JPH0795033A - 電力用半導体装置回路 - Google Patents

電力用半導体装置回路

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JPH0795033A
JPH0795033A JP6138896A JP13889694A JPH0795033A JP H0795033 A JPH0795033 A JP H0795033A JP 6138896 A JP6138896 A JP 6138896A JP 13889694 A JP13889694 A JP 13889694A JP H0795033 A JPH0795033 A JP H0795033A
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transistor
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パトリック ケリー ブレンダン
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    • H03K17/0822Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit in field-effect transistor switches

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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 電力用半導体装置のスイッチオン又はスイッ
チオフを促進する。 【構成】 ゲート制御回路6a,6b, 6c, 6dがゲート電極
5とゲート電圧供給端子Gの間に導電性通路を与える。
スイッチング装置Q1, D1, Q2はゲート電圧供給端子G及
びゲート電極5へそれぞれ結合された第1及び第2主電
極を有し、第1及び第2主電極間の主電流通路が抵抗R2
と並列に結合され、スイッチング装置Q1, D1, Q2は第2
の導通状態において抵抗R2と並列に付加的抵抗を与える
ために第1の非導通状態と第2の導通状態とを有し、電
力用半導体装置2をターンオン又はターンオフするため
に、ゲート電圧供給端子Gにおける電圧が変化した場
合、又は電力用半導体装置内の欠陥条件の検出に際し
て、ゲート電極5とゲート電圧供給端子Gの間の導電性
通路の全体抵抗を変えるように、第1及び第2状態のう
ちの一方から他方へ切り換えるためにスイッチング装置
が配設されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、絶縁ゲート電界効果電
力用半導体装置と、該電力用半導体装置の絶縁ゲート電
極への電圧の印加を制御するためのゲート制御回路とを
具えている電力用半導体回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】米国特許明細書第4928053号は、
電力用半導体装置が誘導性負荷に対して高側スイッチと
して用いられるように企図されたnチャネル電力用MO
SFET(酸化金属半導体電界効果トランジスタ)であ
る電力用半導体装置回路を記載している。当業者には理
解されるであろうように、nチャネル装置の場合におけ
る「高側スイッチ」は、負荷と二つの電圧供給線のうち
のより正の線との間に結合されているスイッチである。
米国特許明細書第4928053号に記載されている回
路においては、ツェナーダイオードの形態での電圧クラ
ンプ回路が、電力用半導体装置の一方の主電極が結合さ
れている正の電圧供給端子と電力用半導体装置のゲート
電極との間へ結合されている。nチャネルMOSトラン
ジスタの主電流通路、すなわちそのトランジスタの主電
極間の電流通路は、電力用半導体装置のゲートと他方の
主電極との間へ結合される。nチャネルMOSトランジ
スタのゲート電極は、図示されたように大地にある他方
の供給線へpチャネルMOSトランジスタのゲート電極
と一緒に結合される。pチャネルMOSトランジスタの
主電流通路は電力用MOSFETのゲート電極とゲート
駆動回路との間へ結合される。米国特許明細書第492
8053号に記載されている回路の動作においては、誘
導性負荷のスイッチングにより過電圧が生じた場合に、
ツェナーダイオードがブレークダウンし且つnチャネル
MOSトランジスタが導電性通路を与え、誘導性負荷内
のエネルギーの消散のために、その電力用半導体装置を
分流する。同時に、pチャネルMOSトランジスタがス
イッチオフされそれで電力用MOSFETをゲート駆動
回路から絶縁する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】電力用半導体装置のス
イッチオン又はスイッチオフを促進するためのゲート制
御回路を有する電力用半導体装置回路を提供することが
本発明の目的である。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、第1主
