JPH1011709A - 磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置におけるエラー訂正方法 - Google Patents
磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置におけるエラー訂正方法Info
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- JPH1011709A JPH1011709A JP8167540A JP16754096A JPH1011709A JP H1011709 A JPH1011709 A JP H1011709A JP 8167540 A JP8167540 A JP 8167540A JP 16754096 A JP16754096 A JP 16754096A JP H1011709 A JPH1011709 A JP H1011709A
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- Signal Processing (AREA)
- Digital Magnetic Recording (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 サーマルアスペリティにより発生するリード
エラーを、ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能にするこ
と。 【解決手段】 リードエラーと、サーマルアスペリティ
が検出された場合に、通常のＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹの訂
正能力よりも訂正能力を上げて再読込みを実行する。
エラーを、ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能にするこ
と。 【解決手段】 リードエラーと、サーマルアスペリティ
が検出された場合に、通常のＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹの訂
正能力よりも訂正能力を上げて再読込みを実行する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク装置
及び記録再生方法に関する。
及び記録再生方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の磁気ディスク装置の構成を図５に
示す。磁気ディスク装置は、磁気記録媒体１００に記録
再生ヘッド２００（以下単に「ヘッド」と称する）によ
り所望の情報を記録したり、又は磁気記録媒体に記録さ
れた情報をヘッド２００で読み出して再生する装置であ
る。
示す。磁気ディスク装置は、磁気記録媒体１００に記録
再生ヘッド２００（以下単に「ヘッド」と称する）によ
り所望の情報を記録したり、又は磁気記録媒体に記録さ
れた情報をヘッド２００で読み出して再生する装置であ
る。
【０００３】磁気ディスク装置を制御する回路は図５に
示すように、８つのブロックに分けることができる。磁
気ディスク装置は、制御回路として、中央演算処理装置
（ＣＰＵ）１と、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）２と、
ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）３と、ディスクコン
トローラ（ＨＤＣ）４と、Ｒ／Ｗ回路５と、サーボコン
トロール回路６と、スピンドルモータコントロール回路
７と、ヘッドアンプ８とからなる。
示すように、８つのブロックに分けることができる。磁
気ディスク装置は、制御回路として、中央演算処理装置
（ＣＰＵ）１と、リードオンリメモリ（ＲＯＭ）２と、
ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）３と、ディスクコン
トローラ（ＨＤＣ）４と、Ｒ／Ｗ回路５と、サーボコン
トロール回路６と、スピンドルモータコントロール回路
７と、ヘッドアンプ８とからなる。
【０００４】上記の各部の動作は以下の通りである。Ｃ
ＰＵ１は、磁気ディスク装置全体の制御を行う。制御手
順はＲＯＭ２に記憶された手順で行われる。
ＰＵ１は、磁気ディスク装置全体の制御を行う。制御手
順はＲＯＭ２に記憶された手順で行われる。
【０００５】ＲＯＭ２は、磁気ディスク装置の制御手順
を記憶する。ＲＡＭ３は、図示しないホストコンピュー
タや、Ｒ／Ｗ回路５からＨＤＣ４に送られてきたデータ
を一時保管したり、ＲＯＭ２にあらかじめ記述されてい
るシーケンスで動作するＣＰＵ１のメモリとして用いら
れる。
を記憶する。ＲＡＭ３は、図示しないホストコンピュー
タや、Ｒ／Ｗ回路５からＨＤＣ４に送られてきたデータ
を一時保管したり、ＲＯＭ２にあらかじめ記述されてい
るシーケンスで動作するＣＰＵ１のメモリとして用いら
れる。
【０００６】ＨＤＣ４は、ホスト側と磁気ディスク装置
間のインタフェースを行う。Ｒ／Ｗ回路５は、ＨＤＣ４
から送られてくるデータを磁気記録に適した形に変調
し、またヘッドアンプ８から送られてくるデータを復調
する。
間のインタフェースを行う。Ｒ／Ｗ回路５は、ＨＤＣ４
から送られてくるデータを磁気記録に適した形に変調
し、またヘッドアンプ８から送られてくるデータを復調
する。
【０００７】サーボコントロール回路６は、ＣＰＵ１か
らの命令により、ヘッド２００を指定されたシリンダへ
位置決めする。スピンドルモータコントロール回路７
は、磁気記録媒体の回転スピードをＣＰＵ１からの命令
に従いコントロールする。
らの命令により、ヘッド２００を指定されたシリンダへ
位置決めする。スピンドルモータコントロール回路７
は、磁気記録媒体の回転スピードをＣＰＵ１からの命令
