JPH07136885A - 真空チャック - Google Patents

真空チャック

Info

Publication number
JPH07136885A
JPH07136885A JP18886093A JP18886093A JPH07136885A JP H07136885 A JPH07136885 A JP H07136885A JP 18886093 A JP18886093 A JP 18886093A JP 18886093 A JP18886093 A JP 18886093A JP H07136885 A JPH07136885 A JP H07136885A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
held
chuck
suction
vacuum chuck
suction passage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18886093A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Hirokawa
利夫 広川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP18886093A priority Critical patent/JPH07136885A/ja
Publication of JPH07136885A publication Critical patent/JPH07136885A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/707Chucks, e.g. chucking or un-chucking operations or structural details

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Jigs For Machine Tools (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 チャック本体の表面平坦度に依存せずに被保
持基板を変形を招くことなく確実に吸着、保持すること
が可能で、しかも軽量化を図ることが可能な真空チャッ
クを提供しようとするものである。 【構成】 吸引通路12を有するチャック本体11と、
前記本体11上に前記吸引通路12と連通するように取
付けられた吸着パッド13とを具備し、前記吸引パッド
13は、柔軟性を有する筒体19と、この筒体19内に
配置され、先端が前記筒体の開口端より低くなるように
位置された突起部15と、前記吸引通路12と連通さ
れ、前記筒体19の開口端に被保持基板が載置された時
に前記筒体19内の空間を吸引するための排気部17と
を備えた構成を有することを特徴としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体ウェハ、マス
ク、ガラス板等の被保持基板を吸引保持するための真空
チャックに関する。
【0002】
【従来の技術】従来の真空チャックとしては、図9およ
び図10に示すように被保持基板、例えば半導体ウェハ
とほぼ同寸法で内部に吸引通路1を有する円板状のチャ
ック本体2の上面に例えば2つの環状溝3a、3bを前
記吸引通路1と連通するように形成した構造のものが知
られている。このような構成の真空チャックにおいて、
前記円板状のチャック本体2の上面に半導体ウェハ4を
載置し、前記吸引通路1を通して前記環状溝3a、3b
を真空排気することにより前記ウェハ4の全面が前記本
体2に吸着されて保持される。
【0003】しかしながら、上述した従来の真空チャッ
クにおいては前記ウェハ4の保持性能は前記チャック本
体2の表面平坦度に依存する。例えば、前記チャック本
体2の表面平坦度が低いと前記本体2に載置される前記
ウェハ4との間に隙間が生じて前記ウェハ4を確実に吸
着、保持することが困難になる。また、前記ウェハ4を
吸着、保持できたとしても、前記ウェハ4は前記チャッ
ク本体2の表面に倣って保持されるために微視的に変形
される恐れがある。このようなウェハ4の変形は、応力
を伴うために内部欠陥の発生原因となる。特に、微細な
素子が多数形成される半導体ウェハでは前記内部欠陥の
発生は電気的特性等に多大な悪影響を及ぼす。
【0004】したがって、従来の真空チャックでは前記
チャック本体を極めて高い精度で表面加工することが要
求される。その結果、コストが高くなるばかりか、高精
度の表面加工を行うためにチャック本体(通常、金属か
ら製作される)を厚くする必要から大重量になるという
新たな問題を生じる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、チャ
ック本体の表面平坦度に依存することなく被保持基板を
変形を招くことなく確実に吸着、保持することが可能
で、しかも軽量化を図ることが可能な真空チャックを提
供しようとするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる真空チャ
ックは、吸引通路を有するチャック本体と、前記本体上
に前記吸引通路と連通するように取付けられた吸着パッ
ドとを具備し、前記吸着パッドは、柔軟性を有する筒体
と、この筒体内に配置され、先端が前記筒体の開口端よ
り低くなるように位置された突起部と、前記吸引通路と