電極と第2主電極及びゲート電極を有する絶縁ゲート電
界効果電力用半導体装置と、前記ゲート電極とゲート電
圧供給端子との間に導電性通ーを与えるゲート制御回路
とを具えている電力用半導体装置回路が設けられ、前記
ゲート制御回路は、スイッチング装置の第1主電極と第
2主電極との間の主電流通路が抵抗と並列に結合される
ように、前記ゲート電極と前記ゲート電圧供給端子との
間に結合された前記抵抗と、前記ゲート電圧供給端子と
前記ゲート電極とへそれぞれ結合された第1主電極と第
2主電極とを有する前記スイッチング装置とを具え、該
スイッチング装置は第2導通状態において前記抵抗と並
列に付加的な抵抗を与えるために第1非導通状態と第2
導通状態とを有し、該スイッチング装置は、前記ゲート
電圧供給端子における電圧が電力用半導体装置をターン
オン又はターンオフするために変化する場合か又は前記
電力用半導体装置内での欠陥条件の検出に際して、前記
ゲート電極と前記ゲート電圧供給端子との間の導電性通
路の全体抵抗を変化するように、第1状態と第2状態と
のうちの一方から他方へ切り換えるように配設されてい
る。
【0005】かくして、本発明による回路においては、
ゲート電圧供給端子と電力用半導体装置のゲート電極と
の間の導電性通路の全体抵抗が、ゲート電圧供給端子に
おける電圧の変化又は欠陥条件の検出に応答して、抵抗
と並列に接続されたスイッチング装置の導電性を制御す
ることにより、修正されあるいは変更され得る。これは
電力用半導体装置のスイッチング速度が、電力用半導体
装置の正常動作の間ゲート電圧供給端子へ結合されたあ
らゆる交流信号型低インピーダンスゲート駆動回路から
の恩恵を受けることを可能にするはずであるが、電力用
半導体装置の異常条件のもとで調節されるべきゲート電
極とゲート電圧供給端子との間の導電性通路の全体抵抗
があらゆるそのような低インピーダンス駆動が他方で生
じ得る問題点を低減することを許容する。
【0006】前記スイッチング装置は前記抵抗と並列に
結合された整流ダイオードから成ってもよい。前記整流
ダイオードは電力用半導体装置をターンオフするために
ゲート電圧供給端子が変化する場合に導通するように配
設され得る。
【0007】代案として、前記スイッチング装置はトラ
ンジスタから成ってもよく、前記トランジスタが第1状
態と第2状態との間を切り換わるようにするために、こ
のトランジスタの制御電極へ制御信号を印加するための
手段が設けられてもよい。
【0008】ゲート電圧供給端子からゲート電圧が除去
された場合に電力用半導体装置のターンオフを促進する
ためにゲート制御回路が設けられている第1の例では、
前記トランジスタが絶縁ゲート電界効果トランジスタか
ら成ってもよく、ゲート電圧が前記ゲート電圧供給端子
から除去された場合に前記トランジスタを導通にさせる
ようにするために、前記制御信号印加手段が前記トラン
ジスタの制御電極と電力用半導体装置のゲート電極との
間の結合器を具えてもよく、それにより前記ゲート電極
と前記ゲート電圧供給端子との間の全体抵抗を低減す
る。
【0009】電力用半導体装置のスイッチング速度が調
節されることを可能にするために、抵抗が前記トランジ
スタと直列に結合されてもよい。
【0010】かくしてゲート制御回路は電力用半導体装
置の正常なターンオンの間ゲート電圧供給端子と電力用
半導体装置のゲート電極との間の導電性通路に所望の比
較的高抵抗を与えられることを可能にし、電力用半導体
装置をスイッチオフするためにゲート電圧が除去された
場合に導電性通路の抵抗が自動的に低減されることを可
能にして、それで電力用半導体装置をスイッチオフする
ために必要な時間を低減する。
【0011】第2の例においては、電力用半導体装置の
欠陥条件を検出するために欠陥検出回路が設けられても
よく、該欠陥検出回路は異常条件が検出された場合に電
力用半導体装置をスイッチオフするための出力信号を与
えるために制御出力端子を有し、且つ前記トランジスタ
へ制御信号を印加するための手段が電圧源への別のトラ
ンジスタの第1主電極と第2主電極との間の主電流通路
と直列に結合された別の抵抗を具えてもよく、この別の
トランジスタの第1主電極は前記トランジスタが平常は
導通しているように前記別の抵抗と前記トランジスタの
制御電極とへ結合されていて、前記別のトランジスタ
は、前記欠陥検出回路が異常条件の存在を指示する出力
信号を与えた場合に、前記別のトランジスタを導通にな
るようにさせ、それよにり前記トランジスタを非導通に
なるようにするために前記欠陥検出回路の出力端子へ結
合された制御電極を有し、それでゲート電圧供給端子間
の導電性通路の全体抵抗を増大する。
【0012】この場合には、前記欠陥検出回路が例えば
誘導性負荷のスイッチングによる電力用半導体装置の異
常条件を検出した場合に、ゲート制御回路がゲート電圧
供給端子への導電性通路の抵抗を増大するように働く。
これが欠陥検出回路による電力用半導体装置のターンオ
フを促進するはずである。
【0013】第3の例においては、欠陥検出回路が電力
用半導体装置の異常条件を検出するために設けられても