に従いコントロールする。
【０００８】ヘッドアンプ８は、ヘッド２００から読み
出されてきた信号を増幅したり、Ｒ／Ｗ回路５から送ら
れてくる書込みデータに従いヘッド２００に流れる電流
の制御を行う。
出されてきた信号を増幅したり、Ｒ／Ｗ回路５から送ら
れてくる書込みデータに従いヘッド２００に流れる電流
の制御を行う。
【０００９】上記のように構成された磁気ディスク装置
の概略動作を説明する。磁気記録媒体に記録されたデー
タはヘッド２００に読み出され、ヘッドアンプ８により
増幅される。ヘッドアンプ８で増幅されたデータはＲ／
Ｗ回路５に送られる。Ｒ／Ｗ回路５に送られたデータは
Ｒ／Ｗ回路５で元のデータに戻されて、ＨＤＣ４に送ら
れる。
の概略動作を説明する。磁気記録媒体に記録されたデー
タはヘッド２００に読み出され、ヘッドアンプ８により
増幅される。ヘッドアンプ８で増幅されたデータはＲ／
Ｗ回路５に送られる。Ｒ／Ｗ回路５に送られたデータは
Ｒ／Ｗ回路５で元のデータに戻されて、ＨＤＣ４に送ら
れる。
【００１０】図６は、Ｒ／Ｗ回路５の概略構成を示すブ
ロック図である。Ｒ／Ｗ回路５は、ＡＧＣ回路５１と、
アナログフィルタ５２と、Ａ／Ｄコンバータ５３と、デ
ジタルフィルタ５４と、ビタビ復号器５５と、復調回路
５６とを有する。ＡＧＣ回路５１は、ヘッド２００から
出力信号の大小にかかわらず一定振幅になるように出力
信号の振幅を調整（増幅）する。アナログフィルタ５２
は、ＡＧＣ回路５１で増幅された信号のうち所定の帯域
の信号のみを通過させる。Ａ／Ｄコンバータ５３は入力
したアナログ信号をデジタル信号に変換する。デジタル
フィルタ５４はデジタル変換されたデジタル信号のうち
所定の帯域の信号のみを通過させる。ビタビ復号器５５
はデジタルフィルタ５４を通過したデジタル信号を所定
のデータに復号する。復調回路は、復号されたデータを
復調して、元のデータに戻す。
ロック図である。Ｒ／Ｗ回路５は、ＡＧＣ回路５１と、
アナログフィルタ５２と、Ａ／Ｄコンバータ５３と、デ
ジタルフィルタ５４と、ビタビ復号器５５と、復調回路
５６とを有する。ＡＧＣ回路５１は、ヘッド２００から
出力信号の大小にかかわらず一定振幅になるように出力
信号の振幅を調整（増幅）する。アナログフィルタ５２
は、ＡＧＣ回路５１で増幅された信号のうち所定の帯域
の信号のみを通過させる。Ａ／Ｄコンバータ５３は入力
したアナログ信号をデジタル信号に変換する。デジタル
フィルタ５４はデジタル変換されたデジタル信号のうち
所定の帯域の信号のみを通過させる。ビタビ復号器５５
はデジタルフィルタ５４を通過したデジタル信号を所定
のデータに復号する。復調回路は、復号されたデータを
復調して、元のデータに戻す。
【００１１】磁気ディスク装置では、リードエラーを訂
正するために、データを磁気記録媒体に書き込む際にＨ
ＤＣ４がホストから送られてきたデータに数バイトの冗
長データを付加することが一般的に行われている。
正するために、データを磁気記録媒体に書き込む際にＨ
ＤＣ４がホストから送られてきたデータに数バイトの冗
長データを付加することが一般的に行われている。
【００１２】ＨＤＣ４は、リード時に、Ｒ／Ｗ回路５か
ら送られてきたデータに誤りがないか、データと冗長デ
ータを用いてチェックを行うと同時に、訂正可能なエラ
ーに対しては、リアルタイムに訂正を行っている。
（「ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹ訂正」と呼ばれ広く用いられ
ている） ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能なエラーの数は、デー
タライト時に付加した冗長データ長が長いほど多くなる
が、フォーマット効率が悪くなるので、通常はリードエ
ラーレートと、フォーマット効率を考慮した上で、最適
な冗長データ長でシステムは設計される。
ら送られてきたデータに誤りがないか、データと冗長デ
ータを用いてチェックを行うと同時に、訂正可能なエラ
ーに対しては、リアルタイムに訂正を行っている。
（「ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹ訂正」と呼ばれ広く用いられ
ている） ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能なエラーの数は、デー
タライト時に付加した冗長データ長が長いほど多くなる
が、フォーマット効率が悪くなるので、通常はリードエ
ラーレートと、フォーマット効率を考慮した上で、最適
な冗長データ長でシステムは設計される。
【００１３】ある決められた冗長データ長で、訂正する
データエラー数の上限は、誤訂正の確率がどれくらいあ
るかで決められる。一般的に決められた冗長データ長
で、訂正するデータエラーの数の上限を上げると、誤訂
正の確率が高くなる。従って、通常磁気ディスク装置で
は、フォーマット効率と、エラー訂正前のリードエラー
レート、誤訂正の確率を考慮した上で、冗長データ長、
訂正するデータエラー数の最大値を決定する。
データエラー数の上限は、誤訂正の確率がどれくらいあ
るかで決められる。一般的に決められた冗長データ長
で、訂正するデータエラーの数の上限を上げると、誤訂
正の確率が高くなる。従って、通常磁気ディスク装置で
は、フォーマット効率と、エラー訂正前のリードエラー
レート、誤訂正の確率を考慮した上で、冗長データ長、
訂正するデータエラー数の最大値を決定する。
【００１４】ところで、最近ＭＲヘッド２００が用いら
れるようになったが、ＭＲヘッド２００は、図７にある
ように、ヘッド２００のＭＲ部に磁気記録媒体の突起部
分がこすれることによって生じる摩擦熱（「サーマルア
スペリティ」と呼ばれている）で、波形ひずみが生じ
る。
れるようになったが、ＭＲヘッド２００は、図７にある
ように、ヘッド２００のＭＲ部に磁気記録媒体の突起部
