JPH08153767A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JPH08153767A
JPH08153767A JP29541094A JP29541094A JPH08153767A JP H08153767 A JPH08153767 A JP H08153767A JP 29541094 A JP29541094 A JP 29541094A JP 29541094 A JP29541094 A JP 29541094A JP H08153767 A JPH08153767 A JP H08153767A
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JP
Japan
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substrate
robot
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substrate processing
processing means
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Application number
JP29541094A
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English (en)
Inventor
Tsutomu Kamiyama
勉 上山
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板の持ち替えを占有床面積(フットスペー
ス)を小さく維持して行えるようにする。 【構成】 基板処理装置は、基板を1枚ずつ処理する装
置であって、基板を洗浄するスピンスクラバSS、基板
にレジスト液を塗布するスピンコータSC、基板Wの端
縁を洗浄するエッジリンスER、露光済の基板Wを現像
するスピンディベロッパSD及び他の装置と基板Wをや
り取りするインターフェイス部IFを含む複数の処理部
を有する処理ユニット部3と、スピンコータSCとエッ
ジリンスERとの間で基板Wを搬送する基板搬送ロボッ
トRB2及びエッジリンスERとインターフェイス部I
Fとの間で基板Wを搬送する基板搬送ロボットRB3を
有する基板搬送部4と、エッジリンスERに設けられた
基板受渡し部EXとを備え、基板受渡し部EXで基板搬
送ロボットRB2と基板搬送ロボットRB3との基板W
の持ち替えを行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、基板処理装置、特に、
半導体ウエハ,液晶用ガラス基板,カラーフィルタ用基
板,サーマルヘッド用基板,プリント基板等の基板に対
して、洗浄,加熱,冷却,レジスト塗布,現像等の各種
の処理をそれぞれ行う複数の基板処理部と、複数の基板
処理部の間で基板を搬送する基板搬送部とを備えた基板
処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体や液晶表示装置等のの製造工程に
おいて、半導体用ウエハ,液晶用ガラス角型基板,カラ
ーフィルタ用基板,サーマルヘッド用基板,プリント基
板等の基板を1枚ずつ処理する枚葉式の基板処理装置が
用いられている。この種の基板処理装置として、2台の
基板搬送ロボットにより処理能力の向上を図った装置が
特開平2−132840号公報に開示されている。
【0003】この基板処理装置は、カセットからの基板
の取り出し及びカセットへの基板の収納を行う搬入・搬
出部と、取り出された基板を搬送する第1の基板搬送ロ
ボットと、第1の基板搬送ロボットの搬送路の周囲に設
けられた第1の基板処理群と、第1の基板搬送ロボット
と別に設けられた第2の基板搬送ロボットと、第2の基
板搬送ロボットの搬送路の周囲に設けられた第2の基板
処理群と、第1の基板搬送ロボットと第2の基板搬送ロ
ボットとの間で基板を持ち替えるための基板受渡し部と
を備えている。第1の基板処理群には、たとえば、基板
を洗浄するスピンスクラバや基板にレジストを塗布する
スピンコータが含まれる。第2の基板処理群には、たと
えば、露光済の基板を現像するスピンディベロッパが含