よく、その欠陥検出回路は異常条件が検出された場合に
電力用半導体装置をスイッチオフするための出力信号を
与えるために制御出力端子を有し、且つ前記ゲート制御
回路は付加的に、トランジスタの第1主電極と第2主電
極との間の主電流通路が抵抗と並列に結合されるよう
に、ゲート電圧供給端子とゲート電極とへそれぞれ結合
された第1主電極と第2主電極とを有して第1主電極と
第2主電極及び制御電極を有するトランジスタと、電圧
源への別のトランジスタの第1主電極と第2主電極との
間の主電流通路と直列に結合されたもう一つの抵抗を具
えているトランジスタへ制御信号を印加するための手段
とを具えてもよく、前記別のトランジスタの第1主電極
は前記トランジスタが平常は導通しているように前記他
の抵抗と前記トランジスタの制御電極とへ結合されてい
て、前記別のトランジスタは、前記欠陥検出回路が異常
条件の存在を指示する出力信号を与えた場合に、前記別
のトランジスタを導通になるようにさせ、それにより前
記トランジスタを非導通になるよにさせるために欠陥検
出回路の出力端子へ結合された制御電極を有し、それで
ゲート電圧供給端子間の導電性通路の全体抵抗が増大す
る。そのような回路が前述の第1及び第2の例の機能を
与える。
【0014】第2及び第3の例においては、欠陥検出回
路は欠陥検出トランジスタの制御電極へ結合された制御
出力端子を有し、その欠陥検出トランジスタは電力用半
導体装置のゲート電極へ結合された第1主電極と第2主
電極とのうちの一方の電極と電圧源へ結合された他方の
電極とを有するので、欠陥検出トランジスタが欠陥検出
回路からの出力信号により導通にされた場合に、電力用
半導体装置がスイッチオフされる。
【0015】一方の主電極における電圧が予定された限
界を越えた場合に、電力用半導体装置を非導通状態から
導通状態へ切り換えられるようにするために、電力用半
導体装置の第1主電極と第2主電極とのうちの一方の電
極とゲート電極との間へ電圧クランプ回路が結合されて
もよい。
【0016】米国特許第5173848号が、ゲート駆
動回路と絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGB
T)の絶縁ゲートとの間の直列抵抗が前記IGBTの絶
縁ゲートへの誘導性通路内の抵抗と並列に結合されたス
イッチング可能な電界効果トランジスタ(FET)を有
する電動機制御装置を記載していることは注目されねば
ならない。このスイッチング可能な電界効果トランジス
タは正常時導通であり、しかしIGBTの負荷電圧が所
定の値の下に低下した場合にターンオンからターンオフ
への比較的遅い遷移にオーバーシュート電圧を回避する
ようにさせるように電界効果トランジスタをスイッチオ
フするために感知回路が設けられる。
【0017】
【実施例】以下、添付の図面を参照して本発明の実施例
を説明しよう。勿論、類似の部分を参照するために全図
面を通して同じ参照符号が用いられていることは理解さ
れねばならない。
【0018】図面を参照すると、第1主電極3と第2主
電極4及びゲート電極5を有する絶縁ゲート電界効果電
力用半導体装置2と、ゲート電極5とゲート電圧供給端
子Gとの間に導電性通路を与えるゲート制御回路6a, 6
b, 6c, 6dとを各々が具えている電力用半導体装置回路1
a, 1b, 1c, 1dの種々の例が図解されており、ゲート制
御回路6はゲート電極5とゲート電圧供給端子Gとの間
に結合された抵抗R3を具えており、スイッチング装置Q
1, D1, Q2はゲート電圧供給端子Gとゲート電極5とへ
それぞれ結合された第1主電極と第2主電極とを有し、
それで第1主電極と第2主電極との間の主電流通路が抵
抗R3と並列に結合されて、スイッチング装置Q1, D1, Q2
は第2の導通状態において抵抗R2と並列に付加的抵抗を
与えるために第1の非導通状態と第2の導通状態とを有
し、そのスイッチング装置は、ゲート電極5とゲート電
圧供給端子Gとの間の導電性通路の全体抵抗を変えるよ
うに、電力用半導体装置2をターンオン又はターンオフ
するためにゲート電圧供給端子Gにおける電圧が変化す
る場合に、第1状態と第2状態とのうちの一方の状態か
ら他方の状態へ切り換えるために配設されている。
【0019】かくして、本発明による回路においては、
ゲート電圧供給端子Gと電力用半導体装置2のゲート電
極5との間の導電性通路の全体抵抗RTOT が、ゲート電
圧供給端子における電圧の変化又は欠陥条件の検出に応
答して、抵抗R3と並列に接続されたトランジスタQ1, Q2
の導電性を制御することにより修正されあるいは変更さ
れ得る。これは電力用半導体装置のスイッチング速度
が、電力用半導体装置の正常動作の間ゲート電圧供給端
子へ結合されたあらゆる交流信号型低インピーダンスゲ
ート駆動回路からの恩恵を受けることを可能にするはず
であるが、電力用半導体装置の異常条件のもとで調節さ
れるべきゲート電極とゲート電圧供給端子との間の導電
性通路の全体抵抗があらゆるそのような低インピーダン
ス駆動が他方で生じ得る問題点を低減することを許容す
る。
