JPH06308194A - Icデバイス用装置 - Google Patents

Icデバイス用装置

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JPH06308194A
JPH06308194A JP6070525A JP7052594A JPH06308194A JP H06308194 A JPH06308194 A JP H06308194A JP 6070525 A JP6070525 A JP 6070525A JP 7052594 A JP7052594 A JP 7052594A JP H06308194 A JPH06308194 A JP H06308194A
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    • H05K7/10Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
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    • GPHYSICS
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    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
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    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 リードのないICデバイスについて、試験お
よびバーンインを自動化するのに適したICデバイス用
装置を提供する。 【構成】 ICデバイス用装置のベース12は、接触子
14に電気的に接続されたパッド40を有するフレキシ
ブルフィルムと、ばね28が巻き付いたカム30とを備
え、上方からカバー26が係合する。カバー26をベー
ス12側に押すと、カム面56,66が係合してばね2
8の両先端が退避し、下面にICデバイス18を保持し
たキャリア25をフレキシブルフィルム上に挿入でき
る。押すのをやめると、ばね復帰力によりばね28の両
先端がキャリア28を下方に付勢して保持し、ICデバ
イスの各端子はパッド40に電気的に接触する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ICデバイス用装置に
関し、詳しくは、電子集積回路デバイスを回路に接続す
るためのソケットに関し、特に、裸ダイの試験およびバ
ーンイン用のトップロードソケットと裸ダイスを支持す
るキャリアとに関する。
【0002】
【従来の技術】集積回路デバイス(裸のダイ、ダイス、
すなわちリードのないICチップ)は、電子産業におい
て広く用いられているが、このデバイスは回路に接続さ
れる前に、それ自体が試験され、ICダイが機能するか
とダイ上の種々のパッド間に電気的に連続性があるかを
測定する。これを行なうために、ダイはキャリア上に配
置される。キャリアは、ダイの試験およびバーンインの
ために試験装置に取り付けられる。
【0003】ICデバイス用のトップロードソケット(t
op load socket)は、デバイスがソケットの接点に電気
的に接続するリードを備える分野で、公知である。この
ようなソケットの一例としては、米国特許第4,993,
955号がある。ソケットのピンとICデバイスのリー
ドとが直接接触するようになっている。
【0004】一方、リードのないICデバイス、すなわ
ちボタン状の単なる終端であるパッドが形成されたもの
は、試験回路に配置されて接続される。米国特許第4,
859,198号および第4,783,719号各明細書
に開示されているように、弾力のある部材がフレキシブ
ルな回路テープを押して、ICデバイスすなわちダイの
表面のパッドと接触して電気的に接続する。米国特許第
4,783,719号においては、デバイス60はトップ
プレート30に支持される。トッププレート30はフレ
キシブルテープ50の片面に強制的に接触させる。フレ
キシブルテープは、プリント回路板に取り付けられたベ
ース20上に支持される。トッププレート30は、支持
部材20の上に配置される。ばねクリップ23aおよび