分がこすれることによって生じる摩擦熱（「サーマルア
スペリティ」と呼ばれている）で、波形ひずみが生じ
る。
【００１５】このような波形ひずみが発生した場合、ひ
ずみがある部分はデータが正しくリードできないため、
リードエラーになってしまう。しかし、波形ひずみによ
って発生するエラー長が、ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正
可能な長さであれば、ＨＤＣ４での訂正が可能である。
ずみがある部分はデータが正しくリードできないため、
リードエラーになってしまう。しかし、波形ひずみによ
って発生するエラー長が、ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正
可能な長さであれば、ＨＤＣ４での訂正が可能である。
【００１６】しかし、ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能
なエラーの長さは、先に述べたように、誤訂正の頻度に
基づいて設計され、ある値に固定されている。従って、
図７にあるような、サーマルアスペリティにより起こる
エラー長が、訂正可能なエラー長を少しでも越えると、
ＨＤＣ４でのエラー訂正はできなくなる。
なエラーの長さは、先に述べたように、誤訂正の頻度に
基づいて設計され、ある値に固定されている。従って、
図７にあるような、サーマルアスペリティにより起こる
エラー長が、訂正可能なエラー長を少しでも越えると、
ＨＤＣ４でのエラー訂正はできなくなる。
【００１７】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来
は、サーマルアスペリティによって起こるエラーの長さ
が、訂正可能なエラー長より長くなると、エラー訂正が
できなくなるという問題があった。本発明は、サーマル
アスペリティにより発生するリードエラーを、ＯＮ−Ｔ
ＨＥ−ＦＬＹで訂正可能にすることを目的とする。
は、サーマルアスペリティによって起こるエラーの長さ
が、訂正可能なエラー長より長くなると、エラー訂正が
できなくなるという問題があった。本発明は、サーマル
アスペリティにより発生するリードエラーを、ＯＮ−Ｔ
ＨＥ−ＦＬＹで訂正可能にすることを目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するために次のような手段を講じた。本発明は、サ
ーマルアスペリティが発生したことを検出するサーマル
アスペリティ検出回路を備えたことを特徴とする。更
に、サーマルアスペリティの発生が検出された場所で、
ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正不可能なリードエラーが発
生した場合には、ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能なエ
ラー長を長くする（すなわち誤訂正の確率を上げる）こ
とを特徴とする。すなわち、訂正可能なエラー長を変更
（長くした）後にデータを再度リードして、エラー訂正
を行って、当該部分のエラー訂正後には、訂正可能なエ
ラー長を元の長さに戻すようにしている。
解決するために次のような手段を講じた。本発明は、サ
ーマルアスペリティが発生したことを検出するサーマル
アスペリティ検出回路を備えたことを特徴とする。更
に、サーマルアスペリティの発生が検出された場所で、
ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正不可能なリードエラーが発
生した場合には、ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能なエ
ラー長を長くする（すなわち誤訂正の確率を上げる）こ
とを特徴とする。すなわち、訂正可能なエラー長を変更
（長くした）後にデータを再度リードして、エラー訂正
を行って、当該部分のエラー訂正後には、訂正可能なエ
ラー長を元の長さに戻すようにしている。
【００１９】上記のように本発明によれば、従来ならば
ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正できないようなサーマルア
スペリティによるリードエラーを、ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬ
Ｙの訂正長さを長くすることにより訂正可能になる。
ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正できないようなサーマルア
スペリティによるリードエラーを、ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬ
Ｙの訂正長さを長くすることにより訂正可能になる。
【００２０】
【発明の実施の形態】図面を参照して本発明の実施の形
態を説明する。図１は本発明の概略構成を示すブロック
図である。図１において、図５と同じ部分には、同じ符
号を付し、詳細な説明は省略する。
態を説明する。図１は本発明の概略構成を示すブロック
図である。図１において、図５と同じ部分には、同じ符
号を付し、詳細な説明は省略する。
【００２１】図１に示す装置が、図５と異なる点は、Ｈ
ＤＣ４のエラー訂正長が可変であるＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬ
Ｙ回路４１と、Ｒ／Ｗ回路４のサーマルアスペリティ検
出回路５７とを付加した点である。
ＤＣ４のエラー訂正長が可変であるＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬ
Ｙ回路４１と、Ｒ／Ｗ回路４のサーマルアスペリティ検
出回路５７とを付加した点である。
【００２２】ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹ訂正長は、ＯＮ−Ｔ