【0020】さて、図1に図解された例を参照して、電
力用半導体装置回路1aは第1電力供給線7と第2電力供
給線8とを有している。この例においては、電力用半導
体装置2は負荷Lに対する低側スイッチを形成するnチ
ャネルエンハンスメントモード電力用MOSFETであ
る。電力用MOSFET2記号内に示されたダイオード
DはDMOS型縦型MOSFETのドレインとボディー
(チャネル規定領域)との間に形成されたダイオードを
表現している。負荷Lは自動車内に生じる例えば電動機
のような誘導性負荷又は点火コイルのようなコイルであ
ってもよい。第2電力供給線8はかくして一般に大地
(接地)電位である第1電力供給線7と比較して正の電
圧である。
【0021】電力用MOSFET2のゲート電極5は、
この例では、第1抵抗R1とゲート制御回路6a及び第2抵
抗R2により、ゲート電圧供給端子Gへ結合されている。
【0022】ゲート電圧供給端子Gへゲート電圧を供給
するためにあらゆる適当な形状のゲート駆動回路(図示
せず)が設けられ得る。
【0023】電力用半導体装置回路は、電力用半導体装
置2と統合され得る適当な性質の温度感知器、クランプ
回路及びdV/dt制限回路を含んでもよい。
【0024】図1に示されたゲート制御回路6aは、第1
抵抗R1と第2抵抗R2との間で、且つそれらに直列に設け
られた第3抵抗R3と、第4抵抗R4により第2抵抗R2と第
3抵抗R3との間の接合点J1へ結合された、絶縁ゲート電
界効果トランジスタ(IGFET)Q1のソース電極s
と、第1抵抗R1と第3抵抗R3との間の接合点J2へ結合さ
れたIGFETQ1のドレイン電極dとにより、抵抗R3の
両端へ結合された主電流通路(すなわちソースとドレイ
ンとの間の電流通路)を有するnチャネルエンハンスメ
ントモード絶縁ゲート電界効果トランジスタ(IGFE
T)Q1とを具えている。IGFETQ1のゲート電極gは
そのトランジスタのドレイン電極dへ結合されている。
【0025】図1は結合されないものとしてIGFET
Q1のバックゲート電極bgを示している。しかしながら実
際にはバックゲート電極bgは慣習的な方法でソース電極
へ結合されるか、あるいは第1電力供給線7へ結合され
るであろう。
【0026】電力用半導体装置回路1aの動作において
は、正常動作における電力用半導体装置2は、ゲート駆
動回路(図示せず)によるゲート電圧供給端子Gへの適
切な正の電圧の印加によりスイッチオンされる。
【0027】この局面の間はIGFETQ1は非導通すな
わちオフのままであり、ゲート電圧供給端子Gとゲート
電極5との間の導電性通路の全体の抵抗は抵抗R1, R2及
びR3の合計である。
【0028】電力用半導体装置2をターンオフするため
に、ゲート駆動回路がゲート電圧を除去する。この段階
においてIGFETQ1のドレインd(及び従ってゲート
g)における電圧がそのトランジスタのソースにおける
電圧よりも高くなり、IGFETQ1が導通となりかくし
て抵抗R4とIGFETQ1の小さい抵抗とを第3抵抗R3と
並列に接続して、ゲート電圧供給端子Gと電力用MOS
FET2のゲート電極5との間の導電性通路の全体抵抗
OUT を低減する。
【0029】かくしてゲート制御回路6aが電力用半導体
装置2の正常なターンオンの間ゲート電圧供給端子Gと
電力用半導体装置2のゲート電極5との間の導電性通路
に所望の比較的高い抵抗を与えられることを可能にし、
電力用半導体装置をスイッチオフするためにゲート電圧
が除去された場合に導電性通路の抵抗が自動的に低減さ
れることを可能にして、電力用半導体装置2をスイッチ
オフするために要する時間を低減する。
【0030】図2は図1に示された回路1aの修正版1a'
を図解しており、その回路ではゲート制御回路6a' のト
ランジスタQ1は整流ダイオードD1より置き換えられてお
り、そのダイオードは電力用半導体装置2がその中に形
成されている半導体のボディー上に設けられた絶縁層上
に形成された、好適には薄膜、一般に多結晶珪素形状
の、ダイオードである。
【0031】図2に示された回路1a' の動作において
は、ゲート駆動回路がゲート電圧を除去した場合に、ダ
イオードD1(このダイオードは電力用半導体装置2を導
通させるためにゲート電圧が印加されている間は逆バイ
アスされている)が正バイアスとなり且つ従って導通す
るので、ダイオードD1の正方向抵抗が第3抵抗R3と並列
に置かれ、それでゲート電圧供給端子Gと電力用MOS
FET2のゲート電極5との間の導電性通路の全体抵抗
TOT を低減する。
【0032】トランジスタQ1の代わりにダイオードD1を
使用するのは、一般にそのダイオードが導通している場
合には、ダイオードD1の正方向電圧はトランジスタQ1を
横切る電圧降下よりも低くなるので有利であり、それで
全体抵抗RTOT が低減されることを可能にし、更に電力
用半導体装置2をターンオフするためにゲート電圧供給
端子Gがソース電圧へ引きつけられた場合に、電力用半
導体装置2のゲートがソース電圧(すなわち第1電力供
給線7の電圧)により近く引きつけられることを許容す
