。上記
ユニットボード2には、ユニットボード表面に2個、裏
面に2個の合計4個の半導体記憶装置3が搭載され、夫
々マザーボードとの接続端子と回路配線により接続され
ている。上記ユニットボード2は、搭載される半導体記
憶装置の世代の異なったユニットボードが2種類用意さ
れ、一方、上記マザーボード1にはかかる2種類のユニ
ットボードとの接続端子4が設けられている。これによ
り、上記ユニットボード2をそれに対応したユニットボ
ードとの接続端子4を選択して接続することにより、ユ
ニットボード2の取り替えが可能となり、マザーボード
1に搭載される半導体記憶装置の世代交替、即ちメモリ
モジュールの記憶容量の増加を図ることが可能となる。
尚、本実施の形態では2種類のユニットボードを用いる
場合について述べるが、3種類以上のユニットボードへ
の対応も可能である。
【0014】図2に、16メガビットDRAM(JED
EC規格 4メガ ×4 DRAM)用ユニットボード
と64メガビットDRAM(JEDEC規格 16メガ
×4 DRAM)用ユニットボードの2種類のユニッ
トボードと接続可能なユニットボードとの接続端子4の
配置を示す。外方に16個ずつ2列に配置されているの
が64メガビットDRAM用ユニットボードを接続する
ためのユニットボードとの接続端子であり、内方に13
個ずつ2列に配置されているのが16メガビットDRA
M用ユニットボードを接続するためのユニットボードと
の接続端子である。両者で共有する端子は、図2に示す
ように、できる限り近くに配置されるように設計され、
互いにマザーボード上の配線により接続されている。上
記マザーボード1は、積層構造になっており、マザーボ
ード上の配線は外層および内層にそれぞれ配置される
(図2、3)。
EC規格 4メガ ×4 DRAM)用ユニットボード
と64メガビットDRAM(JEDEC規格 16メガ
×4 DRAM)用ユニットボードの2種類のユニッ
トボードと接続可能なユニットボードとの接続端子4の
配置を示す。外方に16個ずつ2列に配置されているの
が64メガビットDRAM用ユニットボードを接続する
ためのユニットボードとの接続端子であり、内方に13
個ずつ2列に配置されているのが16メガビットDRA
M用ユニットボードを接続するためのユニットボードと
の接続端子である。両者で共有する端子は、図2に示す
ように、できる限り近くに配置されるように設計され、
互いにマザーボード上の配線により接続されている。上
記マザーボード1は、積層構造になっており、マザーボ
ード上の配線は外層および内層にそれぞれ配置される
(図2、3)。
【0015】まず、本実施の形態のマザーボード1に1
6メガビットDRAM用ユニットボード2を搭載した場
合のデータの読み出し手順について説明する。上記ユニ
ットボード2は、16メガビットDRAM用端子(内
方)によりマザーボード1と接続され、アドレス端子A
0〜A11からRAS/CASにより上位ビット/下位
ビットに分けてアドレス信号が入力される。本実施の形
態では、ユニットボード2に搭載された半導体記憶装置
3は、図8に示すように、ユニットボード2の上面の2
個からなる第1の系統と下面の2個からなる第2の2系
統に分かれている。従って、ユニットボード2上の半導
体記憶装置中のデータを読み出す場合、まず、RAS/
CASにより選択された第1の制御系統にアドレス信号
が入力され、上面の2個の半導体記憶装置中のデータが
読み出される。本実施の形態に用いられる半導体記憶装
置は、4ビットアクセスであるため、上記2個の半導体
記憶装置中、同じくRAS/CASにより選択された1
の半導体記憶装置(IC1)の該当アドレス中の4ビッ
トデータが、DQ1〜DQ4の4ビット信号として出力
される。次に、他の半導体記憶装置(IC2)の4ビッ
トデータが同じくDQ1〜DQ4の4ビット信号として
出力される。
6メガビットDRAM用ユニットボード2を搭載した場
合のデータの読み出し手順について説明する。上記ユニ
ットボード2は、16メガビットDRAM用端子(内