連通され、前記筒体の開口端に被保持基板が載置された
時に前記筒体内の空間を吸引するための排気部とを備え
た構成を有することを特徴とするものである。
【0007】前記筒体は、円筒体でも、矩形筒体でもよ
い。このような筒体は、例えばシリコン樹脂、ウレタン
樹脂等の柔軟性を有する材料から形成される。前記突起
部の先端形状は、球面にすることが好ましい。このよう
な先端部が球面の突起部は、被保持基板と点接触させる
ことができるため、前記被保持基板を高い平坦度で吸
着、保持することが可能になる。
【0008】
【作用】本発明に係わる真空チャックは、柔軟性を有す
る筒体と、この筒体内に配置され、先端が前記筒体の開
口端より低くなるように位置された突起部と、前記筒体
内の空間を吸引するための排気部とを備えた吸着パッド
を吸引通路を有するチャック本体上に前記吸引通路と連
通するように取付けた構成になっている。
【0009】このような構成において、被保持基板を前
記吸着パッドに載置した状態で前記チャック本体の吸引
通路を通して真空排気することにより、前記吸着パッド
の柔軟性を有する筒体内が前記排気部により吸引される
ため、その開口端が変形して前記被保持基板の裏面に密
着する。このため、前記被保持基板を確実に吸着、保持
することができる。
【0010】また、前記筒体の開口端が前記被保持基板
裏面に密着すると、前記筒体内の突起部の先端に前記被
保持基板の裏面が当接される。この際、前記吸着パッド
を3つ以上備えることによって、前記被保持基板は前記
3つ以上の吸着パッドの前記突起部の先端でそれぞれ支
持されるために、変形を招くことなくそれ自体高い平坦
度で吸着、保持される。特に、先端部が球面の突起部を
用いれば、前記被保持基板と点接触させることができる
ため、前記被保持基板を高い平坦度で吸着、保持するこ
とが可能になる。
【0011】さらに、前記被保持基板をある基準面に対
して平行に保持させる必要が場合には前記吸着パッドを
3つまたはそれ以上設け、これら吸着パッドの突起部の
高さ調節によって容易に対応することができる。さら
に、前述したように前記被保持基板は前記吸着パッドで
吸着、保持されるため、前記チャック本体を高精度で表
面加工する必要がなくなる。このため、高精度の表面加
工に伴うコスト上昇を抑えることができる。しかも、前
記チャック本体の表面の加工精度がラフになることによ
り前記本体を薄くできるために軽量化を図ることができ
る。真空チャックの軽量化は、それを例えば可動ステー
ジに搭載した場合には高精度の位置決めを行うことがで
きるという利点を有する。
【0012】
【実施例】以下、本発明の実施例を図1〜図3を参照し
て詳細に説明する。例えば被保持基板である半導体ウェ
ハとほぼ同寸法の円板状のチャック本体11は、内部に
吸引通路12を有する。前記吸引通路12は、図示しな
い真空排気装置に連通されている。吸着パッド13は、
前記チャック本体11の上部周縁付近の3箇所に前記吸
引通路12と連通するように取り付けられている。な
お、前記各吸着パッド13は、前記本体11の中心に対
して等周角度(120゜)で配置されている。
【0013】前記各吸着パッドは、図3に示す構成にな
っている。すなわち、下端に円筒状支持体14が一体に
形成された突起部15は、前記支持体14を前記本体1
1の上面からその内部に亘って穿設された穴16に挿入
することにより取付けられている。前記支持体14の下
端は、前記本体11の前記吸引通路12に連通されてい
る。前記突起部15は、前記支持体14の径より大きい
略半球状をなし、かつ複数の排気穴17が形成されてい
る。前記各排気穴17は、一端が前記突起部15の側面
に開口され、他端が前記支持体14の中空部に連通され
ている。スペーサ18は、前記本体11上面と前記突起
部15の間に介在されている。柔軟性を有する材料(例
えばシリコン樹脂)からなり、開口端が外側に拡口され
た円筒体19は、その下部内周面を前記突起部15の下
部外周面に接着させることにより取り付けられている。
前記突起部15の先端は、前記円筒体19の開口端より
僅かに低くなるように位置している。
【0014】このような構成によれば、被保持基板、例
えば半導体ウェハ20を前記3つの吸着パッド13の前
記柔軟性を有する円筒体19上に載せ、図示しない真空
排気装置と連通する前記チャック本体11の吸引通路1
2を通して前記吸着パッド13の支持体14の中空部を
経由して前記排気穴17を真空排気すると、図4に示す
ように前記ウェハ20が載置された前記円筒体19内が
吸引されてその開口端が外側に湾曲し、前記ウェハ20
の裏面に密着すると共にそのウェハ20の裏面が前記円
筒体19内の前記突起部15の先端球面に当接する。そ
の結果、前記ウェハ20は前記各吸着パッド13により
確実に吸着される。しかも、前記ウェハ20は3箇所の
突起部15の先端で支持されるため、変形することなく
それ自体高い平坦度で吸着、保持される。特に、前記突
起部15の先端部を球面にすれば、前記ウェハ20と点
接触させることができるため、前記ウェハ20を高い平
坦度で吸着、保持することが可能になる。
【0015】また、前記吸着パッド13に組み込まれる
前記突起部15の高さは前記突起部15の下面と前記チ
ャック本体11表面との間に介在させるスペーサ18の
厚さを変えることにより前記円筒体19と共に調節でき
るため、前記突起部15の高さ調節によりウェハ20を
ある基準面に対して平行に保持させることも極めて容易
に行うことが可能になる。
【0016】なお、前述した図1〜図3に示す構造の真