まれる。
【0004】この基板処理装置では、搬入・搬出部にカ
セットが載置されると、搬入・搬出部において、カセッ
トから基板が取り出される。取り出された基板は第1の
基板搬送ロボットによって受け取られ、第1の基板処理
群内の各処理装置に順次搬送される。第1の基板処理群
での処理が終了すると、第1の基板搬送ロボットが基板
を基板受渡し部に渡す。そして第2の基板搬送ロボット
は基板受渡し部から基板を受け取り、第2の基板処理群
に搬送する。また、第2の基板処理群での処理が終了す
ると、第2の搬送ロボットは基板を基板受渡し部に渡
す。基板受渡し部に渡された基板は、第1の基板搬送ロ
ボットにより搬入・搬出部に搬送される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】前記従来の構成のよう
に、それぞれ搬送領域が限定された複数の基板搬送ロボ
ットで基板を搬送する場合には、この複数の基板搬送ロ
ボット間で基板を持ち替えるための基板受渡し部が必要
になる。この基板受渡し部は何ら基板の処理を行うもの
ではなく、単にロボット間の基板の持ち替えだけに必要
なものである。このような基板受渡し部を装置内に設け
ると、装置の占有床面積(フットスペース)が大きくな
り、装置の小型化が困難になる。
【0006】本発明の目的は、2台の基板搬送部による
基板の持ち替えを占有床面積(フットスペース)を小さ
く維持して行える基板処理装置を提供することにある。
本発明の別の目的は、基板の持ち替えを清浄な雰囲気で
行い得る基板処理装置を提供することにある。本発明の
さらに別の目的は、基板搬送部の占める占有床面積(フ
ットスペース)を大きくすることなく簡単な構成で装置
全体の占有床面積(フットスペース)を小さくすること
ができる基板処理装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に係る基板処理
装置は、基板を1枚ずつ処理する基板処理装置におい
て、所定の方向に配列され、それぞれ基板に対して所定
の処理を行う第1,第2及び第3基板処理手段と、第1
基板処理手段と第2基板処理手段との間で基板を搬送す
る第1基板搬送手段と、第2基板処理手段と第3基板処
理手段との間で基板を搬送する第2基板搬送手段と、第
1基板搬送手段によって第2基板処理手段に搬入された
基板を第2基板搬送手段によって搬出するとともに、第
2基板搬送手段によって第2基板処理手段に搬入された
基板を第1基板搬送手段によって搬出するように第1及
び第2基板搬送手段を制御する制御手段とを備えること
を特徴とする。
【0008】請求項2に係る基板処理装置は、請求項1
記載の基板処理装置において、第2基板処理手段が基板
の端縁を洗浄する基板端縁洗浄手段を含むことを特徴と
する。請求項3に係る基板処理装置は、請求項1または
請求項2記載の基板処理装置において、第1基板搬送手
段が、第1基板処理手段と第2基板処理手段とに沿って
配置された第1案内レールと、第1案内レールに案内さ
れて第1基板処理手段と第2基板処理手段との間で移動
する第1搬送ロボットとを有し、第2基板搬送手段が、
第1案内レールから延びて第2基板処理手段と第3基板
処理手段とに沿って配置された第2案内レールと、第2
案内レールに案内されて第2基板処理手段と第3基板処
理手段との間で移動する第2搬送ロボットとを有するこ
とを特徴とする。
【0009】
【作用】請求項1に記載の基板処理装置では、第1基板
処理手段で基板が処理されると、第1基板搬送手段が第
2基板処理手段に基板を搬入する。第2基板処理手段で
の処理が終了した基板は、制御手段によって制御された
第2基板搬送手段により第3基板搬送手段に搬出され
る。第3基板処理手段で処理が終了した基板は、第2基
板搬送手段により第2基板処理手段に搬入される。第2
基板処理手段に搬入された基板は、第2基板処理手段で
処理することなく制御手段により制御された第1基板搬
送手段により搬出される。ここでは、第2基板搬送手段
から第1基板搬送手段への基板の持ち替えを、制御手段
によって2つの基板搬送手段を制御して第2基板処理手
段内で行えるので、占有床面積(フットスペース)を小
さく維持して基板の持ち替えを行える。
【0010】請求項2に記載の基板処理装置では、第2