方)によりマザーボード1と接続され、アドレス端子A
0〜A11からRAS/CASにより上位ビット/下位
ビットに分けてアドレス信号が入力される。本実施の形
態では、ユニットボード2に搭載された半導体記憶装置
3は、図8に示すように、ユニットボード2の上面の2
個からなる第1の系統と下面の2個からなる第2の2系
統に分かれている。従って、ユニットボード2上の半導
体記憶装置中のデータを読み出す場合、まず、RAS/
CASにより選択された第1の制御系統にアドレス信号
が入力され、上面の2個の半導体記憶装置中のデータが
読み出される。本実施の形態に用いられる半導体記憶装
置は、4ビットアクセスであるため、上記2個の半導体
記憶装置中、同じくRAS/CASにより選択された1
の半導体記憶装置(IC1)の該当アドレス中の4ビッ
トデータが、DQ1〜DQ4の4ビット信号として出力
される。次に、他の半導体記憶装置(IC2)の4ビッ
トデータが同じくDQ1〜DQ4の4ビット信号として
出力される。
【0016】続いて、第2の制御系統が選択されユニッ
トボード2の下面の2個の半導体記憶装置(IC3、I
C4)が順次アクセスされ、同様に各半導体記憶装置か
ら4ビットデータが出力される。これらのデータは、マ
ザーボード1上の回路配線(図示せず)を通って、JE
DECの仕様に準拠して設けられたマザーボードの入出
力ピン(図示せず)に出力される。尚、VCC、VS
S、A0〜A11、RAS、CAS等の端子も夫々マザ
ーボード1上の経路配線によりマザーボードの入出力ピ
ン(図示せず)に接続されている。
トボード2の下面の2個の半導体記憶装置(IC3、I
C4)が順次アクセスされ、同様に各半導体記憶装置か
ら4ビットデータが出力される。これらのデータは、マ
ザーボード1上の回路配線(図示せず)を通って、JE
DECの仕様に準拠して設けられたマザーボードの入出
力ピン(図示せず)に出力される。尚、VCC、VS
S、A0〜A11、RAS、CAS等の端子も夫々マザ
ーボード1上の経路配線によりマザーボードの入出力ピ
ン(図示せず)に接続されている。
【0017】一方、64メガビットDRAM用ユニット
ボード2を搭載した場合は、64メガビットDRAM用
端子(外方)によりマザーボード1とユニットボード2
が接続され、ユニットボード2にはアドレス端子A0〜
A12からRAS/CASにより上位ビット/下位ビッ
トに分けてアドレス信号が入力される。64メガビット
DRAMの場合には、アドレス数が増加するため、A1
2端子が別途設けられる。64メガビットDRAM用ユ
ニットボードの場合も、上記16メガビットDRAM用
ユニットボードの場合と同様の方法でデータ信号の読み
出しが行われる。本実施の形態では、RAS/CASに
よる切換により、上記データ入出力端子(DQ0〜DQ
3)がデータの書き込みにも用いられる。
ボード2を搭載した場合は、64メガビットDRAM用
端子(外方)によりマザーボード1とユニットボード2
が接続され、ユニットボード2にはアドレス端子A0〜
A12からRAS/CASにより上位ビット/下位ビッ
トに分けてアドレス信号が入力される。64メガビット
DRAMの場合には、アドレス数が増加するため、A1
2端子が別途設けられる。64メガビットDRAM用ユ
ニットボードの場合も、上記16メガビットDRAM用
ユニットボードの場合と同様の方法でデータ信号の読み
出しが行われる。本実施の形態では、RAS/CASに
よる切換により、上記データ入出力端子(DQ0〜DQ
3)がデータの書き込みにも用いられる。
【0018】上記マザーボード1には、このような16
/64メガビットDRAMに対応可能なユニットボード
との接続端子4が2以上設けられ、これに図4に示すユ
ニットボード2を夫々搭載することにより多世代対応型
のメモリモジュールが形成される。図1は、マザーボー
ド1上の2カ所に上記ユニットボードとの接続端子が設
けられ、夫々にユニットボード2が搭載された例であ
る。尚、上記マザーボードの仕様はJEDECに準拠し
