JPH09146107A - 液晶表示装置及びその製造方法 - Google Patents

液晶表示装置及びその製造方法

Info

Publication number
JPH09146107A
JPH09146107A JP28318095A JP28318095A JPH09146107A JP H09146107 A JPH09146107 A JP H09146107A JP 28318095 A JP28318095 A JP 28318095A JP 28318095 A JP28318095 A JP 28318095A JP H09146107 A JPH09146107 A JP H09146107A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
crystal display
display device
manufacturing
metal wiring
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP28318095A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3072707B2 (ja
Inventor
Kenji Koike
建史 小池
Manabu Kodate
学 古立
Mitsuru Ikezaki
充 池▲崎▼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Priority to JP28318095A priority Critical patent/JP3072707B2/ja
Priority to DE69635647T priority patent/DE69635647T2/de
Priority to EP96307538A priority patent/EP0772073B1/en
Priority to US08/735,906 priority patent/US5781253A/en
Publication of JPH09146107A publication Critical patent/JPH09146107A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3072707B2 publication Critical patent/JP3072707B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136204Arrangements to prevent high voltage or static electricity failures

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、製造工程での静電気対策を施した液
晶表示装置及びその製造方法に関し、ショートリング形
成前の静電気障害の発生を防止させた液晶表示装置及び
その製造方法を提供することを目的とする。 【解決の手段】ガラス基板2上にゲート線46が形成さ
れている。ゲート線46は断線しており、断線端部に
は、放電用隙間50を挾んで放電用突起部52、54が
形成されている。放電用突起部52、54はゲート線4
6切断部端部のほぼ中央に位置している。ゲート線46
上及び放電用隙間50に、ゲート絶縁膜56が度形成さ
れている。各ゲート線46の放電用突起部52、54近
傍のゲート絶縁膜56に2個のスルーホール58が開口
されている。スルーホール58を埋め込んでゲート絶縁
膜56上に金属配線層48が形成されているように構成
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置及び
その製造方法に関し、特に製造工程での静電気対策を施
した液晶表示装置及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】TFT(薄膜トランジスタ)等をスイッ
チング素子に用いたアクティブ・マトリクス型の液晶表
示装置は、対向配置されたガラス基板間に液晶を封入
し、当該液晶に電圧を印加して駆動させるものである。
対向配置された2枚のガラス基板の一方のガラス基板上
に複数の画素がマトリクス状に配列されて形成されてい
る。各画素にはITO(インジウム・ティン・オキサイ
ド)等からなる透明表示電極が形成され、各表示電極に
はTFT等のスイッチング素子がそれぞれ接続されてい
る。
【0003】各画素のTFTのゲート電極及びドレイン
電極は、画素と画素の間の領域に例えば行方向に形成さ
れた走査線と列方向に形成された信号線に夫々接続され
ている。信号線に階調データが出力されているときに走
査線が選択されるとTFTのゲートがオンし、信号線に
接続されたドレイン領域からソース領域に接続された表
示電極に階調データを書き込むことができるようになっ
ている。
【0004】図8及び図9を用いて液晶表示装置の配線
構造をより詳細に説明する。図8は従来のモジュール作
製工程により製造された液晶表示装置1の平面の一部を
示している。アレイ基板2の周囲より内側にカラーフィ
ルタ基板4が形成され、カラーフィルタ基板4周囲より
さらに内側にシール剤6が形成されている。シール剤6
で囲まれた内側領域は画像表示領域であり、多数のデー
タ線/ゲート線10が直交してマトリクス状に多数の画
素が形成されている。
【0005】アレイ基板2の周囲領域に形成されたOL
B電極は、ドライバIC30を搭載した複数のTCP1
2一端側のリード線にACF(異方性導電膜)により圧
着されている。アレイ基板2上に形成された配線10の
例えば200本毎に、1つのTCP12が対応している