空チャックにおいて前記スペーサ18を前記チャック本
体11上面と前記突起部15の間に介在させる代わりに
前記突起部15の下面に一体的に形成された円筒状の支
持体14の外周面にネジ切り加工を施し、かつ前記チャ
ツク本体11の穴16の内周面にもネジ切り加工を施す
ことにより前記突起部15を前記支持体14を介して前
記穴16に螺合させて取り付けるようにしてもよい。こ
のような構造にすれば、前記突起部15を回転させるこ
とによりその高さを任意に調節できるため、前記突起部
15の高さ調節のための前記スペーサ18を用いること
なく、極めて容易に前記ウェハをある基準面に対して平
行に保持させることが可能になる。
【0017】また、本発明に係わる真空チャックは前述
した図1〜図3に示す構造に限定されず、例えば次に説
明する図5、図6に示す構造にしてもよい。図5および
図6において、チャック本体21は内部に吸引通路22
が形成されている。吸着パッド23は、前記本体21の
3箇所に設けられている。前記吸着パッド23は、前記
本体21と一体化され、先端が前記本体21上面から突
出した突起部24と、前記突起部24周辺の前記本体2
1に90゜の周角度で穿設され、下部が前記吸引通路2
2と連通した例えば4つの排気穴25と、前記突起部2
4を中心にして前記本体21の上面部に同心円状に穿設
された環状溝26と、前記環状溝26の前記突起部24
側の環状側面に下部内周面が接着等により取り付けら
れ、開口端が外側に拡口された柔軟性を有する材料(例
えばシリコン樹脂)からなる円筒体27とから構成され
ている。
【0018】このような図5および図6に示す構造の真
空チャックにおいて、図示しない被保持基板、例えば半
導体ウェハを前記3つの吸着パッド23の前記柔軟性を
有する円筒体27上に載せ、図示しない真空排気装置と
連通する前記チャック本体21の吸引通路22を通して
前記吸着パッド23の前記排気穴25を真空排気する
と、前記ウェハが載置された前記円筒体27内が吸引さ
れてその開口端が外側に湾曲し、前記ウェハの裏面に密
着すると共にそのウェハの裏面が前記円筒体27内の前
記突起部24の先端に当接する。その結果、前述した実
施例と同様に前記ウェハを前記各吸着パッド23により
確実に吸着できると共に、前記ウェハを変形させること
なくそれ自体高い平坦度で吸着、保持することができ
る。
【0019】さらに、前述した実施例では1つのチャッ
ク本体に3つ(必要に応じて4つ以上にすることも可
能)の吸着パッドを取り付けた構成にしたが、これに限
定されず、例えば図7および図8に示す構成してもよ
い。すなわち、この真空チャックは吸引通路22を有す
る矩形状のチャック本体21に前述した図5および図6
とほぼ同様な構造の吸着パッド23を取り付けてチャッ
クユニット28とし、例えば3つの前記ユニット28を
等周角度(120゜)で配置すると共に、ブロック29
にボルト28を介してそれぞれ固定して真空チャックを
構成してもよい。このような構成の真空チャックによれ
ば、その様々な用途に応じて前記チャックユニット28
を図7および図8のような個数、配置、またはこれ以外
の個数、配置に種々変更することができるため、ユーザ
にとって極めて取扱いの自由度が高くなるという効果を
奏する。
【0020】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によればチ
ャック本体の表面平坦度に依存せずに半導体ウェハ等の
被保持基板を変形を招くことなく確実に吸着、保持する
ことができ、しかも軽量化を図ることが可能な真空チャ
ックを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す真空チャックの平面
図。
【図2】図1のA−A線に沿う断面図。
【図3】図1の真空チャックの要部断面図。
【図4】半導体ウェハを吸着保持した時の真空チャック
の要部断面図。
【図5】本発明の他の実施例を示す真空チャックの要部
平面図。
【図6】図5のA−A線に沿う断面図。
【図7】本発明のさらに他の実施例を示す真空チャック
の平面図。
【図8】図7のA−A線に沿う断面図。
【図9】従来の真空チャックを示す平面図。
【図10】図9のA−A線に沿う断面図。
【符号の説明】
11、21…チャック本体、12、22…吸引通路、1
3、23…吸着パッド、15、24…突起部、17、2
5…排気穴、19、27…円筒体、20…半導体ウェ
ハ、28…チャックユニット。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 吸引通路を有するチャック本体と、前記
    本体上に前記吸引通路と連通するように取付けられた吸
    着パッドとを具備し、 前記吸着パッドは、柔軟性を有する筒体と、この筒体内
    に配置され、先端が前記筒体の開口端より低くなるよう
    に位置された突起部と、前記吸引通路と連通され、前記
    筒体の開口端に被保持基板が載置された時に前記筒体内
    の空間を吸引するための排気部とを備えた構成を有する
    ことを特徴とする真空チャック。
JP18886093A 1993-06-30 1993-06-30 真空チャック Pending JPH07136885A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18886093A JPH07136885A (ja) 1993-06-30 1993-06-30 真空チャック