ており、JEDEC スタンダード 168ピン 8バ
イト DIMM仕様となっている。
/64メガビットDRAMに対応可能なユニットボード
との接続端子4が2以上設けられ、これに図4に示すユ
ニットボード2を夫々搭載することにより多世代対応型
のメモリモジュールが形成される。図1は、マザーボー
ド1上の2カ所に上記ユニットボードとの接続端子が設
けられ、夫々にユニットボード2が搭載された例であ
る。尚、上記マザーボードの仕様はJEDECに準拠し
ており、JEDEC スタンダード 168ピン 8バ
イト DIMM仕様となっている。
【0019】このように、マザーボード1に予め16メ
ガビットDRAM用ユニットボードおよび64メガビッ
トDRAM用ユニットボードに夫々対応したユニットボ
ードとの接続端子を設けておくことにより、マザーボー
ド1の設計変更を行わずに、ユニットボード2を交換す
るだけでメモリモジュール全体の記憶容量の世代交替、
即ち記憶容量の増加が可能となる。これにより、多世代
対応型マザーボードを予め開発しておけば、ユニットボ
ードの設計変更のみでメモリモジュールの記憶容量の世
代交替が可能となり、次世代メモリモジュールの開発期
間の短縮および開発コストの低減が可能となる。
ガビットDRAM用ユニットボードおよび64メガビッ
トDRAM用ユニットボードに夫々対応したユニットボ
ードとの接続端子を設けておくことにより、マザーボー
ド1の設計変更を行わずに、ユニットボード2を交換す
るだけでメモリモジュール全体の記憶容量の世代交替、
即ち記憶容量の増加が可能となる。これにより、多世代
対応型マザーボードを予め開発しておけば、ユニットボ
ードの設計変更のみでメモリモジュールの記憶容量の世
代交替が可能となり、次世代メモリモジュールの開発期
間の短縮および開発コストの低減が可能となる。
【0020】上記ユニットボードとの接続端子は、図2
に示すように、16メガビットDRAM用ユニットボー
ドに対応したユニットボードとの接続端子の外方に、6
4メガビットDRAM用ユニットボードに対応したユニ
ットボードとの接続端子を配置することにより、ユニッ
トボードを前者から後者に替えた場合、前者のユニット
ボードが占有していた領域が、後者の占有する領域と等
しいか、または含まれるようになる。これにより、16
メガビットDRAMから64メガビットDRAMへのユ
ニットボードの世代交替を、マザーボード1上のユニッ
トボード2の実装領域の変更なしに、または変更を最小
限にとどめながら行うことが可能となる。
に示すように、16メガビットDRAM用ユニットボー
ドに対応したユニットボードとの接続端子の外方に、6
4メガビットDRAM用ユニットボードに対応したユニ
ットボードとの接続端子を配置することにより、ユニッ
トボードを前者から後者に替えた場合、前者のユニット
ボードが占有していた領域が、後者の占有する領域と等
しいか、または含まれるようになる。これにより、16
メガビットDRAMから64メガビットDRAMへのユ
ニットボードの世代交替を、マザーボード1上のユニッ
トボード2の実装領域の変更なしに、または変更を最小
限にとどめながら行うことが可能となる。
【0021】ユニットボードとの接続端子4とユニット
ボード2との接続は、ユニットボード上のマザーボード
との接続端子7上に形成されたバンプ8を用いた半田接
続により(図5)、またはリード形状のマザーボードと
の接続端子9を半田接続することにより(図6)行うこ
とができる。
ボード2との接続は、ユニットボード上のマザーボード
との接続端子7上に形成されたバンプ8を用いた半田接
続により(図5)、またはリード形状のマザーボードと
の接続端子9を半田接続することにより(図6)行うこ
とができる。
【0022】図3に、交換可能な2種類のユニットボー
ド2が、8ビットアクセスの16メガビットDRAM
(JEDEC規格 2メガビット ×8 DRAM)用
ユニットボードと、4ビットアクセスの16メガビット
DRAM(JEDEC規格 4メガビット ×4 DR
AM)用ユニットボードである場合のユニットボードと