23bは支持部材20に旋回可能に取り付けられ、トッ
ププレート30の上縁面を越えて移動するように取り付
けられている。そして、ばねはトッププレート30の溝
にパチンとはまり込み、ICを有するアセンブリを、フ
レキシブルテープ上の盛り上がったビード52にかみ合
った状態に固定する。このビードは、フレキシブルテー
プのコネクタライン55に接続されている。この発明
は、リードレスチップキャリアの試験に好適であるが、
集積回路ダイスやプリント書き込みボードのような他の
電子デバイスとの無はんだ接触接続に用いてもよい。
【0005】既存システムのデバイスは、数千個のIC
ダイスの試験およびバーンインを自動化するには、あま
り適していない。すなわち、後者の引用特許のいずれに
開示されたタイプのキャリアも、自動化には適していな
い。ダイを受け入れるキャリアは、まず、キャリアにダ
イが取り付けられ、つぎに、ロボットによってキャリア
がソケットに取り付けられることできることが好まし
い。
【0006】本発明が提供するソケット構造は、パッド
に接触するパターンが周囲および/または中心面に配置
されたICダイを新規なキャリアに取り付けることがで
き、このキャリアをソケットに自動的に取り付け・取り
外するものである。このソケットの構成によって、自動
的な挿入および取り外しが容易となる。このソケット構
造により、ICパッドと外部回路とは電気的に良好に接
続され、これは、弾力あるパッドによって支持されるフ
レキシブルテープによって可能となる。キャリアは、リ
ードICデバイスについての従来の方法で、容易に自動
的にロードされることが可能である。
【0007】
【発明の要旨】本発明は、ICデバイスを用いるための
トップロードソケットに関する。この装置は、該デバイ
スの表面に予め決められたパターンで配置された複数の
接触端子を有する。ソケットはベースとキャリアとを備
える。ベースは、プリント回路板に電気的に接触するよ
うにするための手段を支持する。キャリアは、該ベース
に受け入れられるのに適し、対置された関係で位置決め
されるようにICデバイスを支持し、キャリアがベース
の上にあるとき、電気的接触手段と電気的に接触する。
カバーはベースに対して略平行に位置決めされてベース
に滑動自在に支持され、中央開口部を有する。中央開口
部は、キャリアおよびダイを受け入れるベースに関して
一直線にそろえる。カバーとベースとの間を相互連結す
る連結部材によって、キャリアに嵌合する手段がキャリ
アおよびICデバイスを電気的に接触させる手段に対し
て付勢する。該接触させる手段は、カバーがベースから
離れて位置決めされたときに、デバイスの接点を外部回
路と電気的に接続するようにし、カバーがベース方向に
移動してベースに隣接して位置決めされたときに、キャ
リアおよびデバイスが回路から嵌合解除する。
【0008】電気的に接触させる接触手段は、その上に
形成された導電性の書き込みパターンを有するフレキシ
ブルフィルムである。書き込みパターンは、その上に形
成されフィルムの片面上に、ICデバイス上の接点パタ
ーンに一致するパターンである第1組の導電性パッドを
有する。該パッドは、第1組のパッドから間隔を空けて
形成された第2組の導電性パッドと結合する。フレキシ
ブルなフィルムは、第1組の導電性パッドを支持する寸
法形状のエラストマー支持部材すなわちブロックによっ
て支持され第1組の導電性パッドを支持する。第2組の
パッドは、フィルム上に形成されたトレース(回路図)に
よって第1組のパッドと結合するが、第2組のパッドの
パターンに対応する配列でベースに位置決めされる。ア
ライメント部材は、ベースに支持され、エラストマー支
持部材とフレキシブルフィルムとをベースに位置決めす
る。第2組のパッドも一直線にそろえられて、接触子す
なわち回路板と嵌合する。第1組のパッドはベースおよ
び支持部材ブロックに予め決定された位置に位置決めさ
れる。アライメト部材によっても、キャリアの正確なア
ライメントをもたらされる。
【0009】カバーとベースとを相互連結する連結部材
は、ベースの両端に支持されかつ該両端に沿って取り付
けられる一対のばねを備え、引っ込んだ位置から嵌合位
置に移動し、ばねがキャリアに嵌合して、外部回路に電
気的に接触するようにする手段に対してキャリアを付勢
する。付加的に、カムフォロアとカムとがばねと嵌合可