が、本図においては配線10の本数は簡略乃至省略して
表している。TCP12の他端側には半田付けによりプ
リント基板32が取付けられている。
【0006】信号線又は走査線の平面形状を図9に示
す。TCP12一端側のリード線とACFにより圧着さ
れるOLB電極部40は、幅例えば50〜150μm、
長さ例えば3mmであり、一端は信号線又は走査線10
に接続されている。信号線/走査線10の幅は10〜5
0μm、長さは例えば20cmである。OLB電極部4
0及び、信号線/走査線10の幅及び長さは表示装置の
大きさ配線密度等により異なるものである。
【0007】図8においては煩雑さを避けるために省略
して図示しているが、図9で示す信号線/走査線が例え
ばVGA表示モードのカラー表示の場合、列方向に64
0×3=1920本、行方向に480本マトリクス状に
配線されている。
【0008】このように液晶表示パネルは多数の信号線
及び走査線がマトリクス状に配線されて形成されてお
り、さらにTFT等の素子も形成することから、液晶表
示パネルの製造工程において静電気による不良の発生が
問題となる。
【0009】液晶表示パネルの製造工程上問題となる静
電気障害及び従来の防止策について以下に簡述する。T
FTアレイのゲート配線とデータ配線は絶縁層によって
電気的に絶縁されている。例えばアレイ基板となるガラ
ス基板を液晶表示装置の製造装置のプレート上に真空引
きして固定するが、プロセス終了時に真空引きを解除し
てプレートからガラス基板を取り外す際にいわゆるはく
離帯電を生じる等、TFT/LCDの表示パネルの製造
工程においては種々の理由により静電気が帯電し易い。
ゲート線或はデータ線が帯電することにより、実際の駆
動電圧を大幅に上回る電圧がTFTや配線の交差部に印
加され、絶縁膜の絶縁破壊等が生じてしまい、結果とし
て、スイッチング素子として機能しなくなったり、線欠
陥等の致命的欠陥を引き起こしてしまうことになる。
【0010】このような静電気障害を予防する静電気障
害対策として、例えば、特開昭63−220289号公
報に開示されているような保護回路(ショートリング)
を形成することが行われている。これは、基準電位配線
を設け、各信号配線との間を2端子動作スイッチング素
子で個別に電気的に接続するようにしたものである。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】図10を用いて液晶表
示装置の製造工程におけるショートリングを用いた静電
気障害の対策を説明する。まず、液晶表示装置の製造工
程を工程順に大別して説明する。液晶表示装置の製造工
程は、ガラス基板上に走査線、信号線を形成し、TFT
等のスイッチング素子及び表示電極を形成するアレイ工
程、形成されたアレイ基板とカラーフィルタ基板とを貼
り合わせて液晶を注入し、シール剤により封止するセル
工程、そして最後にTAB取付け、プリント基板半田付
けを行うモジュール作製工程の3つから構成される。
【0012】そして、ショートリングは、アレイ工程で
ガラス基板上にゲート線(走査線)、TFT、表示電極
を形成した後、TFTのソース/ドレイン電極及び信号
配線を形成する段階になって初めて信号線形成と同時に
形成される。この段階で全ゲート線と全信号線とが、信
号線形成材料を用いて短絡され或は上述のように基準電
位配線とゲート線/信号線との間にスイッチング素子を
介して接続されることにより静電気障害を防止するよう
になっている。
【0013】このように、ショートリングは、その後の
ショートリング切り離しまでのセル工程では有効な静電
気障害対策手段であるといえるが、アレイ工程で信号線
を形成する以前の段階ではショートリングを形成するこ
とができないため、アレイ工程の大半で静電気障害を防
止させる有効な対策手段がないのが現状である。
【0014】しかしながら、近年の液晶表示装置の大型
化、高精細化に対応してゲート線の本線の長さが長く、
またゲート線の本数が多くなったり、層間絶縁膜の膜厚
等も薄くなったりしてくると、ショートリングがまだ形
成されていない段階で、ガラス基板上に形成されたゲー
ト線に静電気が帯電して画素内の層間絶縁膜を破壊して
しまう場合が発生する。
【0015】従って、液晶表示装置の製造工程における
全ての段階で静電気対策を講じる必要が生じてきてい
る。本発明の目的は、ショートリング形成前の静電気障
害の発生を防止させた液晶表示装置及びその製造方法を
提供することにある。さらに本発明の目的は、液晶表示
装置の製造工程のほぼ全工程において静電気障害の発生
を防止させた液晶表示装置及びその製造方法を提供する
ことにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的は、基板上の画
素領域にスイッチング素子が形成されたアクティブ・マ
トリクス型の液晶表示装置であって、基板上に形成さ
れ、一部領域が断線した一組の第1の金属配線と、第1
の金属配線上に一部領域を埋め込んで形成され、一部領
域の両側の第1の金属配線上に形成されたスルーホール
を有する絶縁層と、絶縁層上にスルーホールを埋め込ん
で形成され第1の金属配線と電気的に接続される第2の
金属配線とを備えたことを特徴とする液晶表示装置によ
って達成される。
【0017】また上記目的は、画素領域にスイッチング
素子が形成されたアクティブ・マトリクス型の液晶表示
装置の製造方法であって、スイッチング素子が形成され
るべき基板上に、一部領域を断線させた一組の第1の金
属配線を形成し、第1の金属配線上に一部領域を埋め込
む絶縁層を形成し、一部領域の両側の第1の金属配線上
の絶縁層にそれぞれスルーホールを形成し、絶縁層上に
スルーホールを埋め込んで第1の金属配線と電気的に接