の接続端子4の配置を示す。この場合も、図3に示すよ
うに上記の場合と同様に8ビットアクセスDRAM用端
子が、4ビットアクセスDRAM用端子の外方に、互い
に平行になるように平行に配置されている。かかる実施
の形態では、アクセスビット数が異なることに対応し
て、4ビットアクセスの16メガビットDRAM用ユニ
ットボードに対応したユニットボードとの接続端子には
4個のデータ入出力端子(DQ1〜DQ4)が、一方8
ビットアクセスの16メガビットDRAM用ユニットボ
ードに対応したユニットボードとの接続端子には8個の
データ入出力端子(DQ1〜DQ8)が設けられ、それ
ぞれマザーボードの入出力ピン(図示せず)に接続され
ている。尚、本実施の形態では、16メガビットDRA
M(×4)用ユニットボードとの接続端子中、A11端
子は使用されていない(接続されていない)。
ド2が、8ビットアクセスの16メガビットDRAM
(JEDEC規格 2メガビット ×8 DRAM)用
ユニットボードと、4ビットアクセスの16メガビット
DRAM(JEDEC規格 4メガビット ×4 DR
AM)用ユニットボードである場合のユニットボードと
の接続端子4の配置を示す。この場合も、図3に示すよ
うに上記の場合と同様に8ビットアクセスDRAM用端
子が、4ビットアクセスDRAM用端子の外方に、互い
に平行になるように平行に配置されている。かかる実施
の形態では、アクセスビット数が異なることに対応し
て、4ビットアクセスの16メガビットDRAM用ユニ
ットボードに対応したユニットボードとの接続端子には
4個のデータ入出力端子(DQ1〜DQ4)が、一方8
ビットアクセスの16メガビットDRAM用ユニットボ
ードに対応したユニットボードとの接続端子には8個の
データ入出力端子(DQ1〜DQ8)が設けられ、それ
ぞれマザーボードの入出力ピン(図示せず)に接続され
ている。尚、本実施の形態では、16メガビットDRA
M(×4)用ユニットボードとの接続端子中、A11端
子は使用されていない(接続されていない)。
【0023】このように、アクセスビット数の異なった
2種類のDRAM用ユニットボード2を交換することに
より、記憶容量が同じであってアクセスビット数の異な
る半導体記憶装置間の変更が、マザーボード1の設計変
更を行うことなく可能となり、メモリモジュールの開発
期間の短縮および開発コストの低減が可能となる。尚、
本実施の形態では、2種類のマザーボード接続端子を平
行に4列に並べて形成し、内方(2、3列目)に設けた
端子が一のユニットボードに対応し、外方(1、4列
目)に設けた端子が他のユニットボードに対応すること
としたが、例えば、1、3列目に設けた端子が一のユニ
ットボードに対応し、2、4列目に設けた端子が他のユ
ニットボードに対応するように形成することも可能であ
る。
2種類のDRAM用ユニットボード2を交換することに
より、記憶容量が同じであってアクセスビット数の異な
る半導体記憶装置間の変更が、マザーボード1の設計変
更を行うことなく可能となり、メモリモジュールの開発
期間の短縮および開発コストの低減が可能となる。尚、
本実施の形態では、2種類のマザーボード接続端子を平
行に4列に並べて形成し、内方(2、3列目)に設けた
端子が一のユニットボードに対応し、外方(1、4列
目)に設けた端子が他のユニットボードに対応すること
としたが、例えば、1、3列目に設けた端子が一のユニ
ットボードに対応し、2、4列目に設けた端子が他のユ
ニットボードに対応するように形成することも可能であ
る。
【0024】図4、図5は、上述の4個の半導体記憶装
置3を搭載した本実施の形態にかかるユニットボード2
の上面図をおよび側面図を示す。上記ユニットボード2
は、開口部を設けた基板6に半導体記憶装置3を搭載す
るためのランド5を開口部周縁に設け、基板6の上面、
下面にそれぞれ2個ずつ合計4個の半導体記憶装置3を
搭載する。また、基板2の左右周辺部には、上記マザー
ボード1上のユニットボードとの接続端子4に対応する