能に手段となり、カバーがベース方向に移動するとき、
ばねをキャリアからはなれた引っ込んだ位置に強制移動
する。
【0010】
【実施例】以下に、図1〜9に示した本発明の一実施例
に係るトップロードソケットおよびキャリア、すなわち
ICデバイス用装置について詳細に説明する。
【0011】本発明のICデバイス用装置10は、トッ
プローディングソケット(top loading socket)を構成す
る。トップローディングソケットは、搬送用部材である
キャリア25によって試験およびバーンイン回路に運ば
れるICダイすなわちICデバイス18を、自動的に取
り付け・取り外しするのに適している。図1に示した本
発明の一実施例に係るICデバイス用装置10は、回路
板その他の電子デバイス(図示せず)ヘの接続を容易にす
るのに適している。ICデバイス用装置10は支持部す
なわちベース12を備える。ベース12は、ICデバイ
スと、プリント回路板すなわち試験回路のような外部部
材との間を接触により電気的に接続する手段を支持す
る。この電気的な接続は、複数の接触子14によりもた
らされ、接触子14は、図示したように、プリント回路
板の穴に対して挿入される従来技術のピンを有し、図示
していないプリント回路板のような他の電子デバイスと
電気的に接触する。フレキシブルフィルム16には、そ
の上に導電性の書き込みパターンが形成される。書き込
みパターンは、その上に形成された第1組の導電性パッ
ドを備える。このパッドは、パターン内のフィルム16
の表面上に延在し、フィルム上の略中心に配置され、I
Cデバイス18上の端子パターンに対応する。第1組の
パッドは、第1組のパッドから間隔を空けて設けられた
第2組の導電性パッドに電気的に接続されている。フレ
キシブルフィルム16は、第1組導電性パッドを支持す
る寸法・形状を有するエラストマー支持部材であるブロ
ック20により支持される。ベース12に支持される1
または2以上のアライメント部材22は、エラストマー
支持部材20およびフレキシブルフィルム16をベース
12上に位置決めする。アライメント部材22のフラン
ジは、接触子14と嵌合する第2組のパッドを保持する
とともに、ベースおよびエラストマー支持部材上に予め
決められた位置内に位置決めされた第1組のパッドを保
持する。
【0012】キャリア25は、ベース12上に受け入れ
られるのに適していて、ICデバイス18を支持する。
ICデバイス18は、キャリア25がベース上にあると
き、第1組のパッドに対置される関係に位置決めされ
る。カバー26は、ベース12に対して略平行に位置決
めされかつベース12上に滑動自在に支持され、中央開
口部27を有し、キャリア25およびICデバイスを受
け入れて、ベース12と一直線にそろえる。カバーとベ
ースとの間を相互連結する連結部材は、カバー26がベ
ース12から離れて位置する時には、キャリア25に嵌
合して、キャリア25およびICデバイス18をフィル
ム16に押し付けて、ICデバイスの接点が第1組のパ
ッドと電気的に接触ようにする一方、カバー12がベー
ス12方向に移動されてベースの隣に位置決めされた時
には、キャリア25およびデバイス18をフィルム16
から嵌合解除することができる手段となる。
【0013】カバー26とベース12とを連結する連結
部材は、ベース12の両端に支持されかつそれに沿って
取り付けられた一対のばね28を備える。連結部材は、
ばねの復元力に抗して、引っ込んだ位置から嵌合位置に
移動して、ばね28がキャリア25に嵌合すると、フィ
ルム16およびエラストマー支持部材20にキャリアを
押しつける。さらに、カムフォロア30とカムとが、ば
ね28と嵌合可能な手段となり、カバー26の上面に力
を加えてカバー26をベース12方向へ移動すると、キ
ャリアに嵌合するばねの位置は、キャリア25から離れ
た引っ込んだ位置に強制移動される。
【0014】図示した実施例、すなわち図3において、
ベース3は、型で作られた部品であり、接触子14がは
まるパターンに複数の穴13が形成されたプレート部を
有する。各接触子14は、穴13に絶縁してはめ込ま
れ、フレキシブルフィルム16上の第2組のパッドのひ
とつと電気的に接触可能なヘッド15を有する。プレー
ト部の四隅に、アライメントピン22がはめ込まれる4
つの大きい開口部21がある。プレート部の両端には、