続される第2の金属配線を形成することを特徴とする液
晶表示装置の製造方法によって達成される。
【0018】このように本発明によれば、液晶表示装置
の製造工程の初期段階で形成される下層配線、例えばゲ
ート線を所定の領域で断線して形成し、ゲート線に静電
気が帯電したときは、当該領域で放電させるようにして
いるので、ショートリング形成前工程での静電気起因の
画素不良を防止させることができるようになる。
【0019】さらに、ショートリング形成工程で、断線
したゲート線を他の金属配線層で接続することにより本
来のゲート線に戻し、同時に静電気対策はショートリン
グへと引き継ぐことができるようになる。
【0020】また、上記第1の金属配線の一部領域は、
好適には一組のそれぞれの第1の金属配線の面積がほぼ
等しくなる位置に形成することであり、液晶表示装置の
画素領域内に一部領域を形成しない場合には画素領域外
に形成することができる。
【0021】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図1乃至図
7を用いて説明する。まず、本発明の実施の形態による
液晶表示装置のゲート線の配線構造を図1乃至図3を用
いて説明する。本実施の形態においては、表示領域の大
きさが10インチ程度であって、VGA表示モードのカ
ラー液晶表示装置を前提にして説明する。
【0022】図1は本発明による液晶表示装置のパネル
周辺部の部分拡大平面図である。液晶表示装置のアレイ
基板2上に形成されたデータ線10及びゲート線46が
液晶を封止しているシール剤6を貫いて表示領域からO
LB電極部40まで伸びて形成されている。各ゲート線
46とデータ線10の配線により囲まれたマトリクス状
の領域が画素領域であり、画素領域のアレイ基板2上に
表示電極24が形成されている。夫々の表示電極24に
は夫々ゲート線46とデータ線10との交点位置にスイ
ッチング素子として例えばTFT26が形成されてい
る。アレイ基板2上にはシール剤6を介してカラーフィ
ルタ基板(図示せず)が貼り付けられている。アレイ基
板上のOLB電極部40上には例えばACFによりTC
P(図示せず)が接着されるようになっている。
【0023】図1の円44で囲まれた領域のアレイ基板
側の拡大平面図を図2に、その断面図を図3に示す。図
2及び図3を用いて本発明による液晶表示装置の特徴点
を説明する。ガラス基板2上に例えばMo、Ta、C
r、Al等の金属膜からなる例えば厚さ約0.3μmの
ゲート線46が形成されている。10インチの表示領域
の場合ゲート線46の幅は約20μm、ピッチは約33
0μmである。またゲート線46の長さは約20cmで
ある。
【0024】ゲート線46は断線しており、断線端部に
は、例えば間隔が6μm程度の放電用隙間50を挾んで
放電用突起部52、54が形成されている。放電用隙間
50は、OLB電極部40と画素領域のとの間の位置、
例えば画素領域から0.5mm程度OLB電極部よりの
位置に形成されている。放電用突起部52、54はゲー
ト線46切断部端部のほぼ中央に位置している。放電用
突起部52、54のゲート線端部からの高さ及び幅は共
に例えば約6μmである。
【0025】ゲート線46上及び放電用隙間50に、例
えばシリコン酸化膜からなるゲート絶縁膜56が例えば
厚さ約0.4μm程度形成されている。各ゲート線46
の放電用突起部52、54近傍のゲート絶縁膜56に2
個のスルーホール58が開口されている。
【0026】スルーホール58を埋め込んでゲート絶縁
膜56上に例えば厚さ0.3μm程度の例えばAl金属
配線層48が形成されている。このように本発明の実施
の形態による液晶表示装置は、ゲート線が一部において
断線しており、ゲート線上の絶縁膜に形成されたスルー
ホールを介して上層の金属配線層により断線したゲート
線を電気的に接続した構造となっている。
【0027】次に、本発明の実施の形態による液晶表示
装置のゲート線の形成方法を図4乃至図7を用いて説明
する。例えばスパッタリングによりMo、Ta、Cr、
Al等の金属膜42をガラス基板2上全面に例えば厚さ
約0.3μm程度堆積させる(図4)。次に金属膜42
をパターニングしてTFTのゲート電極(図示せず)及
びゲート線46を形成する(図5)。10インチの表示
領域の場合、ゲート線46の幅は約20μm、ピッチは
約330μmである。またゲート線46の長さは約20
cmである。
【0028】このとき各ゲート線46は一部で断線させ
るようにパターニングされ、図3の平面図に示したよう
に放電用隙間50及び放電用突起部52、54が形成さ
れる。放電用隙間50の間隔は、6μm程度である。放
電用突起部52、54はゲート線46切断部端部のほぼ
中央に位置している。放電用突起部52、54の端部か
らの高さ及び幅は共に例えば約6μmである。放電用突
起部52、54の形状は、本実施の形態においては、矩
形であるがこれに限るものではなく、三角形形状でも、
円形等でもよい。
【0029】放電用隙間50の間隔は、短ければ短いほ
どよいが、製造プロセス上の露光装置の位置決め精度等
を考慮すると4〜10μm程度でも十分放電する。放電
用突起部52、54の位置はなるべくゲート線端部の中
央に有るのが好ましい。液晶表示装置が高密度表示にな
ってくるとゲート配線の配線間隔(ピッチ)が狭くなる
ので、放電用突起部を偏って設けてしまうことにより隣
接する別のゲート線の放電用突起部に放電してしまうこ
とを避けるためである。
【0030】放電用隙間50の位置を決定するには放電
のし易さ等の観点から種々考慮すべき点があるが、簡易
的には切断されたゲート線46の面積がほぼ等しくなる
ような位置に放電用隙間を設ければよい。但し現実に