ＨＥ−ＦＬＹ回路４１における訂正可能なエラー長をＨ
ＤＣ４の内部のレジスタをＣＰＵ３から書き換えること
によって行う。
ＨＥ−ＦＬＹ回路４１における訂正可能なエラー長をＨ
ＤＣ４の内部のレジスタをＣＰＵ３から書き換えること
によって行う。
【００２３】サーマルアスペリティ検出回路５７は、図
２に示すように、例えば、基準電圧発生部５７１と、コ
ンパレータ５７２とからなる。基準電圧発生器５７１は
サーマルアスペリティが発生したかどうかを判定するた
めの基準電圧を発生する。コンパレータ５７２は、ＡＧ
Ｃ回路５１からの出力と、基準電圧とを比較して、ＡＧ
Ｃ回路５１からの出力が基準電圧よりも高くなった場合
に、サーマルアスペリティが検出されたものとして、サ
ーマルアスペリティ検出信号を出力する。
２に示すように、例えば、基準電圧発生部５７１と、コ
ンパレータ５７２とからなる。基準電圧発生器５７１は
サーマルアスペリティが発生したかどうかを判定するた
めの基準電圧を発生する。コンパレータ５７２は、ＡＧ
Ｃ回路５１からの出力と、基準電圧とを比較して、ＡＧ
Ｃ回路５１からの出力が基準電圧よりも高くなった場合
に、サーマルアスペリティが検出されたものとして、サ
ーマルアスペリティ検出信号を出力する。
【００２４】上記の回路によって、サーマルアスペリテ
ィが検出できる理由を以下に示す。図３は、サーマルア
スペリティがある場合のＡＧＣ回路５１の出力波形を示
す図である。ＡＣＧ回路５１からの出力は、サーマルア
スペリティがなければ、常に一定になるはずであるが、
サーマルアスペリティがあると図３に示すように波形が
歪む。従って、図３に示すように、基準電圧Ｖref を最
適値に設定しておき、ＡＣＧ回路５１からの出力が、基
準電圧Ｖref を越えたときにコンパレータ５７２からパ
ルスが出力されるようにすれば、サーマルアスペリティ
の有無を検出できる。Ｖref の最適値は、ヘッドの出力
信号の分解能、Ｓ／Ｎ比などの条件によって異なること
があるので、ＣＰＵ１によって変えることができる方が
望ましい。例えば、分解能が高く、Ｓ／Ｎ比が悪い場合
には、Ｖref は通常より高めに競ってすることが好まし
い。
ィが検出できる理由を以下に示す。図３は、サーマルア
スペリティがある場合のＡＧＣ回路５１の出力波形を示
す図である。ＡＣＧ回路５１からの出力は、サーマルア
スペリティがなければ、常に一定になるはずであるが、
サーマルアスペリティがあると図３に示すように波形が
歪む。従って、図３に示すように、基準電圧Ｖref を最
適値に設定しておき、ＡＣＧ回路５１からの出力が、基
準電圧Ｖref を越えたときにコンパレータ５７２からパ
ルスが出力されるようにすれば、サーマルアスペリティ
の有無を検出できる。Ｖref の最適値は、ヘッドの出力
信号の分解能、Ｓ／Ｎ比などの条件によって異なること
があるので、ＣＰＵ１によって変えることができる方が
望ましい。例えば、分解能が高く、Ｓ／Ｎ比が悪い場合
には、Ｖref は通常より高めに競ってすることが好まし
い。
【００２５】また、コンパレータ５７２の出力を、ＣＰ
Ｕ１に入力して、サーマルアスペリティの持続時間を測
定することが好ましい。この持続時間は、コンパレータ
５７２から出力されるパルスのパルス幅をＣＰＵ１のタ
イマー機能を用いて測定することによって知ることがで
きる。この持続時間によって、サーマルアスペリティに
よるエラーの訂正が可能かどうかの判定も可能となる。
例えば、５０Ｍｂｐｓのチャンネルで、ＯＮ−ＴＨＥ−
ＦＬＹで９バイトのデータが訂正可能であるものと仮定
すると、８×９／（５×１０-6）＝１．４４μｓｅｃが
ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能なサーマルアスペリテ
ィの最大長となる。
Ｕ１に入力して、サーマルアスペリティの持続時間を測
定することが好ましい。この持続時間は、コンパレータ
５７２から出力されるパルスのパルス幅をＣＰＵ１のタ
イマー機能を用いて測定することによって知ることがで
きる。この持続時間によって、サーマルアスペリティに
よるエラーの訂正が可能かどうかの判定も可能となる。
例えば、５０Ｍｂｐｓのチャンネルで、ＯＮ−ＴＨＥ−
ＦＬＹで９バイトのデータが訂正可能であるものと仮定
すると、８×９／（５×１０-6）＝１．４４μｓｅｃが
ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能なサーマルアスペリテ
ィの最大長となる。
【００２６】上記のように構成された装置の動作を図４
を参照して説明する。図４は、本発明の動作を示すフロ
ーチャートである。図４は、リードエラーが発生した時
点からの処理を示している。
を参照して説明する。図４は、本発明の動作を示すフロ
ーチャートである。図４は、リードエラーが発生した時
点からの処理を示している。
【００２７】まず、リードエラーの発生に対して、サー
マルアスペリティが検出されたかどうかを判定する（ス
テップＳ１）。もしサーマルアスペリティが検出されな
ければ、通常のエラー処理を行い（ステップＳ２）、再
読込みが正しくおここなわれたかどうかを判定する（ス
テップＳ３）。そして、再読込みが正しく行われた場合
にはエラー処理を終了し、そうでない場合には回復不可
能な場合のエラー発生時の処理を行って（ステップＳ
４）、エラー処理を終了する。
マルアスペリティが検出されたかどうかを判定する（ス
テップＳ１）。もしサーマルアスペリティが検出されな
ければ、通常のエラー処理を行い（ステップＳ２）、再
読込みが正しくおここなわれたかどうかを判定する（ス
テップＳ３）。そして、再読込みが正しく行われた場合
にはエラー処理を終了し、そうでない場合には回復不可
能な場合のエラー発生時の処理を行って（ステップＳ
４）、エラー処理を終了する。