図3に示すように、切れ目すなわち溝29が細長く形成
され、中央接触部31の両端に位置し、ばね28の脚部
34がはまり込む。図2,3に示すように、ばね部材2
8は、シート状のばね材料から形成され、略平面状の第
1フラット部32と、複合曲面を有する曲面部33を有
し、曲面部33端から両側方向に分岐する脚部材34が
間隔を空けて形成され、末端となっている。脚部34
は、両側方向を向く複数の足部が末端となる。脚部が平
行となり溝29にはまり込むように、足部を含めて脚部
を互いに押し込むことができる。図3に示すようにベー
スの上側から溝に脚部がはまり込むと、脚部が解放され
て、張り出し部すなわち溝の両側に形成された肩部の下
に足部が広がる。各ばねの切り起こし湾曲部であるタブ
35は、脚部とは反対方向に形成され、平面部32の方
向を向き、接触部31上に位置する。タブ35は、カム
部材をつぎに説明するように保持するのに役立つ。ベー
ス12は、溝の各縁に隣接して受台36をさらに備え、
カムフォロア部材30を受け入れる。さらに、ベース1
2は、上から垂直方向に切り欠かれた切欠きを側壁に備
え、カバーのガイド部材を受け入れとともに、係合部3
8を形成する凹み領域を備え、以下に説明するように、
カバー26をベース12に固定するために端部にフック
が形成されたロック部材を受け入れる。
【0015】フレキシブルフィルム16は、図4(I)お
よび(II)に示すように、ある長さのフィルムを備え、少
なくとの片面に金属製パス(通路)によりその上に形成さ
れた導電性書き込みパターンを有する基板部を含み、そ
の表面上に形成された突き当て部に電気的に接続され、
ICデバイスにパッドを接触させる。フレキシブルフィ
ルム16は、高分子フィルムであり、片面を覆う導電性
材料を有する。そして、従来例として公知のエッチング
工程またはマスキング工程によって、フィルムの片面
に、接触領域と回路図が形成される。フレキシブルフィ
ルム16は、一定の配列で配置された第1組のパッド、
すなわち、フィルムのシートの中央付近の突き当て部で
あるパッド40を形成するパターンを有する。このパタ
ーンは、図示したように、外形は四角形である。突き当
て部40はフィルムの反対面の金属製の回路図41に接
続される。この回路図は、フィルム16の一端または両
端の近くにおいてある配列で形成された第2組のパッド
の突き当て部材44に接続される。
【0016】フレキシブルフィルム16は、型で作るこ
とによって形成されたエラストマー支持部材20のまわ
りを覆い、一対の面を形成し、一方の第1組のパッドの
パターンが形成された突き当て部の支持部材となり、該
支持部材の反対側は略平面状であり、他方の第2組のパ
ッドを支持する。第1組のパッドを支持する片面は、隆
起部と溝とで形成され、隆起部は突き当て部の下に位置
して、その支持部となり、ICデバイスの端子に嵌合す
る面までフィルムの中央部を上げる。支持部材20の反
対側49は、略平面状であるが、隆起部を形成し、突き
当て部44によって形成された第2組のパッドを支持し
てもよい。特に、図4(I)に示すように、面47は、中
央膨出部と隆起部48とを有し、突き当て部40に対応
する突き当て部を支持する。パッド20を押し込むこと
によって、他の領域でエラストマー材料のゆがみを生じ
ることはない。ゆがみがあると、他の領域において、突
き当て部とパッドとの間を押しつける力の損失を生じる
ことがあるかもしれない。支持部材20は、重ね合わせ
穴50を備える。フィルム16は、その端に、アライメ
ントピン22がはまる重ね合わせ穴51も備える。別の
構成としては、支持部材20は単一のブロック20であ
り、パッドを支持する隆起支持領域に形成されたパター
ンを有し、このブロック20に対して、型で作られて高
分子材料の基材を用いる。基材は、両面に別々にエラス
トマー部材を支持し、基材の一方の面の第1組のパッド
とフィルム16の両端のパッドとのための弾力ある裏張
りとなり、第2組のパッドを形成し、基材の反対側から
支持される。
【0017】図5に示したように、支持部材20および
フィルム16とは、ベース12のプレート上に位置決め
され、第2組のパッドを接触子14のヘッド15にそろ
えて、位置決めする。アライメントピン22は、支持部
20およびフィルム16を位置決めし、パッドとヘッド