は、面積が等しくなる位置が画素領域内にある可能性が
高いので、その場合には画素領域とOLB電極40との
間の領域(例えば、引出し線の領域)に放電用電極50
を設けることが望ましい。本実施の形態では放電用隙間
50は、OLB電極部40と画素領域との間の例えば画
素領域から約0.5mm離れた位置に形成されている。
【0031】このように本発明によれば、アレイ工程で
ゲート配線用の配線を形成すると同時に静電気障害の対
策手段としての放電用隙間を形成することができるの
で、以降ショートリングを形成するまでの工程での静電
気による障害を防止することができるようになる。
【0032】次に、例えばCVD法により全面にゲート
絶縁膜56を例えば厚さ約0.4μm程度堆積する。こ
のときゲート絶縁膜56の形成材料(例えば、シリコン
酸化膜)で放電用隙間50は埋め込まれる(図6)。
【0033】その後、図示は省略するが、シリコン窒化
膜、アモルファス・シリコンの堆積等のTFTを形成す
る工程を経た後、ゲート絶縁膜56をパターニングし
て、各ゲート線46の放電用突起部52、54近傍のゲ
ート絶縁膜56に2個のスルーホール58を開口する。
そして、全面に例えば厚さ0.3μm程度の信号線形成
用の金属配線層を形成する。スルーホール58は堆積し
た金属配線層で埋め込まれる。配線材料としては、Al
をはじめゲート配線材料と同様の金属材料を用いること
ができる。
【0034】次に、信号線形成用の金属配線層をパター
ニングして信号線を形成する。このとき、同時にパター
ニングして、ゲート線46の放電用隙間50の両側のス
ルーホール58を介して切断されていたゲート線46を
電気的に接続するゲート線接続層48を形成する(図
7)。なお、ゲート線端部に接続されるOLB電極40
も同時に信号線配線金属により形成される。形成された
OLB電極40は幅約50μm長さ約3mmである。
【0035】この段階で、断線していたゲート線は電気
的に接続されて静電気障害の防止手段としての機能を失
うが、同時に信号線を形成する時点で従来からのショー
トリングを形成することにより、以後はショートリング
により静電気障害の対策を講じることができる。
【0036】このように本発明によれば、ゲート線を所
定の長さ、幅で断線し、帯電したゲート線の放電をこの
断線部で起こるようにしている。絶縁膜成膜後、ゲート
線に帯電した静電気はこの断線部で放電され断線部にあ
る絶縁膜が破壊されるが、画素に対する影響は生じない
ので画素不良の発生を防止することができるようにな
る。他層の金属配線でゲート線の隙間を接続すれば本来
のゲート線に戻り静電気対策の効果はなくなる。しか
し、この時同時に静電気除去回路(ショートリング)を形
成することができ、このショートリングに静電気対策機
能は移管される。
【0037】従って、液晶表示装置の製造工程のうち、
アレイ工程、セル工程の全域において、静電気障害に対
する防止手段を提供することができるようになる。本発
明の液晶表示装置の製造方法は、製造プロセスを何等増
加させる必要はなく、ただパターニングに用いるマスク
を変更するだけで、従来の製造プロセスにおいて静電気
障害防止の手段を得ることができるようになる。
【0038】本発明は、上記実施の形態に限らず種々の
変形が可能である。例えば、上記実施の形態において
は、ゲート線接続層48を信号線形成金属材料で信号線
形成と同時に形成したが、製造工程の増加を問題としな
ければ、他の金属材料を用いることももちろん可能であ
る。
【0039】また、本発明は静電気障害を製造工程の初
期の段階から防止させるため、下層の金属層(つまり、
工程初期の段階に形成される金属層)を静電気障害の防
止手段に供するようにすることを特徴としているので、
上記実施の形態に示したような、ゲート線が信号線の形
成より先に形成される、つまり、ゲート線が信号線の下
層に位置するいわゆるボトム・ゲート型(或は逆スタガ
型)のTFT構造の液晶表示装置のみならず、いわゆる
トップ・ゲート型(或はスタガ型)のTFT構造の液晶
表示装置に本発明を適用することももちろん可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態による液晶表示装置の配線
構造を示す図である。
【図2】本発明の実施の形態による液晶表示装置の配線
構造の平面図である。
【図3】本発明の実施の形態による液晶表示装置の配線
構造の断面図である。
【図4】本発明の実施の形態による液晶表示装置の製造
方法を示す図である。
【図5】本発明の実施の形態による液晶表示装置の製造
方法を示す図である。
【図6】本発明の実施の形態による液晶表示装置の製造
方法を示す図である。
【図7】本発明の実施の形態による液晶表示装置の製造
方法を示す図である。
【図8】液晶表示装置の配線構造を示す図である。
【図9】液晶表示装置の配線構造を示す図である。
【図10】液晶表示装置の製造工程におけるショートリ
ングを用いた静電気障害の対策を説明する図である。
【符号の説明】
2 アレイ基板 4 カラーフィルタ基板 6 シール剤 10 データ線/ゲート線 12 TCP 24 表示電極 26 TFT 30 ドライバIC 32 プリント基板 40 OLB電極部 42 金属膜 46 ゲート線 48 Al金属配線層 50 放電用隙間 52、54 放電用突起部 56 ゲート絶縁幕 58 スルーホール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 古立 学 神奈川県大和市下鶴間1623番地14 日本ア イ・ビー・エム株式会社 大和事業所内 (72)発明者 池▲崎▼ 充 神奈川県大和市下鶴間1623番地14 日本ア イ・ビー・エム株式会社 大和事業所内