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18886093A JPH07136885A (ja) 1993-06-30 1993-06-30 真空チャック

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07136885A true JPH07136885A (ja) 1995-05-30

Family

ID=16231132

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18886093A Pending JPH07136885A (ja) 1993-06-30 1993-06-30 真空チャック

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07136885A (ja)

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5907770A (en) * 1995-07-19 1999-05-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Method for producing semiconductor device
JP2001113435A (ja) * 1999-10-13 2001-04-24 Ibiden Co Ltd 基板の吸着部材,固定装置及び切断装置
JP2001196303A (ja) * 1999-12-03 2001-07-19 Asm Lithography Bv リトグラフ投影装置
JP2002195823A (ja) * 2000-12-26 2002-07-10 Tosoh Quartz Corp 平面度測定装置
US6902616B1 (en) * 1995-07-19 2005-06-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method and apparatus for producing semiconductor device
JP2005235890A (ja) * 2004-02-18 2005-09-02 Canon Inc 露光装置
JP2006041302A (ja) * 2004-07-29 2006-02-09 Canon Inc 露光装置
JPWO2005049287A1 (ja) * 2003-11-21 2008-03-06 三星ダイヤモンド工業株式会社 真空吸着ヘッド、その真空吸着ヘッドを用いた真空吸着装置及びテーブル
JP2008515187A (ja) * 2004-09-27 2008-05-08 ロッコ・システムズ・プライベイト・リミテッド 変換キット
SG159384A1 (en) * 2002-04-08 2010-03-30 Acm Res Inc Electropolishing and/or electroplating apparatus and methods
JP2011018731A (ja) * 2009-07-08 2011-01-27 Rayresearch Corp ウェハ分岐搬送装置
JP2011253918A (ja) * 2010-06-02 2011-12-15 Sumitomo Heavy Ind Ltd 吸着治具、吸着方法、及び基板処理装置
JP2012182278A (ja) * 2011-03-01 2012-09-20 Ushio Inc レーザリフトオフ装置およびレーザリフトオフ方法
JP2013502713A (ja) * 2009-08-19 2013-01-24 イーアールエス エレクトロニック ゲーエムベーハー 円板ワーク、特に、成形ウエハの変形を測定するための方法および装置
KR101355860B1 (ko) * 2013-02-22 2014-01-28 에스케이하이닉스 주식회사 가이드 일체형 진공 흡반
CN104345572A (zh) * 2013-07-26 2015-02-11 上海微电子装备有限公司 掩模版固定装置及方法
WO2015101121A1 (zh) * 2013-12-31 2015-07-09 上海微电子装备有限公司 掩模板面型整形装置及采用其的光刻机
CN109093511A (zh) * 2018-08-28 2018-12-28 安徽玻扬节能钢化玻璃有限公司 一种玻璃加工中心的玻璃固定机构
JP2021012999A (ja) * 2019-07-09 2021-02-04 新日本無線株式会社 ステージ装置