とエラストマー部材とキャリアとが正確に対応するよう
にする。カムフォロア部材30は、プレートの両端の受
台36に挿入される。カムフォロア部材30はバー部5
4を有する。バー部54はバーの片側を形成する長手方
向に曲がった曲面を有し、この曲面は、ばね28の曲面
部33の内側凹状面に嵌合する。径方向に拡張する両端
部は、受台36に対向する面55を有し、後述するカバ
ー26のカム面に嵌合する。カムフォロア30は、バー
部54の曲面に嵌合するばね28で支持される。
【0018】図5,6を参照すると、カバー26は、ベ
ースに滑動自在に取り付けられ、移動すると、ベース1
2のプレート部に対する関係が変換する。カバー26
は、キャリア25が取り付く形状である中央に開口部2
7を有し、この開口部には傾斜した端部が形成され、キ
ャリアを開口部27に導くようになっている。両端には
突出部60が開口部の周囲に配置されているが、ICデ
バイスの取り付け向きを確認する必要がある場合に、突
出部60を非対称に配置すれば、キャリア25の取り付
け方向が一定とできる。図1,2に示すように、下側右
隅において、張り出し部61は開口部に突出するととも
に壁面に向いていて、開口部を非対称にしている。ベー
ス12の側壁の切り欠き部にはまり込むのに適した4つ
の対称な基準脚62が、カバー26から下方向に延在し
ている。これらの基準脚62によって、カバー26をベ
ース12に対して滑らせながら移動することができる。
基準脚62に隣接して形成されたロック部材64は、基
準脚62の内側にずれて基準脚62から独立して形成さ
れ、各ロック部材64はロック爪をその自由端に有し、
ベースの隅に形成された突起部38に嵌合し、ベース1
2とカバー26とが離れないようにしている。ロック部
材64は、ベース12の隅を形成する壁部材の切り欠き
内に適合するように位置決めされる。
【0019】カバー26は、隅に隣接して両端に間隔を
設けてカム面66および67が形成され、カムフォロア
30のカムフォロア面56と対をなして協働する。一端
のカム面66(図5,6参照)と他端のカム面67(図1参
照)とは、初めは、カムフォロア部材30が受台55内
で動くようにして、ばね28をその平面部32をフレキ
シブルフィルム16上の位置から引っ込む方向に移動す
る働きをする。初めの引っ込み移動後、カムフォロア面
56は、隆起部のあたりで傾斜面66および67からよ
り垂直に形成された面に落ちて、引き込み力が減少し、
ばねは引っ込み、図5に示すように、ソケットを開いて
キャリアおよびダイを受け入れる。
【0020】裸のダイ18用のキャリア25は型で作ら
れた台を備え、台は両側面と両端と両面とを有する。両
端には、キャリアに合わさる突出部60および61と協
働する切欠き71が形成される。溝72および74が台
に形成され、該溝は上下面69および70間を貫通す
る。弾力のある保持部材は、溝72および74内に型で
作られる。保持部材は、対向するすなわち対称な板ばね
状であり、湾曲部を有する。湾曲部は、曲がると互いに
離れることができる。各溝72および74内のばね部7
5は、一対の薄い板状部とヘッド77とを有する。一対
の板状部は、一点に収束するように配置され、その各一
端が、正確に中央に位置決めされたヘッド77に結合さ
れる。ヘッド77は、その片面において各板状部とへっ
どが交差する領域に隣接して、間隔を設けて面80を有
する。この面80は、同一平面に含まれるように形成さ
れる。ヘッド77は、面80から側方に突出するニブ8
1(くちばし状部)を有する。キャリア25を形成する台
の表面70には、長方形の凹み85が形成され、この凹
み85は裸のダイのようなICデバイス18をそこに受
け入れる形状の傾斜面と真直壁面とによって形成され
る。長方形の凹みは、溝72および74と対応し、凹み
の両側に沿って、面80を露出する。ICデバイス18
は、凹みの底で面86に対して配置されると防護される
が、そのその端子が第1組のパッドと接触することがで
きる。ICデバイスの両端は、ヘッド77の面80に嵌
合し、保持部材81に位置決めする。デバイスを所定位
置に保持する保持部材81上に位置決めされる。キャリ
アの図示した実施例において、デバイスをキャリアから
の取り外すときに協働する第3の中央溝があり、図7,
8,9に示すように、キャリアは、一方の面69に傾斜