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上の画素領域にスイッチング素子が形
    成されたアクティブ・マトリクス型の液晶表示装置であ
    って、 前記基板上に形成され、一部領域が断線した一組の第1
    の金属配線と、 前記第1の金属配線上に前記一部領域を埋め込んで形成
    され、前記一部領域の両側の前記第1の金属配線上に形
    成されたスルーホールを有する絶縁層と、 前記絶縁層上に前記スルーホールを埋め込んで形成され
    前記第1の金属配線と電気的に接続される第2の金属配
    線とを備えたことを特徴とする液晶表示装置。
  2. 【請求項2】画素領域にスイッチング素子が形成された
    アクティブ・マトリクス型の液晶表示装置の製造方法で
    あって、 前記スイッチング素子が形成されるべき基板上に、一部
    領域を断線させた一組の第1の金属配線を形成し、 前記第1の金属配線上に前記一部領域を埋め込む絶縁層
    を形成し、 前記一部領域の両側の前記第1の金属配線上の前記絶縁
    層にそれぞれスルーホールを形成し、 前記絶縁層上に前記スルーホールを埋め込んで前記第1
    の金属配線と電気的に接続される第2の金属配線を形成
    することを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
  3. 【請求項3】請求項2記載の液晶表示装置の製造方法に
    おいて、 前記第1の金属配線の前記一部領域は、前記一組のそれ
    ぞれの前記第1の金属配線の面積がほぼ等しくなる位置
    に形成することを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
  4. 【請求項4】請求項2記載の液晶表示装置の製造方法に
    おいて、 前記第1の金属配線の前記一部領域は、前記画素領域外
    に形成することを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
  5. 【請求項5】請求項2乃至4のいずれかに記載の液晶表
    示装置の製造方法において、 前記一部領域で対向する前記一組の第1の金属配線の端
    部は、静電気の帯電による放電を容易にさせるよう突起
    状に形成することを特徴とする液晶表示装置の製造方
    法。
  6. 【請求項6】請求項2乃至5のいずれかに記載の液晶表
    示装置の製造方法において、 前記第1の金属配線層は、前記スイッチング素子のゲー
    ト電極に接続されることを特徴とする液晶表示装置の製
    造方法。
  7. 【請求項7】請求項6記載の液晶表示装置の製造方法に
    おいて、 前記第2の金属配線層は、前記スイッチング素子の信号
    入力側電極形成材料を用い、前記信号入力側電極形成時
    に同時に形成されることを特徴とする液晶表示装置の製
    造方法。
  8. 【請求項8】請求項2乃至5のいずれかに記載の液晶表
    示装置の製造方法において、 前記第1の金属配線層は、前記スイッチング素子の信号
    入力側電極に接続されることを特徴とする液晶表示装置
    の製造方法。
  9. 【請求項9】請求項8記載の液晶表示装置の製造方法に
    おいて、 前記第2の金属配線層は、前記スイッチング素子のゲー
    ト電極形成材料を用い前記ゲート電極形成時に同時に形
    成されることを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
JP28318095A 1995-10-31 1995-10-31 液晶表示装置及びその製造方法 Expired - Lifetime JP3072707B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28318095A JP3072707B2 (ja) 1995-10-31 1995-10-31 液晶表示装置及びその製造方法
DE69635647T DE69635647T2 (de) 1995-10-31 1996-10-17 Flüssigkristallanzeigevorrichtung
EP96307538A EP0772073B1 (en) 1995-10-31 1996-10-17 Liquid crystal display
US08/735,906 US5781253A (en) 1995-10-31 1996-10-25 Liquid crystal display having electrostatic discharge protection and method for manufacturing the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28318095A JP3072707B2 (ja) 1995-10-31 1995-10-31 液晶表示装置及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09146107A true JPH09146107A (ja) 1997-06-06
JP3072707B2 JP3072707B2 (ja) 2000-08-07