Cited By (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6902616B1 (en) * 1995-07-19 2005-06-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method and apparatus for producing semiconductor device
US5907770A (en) * 1995-07-19 1999-05-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Method for producing semiconductor device
US7513949B2 (en) 1995-07-19 2009-04-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method and apparatus for producing semiconductor device
JP2001113435A (ja) * 1999-10-13 2001-04-24 Ibiden Co Ltd 基板の吸着部材,固定装置及び切断装置
JP2001196303A (ja) * 1999-12-03 2001-07-19 Asm Lithography Bv リトグラフ投影装置
USRE41307E1 (en) 1999-12-03 2010-05-04 Asml Netherlands B.V. Mask for clamping apparatus, e.g. for a lithographic apparatus
JP4558929B2 (ja) * 2000-12-26 2010-10-06 東ソー・クォーツ株式会社 平面度測定装置
JP2002195823A (ja) * 2000-12-26 2002-07-10 Tosoh Quartz Corp 平面度測定装置
SG159384A1 (en) * 2002-04-08 2010-03-30 Acm Res Inc Electropolishing and/or electroplating apparatus and methods
JPWO2005049287A1 (ja) * 2003-11-21 2008-03-06 三星ダイヤモンド工業株式会社 真空吸着ヘッド、その真空吸着ヘッドを用いた真空吸着装置及びテーブル
JP4724562B2 (ja) * 2003-11-21 2011-07-13 三星ダイヤモンド工業株式会社 真空吸着ヘッド、その真空吸着ヘッドを用いた真空吸着装置及びテーブル
JP2005235890A (ja) * 2004-02-18 2005-09-02 Canon Inc 露光装置
JP2006041302A (ja) * 2004-07-29 2006-02-09 Canon Inc 露光装置
JP2008515187A (ja) * 2004-09-27 2008-05-08 ロッコ・システムズ・プライベイト・リミテッド 変換キット
JP4852045B2 (ja) * 2004-09-27 2012-01-11 ロッコ・システムズ・プライベイト・リミテッド 変換キット
JP2011018731A (ja) * 2009-07-08 2011-01-27 Rayresearch Corp ウェハ分岐搬送装置
JP2013502713A (ja) * 2009-08-19 2013-01-24 イーアールエス エレクトロニック ゲーエムベーハー 円板ワーク、特に、成形ウエハの変形を測定するための方法および装置
JP2011253918A (ja) * 2010-06-02 2011-12-15 Sumitomo Heavy Ind Ltd 吸着治具、吸着方法、及び基板処理装置
JP2012182278A (ja) * 2011-03-01 2012-09-20 Ushio Inc レーザリフトオフ装置およびレーザリフトオフ方法
KR101355860B1 (ko) * 2013-02-22 2014-01-28 에스케이하이닉스 주식회사 가이드 일체형 진공 흡반
CN104345572A (zh) * 2013-07-26 2015-02-11 上海微电子装备有限公司 掩模版固定装置及方法
WO2015101121A1 (zh) * 2013-12-31 2015-07-09 上海微电子装备有限公司 掩模板面型整形装置及采用其的光刻机
US9983488B2 (en) 2013-12-31 2018-05-29 Shanghai Micro Electronics Equipment (Group) Co., Ltd. Reticle shape correction apparatus and photolithography tool using same
CN109093511A (zh) * 2018-08-28 2018-12-28 安徽玻扬节能钢化玻璃有限公司 一种玻璃加工中心的玻璃固定机构
JP2021012999A (ja) * 2019-07-09 2021-02-04 新日本無線株式会社 ステージ装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH07136885A (ja) 真空チャック
JPH08279549A (ja) 真空吸着装置
JPH06204324A (ja) ウエハチャック
US20100144147A1 (en) Sample holding tool, sample suction device using the same and sample processing method using the same
JPH0582631A (ja) 半導体ウエーハ用真空チヤツク
JPH0372423B2 (ja)
JPH03270048A (ja) 真空チャック
JPH0547899A (ja) ウエハー搬送用アーム
JPH06326174A (ja) ウェハ真空吸着装置
JP2613035B2 (ja) 基板吸着固定装置
JP3122590B2 (ja) 吸着パッド
JPH07302830A (ja) ウェハステージ及びウェハプロービング装置
JPH0831514B2 (ja) 基板の吸着装置
JP2750554B2 (ja) 真空吸着装置
JP3372127B2 (ja) 真空吸着装置
US4597569A (en) Attraction holding device
JP4447497B2 (ja) 基板保持具
JP4041256B2 (ja) 基板チャック装置
JP2021197373A (ja) 基板保持装置
JPH09280852A (ja) 薄板用保持具、薄板の板厚測定方法及び装置
JPH0253558A (ja) 吸着治具
JP2002043353A (ja) Bga素子用吸着器具及び吸着方法
JPH01231345A (ja) ウエハチヤツク
JP2565673Y2 (ja) ウエハの保持装置
JPS63226939A (ja) ウエハ保持装置