【００２８】ステップＳ１において、サーマルアスペリ
ティが検出された場合には、サーマルアスペリティの長
さ（持続時間）が、ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹ訂正可能範囲
であるかどうかを判定し（ステップＳ５）、訂正可能範
囲であれば、ＨＤＣ４のレジスタの書き換えによって、
ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能なエラー長を長くする
（ステップＳ６）。ステップＳ５において、エラーが訂
正不可能と判定された場合には、サーマルアスペリティ
による波形歪回路等をＯＮにして、特殊なエラー処理を
行い（ステップＳ９）、ステップＳ１０に進む。
ティが検出された場合には、サーマルアスペリティの長
さ（持続時間）が、ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹ訂正可能範囲
であるかどうかを判定し（ステップＳ５）、訂正可能範
囲であれば、ＨＤＣ４のレジスタの書き換えによって、
ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能なエラー長を長くする
（ステップＳ６）。ステップＳ５において、エラーが訂
正不可能と判定された場合には、サーマルアスペリティ
による波形歪回路等をＯＮにして、特殊なエラー処理を
行い（ステップＳ９）、ステップＳ１０に進む。
【００２９】再読込みを所定回数行い、複数回の読込み
に成功した場合には、エラー訂正後のデータの比較を行
い、誤訂正がないかどうか確認する（ステップＳ７）。
ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能なエラー長を、当初の
設定値に戻す（ステップＳ８）。すなわち、ＨＤＣ４の
レジスタの値を元の値に戻す。
に成功した場合には、エラー訂正後のデータの比較を行
い、誤訂正がないかどうか確認する（ステップＳ７）。
ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正可能なエラー長を、当初の
設定値に戻す（ステップＳ８）。すなわち、ＨＤＣ４の
レジスタの値を元の値に戻す。
【００３０】そして、比較エラー及びリードエラーがあ
るかどうかを判定し（ステップＳ１０）、エラーがなけ
れば、当該セクタにおける本エラー処理が所定回数以上
行われた場合には、欠陥部として当該セクタを登録し、
代替セクタにそのセクタのデータを移動して、当該セク
タを以降使用しないようにするなどの措置を講ずる（ス
テップＳ１１）。ステップＳ１０において、エラーがあ
った場合には、ステップＳ４に進み、回復不可能なエラ
ーが発生した場合の処理を行って、エラー処理を終了す
る。
るかどうかを判定し（ステップＳ１０）、エラーがなけ
れば、当該セクタにおける本エラー処理が所定回数以上
行われた場合には、欠陥部として当該セクタを登録し、
代替セクタにそのセクタのデータを移動して、当該セク
タを以降使用しないようにするなどの措置を講ずる（ス
テップＳ１１）。ステップＳ１０において、エラーがあ
った場合には、ステップＳ４に進み、回復不可能なエラ
ーが発生した場合の処理を行って、エラー処理を終了す
る。
【００３１】本発明は、上記の発明の実施の形態に限定
されるものではない。例えば、サーマルアスペリティの
検出に電圧比較回路を用いたが、電流比較回路を用いて
も良い。更に、リードデータの出力として、ＡＧＣ回路
の出力を利用したが、それに限らず、ヘッドで読み出し
た信号を比較しても構わない。
されるものではない。例えば、サーマルアスペリティの
検出に電圧比較回路を用いたが、電流比較回路を用いて
も良い。更に、リードデータの出力として、ＡＧＣ回路
の出力を利用したが、それに限らず、ヘッドで読み出し
た信号を比較しても構わない。
【００３２】また、基準電圧も固定ではなく、可変とす
ることも可能であり、この場合は、ＣＰＵで調整できる
ようにすることが好ましい。その他、本発明の要旨を変
更しない範囲で種々変形して実施できるのは勿論であ
る。
ることも可能であり、この場合は、ＣＰＵで調整できる
ようにすることが好ましい。その他、本発明の要旨を変
更しない範囲で種々変形して実施できるのは勿論であ
る。
【００３３】
【発明の効果】上記のように本発明によれば、従来なら
ばＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正できないようなサーマル
アスペリティによるリードエラーを、ＯＮ−ＴＨＥ−Ｆ
ＬＹの訂正長さを長くすることにより訂正可能になる。
ばＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹで訂正できないようなサーマル
アスペリティによるリードエラーを、ＯＮ−ＴＨＥ−Ｆ
ＬＹの訂正長さを長くすることにより訂正可能になる。
【図１】 本発明の概略構成を示すブロック図。
【図２】 サーマルアスペリティ検出回路の例を示すブ
ロック図。
ロック図。
【図３】 サーマルアスペリティがある場合のＡＧＣ回
路の出力波形を示す図。
路の出力波形を示す図。
【図４】 本発明の動作を示すフローチャート。
【図５】 従来の磁気ディスク装置の構成を示す図。
【図６】 従来のＲ／Ｗ回路の概略構成を示すブロック
図
図
【図７】 サーマルアスペリティがある場合のＡＧＣ回
路の出力波形を示す図。
路の出力波形を示す図。
１…中央演算処理装置（ＣＰＵ） ２…リードオンリメモリ（ＲＯＭ） ３…ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ） ４…ディスクコントローラ（ＨＤＣ） ４１…ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹ回路 ５…Ｒ／Ｗ回路 ５１…ＡＧＣ回路 ５２…アナログフィルタ ５３…Ａ／Ｄコンバータ ５４…デジタルフィルタ ５５…ビタビ復号器 ５６…復調回路 ５７…サーマルアスペリティ検出回路 ６…サーボコントロール回路 ７…スピンドルモータコントロール回路 ８…ヘッドアンプ １００…磁気記録媒体 ２００…記録再生ヘッド