Family

ID=17662184

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28318095A Expired - Lifetime JP3072707B2 (ja) 1995-10-31 1995-10-31 液晶表示装置及びその製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5781253A (ja)
EP (1) EP0772073B1 (ja)
JP (1) JP3072707B2 (ja)
DE (1) DE69635647T2 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000066952A (ko) * 1999-04-22 2000-11-15 김영환 액정표시소자의 정전기 방지법
JP2002176139A (ja) * 2000-12-06 2002-06-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及びその作製方法
JP2004163493A (ja) * 2002-11-11 2004-06-10 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置
JP2004327551A (ja) * 2003-04-22 2004-11-18 Denso Corp 半導体集積回路装置
KR100508031B1 (ko) * 1997-12-31 2005-10-27 삼성전자주식회사 정전기 보호 소자를 포함하는 배선 구조 및 그 제조방법
KR100577779B1 (ko) * 1999-04-22 2006-05-11 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정 표시 소자의 티에프티 어레이 기판
KR101008309B1 (ko) * 2008-07-21 2011-01-13 조인셋 주식회사 저 정전용량을 갖는 이에스디 보호소자
JP2013236066A (ja) * 2012-04-13 2013-11-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及びその作製方法

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4179483B2 (ja) 1996-02-13 2008-11-12 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の作製方法
JP3747336B2 (ja) * 1996-05-08 2006-02-22 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置の製造方法および液晶パネル
CN1148600C (zh) 1996-11-26 2004-05-05 三星电子株式会社 薄膜晶体管基片及其制造方法
US6940566B1 (en) 1996-11-26 2005-09-06 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal displays including organic passivation layer contacting a portion of the semiconductor layer between source and drain regions
KR100244182B1 (ko) * 1996-11-29 2000-02-01 구본준 액정표시장치
JPH10268794A (ja) * 1997-03-26 1998-10-09 Sharp Corp 表示パネル
KR100271038B1 (ko) * 1997-09-12 2000-11-01 구본준, 론 위라하디락사 전기적 특성 검사를 위한 단락 배선의 제조 방법 및 그 단락 배선을 포함하는 액티브 기판의 구조(a method for manufacturing a shorting bar probing an electrical state and a structure of an lcd comprising the shorting bar)
US6353464B1 (en) * 1998-11-20 2002-03-05 Kabushiki Kaisha Advanced Display TFT array substrate, liquid crystal display using TFT array substrate, and manufacturing method thereof in which the interlayer insulating film covers the guard resistance and the short ring
US7202924B1 (en) * 1999-03-17 2007-04-10 Lg.Philips Lcd Co., Ltd Liquid crystal display and a fabricating method thereof
TW457690B (en) * 1999-08-31 2001-10-01 Fujitsu Ltd Liquid crystal display
US6317174B1 (en) * 1999-11-09 2001-11-13 Kabushiki Kaisha Advanced Display TFT array substrate, liquid crystal display using TFT array substrate, and manufacturing method thereof
US6370003B1 (en) 1999-11-30 2002-04-09 Welch Allyn Data Collections, Inc. Electrostatic charge resistant instrument system
WO2001040855A1 (fr) * 1999-12-03 2001-06-07 Sekisui Chemical Co., Ltd. Afficheur a cristaux liquides et son procede de fabrication
JP4794030B2 (ja) * 2000-07-10 2011-10-12 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US7253866B2 (en) * 2001-10-27 2007-08-07 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Method of fabricating liquid crystal display device
KR100831280B1 (ko) * 2001-12-26 2008-05-22 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치