基板処理手段において、基板の端縁が洗浄される。端縁
が洗浄された基板は、第2基板搬送手段により、第3基
板搬送手段に搬送される。ここでは、基板の端縁を洗浄
する第2基板処理手段において基板が受け渡されるの
で、基板の持ち替えを清浄な雰囲気で行うことができ
る。
【0011】請求項3に記載の基板処理装置では、第1
基板搬送手段で基板を搬送する際には、第1案内レール
を第1搬送ロボットが移動して基板を搬送する。また、
第2基板搬送手段で基板を搬送する際には、第1案内レ
ールに連続した第2案内レールを第2搬送ロボットが移
動して基板を搬送する。ここでは、連続する案内レール
上に2台の搬送ロボットを移動させることで基板を搬送
しているので、基板搬送部の占める占有床面積(フット
スペース)を大きくすることなく簡単な構成で装置全体
の占有床面積(フットスペース)を小さくすることがで
きる。
【0012】
【実施例】図1及び図2は、本発明の一実施例による基
板処理装置を示している。図1及び図2において、基板
処理装置1は、多数の液晶用ガラス角型基板(以下、基
板という)Wを収納可能な2つのカセットC1,C2が
載置される搬入・搬出部2と、基板Wに一連の処理を行
う処理ユニット部3と、搬入・搬出部2と基板処理ユニ
ット部3との間で基板Wを搬送する基板搬送部4とを有
している。
【0013】搬入・搬出部2は、カセットC1,C2が
載置されるカセット載置台IDと、カセットC1,C2
と基板搬送部4の基板搬入・搬出位置との間で基板Wを
1枚ずつ搬送するインデクサロボットRB1とを備えて
いる。カセットC1,C2には、たとえば10枚の基板
Wが収納可能である。インデクサロボットRB1は、Y
方向(図1の奥行き方向)に延びるレール5上を移動可
能である。インデクサロボットRB1はスカラ型のロボ
ットであり、Z方向(図2の上下方向)と、X方向(図
1の左右方向)と、θ方向(垂直軸回りの回転方向)と
にも移動可能である。
【0014】処理ユニット部3には、各処理部が上下2
段に分けて配列されており、その下段には、基板Wを洗
浄するスピンスクラバSSと、洗浄された基板Wにフォ
トレジスト液を塗布するスピンコータSCと、フォトレ
ジスト液が塗布された基板Wの端縁を洗浄するエッジリ
ンスERと、フォトレジスト液塗布後に図示しない露光
装置で所望の画像が露光された基板Wを現像するスピン
ディベロッパSDと、露光装置との間で基板Wをやり取
りするインターフェイス部IFとが配置されている。
【0015】また上段には、2つのホットプレートHP
1と、2つのホットプレートHP2と、2つのホットプ
レートHP3と、2つの密着強化ユニットAPと、クー
ルプレートCP1,CP2,CP3及びCP4とが図2
図示のように2段に積層配置されている。そして、2つ
のホットプレートHP1はスピンスクラバSSで洗浄さ
れた基板Wをそのいずれか一方によって脱水ベークする
ものであり、クールプレートCP1は脱水ベークされた
基板Wを冷却するものである。密着強化ユニットAP
は、クールプレートCP1によって冷却された基板をス
ピンコータSCに搬入してフォトレジスト液を塗布する
前に、基板Wとフォトレジスト液との密着性を向上させ
るための密着強化剤(ヘキサメチルジシラザン等)を基
板表面に塗布するものである。クールプレートCP2は
密着強化剤が塗布された基板Wを冷却するものであり、
冷却された基板WはスピンコータSCに搬送されてフォ
トレジスト液が塗布され、エッジリンスERによってそ
の端縁の不要なレジスト膜が洗浄除去される。ホットプ
レートHP2は、端縁が洗浄された基板Wをそのいずれ
か一方によってソフトベーク(プリベーク)するもであ
り、クールプレートCP3はソフトベークされた基板W
を冷却するものである。さらに、ホットプレートHP3
は、スピンディベロッパSDによって現像された基板W
をそのいずれか一方によってハードベーク(ポストベー
ク)するものであり、クールプレートCP4はハードベ
ークされた基板Wを冷却するものである。
【0016】スピンコータSCは、図3に示すように、
基板を吸着保持して回転させる基板保持部16と、基板
保持部16の周囲に配置されたカップ17と、カップ1
7の上方に配置され基板表面にフォトレジスト液を滴下
するフォトレジスト液供給ノズル18とを有している。