Claims (8)
- 【請求項１】 磁気記録媒体に対するデータの記録再生
を行う磁気ディスク装置において、 前記磁気記録媒体から読み出されたデータ出力の大きさ
を所定の値と比較して、サーマルアスペリティを検出す
ることを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項２】 前記所定の値が中央演算処理部から制御
可能であるであることを特徴とする請求項１記載の磁気
ディスク装置。 - 【請求項３】 磁気ディスク装置が複数のヘッドを有
し、前記磁気記録媒体のそれぞれが複数のゾーンに分割
されている場合において、前記所定の値が、各ヘッド毎
及びゾーン毎に設定可能であることを特徴とする請求項
１記載の磁気ディスク装置。 - 【請求項４】 磁気記録媒体に対するデータの記録再生
を行う磁気ディスク装置において、 リードエラーと、サーマルアスペリティが検出された場
合に、通常のＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹの訂正能力よりも訂
正能力を上げて再読込みを実行することを特徴とする磁
気ディスク装置。 - 【請求項５】 複数回の読み出しに成功した場合に、そ
れらのデータを比較して、誤訂正がないことを判定する
ことを特徴とする請求項４記載の磁気ディスク。 - 【請求項６】 正常にエラー訂正が行われた場合に、当
該セクタを欠陥セクタとして登録し、他の正常な代替セ
クタにデータを移動することを特徴とする請求項４記載
の磁気ディスク装置。 - 【請求項７】 磁気記録媒体に対するデータの記録再生
を行う磁気ディスク装置において、 リードエラーと、サーマルアスペリティが検出された場
合に、通常のＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹの最大訂正能力を超
えるエラーが検出された場合には、通常とは異なるエラ
ー処理を行うことを特徴とする磁気ディスク装置。 - 【請求項８】 磁気記録媒体に対するデータの記録再生
を行う磁気ディスク装置におけるエラー訂正方法におい
て、 リードエラーを検出するステップと、 サーマルアスペリティを検出するステップと、 ＯＮ−ＴＨＥ−ＦＬＹ訂正能力を通常の設定よりも上げ
るステップと、 データの再読込みを行うステップと、を具備することを
特徴とするエラー訂正方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16754096A JP3268729B2 (ja) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | 磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置におけるエラー訂正方法 |
| US08/792,487 US5856983A (en) | 1996-06-27 | 1997-01-31 | Magnetic disk drive and error correction method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16754096A JP3268729B2 (ja) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | 磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置におけるエラー訂正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1011709A true JPH1011709A (ja) | 1998-01-16 |
| JP3268729B2 JP3268729B2 (ja) | 2002-03-25 |
Family
ID=15851604
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16754096A Expired - Fee Related JP3268729B2 (ja) | 1996-06-27 | 1996-06-27 | 磁気ディスク装置及び磁気ディスク装置におけるエラー訂正方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5856983A (ja) |
| JP (1) | JP3268729B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999018575A1 (en) * | 1997-10-06 | 1999-04-15 | Cirrus Logic, Inc. | Magnetic disk drive read channel with digital thermal asperity detector |
| EP0926671A1 (en) * | 1997-12-25 | 1999-06-30 | Fujitsu Limited | Magnetic disk device and error correction therefor |
| DE19900433C2 (de) * | 1998-06-18 | 2002-07-18 | Fujitsu Ltd | Verfahren zum Detektieren der thermischen Unebenheit einer Magnetspeichervorrichtung und Schaltung dafür |