位置に、マザーボードとの接続端子7が設けられ、ラン
ド5と結線されている(図示せず)。更に、マザーボー
ドとの接続端子7上には、マザーボード1との接続用の
半田バンプ8が設けられている。このように、4個の半
導体記憶装置3を1組としてユニットボード2を形成す
ることにより、前世代の記憶容量を有する半導体記憶装
置を用いて、次世代の記憶容量を有するユニットボード
を形成することができる。即ち、半導体記憶装置の記憶
容量は、世代が交替するごとに4倍ずつ増加するため、
かかるユニットボード2をひとまとめとして次世代の記
憶容量を有する半導体記憶装置として取り扱うことが可
能となる。また、一般に最新世代の記憶容量を有する半
導体記憶装置は供給量が不安定であるため、供給量の安
定した前世代の記憶容量を有する半導体記憶装置を用い
て最新世代の半導体記憶装置の代わりとして使用するこ
とが可能となる。
置3を搭載した本実施の形態にかかるユニットボード2
の上面図をおよび側面図を示す。上記ユニットボード2
は、開口部を設けた基板6に半導体記憶装置3を搭載す
るためのランド5を開口部周縁に設け、基板6の上面、
下面にそれぞれ2個ずつ合計4個の半導体記憶装置3を
搭載する。また、基板2の左右周辺部には、上記マザー
ボード1上のユニットボードとの接続端子4に対応する
位置に、マザーボードとの接続端子7が設けられ、ラン
ド5と結線されている(図示せず)。更に、マザーボー
ドとの接続端子7上には、マザーボード1との接続用の
半田バンプ8が設けられている。このように、4個の半
導体記憶装置3を1組としてユニットボード2を形成す
ることにより、前世代の記憶容量を有する半導体記憶装
置を用いて、次世代の記憶容量を有するユニットボード
を形成することができる。即ち、半導体記憶装置の記憶
容量は、世代が交替するごとに4倍ずつ増加するため、
かかるユニットボード2をひとまとめとして次世代の記
憶容量を有する半導体記憶装置として取り扱うことが可
能となる。また、一般に最新世代の記憶容量を有する半
導体記憶装置は供給量が不安定であるため、供給量の安
定した前世代の記憶容量を有する半導体記憶装置を用い
て最新世代の半導体記憶装置の代わりとして使用するこ
とが可能となる。
【0025】図5に示すユニットボード2では、マザー
ボードとの接続端子7上に半田バンプ8が設けられてい
るが、図6に示すように、半田バンプ8の代わりにリー
ド端子9を用いることも可能である。
ボードとの接続端子7上に半田バンプ8が設けられてい
るが、図6に示すように、半田バンプ8の代わりにリー
ド端子9を用いることも可能である。
【0026】図7に、マザーボードとの接続端子7が、
ユニットボード2周囲の4方向に設けられている実施の
形態(下面図)を示す。図4に示した実施の形態では、
マザーボードとの接続端子7がユニットボード2の左右
周辺部のみに設けられているのに対し、本実施の形態で
は、これに加えて上下周辺部にも設けられている。これ
により、対応して設けられるユニットボードとの接続端
子4も図2、3のような2列の直線形状ではなく矩形形
状に配置することができる。この結果、ユニットボード
との接続端子4の間隔を広くでき、マザーボード1上の
回路配線の引き回しが容易となるとともに、積層配線構
造を少なくすることが可能となり、回路配線の低容量化
等を図ることが可能となる。
ユニットボード2周囲の4方向に設けられている実施の
形態(下面図)を示す。図4に示した実施の形態では、
マザーボードとの接続端子7がユニットボード2の左右
周辺部のみに設けられているのに対し、本実施の形態で
は、これに加えて上下周辺部にも設けられている。これ
により、対応して設けられるユニットボードとの接続端
子4も図2、3のような2列の直線形状ではなく矩形形
状に配置することができる。この結果、ユニットボード
との接続端子4の間隔を広くでき、マザーボード1上の
回路配線の引き回しが容易となるとともに、積層配線構
造を少なくすることが可能となり、回路配線の低容量化
等を図ることが可能となる。