基板保持部16は、基板Wの底面を真空吸引することに
より基板Wを保持する。また基板保持部16は、垂直軸
回りに高速回転可能でありかつ昇降可能である。フォト
レジスト液供給ノズル18は、回動軸19の回りに水平
に回動可能である。
【0017】エッジリンスERは、図4に示すように角
型の基板Wの対向2辺にそれぞれ対向する1対のノズル
ブロック31を有している。各ノズルブロック31の両
端には、それぞれ上下1対の爪30a,30bを有する
ピン30が回動可能に取り付けられている。各ピン30
はベルト32によって連動して回動させられ、実線にて
示される閉位置と点線にて示される開位置との間を回動
する。4個のピン30aが閉位置にある状態で、上側の
4個の爪30aもしくは下側の4個の爪30bによって
基板Wをそれぞれ下方から支持することができる。さら
に、1対のノズルブロック31は、それぞれ水平アーム
機構35を介して固定台34に支持されており、この水
平アーム機構35によって互いに連動して水平方向に移
動可能であるとともに、その長辺方向に往復動(揺動)
可能である。
【0018】エッジリンスERは、さらに基板Wの裏面
を真空吸着して水平に保持する基板保持部36を有して
おり、この基板保持部36は昇降可能であるとともに回
動可能である。ノズルブロック31は、さらに基板に塗
布されたフォトレジスト液に対する溶剤を基板保持部3
6に保持された基板の端縁に対して吐出するようにその
長辺に沿って配置された多数の溶剤吐出ノズルと、溶剤
によって溶解された溶解物が基板に再付着するのを防止
するために吸引する吸引口とを内蔵する洗浄口33を有
している。
【0019】このような構成により、エッジリンスER
において端縁が洗浄されるべき未処理の基板(すなわち
スピンコータSCによってフォトレジスト液が塗布され
た基板)は、後述する専用ロボットRB4によってスピ
ンコータSCから4個のピン30の上側の4個の爪30
a上に搬送され、この基板は基板保持部36が上昇する
ことによって基板保持部36の上に移載される。基板保
持部36は未処理基板を受け取ると僅かに下降して、こ
の未処理の基板の対向2辺にそれぞれノズルブロック3
1が対向する状態に移動する。そして、その対向2辺が
ノズルブロック31の溶剤吐出ノズルから吐出される溶
剤によって洗浄され、その後に基板保持部36が90°
回動して、角型の基板の残る対向2辺の端縁が洗浄され
る。なお、この基板保持部36の昇降時及び回動時に
は、基板保持部36に保持された基板と干渉しないよう
にノズルブロック31が水平方向に退避することはいう
までもない。
【0020】このようにして、角型の基板の端縁洗浄処
理が終了すると、基板保持部36はさらに下降して端縁
洗浄処理が終了した処理済基板を、4個のピン30の下
側の4個の爪30b上に移載する。4個のピン30の下
側の4個の爪30b上に移載された処理済基板は、基板
搬送ロボットRB3によって受け取られて、2つのホッ
トプレートHP2のいずれかに搬入されてソフトベーク
(プリベーク)がなされる。
【0021】さらに、エッジリンスERには、基板搬送
ロボットRB3から基板搬送ロボットRB2への基板の
受け渡しを行うために、基板搬送ロボットRB3から基
板を受け取る基板受け渡し部EXを構成する基板支持ピ
ン39がノズルブロック31の上面に設けられている。
この基板支持ピン39は、爪30a,30bが閉位置に
あるときの上方に配置されている。
【0022】スピンコータSCとエッジリンスERとの
間には、図5に示すように、その間で基板Wを搬送する
ための専用ロボットRB4が設けられている。専用ロボ
ットRB4は、エッジリンスERとスピンコータSCと
に沿って配置されたレール10に案内されて移動する。
専用ロボットRB4は、昇降する基板支持ハンド11を
有している。基板支持ハンド11は、基板受渡し部EX
の基板支持ピン39及びエッジリンスERの爪30aと
スピンコータSCの基板保持部16との間で移動可能で
ある。なお、基板支持ハンド11は、通常は、図5に示
す退避位置に退避している。
【0023】基板搬送部4は、X方向に延びるレール6
と、レール6上を移動可能な2台の基板搬送ロボットR
B2,RB3とを有している。基板搬送ロボットRB
2,RB3は、同一仕様のスカラ型のロボットであり、