JP4067090B2 (ja) * 2002-10-03 2008-03-26 シャープ株式会社 Tft基板およびその製造方法
JP2004294787A (ja) * 2003-03-27 2004-10-21 Sharp Corp 表示装置およびその配線修復方法
JP4319517B2 (ja) * 2003-10-28 2009-08-26 東芝モバイルディスプレイ株式会社 アレイ基板および平面表示装置
US20050184392A1 (en) * 2004-02-23 2005-08-25 Kun-Hong Chen Method for fabricating interconnect and interconnect fabricated thereby
KR101116816B1 (ko) * 2004-06-05 2012-02-28 엘지디스플레이 주식회사 반투과형 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법
TW200638143A (en) * 2004-10-29 2006-11-01 Toshiba Matsushita Display Tec Display device
KR101100883B1 (ko) * 2004-11-08 2012-01-02 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 표시판
KR101159318B1 (ko) * 2005-05-31 2012-06-22 엘지디스플레이 주식회사 액정 표시 장치
TWI283381B (en) * 2006-05-26 2007-07-01 Au Optronics Corp Active device array substrate
TWI400785B (zh) * 2007-07-12 2013-07-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd 主動元件陣列基板
TWI361484B (en) * 2007-10-30 2012-04-01 Hannstar Display Corp Display device
TWI424238B (zh) * 2010-10-29 2014-01-21 Au Optronics Corp 畫素結構以及顯示面板
CN202049314U (zh) * 2011-03-22 2011-11-23 京东方科技集团股份有限公司 一种信号线连接结构及使用其的阵列基板与液晶显示器
CN103022052B (zh) * 2012-12-14 2015-04-08 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及显示装置
JP6360718B2 (ja) * 2014-05-16 2018-07-18 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
KR102252974B1 (ko) 2014-12-01 2021-05-20 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR101704562B1 (ko) * 2015-07-07 2017-02-22 주식회사 지투모터테크 부력조끼
CN207517281U (zh) * 2017-11-16 2018-06-19 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板及显示装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02232628A (ja) * 1989-03-06 1990-09-14 Nec Corp 薄膜トランジスタアレイ基板
JPH02242232A (ja) * 1989-03-15 1990-09-26 Hitachi Ltd 液晶表示装置
JPH0519282A (ja) * 1991-07-16 1993-01-29 Nec Corp 液晶表示装置及び液晶表示パネル
JPH063698A (ja) * 1992-06-19 1994-01-14 Nec Corp 薄膜トランジスタ装置
JPH086059A (ja) * 1994-06-23 1996-01-12 Nec Corp アクティブマトリクス基板

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1204213A (en) * 1982-09-09 1986-05-06 Masahiro Takeda Memory card having static electricity protection
JPS63263743A (ja) * 1987-04-22 1988-10-31 Alps Electric Co Ltd 薄膜トランジスタアレイおよびその製法
US5019002A (en) * 1989-07-12 1991-05-28 Honeywell, Inc. Method of manufacturing flat panel backplanes including electrostatic discharge prevention and displays made thereby
DE69202893T2 (de) * 1991-03-20 1995-11-02 Toshiba Kawasaki Kk Flüssigkristall-Anzeigevorrichtung.
US5220443A (en) * 1991-04-29 1993-06-15 Nec Corporation Matrix wiring substrate and active matrix display having non-linear resistance elements for electrostatic discharge protection
GB9225906D0 (en) * 1992-12-11 1993-02-03 Philips Electronics Uk Ltd Electronic device manufacture using ion implantation
JPH07181509A (ja) * 1993-12-24 1995-07-21 Sharp Corp 液晶表示装置およびその製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02232628A (ja) * 1989-03-06 1990-09-14 Nec Corp 薄膜トランジスタアレイ基板
JPH02242232A (ja) * 1989-03-15 1990-09-26 Hitachi Ltd 液晶表示装置
JPH0519282A (ja) * 1991-07-16 1993-01-29 Nec Corp 液晶表示装置及び液晶表示パネル
JPH063698A (ja) * 1992-06-19 1994-01-14 Nec Corp 薄膜トランジスタ装置
JPH086059A (ja) * 1994-06-23 1996-01-12 Nec Corp アクティブマトリクス基板