る。例えば、この場合には種々の構成要素の正確な電気
的特性に依存して、電力用半導体装置2のゲート電極5
は、図1の例における1.0 Vと比較して約0.7 Vへ引き
下げられ得る。従ってターンオフ遅延時間及びゲート電
極5の電圧の降下時間は図1の例におけるよりも少なく
なる。
【0033】図3は本発明によるもう一つの実施例の電
力用半導体装置回路1bを図解している。
【0034】図3に図解された例においては、電圧クラ
ンプ回路9が、電力用半導体装置2の第2主電極(図示
の例ではドレイン)4とゲート電極5との間に結合され
ているので、例えば誘導性負荷Lのスイッチングによる
過電圧の場合に、電圧クランプ回路9が電力用MOSF
ET2をターンオンするために電力用MOSFET2の
ゲート電圧を上げるように働き、電力用MOSFET2
の導通により誘導性負荷内の超過したエネルギーが消散
されることを可能にする。
【0035】電圧クランプ回路9は適切ないかなる型の
ものであってもよい。例えば、電圧クランプ回路9は簡
単に第2主電極4における電圧が予定された値を超えた
場合にブレークダウンするツェナーダイオードの連鎖で
構成されてもよく、あるいは米国特許明細書第4928
053号,欧州特許出願公開明細書第372820号又
は欧州特許公開明細書第523800号に記載された回
路に類似する回路が使用され得る。
【0036】ゲート制御回路6bは、抵抗R5が接合点J1へ
結合され且つトランジスタQ2のドレイン電極が接合点J2
へ結合されるように、抵抗R3に並列に抵抗R5と直列に接
続された主電流通路を有するnチャネルエンハンスメン
トモードIGFETQ2を具えている。トランジスタQ2の
絶縁ゲート電極は抵抗R6を介して接合点J1と抵抗R2との
間の接合点J3へ結合され、nチャネルエンハンスメント
モードIGFETQ3の主電流通路を介して第1電力供給
線7へ結合されている。トランジスタQ3のゲート電極は
制御入力信号端子Cへ結合されている。
【0037】欠陥検出回路10は抵抗R2を介してゲート電
圧供給端子Gへ結合されると共に、第1電力供給線へ結
合されている。欠陥検出回路10は異常条件が検出された
場合に電力用半導体装置2をスイッチオフするための制
御出力信号を供給するために制御出力端子10A を有して
いる。
【0038】欠陥検出回路10は、電力用半導体装置2が
スイッチオフされることが必要な異常条件を指示するの
に適したどんな回路であってよい。かくして、例えば、
欠陥検出回路10は、電力用半導体装置2の温度が予定さ
れた望ましい最高温度を超過した場合を検出するように
設計されてもよい。そのような場合にはあらゆる適切な
過大温度検出回路が使用されてもよく、例えばそれは本
出願人の出願中の欧州特許出願公開第523799号に
記載されている。もう一つの代案すなわち付加的な欠陥
検出回路として、本出願人が出願中の欧州特許出願公開
第479362号に記載されているような回路が、電力
用半導体装置を組み込んでいる半導体ボディーを横切る
温度差が予定された限界を超えた場合を検出するために
用いられてもよい。
【0039】欠陥検出回路10の制御出力端子10a は、抵
抗R1を介して電力用半導体装置2のゲート電極へ結合さ
れ且つ直接に接合点J2へ結合されたドレイン電極と、第
1電力供給線7へ結合されたソース電極とを有する、n
チャネルエンハンスメントモードIGFETすなわちト
ランジスタQ4の制御ゲートへ結合されている。
【0040】この例では、欠陥検出回路10の制御出力端
子10a は、点CにおいてトランジスタQ3の制御電極へも
結合されている。
【0041】図4は本発明による回路の修正版1cを図解
しており、その回路は抵抗R6が接合点J3でなくて独自の
基準電圧VC へ結合されていると言う事実により単純に
図3に示された回路と異なっている。このことが電圧V
C に図3での接合点J3にける電圧よりもゲート電圧に近
くなることを許容し、それでより高い電圧がトランジス
タQ2のゲートへ印加されることを可能にする。
【0042】回路1b又は1cの動作においては、正常時オ
フである場合の電力用半導体装置2は、ゲート電圧供給
端子Gへの適切なゲート電圧の印加によりスイッチオン
される。正常なターンオン過程の間は、トランジスタQ3
は導通せず且つそれでトランジスタQ2のゲートは高であ
り、トランジスタQ2は導通して抵抗R5とトランジスタQ2
の抵抗とを抵抗R3と並列に結合する。ゲート電圧の除去
による電力用半導体装置2のターンオフの間、状態は類
似するであろう。かくして、正常な動作条件のもとで
は、ゲート電圧供給端子Gからゲート電極5までの全体
の抵抗は R1+R2+Rx であり、ここで 1/Rx=1/R3+1/R5 である。
【0043】導通時のトランジスタQ2の抵抗は無視でき
る。
【0044】欠陥検出回路10が電力用半導体装置2の異
常条件、例えば過大温度を検出した場合には、制御出力
信号がトランジスタQ4をターンオンするために出力端子
10a上に与えられるので、電力用半導体装置2のゲート
電極5を第1電力供給線7へ結合し、且つそれで電力用