| KR100688549B1 (ko) | 2005-05-24 | 2007-03-02 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리를 지원하는 온더플라이 ｂｃｃ 코덱시스템 및 방법 |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5995313A (en) * | 1997-01-21 | 1999-11-30 | Seagate Technology, Inc. | Thermal asperity suppression using high speed shorting and baseline compensation |
| US6438180B1 (en) | 1997-05-09 | 2002-08-20 | Carnegie Mellon University | Soft and hard sequence detection in ISI memory channels |
| US6201839B1 (en) * | 1997-05-09 | 2001-03-13 | Carnegie Mellon University | Method and apparatus for correlation-sensitive adaptive sequence detection |
| JPH113504A (ja) * | 1997-06-13 | 1999-01-06 | Fujitsu Ltd | 記憶装置 |
| JP3371396B2 (ja) * | 1998-09-24 | 2003-01-27 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | エラー回復方法及び装置 |
| US6397173B1 (en) * | 1999-05-03 | 2002-05-28 | Astec International Llc | Application specific waveform generator |
| US6266199B1 (en) * | 1999-05-18 | 2001-07-24 | International Business Machines Corporation | Method of apparatus to characterize and limit the effect of disk damage in a hard disk drive |
| US9397703B2 (en) * | 2013-12-04 | 2016-07-19 | Seagate Technology Llc | Adaptive read error recovery for memory devices |
| US9378083B2 (en) | 2013-12-04 | 2016-06-28 | Seagate Technology Llc | Adaptive read error recovery for memory devices |
| JP2019169218A (ja) * | 2018-03-22 | 2019-10-03 | 株式会社東芝 | 磁気ディスク装置 |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6046554B2 (ja) * | 1978-12-14 | 1985-10-16 | 株式会社東芝 | 半導体記憶素子及び記憶回路 |
| US4531203A (en) * | 1980-12-20 | 1985-07-23 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device and method for manufacturing the same |
| US4698787A (en) * | 1984-11-21 | 1987-10-06 | Exel Microelectronics, Inc. | Single transistor electrically programmable memory device and method |
| JPH0814991B2 (ja) * | 1988-01-28 | 1996-02-14 | 株式会社東芝 | 電気的消去可能不揮発性半導体記憶装置 |
| US4979174A (en) * | 1988-12-29 | 1990-12-18 | At&T Bell Laboratories | Error correction and detection apparatus and method |
| JP2554743B2 (ja) * | 1989-05-19 | 1996-11-13 | シャープ株式会社 | 再生のための誤り訂正装置 |
| US5029130A (en) * | 1990-01-22 | 1991-07-02 | Silicon Storage Technology, Inc. | Single transistor non-valatile electrically alterable semiconductor memory device |
| JPH03245575A (ja) * | 1990-02-22 | 1991-11-01 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置及びその製造方法 |
| US5280446A (en) * | 1990-09-20 | 1994-01-18 | Bright Microelectronics, Inc. | Flash eprom memory circuit having source side programming |