した端部が形成され、一端には切欠き面が形成され、図
1のように、カバー26内の幅の広い突出部61に対応
する。キャリア25は、凹み85が形成され同じ面に開
口部を備え、アライメントピン22の端部を調整して、
キャリアおよびダイを第1組のパッドに対して正確に心
合わせする。ばね部材75,77は、ヘッドと切り離し
て、2つの別個のばね部材を各溝72,74に備えるよ
うに形成することも可能ではあるが、本発明の構成は、
ばね部材を補強し、ICデバイスのアライメントを向上
する。
【0021】使用に際し、裸のダイ18は、ばね部材7
5をゆがめてその両端を面80に嵌合する位置にするこ
とによってキャリア25の面86に対して位置決めさ
れ、つぎに、ばね部材が解除されてダイ18は保持され
る。そして、カバー26は、ベース12に押さえ付けら
れ、ベース12の側壁の切欠き内に基準脚が滑り込む。
カバー26が下がると、カムフォロア30のカム面56
は同じカムフォロアを旋回軸で回転し、ばね28を引っ
込める。キャリア25およびICダイ18は、カバー開
口部27内に位置決めされ、フレキシブルフィルム16
とその上の突き当て部40とに対して一定の位置関係と
なる。そして、カバー26から力が解除され、ばね28
によってカムフォロア部材30がカバー26を間隔の空
いた位置に移動し、ばね28の平面部32がキャリア2
5の面69と嵌合し、キャリアをフィルム16に押し付
け、その上のパッドをフィルム16の突き当て部40に
押し付ける。アライメントピンの位置決めによって、支
持部材20は、フィルム16に第2組のパッドを形成す
る突き当て部44を押し、接触子14のヘッド15に嵌
合するとともにヘッド15を一直線にそろえる。したが
って、ダイは試験およびバーンインのために回路に運び
込まれる。カバー26をベース方向に再び移動してばね
28がキャリアの面から引っ込むすることによって、キ
ャリア25およびダイ18を引き抜くことができ、キャ
リアを開口部27から持ち上げることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の1実施例に係るICデバイス用装置
の組み立て斜視図である。
【図2】 図1のICデバイス用装置の分解斜視図であ
る。個々の部品を示している。
【図3】 支持部すなわちベースの斜視図である。接触
子を有し、ばねが取り付けられている。
【図4】 (I)は、組み立て状態におけるフレキシブル
フィルムとエラストマー支持部材との一部断面斜視図で
ある。(II)は、(I)の部分拡大図である。
【図5】 ICデバイス用装置およびキャリアの一部断
面分解斜視図である。
【図6】 ICデバイス用装置およびキャリアの一部断
面分解斜視図である。キャリアはICデバイス用装置内
にある。
【図7】 キャリアの底面図である。
【図8】 キャリアの斜視図である。
【図9】 キャリアの内部構造を示す一部断面斜視図で
ある。
【符号の説明】
12 ベース 13 穴 14 接触子 15 ヘッド 16 フレキシブルフィルム 18 ICデバ
イス 20 ブロック(支持部材) 22 アライメ
ント部材 25 キャリア 26 カバー 27 中央開口部 28 ばね(嵌
合手段) 29 溝 30 カム(嵌
合手段) 40 パッド(突き当て部) 41 パターン 44 パッド(突き当て部) 47 面 48 隆起部 54 バー 56 カム面 60,61 突
出部 64 ロック部材 66,67 カ
ム 69 上面 70 下面 71 切欠き 72,74 溝 75 保持部材 85 凹み(凹
部)

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ICデバイス(18)のために用いる装置
    であって、該ICデバイス(18)はその表面に隣接して
    予め決められたパターンで配置された複数の接触端子を
    有し、上記装置は該接触端子とひとつのフレキシブルフ
    ィルム(16)との間を一時的に接触するようにし、該フ
    レキシブルフィルム(16)は第1組のパッド(40)と第
    2組のパッド(44)とがその上に形成された導電性の書
    き込みパターン(41)を有し、上記第1組のパッド(4
    0)は上記接触端子と接触し、上記第2組のパッド(4
    4)はプリント回路板と第1支持部材(20)とベース(1