Z方向とY方向とにも移動可能である。基板搬送ロボッ
トRB2,RB3は、図6に示すように、レール6に沿
って移動するX軸移動機構20と、X軸移動機構20上
に配置された1対のZ軸移動機構21と、1対のZ軸移
動機構21間に配置されたY軸移動機構22とをそれぞ
れ有している。
【0024】X軸移動機構20は、レール6に移動可能
に支持された移動フレーム23を有している。移動フレ
ーム23内には、移動フレーム23をX方向に移動させ
るためのX軸駆動モータ(図示せず)と、基板搬送ロボ
ットRB2,RB3に支持された基板をZ方向に移動さ
せるためのZ軸駆動モータZMとが配置されている。移
動フレーム23の上部には、Z軸移動機構21の1対の
固定フレーム24が立設されている。各固定フレーム2
4の上端内側には、第1昇降アーム25が回転軸を介し
て連結されている。第1昇降アーム25の先端には、第
2昇降アーム26が回転軸を介して連結されている。第
2昇降アーム26は、第1昇降アーム25の2倍の角速
度で回動するように第1昇降アーム25に連結されてい
る。第2昇降アーム26の先端には、Y軸移動機構22
のハウジング27が回転軸を介して連結されている。
【0025】ハウジング27は、第1昇降アーム26の
半分の角速度で回動するように第2昇降アーム26に連
結されている。Z軸駆動モータZMの駆動力は固定フレ
ーム24内に配置されたリンク(図示せず)により第1
昇降アーム25に伝達される。第1昇降アーム25及び
第2昇降アーム26内には、減速比が2倍及び半分にそ
れぞれ設定された多数のギアからなる変速機構(図示せ
ず)が配置されており、これらの変速機構により、第1
昇降アーム25と第2昇降アーム26とハウジング27
とが連動して回動するようになっている。ここでは、第
1昇降アーム25及び第2昇降アーム26の回動により
ハウジング27が水平姿勢を維持しつつ昇降する。
【0026】ハウジング27内のY軸移動機構22は、
ハウジング27の下面に配置されたY方向移動用のY軸
駆動モータYMと、Y軸駆動モータYMに連結されかつ
ハウジング27に回動可能に支持された第1移動アーム
40と、第1移動アーム40に回転軸を介して連結され
た第2移動アーム41と、第2移動アーム41の先端に
回転軸を介して連結された基板保持部42とを有してい
る。第1移動アーム40、第2移動アーム41内には、
減速比が2倍及び半分にそれぞれ設定された多数のギア
からなる変速機構(図示せず)が配置されており、これ
らの変速機構により基板保持部42がY方向に同じ姿勢
で進退する。
【0027】基板保持部42は、上下に間隔を隔てて配
置された1対のハンド43,43を有している。ハンド
43は、接近・離反する方向に上下に移動可能であり、
各処理部に設けられた基板支持用の上下1対の爪に対応
して設けられている。ここで、ハンド43を上下1対に
設けたのは処理済基板と未処理基板とを処理部内の爪と
の間で同時に交換するためである。
【0028】また、基板処理装置1は、図7に示すよう
な主制御部50を有している。主制御部50には、搬送
制御部51、HP制御部52、CP制御部53、AP制
御部54、SS制御部55、SC制御部56、ER制御
部57、SD制御部58及び他の入出力部が接続されて
いる。主制御部50及び各制御部51〜58はそれぞれ
CPU,RAM,ROMを有するマイクロコンピュータ
から構成されている。搬送制御部51には、RB1〜R
B4制御部59〜62がそれぞれ接続されている。主制
御部50は、基板処理装置1の全体制御を担う。搬送制
御部51は、インデクサロボットRB1、基板搬送ロボ
ットRB2,RB3及び専用ロボットRB4の搬送制御
の全体を担う。
【0029】次に、上述の実施例の動作について説明す
る。カセットC1,C2がカセット載置台IDに載置さ
れると、RB1制御部59が、インデクサロボットRB
1を制御してカセットC1,C2のいずれか一方から基
板Wを1枚取り出す。取り出した基板Wは基板搬送ロボ
ットRB2との搬入・搬出位置に搬送される。
【0030】RB2制御部60は図9に示す制御フロー
チャートにしたがって基板搬送ロボットRB2の動作を
制御する。この基板搬送ロボットRB2の動作について
図9に基づいて説明する。まず、ステップS1におい
て、基板搬送ロボットRB2は、インデクサロボットR