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100508031B1 (ko) * 1997-12-31 2005-10-27 삼성전자주식회사 정전기 보호 소자를 포함하는 배선 구조 및 그 제조방법
KR20000066952A (ko) * 1999-04-22 2000-11-15 김영환 액정표시소자의 정전기 방지법
KR100577779B1 (ko) * 1999-04-22 2006-05-11 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정 표시 소자의 티에프티 어레이 기판
US8536581B2 (en) 2000-12-06 2013-09-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing the same
JP2002176139A (ja) * 2000-12-06 2002-06-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及びその作製方法
US8963161B2 (en) 2000-12-06 2015-02-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method of manufacturing the same
JP4718677B2 (ja) * 2000-12-06 2011-07-06 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置及びその作製方法
US8143627B2 (en) 2000-12-06 2012-03-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
JP2004163493A (ja) * 2002-11-11 2004-06-10 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置
JP2004327551A (ja) * 2003-04-22 2004-11-18 Denso Corp 半導体集積回路装置
KR101008309B1 (ko) * 2008-07-21 2011-01-13 조인셋 주식회사 저 정전용량을 갖는 이에스디 보호소자
JP2013236066A (ja) * 2012-04-13 2013-11-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置及びその作製方法
US10153307B2 (en) 2012-04-13 2018-12-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device with reduced electrostatic discharge (ESD) in a manufacturing process

Also Published As

Publication number Publication date
JP3072707B2 (ja) 2000-08-07
US5781253A (en) 1998-07-14
EP0772073A1 (en) 1997-05-07
DE69635647D1 (de) 2006-02-02
EP0772073B1 (en) 2005-12-28
DE69635647T2 (de) 2006-10-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3072707B2 (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
CA2054935C (en) Method of manufacturing flat panel backplanes including redundant gate lines and displays made thereby
US7541223B2 (en) Array substrate and liquid crystal display apparatus having the same
JP2613015B2 (ja) 液晶表示装置
US7027043B2 (en) Wiring substrate connected structure, and display device
GB2339953A (en) Active matrix LCD substrate
JP3302625B2 (ja) 液晶表示装置
JPH1039333A (ja) アクティブマトリクス型表示装置およびその欠陥修正方法
JPH10161142A (ja) 液晶表示装置
JP3335567B2 (ja) アクティブマトリクス型液晶表示装置およびその欠陥修正方法
US7009676B1 (en) Structure of a pad in a liquid crystal display device and a method for manufacturing thereof
JP2800958B2 (ja) アクティブマトリクス基板
JPH11190858A (ja) アクティブマトリクス型表示装置及びその製造方法
JPH0345934A (ja) 液晶表示装置
US6618100B2 (en) Liquid crystal device, liquid crystal device manufacturing method and electronic apparatus
JP3310600B2 (ja) アクティブマトリクス型液晶表示装置およびその欠陥修正方法
JP2867455B2 (ja) アクティブマトリクス型液晶表示パネル
JP3119912B2 (ja) 液晶表示装置
KR100618580B1 (ko) 액정표시장치
JPH04283725A (ja) 薄膜トランジスタマトリクス及びその断線修復方法
JP2001142097A (ja) 液晶表示装置とその製造方法
JP3279929B2 (ja) 液晶表示装置
JPH1172801A (ja) 液晶表示装置
JPH11142874A (ja) 液晶表示装置
JPH0750278B2 (ja) 液晶表示装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

S202 Request for registration of non-exclusive licence

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R315201

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

S202 Request for registration of non-exclusive licence

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R315201

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080602

Year of fee payment: 8

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080602

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090602

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090602

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090602

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100602

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100602

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110602

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110602

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110602

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110602

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120602

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120602

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120602

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120602

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130602

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130602

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130602

Year of fee payment: 13

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term