    2)とアライメント部材(22)とに接続し、上記第1支
    持部材(20)は上記フレキシブルフィルム(16)を支持
    し、上記アライメント部材(22)は上記ベース(12)と
    上記支持部材(20)とフレキシブルフィルム(16)とを
    一直線にそろえる装置において、 上記ベース(12)は、中央開口部(27)を有するカバー
    (26)を支持して、トップロードソケットを形成し、 該カバー(26)は上記ベース(12)に受け入れられ滑動
    自在に支持され、上記中央開口部(27)は上記ICデバ
    イスを支持するキャリア(25)を受け入れて該キャリア
    (25)を上記ベース(12)と上記フレキシブルフィルム
    (16)と嵌合手段(28,30)とに関して一直線にそろ
    えるのに適し、 該嵌合手段(28,30)は、上記キャリア(25)と上記
    ベースとの間に連結され、上記カバーが上記ベースから
    離れて位置するときに上記キャリア(25)に嵌合し、該
    キャリア(25)と上記ICデバイス(18)とを上記第1
    組のパッド(40)に押しつけ、該デバイス(18)の接触
    端子が上記第1組のパッド(40)と電気的に接触するよ
    うにする一方、上記カバーが上記ベース方向へ移動して
    該ベースに隣接して位置するときに上記パッド(40)か
    ら上記キャリア(25)を嵌合解除することを特徴とする
    ICデバイス用装置。
  2. 【請求項2】 上記キャリア(25)および上記ベースに
    連結する上記嵌合手段(28,30)は、一対のばね(2
    8)とカム部材(30)とを備え、 上記一対のばね(28)は、上記ベース(12)の両端の溝
    (29)により支持されるとともに該溝(29)に沿って取
    り付けられ、上記キャリア(25)に嵌合して該キャリア
    (25)を上記フレキシブルフィルム(16)方向に付勢
    し、 上記カム部材(30)は、上記ばね(28)に嵌合可能であ
    り、上記カバー(26)が上記ベース(12)方向に移動す
    るときに、上記ばね(28)を上記キャリア(25)から離
    された引っ込んだ位置へ強制移動することを特徴とする
    請求項1記載のICデバイス用装置。
  3. 【請求項3】 上記カム手段(30)は、両端を有する一
    対のバー(54)と、片面がカム構成部と嵌合するばね
    (28)とを備え、 該各バー(54)は径方向カムを有し、該カムはその両端
    に配置されたカムフォロアアームと嵌合し、 上記カバー(26)は、その上に形成されたカム(66,6
    7)を有し、 該カム(66,67)は、上記カバー(26)が上記ベース
    (12)方向に滑動するとき、上記カムフォロアのカム面
    (56)に嵌合して、上記バー(54)および上記ばね(2
    8)を上記引っ込んだ位置に移動することを特徴とする
    請求項2記載のICデバイス用装置。
  4. 【請求項4】 上記フレキシブルフィルム(16)は、そ
    の上に形成された導電性書き込みパターン(41)を有
    し、該書き込みパターン(41)は、その上に形成された
    上記第1組の導電性パッド(40)を含み、該パッド(4
    0)は上記ICデバイス(18)の接点パターンに対応す
    るパターンで上記フィルム(16)の面上に延在するとと
    もに上記第1組のパッド(40)から間隔を空けて設けら
    れた第2組の導電性パッド(44)に結合され、 上記第1支持部材(20)は、上記第1組の導電性パッド
    (40)を支持することのできる寸法形状を有するエラス
    トマー支持部材を備え、上記フレキシブルフィルム(1
    6)は上記第1支持部材(20)のまわりに折り重ねら
    れ、上記アライメント部材(22)は上記ベース(12)に
    よって支持されて上記エラストマー支持部材(20)と上
    記フレキシブルフィルム(16)とを上記ベース(12)に
    位置決めし、上記第2組のパッド(40)を外部コンポー
    ネントと接触する手段に嵌合し、上記第1組のパッドを
    上記ベースおよびエラストマー支持部材上の予め決めら
    れた位置に位置決めし、上記ICデバイス(18)を外部