【0027】また、ユニットボード2に搭載される半導
体記憶装置3は、必要に応じてECC(Error C
orrection Code)機能および/またはパ
リティ機能用としてを用いることも可能である。これに
より半導体記憶装置の入出力データ等のエラーチェック
が可能となる。
体記憶装置3は、必要に応じてECC(Error C
orrection Code)機能および/またはパ
リティ機能用としてを用いることも可能である。これに
より半導体記憶装置の入出力データ等のエラーチェック
が可能となる。
【0028】特に、マザーボード1に複数のユニットボ
ード2を搭載する場合は、実装密度を上げるために、図
9に示すような半導体記憶装置3を上下に2個搭載した
ユニットボード(図4にユニットボード2を左右に分割
したものに相当)を使用することも可能である。かかる
ユニットボードを用いることにより、4個の半導体記憶
装置3を搭載したユニットボード2では実装不可能な狭
い場所への実装が可能となる場合もあるからである。
ード2を搭載する場合は、実装密度を上げるために、図
9に示すような半導体記憶装置3を上下に2個搭載した
ユニットボード(図4にユニットボード2を左右に分割
したものに相当)を使用することも可能である。かかる
ユニットボードを用いることにより、4個の半導体記憶
装置3を搭載したユニットボード2では実装不可能な狭
い場所への実装が可能となる場合もあるからである。
【0029】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明で
は、半導体記憶装置の世代交替、即ち記憶容量の増加が
必要となった場合、マザーボードの設計変更を行わずに
ユニットボードの設計変更だけで半導体記憶装置の世代
交替が可能となるため、次世代記憶容量に対応したメモ
リモジュールの開発期間の短縮および開発コストの削減
を図ることが可能となる。
は、半導体記憶装置の世代交替、即ち記憶容量の増加が
必要となった場合、マザーボードの設計変更を行わずに
ユニットボードの設計変更だけで半導体記憶装置の世代
交替が可能となるため、次世代記憶容量に対応したメモ
リモジュールの開発期間の短縮および開発コストの削減
を図ることが可能となる。
【0030】また、ユニットボードに4個の半導体記憶
装置を搭載し、次世代の記憶容量を有するユニットボー
ドを構成することにより、かかるユニットボードを一体
として次世代の記憶容量を有する1個の半導体記憶装置
のように取り扱うことが可能となる。
装置を搭載し、次世代の記憶容量を有するユニットボー
ドを構成することにより、かかるユニットボードを一体
として次世代の記憶容量を有する1個の半導体記憶装置
のように取り扱うことが可能となる。
【0031】特に、供給量の不安定な最新世代の半導体
記憶装置の代わりに、供給量の安定した前世代の記憶容
量を有する半導体記憶装置4個からなる上記ユニットボ
ードを同等品として使用することにより、半導体記憶装
置の供給量に左右されずにメモリモジュールの安定供給
を行うことが可能となる。
記憶装置の代わりに、供給量の安定した前世代の記憶容
量を有する半導体記憶装置4個からなる上記ユニットボ
ードを同等品として使用することにより、半導体記憶装
置の供給量に左右されずにメモリモジュールの安定供給
を行うことが可能となる。
【図1】 本発明の実施の形態にかかるマザーボード上
にユニットボードを搭載したメモリモジュールの外観図
である。
にユニットボードを搭載したメモリモジュールの外観図
である。
【図2】 本発明の実施の形態にかかる64メガビット
DRAM(×4)用ユニットボードおよび16メガビッ
トDRAM(×4)用ユニットボード共用のユニットボ
ードとの接続端子の配置図である。
DRAM(×4)用ユニットボードおよび16メガビッ
トDRAM(×4)用ユニットボード共用のユニットボ
ードとの接続端子の配置図である。
【図3】 本発明の実施の形態にかかる16メガビット
DRAM(×8)用ユニットボードおよび16メガビッ
トDRAM(×4)用ユニットボード共用のユニットボ