半導体装置2をターンオフする。同時に制御出力信号が
接合点Cを介してトランジスタQ3の制御電極へ与えら
れ、トランジスタQ3を導通にし、それがトランジスタQ2
のゲート電圧を低めて、そのトランジスタQ2は非導通に
なる。抵抗R5とトランジスタQ2とはかくしてもはや抵抗
R3と並列な導電性通路を与えず、且つ従ってゲート電圧
供給端子Gからゲート電極5までの導電性通路の全体抵
抗は R1+R2+R3 に増大される。
【0045】かくして、接合点J2からゲート電圧供給端
子Gまでの通路の抵抗が増大され、それでトランジスタ
Q4による電力用半導体装置2のゲート電極の引下げを促
進して、電力用半導体装置2を導通状態に試行し且つ維
持することをゲート駆動回路に対して一層困難にするた
めにゲート電圧供給端子Gへ結合されたゲート駆動回路
(図示せず)への導電性通路の抵抗を増大する。かくし
て、この回路が、ゲート駆動回路が電力用半導体装置2
をスイッチオフすることをめざす欠陥検出回路10に反対
の動作することを防止する援助をする。
【0046】さて、電力用半導体装置2が、例えばモー
タ又はコイルのような誘導性負荷を切り換えるために用
いられている状態を考察しよう。ゲート電圧の除去によ
り電力用半導体装置2がターンオフされる場合に、誘導
性負荷Lは第2主電極4における電圧に急上昇を生じ、
予定された電圧に到達した場合には、それが誘導性負荷
内のエネルギーを消散させ且つ従って電力用半導体装置
2のあらゆる有害な破損を回避するように、電力用半導
体装置を導通にするように電力用半導体装置2のゲート
電圧を上げるために、電圧クランプ回路9を導電するよ
うにする。図3又は4には示されていないけれども、電
圧クランプ回路9がトランジスタQ3のゲートの電圧を上
昇させるために導通にされた場合に、接合点Cへ補助制
御信号を供給するために制御回路が設けられてもよく、
それでトランジスタQ2のゲート電圧を低めるためにトラ
ンジスタQ3を導通にし、トランジスタQ2は非導通にな
る。この場合にはそれで抵抗R5とトランジスタQ2とはも
はや抵抗R3と並列な導電性通路を与えず、且つ従ってゲ
ート電圧供給端子Gからゲート電極5までの導電性通路
の全体抵抗は R1+R2+R3 に増大される。特に、電圧クランプ回路9からゲート電
圧供給端子Gまでの通路の抵抗が増大されるので、電圧
クランプ回路9を通る電流はゲート駆動回路(図示せ
ず)により消散され得ないが、電力用半導体装置2のゲ
ート電圧を上げるために直接用いられ、それで電圧クラ
ンプ回路9が電力用半導体装置2をターンオンする速度
を増大する。
【0047】図5は本発明による回路の別の例1dを図解
している。この例においては、ゲート制御回路6dが、図
1を参照して上述された電力用半導体装置2の正常なタ
ーンオフの速度を増大するためのトランジスタQ1及び直
列抵抗R4と図3に示された装置に類似した装置との双方
を含んでいる。
【0048】図6は本発明による回路1dの修正版1d' を
図解している。この例においては、ゲート制御回路6d'
が図2を参照して上述された電力用半導体装置2の正常
なターンオフの速度を増大するためのダイオードD1と図
3に示された装置と類似した装置との双方を含んでい
る。
【0049】典型的には抵抗R3は 50kΩ(キロオーム)
を有してもよく、一方抵抗R4, R5及びR6はそれぞれ 100
又は200kΩ, 1〜 10kΩ及び 100又は200kΩの値を典型
的に有してもよく、且つ抵抗R1及びR2は 100Ω〜1 kΩ
の値を有してもよい。
【0050】1個又は複数個の入力保護ツェナーダイオ
ードが、図4においてはツェナーダイオードZDにより示
されているように、ゲート電圧供給端子Gと第1電力供
給線7との間へ接続されてもよい。
【0051】トランジスタQ1, Q2, Q3は、一般に横型I
GFETであり、抵抗R1, R2, R3,R4, R5, R6と一緒に
電力用半導体装置2と同じ半導体ボディーに集積されて
もよい。抵抗は半導体ボディー内に設けられた拡散抵抗
又は適切に半導体ボディーの表面上に且つそれから絶縁
されて設けられた薄膜(例えば多結晶)抵抗であっても
よい。
【0052】図面ではトランジスタQ1, Q2, Q3のバック
ゲートbgが慣習的なようにそれらの各自のソースへ短絡
されて示されていないことは注目されてきたであろう。
実際にはこれは事実であってもよく、あるいはバックゲ
ートは、例えば第1電力供給線7へ接続されることによ
り、適切な基準電位へ結合されることができる。
【0053】この回路はその他の監視用及び制御要素、
例えば電力用半導体装置の温度を検出するための感知器
を含むこともできる。
【0054】電力用半導体装置2は必ずしも電力用MO
SFETである必要はなく、例えば絶縁ゲートバイポー
ラトランジスタ(IGBT)であってもよい。
【0055】また、電力用半導体装置2は前述の例では
nチャネル装置であるけれども、本発明は電圧その他の
適切な変更によりpチャネル装置にも適用できる。同様
に、図面は低側スイッチを示しているけれども、本発明
は高側スイッチにも適用され得る。