B1によって搬入・搬出位置に搬送された基板Wを受け
取ってスピンスクラバSSに搬入する。ステップS2で
は、基板搬送ロボットRB2はスピンスクラバSSによ
って洗浄された基板WをスピンスクラバSSから搬出し
て2つのホットプレートHP1のいずれかに搬入し、そ
の基板Wの脱水ベークが行われる。ホットプレートHP
1による脱水ベークがなされると、その基板Wは、ステ
ップS3において基板搬送ロボットRB2によりホット
プレートHP1から搬出されてクールプレートCP1に
搬入されて冷却される。クールプレートCP1によって
冷却された基板Wは、ステップS4において基板搬送ロ
ボットRB2によりクールプレートCP1から搬出され
て密着強化ユニットAPに搬入され、その表面に密着強
化剤が塗布される。
【0031】密着強化ユニットAPによって密着強化剤
が塗布された基板Wは、ステップS5において基板搬送
ロボットRB2により密着強化ユニットAPから搬出さ
れてクールプレートCP2に搬入されて冷却される。ク
ールプレートCP2によって冷却された基板は、ステッ
プS6において基板搬送ロボットRB2によりクールプ
レートCP2から搬出されてエッジリンスERの下側の
爪30bに搬入される。
【0032】ステップS7において、RB2制御部60
は、後述する図10のステップP10でセットされるフ
ラグFがセットされているか否かを判別する。このフラ
グFは基板搬送ロボットRB3から基板受け渡し部EX
に基板が搬入されたことを示すフラグである。ステップ
S7においてこのフラグFがセットされていることをR
B2制御部が判別するとステップS8に移行し、基板受
け渡し部EXに搬入された基板Wを基板搬送ロボットR
B2により搬出してインデクサロボットRB1との搬入
・搬出位置に搬入する。その後、ステップS9におい
て、RB2制御部60はこのフラグFをリセットする。
一方、ステップS7においてこのフラグFがセットされ
ていないことをRB2制御部60が判別すると、ステッ
プS8には進まずにステップS10に進んで、RB2制
御部60はすべての基板の処理を終了したか否かを判断
する。RB2制御部60がすべての基板の処理を終了し
たとは判断していない場合は、ステップS1に戻る。
【0033】RB3制御部61は図10に示す制御フロ
ーチャートにしたがって基板搬送ロボットRB3の動作
を制御する。この基板搬送ロボットRB3の動作につい
て図10に基づいて説明する。まず、ステップP1にお
いて、RB3制御部61は、エッジリンスERによる基
板の端縁洗浄処理が終了するのを待つ。ここで、端縁洗
浄処理の終了は、エッジリンスERの上側の爪30aに
処理済基板Wが載置されていることによって判断する。
端縁洗浄処理の終了が検出されれば、ステップP2にお
いて、基板搬送ロボットRB3がエッジリンスERの上
側の爪30aから処理済基板Wを搬出して、2つのホッ
トプレートHP2のいずれかに搬入し、その基板Wのソ
フトベークが行われる。ホットプレートHP2によるソ
フトベークがなされると、その基板Wは、ステップP3
において基板搬送ロボットRB3によりホットプレート
HP2から搬出されてクールプレートCP3に搬入され
て冷却される。クールプレートCP3によって冷却され
た基板Wは、ステップP4において、基板搬送ロボット
RB3によりクールプレートCP3から搬出されて、イ
ンターフェース部IFに搬入される。この基板Wは、イ
ンターフェース部IFから不図示の露光装置に送られて
所定のパターンがその表面に露出され、再びインターフ
ェース部IFに戻される。
【0034】露光後の基板Wがインターフェース部IF
に戻されると、ステップP5において基板搬送ロボット
RB3はその基板Wをインターフェース部IFから搬出
して2つのスピンディベロッパSDのいずれかに搬入す
る。そして、スピンディベロッパSDにおいて、この基
板Wに形成された薄膜が現像液によって現像される。現
像が終了すると、ステップP6において基板搬送ロボッ
トRB3はその基板WをスピンディベロッパSDから搬
出して2つのホットプレートHP3のいずれかに搬入し
ハードベークがなされる。ハードベークがなされた基板
Wは、ステップP7において基板搬送ロボットRB3に
よりホットプレートHP3から搬出されクールプレート