ードとの接続端子の配置図である。
DRAM(×8)用ユニットボードおよび16メガビッ
トDRAM(×4)用ユニットボード共用のユニットボ
ードとの接続端子の配置図である。
【図4】 本発明の実施の形態にかかるユニットボード
の上面図である。
の上面図である。
【図5】 本発明の実施の形態にかかるユニットボード
の側面図である。
の側面図である。
【図6】 本発明の実施の形態にかかるユニットボード
の側面図である。
の側面図である。
【図7】 本発明の実施の形態にかかるユニットボード
の下面図である。
の下面図である。
【図8】 本発明の実施の形態にかかる2系統制御のユ
ニットボードの電気配線図である。
ニットボードの電気配線図である。
【図9】 本発明の実施の形態にかかるユニットボード
の上面図である。
の上面図である。
1 マザーボード、2 ユニットボード、3 半導体記
憶装置、4 ユニットボードとの接続端子、5 ラン
ド、6 基板、7 マザーボードとの接続端子、8 バ
ンプ、9 リード。
憶装置、4 ユニットボードとの接続端子、5 ラン
ド、6 基板、7 マザーボードとの接続端子、8 バ
ンプ、9 リード。
Claims (8)
- 【請求項1】 複数の半導体記憶装置が載置され、該半
導体記憶装置と接続されるマザーボードとの接続端子を
有する第1のユニットボードおよび上記半導体記憶装置
の次世代半導体記憶装置に相当する複数の半導体記憶装
置が載置され、該半導体記憶装置と接続されるマザーボ
ードとの接続端子を有する第2のユニットボードの少な
くとも2種類のユニットボードと、 複数の上記第1または第2のユニットボードを入れ換え
て載置可能なマザーボードとを含むメモリモジュールで
あって、 上記第1のユニットボードに代えて上記第2のユニット
ボードを上記マザーボード上に載置する場合の第2のユ
ニットボードの占有領域が、上記第1のユニットボード
を上記マザーボード上に載置する場合の第1のユニット
ボードの占有領域と実質的に同一であることを特徴とす
るメモリモジュール。 - 【請求項2】 上記第1および第2のユニットボードの
マザーボードとの接続端子に接続するように上記マザー
ボードに設けられた2種類のユニットボードとの接続端
子が、夫々平行に2列ずつ配置され、上記第2のユニッ
トボードを接続するためのユニットボードとの接続端子
が、上記第1のユニットボードを接続するためのユニッ
トボードとの接続端子に対して平行かつ外方に配置さ
れ、かつ夫々のユニットボードとの接続端子間で共通す
る端子同士が接続されていることを特徴とする請求項1
に記載のメモリモジュール。 - 【請求項3】 上記ユニットボードが、4個の半導体記
憶装置を搭載し、該半導体記憶装置の次世代半導体記憶
装置の記憶容量を有するユニットボードを形成すること
を特徴とする請求項1または2に記載のメモリモジュー
ル。 - 【請求項4】 上記半導体記憶装置が、ユニットボード
の表面および裏面に夫々2個ずつ設けられることを特徴
とする請求項3に記載のメモリモジュール。 - 【請求項5】 上記半導体記憶装置が、ユニットボード
の表面に搭載された2個の半導体記憶装置を制御するた
めの第1の制御系統と、ユニットボード裏面に搭載され
た2個の半導体記憶装置を制御するための第2の制御系
統との2系統により制御されることを特徴とする請求項
3に記載のメモリモジュール。 - 【請求項6】 上記マザーボードとの接続端子が、リー
ド型端子であることを特徴とする請求項1または2に記
載のメモリモジュール。 - 【請求項7】 上記マザーボードとの接続端子が、上記
ユニットボードの周囲の4つの辺に沿って設けられた4
方向タイプであることを特徴とする請求項1または2に
記載のメモリモジュール。 - 【請求項8】 上記半導体記憶装置が、ECC機能およ
び/またはパリティ機能用に使用することを特徴とする
請求項1または2に記載のメモリモジュール。
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