【0056】この開示を読むことにより、その他の修正
又は変形が当業者にはわかるであろう。そのような修正
又は変形は半導体技術においてすでに知られており、且
つここにすでに記載された特徴の代わりに、あるいはそ
れに加えて使用され得るその他の特徴を伴ってもよい。
本出願においては、特許請求の範囲は特徴の特定の組み
合わせに対して形成されたけれども、本出願の開示の範
囲は、いずれかの特許請求の範囲に現在請求されている
のと同じ発明に関連するか否か、本出願が緩和したのと
同じ技術的問題のいずれか又は全部を緩和するか否かに
かかわらず、本出願の開示の範囲は新規な特徴又は明示
的であれ暗示的であれここに開示された特徴の新規な組
み合わせをも含むことは理解されねばならない。出願人
はここに本出願の、あるいはそれから引き出されるなん
らかの別の出願の継続中に、新しい特許請求の範囲がそ
のような特徴に対して形成され得ると言う注意を与えて
おく。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による電力用半導体装置回路の第1実施
例の回路図である。
【図2】前記第1実施例の修正版の回路図である。
【図3】本発明による電力用半導体装置回路の第2実施
例回路図である。
【図4】本発明による電力用半導体装置回路の第3実施
例に対する回路図である。
【図5】本発明による電力用半導体装置回路の第4実施
例に対する回路図である。
【図6】前記第4実施例の修正版の回路図である。
【符号の説明】
1a〜1d 電力用半導体装置回路 2 絶縁ゲート電界効果電力用半導体装置 3 第1主電極 4 第2主電極 5 ゲート電極 6a〜6d ゲート制御電極 7 第1電力供給線 8 第2電力供給線 9 電圧クランプ回路 10 欠陥検出回路 10a 制御出力端子 bg バックゲート d ドレイン電極 g ゲート電極 s ソース電極 C 制御入力信号端子 D ダイオード D1 スイッチングデバイスである整流ダイオード G ゲート電圧供給端子 J1, J2, J3 接合点 L 負荷 Q1, Q2 スイッチングデバイスであるトランジスタ Q3, Q4 nチャネルエンハンスメントモード絶縁ゲート
電界効果トランジスタ R1〜R6 抵抗 VC 別の基準電圧 ZD ツェナーダイオード
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ポール ティモシイ ムーデイ イギリス国 ランクス オルダム スプリ ングヘッド カールハウス ロード 51

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1主電極と第2主電極及びゲート電極
    を有する絶縁ゲート電界効果電力用半導体装置及び前記
    ゲート電極とゲート電圧供給端子との間に導電性通路を
    与えるゲート制御回路を具えている電力用半導体装置回
    路であって、前記ゲート制御回路は、スイッチング装置
    の第1主電極と第2主電極との間の主電流通路が抵抗と
    並列に結合されるように、前記ゲート電極と前記ゲート
    電圧供給端子との間に結合された前記抵抗と、前記ゲー
    ト電圧供給端子と前記ゲート電極とへそれぞれ結合され
    た第1主電極と第2主電極とを有する前記スイッチング
    装置とを具えており、該スイッチング装置は第2導通状
    態において前記抵抗と並列に付加的な抵抗を与えるため
    に第1非導通状態と第2導通状態とを有し、該スイッチ
    ング装置は、前記ゲート電圧供給端子における電圧が電
    力用半導体装置をターンオン又はターンオフするために
    変化する場合か又は前記電力用半導体装置内での欠陥条
    件の検出に際して、前記ゲート電極と前記ゲート電圧供
    給端子との間の導電性通路の全体抵抗を変化するよう
    に、第1状態と第2状態とのうちの一方から他方へ切り
    換えるように配設されている電力用半導体装置回路。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の電力用半導体装置回路に
    おいて、前記スイッチング装置が前記抵抗と並列に結合
    された整流ダイオードから成っていることを特徴とする
    電力用半導体装置回路。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の電力用半導体装置回路に
    おいて、前記整流ダイオードが、前記電力用半導体装置
    をターンオフするために前記ゲート電圧供給端子が変化
    した場合に導通するように配設されていることを特徴と
    する電力用半導体装置回路。
  4. 【請求項4】 請求項1記載の電力用半導体装置回路に
    おいて、前記スイッチング装置がトランジスタを具え且
    つ前記トランジスタを第1状態と第2状態との間を切換
    させるために前記トランジスタの制御電極へ制御信号を
    印加するための手段が設けられていることを特徴とする