CP4に搬入され冷却される。クールプレートCP4に
よって冷却された基板は、ステップP8において基板搬
送ロボットRB3によりクールプレートCP4から搬出
され基板受け渡し部EXに搬入される。
【0035】そして、RB3制御部61は、ステップP
9において、前述のフラグFをセットする。このフラグ
Fは、前述の通り、基板搬送ロボットRB3から基板搬
送ロボットRB2に基板Wを受け渡すためにセットされ
るものである。そして、ステップP10において、RB
3制御部61は、すべての基板の処理を終了したか否か
を判断する。RB3制御部61がすべての基板の処理を
終了したとは判断していない場合は、ステップP1に戻
る。
【0036】RB4制御部62は図11に示す制御フロ
ーチャートにしたがって専用ロボットRB4の動作を制
御する。この専用ロボットRB4の動作について図11
に基づいて説明する。まず、ステップQ1において、R
B4制御部62はフラグFがセットされているか否かを
判別する。フラグFがセットされていなければ、これは
基板搬送ロボットRB3から基板受け渡し部EXに基板
が搬入されていないことを示すので、ステップQ2にお
いて、基板搬送ロボットRB2によってエッジリンスE
Rの下側の爪30bに載置された基板Wを、スピンコー
タSCの基板保持部16に搬入する。スピンコータSC
では、搬送された基板Wを基板保持部16によって保持
し、フォトレジスト液供給ノズル18からレジスト液を
所定量だけその基板Wの表面に供給した後に基板Wを高
速回転させて、レジスト液を基板Wの表面に均一に塗布
する。ステップQ1において、フラグFがセットされて
いれば、これは基板搬送ロボットRB3から基板受け渡
し部EXに基板が搬入されたことを示すので、ステップ
Q2には進まずにステップQ3に進む。
【0037】ステップQ3では、スピンコータSCにお
けるレジスト液の塗布処理が終了するのを待つ。ステッ
プQ3においてスピンコータSCにおけるレジスト液の
塗布処理が終了したことが検出されれば、ステップQ4
に進み、専用ロボットRB4によってスピンコータSC
の基板保持部16から基板Wを搬出してエッジリンスE
Rの下側の爪30bにその基板Wを搬入する。この基板
Wは前述のようにしてその端縁が洗浄され、端縁洗浄処
理が終了した基板Wは、エッジリンスERの上側の爪3
0aに保持される。一方、搬送が終了した専用ロボット
RB4は、図5図示の待機位置に退避させられる。
【0038】このような処理を簡略化して示したものが
図8である。図8では、基板搬送ロボットRB2が、イ
ンデクサロボットRB1からの基板Wの受け取りから基
板受渡し部EXを経てインデクサロボットRB1への基
板Wの渡しまでの搬送を担い、基板搬送ロボットRB3
が、エッジリンスERからの基板Wの受け取りからイン
ターフェイス部IFを経て基板受渡し部EXまでの搬送
を担う。そして専用ロボットRB4が基板受渡し部EX
とスピンコータSCとの間の搬送を担う。
【0039】ここでは、専用ロボットRB4によりエッ
ジリンスERとスピンコータSCとの間で基板Wを搬送
しているので、レジスト液で濡れた基板Wを基板搬送ロ
ボットRB2,RB3が搬送することはない。この結
果、レジスト液によるハンド43の汚染を防止できる。
また、一方の基板搬送ロボットRB2は図2図示のエッ
ジリンスERより右側に移動する必要はなく、他方の基
板搬送ロボットRB3は図2図示のエッジリンスERよ
り左側に移動する必要がないので、各基板搬送ロボット
の移動範囲を小さくして構成を簡単にするとともにその
制御を簡素化することができる。
【0040】なお、上記実施例においては図6図示のよ
うな上下1対のハンド43の間隔を変えて基板の搬入と
搬出とを同時に行う基板搬送ロボットRB2,RB3を
用いたのでエッジリンスERの上に専用の受け渡し部E
Xが設けられていたか、それぞれ独立して基板を搬送可
能な複数のハンドを有する基板搬送ロボットを用いれ
ば、専用の受け渡し部EXを設けることなく、エッジリ
ンスERの上下の爪30a,30bを利用して基板搬送
ロボットRB3から基板搬送ロボットRB2への基板の
受け渡しを行うことができる。さらに、上記実施例にお
いてはエッジリンスERの上に専用の受け渡し部EXが
設けられていたが、本発明はこれに限定されるものでは