| US5233482A (en) * | 1991-07-31 | 1993-08-03 | International Business Machines Corporation | Thermal asperity compensation for PRML data detection |
| JP2857277B2 (ja) * | 1992-03-18 | 1999-02-17 | 富士通株式会社 | 磁気ディスク装置の回路パラメータ制御装置 |
| US5303187A (en) * | 1992-12-28 | 1994-04-12 | Yu Shih Chiang | Non-volatile semiconductor memory cell |
| US5527110A (en) * | 1993-04-30 | 1996-06-18 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for detecting asperities on magnetic disks using thermal proximity imaging |
| US5471351A (en) * | 1993-07-09 | 1995-11-28 | Fujitsu Limited | Method and apparatus of verifying accurate writing through comparisons of written and read data |
| JP3175415B2 (ja) * | 1993-08-09 | 2001-06-11 | 株式会社日立製作所 | 磁気記録再生装置 |
| US5610929A (en) * | 1994-03-11 | 1997-03-11 | Fujitsu Limited | Multibyte error correcting system |
| US5497111A (en) * | 1994-12-22 | 1996-03-05 | International Business Machines Corporation | Peak detection circuit for suppressing magnetoresistive thermal asperity transients in a data channel |
| US5530705A (en) * | 1995-02-08 | 1996-06-25 | International Business Machines Corporation | Soft error recovery system and method |
| US5696643A (en) * | 1995-04-20 | 1997-12-09 | International Business Machines Corporation | Disk drive apparatus and read error recovery method in a disk drive apparatus |
| US5701314A (en) * | 1995-12-21 | 1997-12-23 | Cirrus Logic, Inc. | On-the-fly error correction using thermal asperity erasure pointers from a sampled amplitude read channel in a magnetic disk drive |
-
1996
- 1996-06-27 JP JP16754096A patent/JP3268729B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-01-31 US US08/792,487 patent/US5856983A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999018575A1 (en) * | 1997-10-06 | 1999-04-15 | Cirrus Logic, Inc. | Magnetic disk drive read channel with digital thermal asperity detector |
| EP0926671A1 (en) * | 1997-12-25 | 1999-06-30 | Fujitsu Limited | Magnetic disk device and error correction therefor |
| US6754018B2 (en) | 1997-12-25 | 2004-06-22 | Fujitsu Limited | Magnetic disc device and error correction method therefor |
| DE19900433C2 (de) * | 1998-06-18 | 2002-07-18 | Fujitsu Ltd | Verfahren zum Detektieren der thermischen Unebenheit einer Magnetspeichervorrichtung und Schaltung dafür |
| KR100688549B1 (ko) | 2005-05-24 | 2007-03-02 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리를 지원하는 온더플라이 ｂｃｃ 코덱시스템 및 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3268729B2 (ja) | 2002-03-25 |
| US5856983A (en) | 1999-01-05 |
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