    電力用半導体装置回路。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の電力用半導体装置回路に
    おいて、ゲート電圧が前記ゲート電圧供給端子から除去
    された場合に電力用半導体装置のターンオフを促進する
    ためにゲート制御回路が設けられ、且つ前記トランジス
    タが絶縁ゲート電界効果トランジスタから成り且つゲー
    ト電圧が前記ゲート電圧供給端子から除去された場合に
    前記トランジスタを導通にさせるようにするために、前
    記制御信号印加手段が前記トランジスタの制御電極と電
    力用半導体装置のゲート電極との間の結合器を具え、そ
    れにより前記ゲート電極と前記ゲート電圧供給端子との
    間の全体抵抗を低減することを特徴とする電力用半導体
    装置回路。
  6. 【請求項6】 請求項4記載の電力用半導体装置回路に
    おいて、電力用半導体装置の欠陥条件を検出するために
    欠陥検出回路が設けられ、該欠陥検出回路は異常条件が
    検出された場合に電力用半導体装置をスイッチオフする
    ための出力信号を与えるために制御出力端子を有し、且
    つ前記トランジスタへ制御信号を印加するための手段が
    電圧源への別のトランジスタの第1主電極と第2主電極
    との間の主電流通路と直列に結合された別の抵抗を具え
    ており、この別のトランジスタの第1主電極は前記トラ
    ンジスタが平常は導通しているように前記別の抵抗と前
    記トランジスタの制御電極とへ結合されていて、前記別
    のトランジスタは、前記欠陥検出回路が異常条件の存在
    を指示する出力信号を与えた場合に、前記別のトランジ
    スタを導通になるようにさせ、それよにり前記トランジ
    スタを非導通になるようにするために前記欠陥検出回路
    の出力端子へ結合された制御電極を有し、それでゲート
    電圧供給端子間の導電性通路の全体抵抗を増大すること
    を特徴とする電力用半導体装置回路。
  7. 【請求項7】 請求項3又は5記載の電力用半導体装置
    回路において、電力用半導体装置の異常条件を検出する
    ために欠陥検出回路が設けられ、該欠陥検出回路は異常
    条件が検出された場合に電力用半導体装置をスイッチオ
    フするための出力信号を与えるために制御出力端子を有
    し、且つ前記ゲート制御回路は付加的に、トランジスタ
    の第1主電極と第2主電極との間の主電流通路が抵抗と
    並列に結合されるように、ゲート電圧供給端子とゲート
    電極とへそれぞれ結合された第1主電極と第2主電極と
    を有して第1主電極と第2主電極及び制御電極を有する
    トランジスタと、電圧源への別のトランジスタの第1主
    電極と第2主電極との間の主電流通路と直列に結合され
    たもう一つの抵抗を具えているトランジスタへ制御信号
    を印加するための手段とを具えており、前記別のトラン
    ジスタの第1主電極は前記トランジスタが平常は導通し
    ているように前記他の抵抗と前記トランジスタの制御電
    極とへ結合されていて、前記別のトランジスタは、前記
    欠陥検出回路が異常条件の存在を指示する出力信号を与
    えた場合に、前記別のトランジスタを導通になるように
    させ、それにより前記トランジスタを非導通になるよに
    させるために欠陥検出回路の出力端子へ結合された制御
    電極を有し、それでゲート電圧供給端子間の導電性通路
    の全体抵抗を増大することを特徴とする電力用半導体装
    置回路。
  8. 【請求項8】 請求項4,5又は6記載の電力用半導体
    装置回路において、抵抗が前記トランジスタと直列に結
    合されていることを特徴とする電力用半導体装置回路。
  9. 【請求項9】 請求項6,7又は8記載の電力用半導体
    装置回路において、欠陥検出トランジスタが、前記欠陥
    検出回路の制御出力端子へ結合された制御電極と、電力
    用半導体装置のゲート電極へ結合された第1主電極及び
    第2主電極のうちの一方の電極と、電圧源へ結合された
    他方の電極とを有するので、前記欠陥検出トランジスタ
    が前記欠陥検出回路からの出力信号により導通にされた
    場合には電力用半導体装置がスイッチオフされることを
    特徴とする電力用半導体装置回路。
  10. 【請求項10】 請求項1〜9のいずれか一項記載の電
    力用半導体装置回路において、一方の主電極における電
    圧が予定された限界を越えた場合に電力用半導体装置を
    非導通状態から導通状態へ切り換えられるようにするた
    めに、電力用半導体装置の第1主電極と第2主電極との
    うちの一方の電極とゲート電極との間へ電圧クランプ回
    路が結合されていることを特徴とする電力用半導体装置
    回路。
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