なく、2つの基板搬送ロボットそれぞれの担当範囲(基
板を交換する処理部の数,位置等)が適当に分担される
ような位置に配置された処理部において基板搬送ロボッ
ト間の基板受け渡しがなされるように構成すれば良く、
特にスピンスクラバ,スピンコータ,スピンディベロッ
パのような回転処理部ではなく、エッジリンス,ホット
プレート,クールプレート等基板を回転させずに処理す
る処理部において基板搬送ロボット間の基板受け渡しが
なされるように構成すれば構成を簡単にすることができ
るので好ましい。
【0041】
【発明の効果】請求項1に記載の基板処理装置では、第
2基板搬送手段から第1基板搬送手段への基板の持ち替
えを、制御手段によって2つの基板搬送手段を制御して
第2基板処理手段内で行えるので、占有床面積(フット
スペース)を小さく維持して基板の持ち替えを行える。
【0042】請求項2に記載の基板処理装置では、基板
の端縁を洗浄する第2基板処理手段において基板が受け
渡されるので、基板の持ち替えを清浄な雰囲気で行うこ
とができる。請求項3に記載の基板処理装置では、連続
する案内レール上に2台の搬送ロボットを移動させるこ
とで基板を搬送しているので、基板搬送部の占める占有
床面積(フットスペース)を大きくすることなく簡単な
構成で装置全体の占有床面積(フットスペース)を小さ
くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による基板処理装置の平面模
式図。
【図2】その基板処理装置の正面模式図。
【図3】スピンコータの斜視概略図。
【図4】エッジリンス及び基板受渡し部の斜視概略図。
【図5】スピンコータ及びエッジリンスの平面部分図。
【図6】基板搬送ロボットの斜視図。
【図7】制御系の構成を示すブロック図。
【図8】概略動作を示す模式図。
【図9】RB2制御部の制御動作を示すフローチャー
ト。
【図10】RB3制御部の制御動作を示すフローチャー
ト。
【図11】RB4制御部の制御動作を示すフローチャー
ト。
【符号の説明】
1 基板処理装置 3 処理ユニット部 4 基板搬送部 EX 基板受渡し部 ER エッジリンス RB2,RB3 基板搬送ロボット W 基板 C カセット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/02 Z 21/027 21/304 341 B

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板を1枚ずつ処理する基板処理装置にお
    いて、 所定の方向に配列され、それぞれ基板に対して所定の処
    理を行う第1,第2及び第3基板処理手段と、 第1基板処理手段と第2基板処理手段との間で基板を搬
    送する第1基板搬送手段と、 第2基板処理手段と第3基板処理手段との間で基板を搬
    送する第2基板搬送手段と、 第1基板搬送手段によって第2基板処理手段に搬入され
    た基板を第2基板搬送手段によって搬出するとともに、
    第2基板搬送手段によって第2基板処理手段に搬入され
    た基板を第1基板搬送手段によって搬出するように第1
    及び第2基板搬送手段を制御する制御手段と、を備える
    ことを特徴とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】第2基板処理手段は、基板の端縁を洗浄す
    る基板端縁洗浄手段を含むことを特徴とする請求項1記
    載の基板処理装置。
  3. 【請求項3】第1基板搬送手段は、第1基板処理手段と
    第2基板処理手段とに沿って配置された第1案内レール
    と、第1案内レールに案内されて第1基板処理手段と第
    2基板処理手段との間で移動する第1搬送ロボットとを
    有し、第2基板搬送手段は、第1案内レールから延びて
    第2基板処理手段と第3基板処理手段とに沿って配置さ
    れた第2案内レールと、第2案内レールに案内されて第
    2基板処理手段と第3基板処理手段との間で移動する第
    2搬送ロボットとを有することを特徴とする請求項1ま
    たは請求項2記載の基板処理装置。
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