    コンポーネントと電気的に接続することを特徴とする請
    求項1記載のICデバイス用装置。
  5. 【請求項5】 上記エラストマー支持部材(20)には、
    上記第1組のパッド(40)に隣接する隆起部(48)を有
    する模様面(47)が形成され、上記パッド(40)の領域
    を、それに隣接する領域にゆがみを生じることなく、押
    し付けることができることを特徴とする請求項4記載の
    ICデバイス用装置。
  6. 【請求項6】 上記第2組のパッド(44)は、上記ベー
    ス(12)に支持されかつプリント回路板に嵌合するのに
    適した1組の接触子(14)に嵌合し、 該接触子(14)は複数のピンを備え、該ピンは上記ベー
    ス(12)の上記フィルム(16)に嵌合する側に配置され
    たヘッド(15)を有するとともに上記ベース(12)の穴
    (13)を貫通して延在することを特徴とする請求項4記
    載のICデバイス用装置。
  7. 【請求項7】 上記キャリア(25)は、型で作られた台
    と、該台に形成された溝(72,74)と、該溝(72,7
    4)の中に型で作られた弾力ある保持部材(75)とを備
    え、 上記台は両側面と両端面と上下面(69,70)とを有
    し、 上記溝(72,74)は該上下面(69,70)間を貫通し、 上記弾力ある保持部材(75)は上記台の上記上下面(6
    9,70)の一方に支持されたICデバイスに嵌合するこ
    とを特徴とする請求項1記載のICデバイス用装置。
  8. 【請求項8】 上記台の上記上下面の上記一方には、上
    記ICデバイス(18)を受け入れる形状の凹部(85)が
    形成され、該凹部(85)は上記溝(72,74)と上記弾
    力保持部材(75)とに通じ、ICデバイスを奥まったと
    ことに置くが、電気的に接触する手段と嵌合するための
    パッドをその上に受けることが可能であることを特徴と
    する請求項7記載のICデバイス用装置。
  9. 【請求項9】 上記キャリア(25)と上記カバー(26)
    とには、突出部(60,61)と切欠き(71)とが形成さ
    れ、キャリア(25)を上記カバー(26)とベース(12)
    とに合わせるようにしたことを特徴とする請求項8記載
    のICデバイス用装置。
  10. 【請求項10】 上記カバー(26)およびベース(12)
    はロック部材(64)を備え、該ロック部材(64)は上記
    カバー(26)を上記ベース(12)に保持し、 上記キャリア(25)と上記ベース(12)との間を連結す
    る上記連結手段はばね手段(28)を含み、該ばね手段
    (28)は上記ベース(12)方向に移動した後には、上記
    カバー(26)を上昇位置に強制移動することを特徴とす
    る請求項4または7記載のICデバイス用装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5727955A (en) * 1995-10-02 1998-03-17 Sumitomo Metal Industries Limited Socket for electronic components and electronic component with socket for connection
JP2009501340A (ja) * 2005-07-12 2009-01-15 スパンジョン・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 集積回路テストソケット

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5495179A (en) * 1991-06-04 1996-02-27 Micron Technology, Inc. Carrier having interchangeable substrate used for testing of semiconductor dies
US5519332A (en) * 1991-06-04 1996-05-21 Micron Technology, Inc. Carrier for testing an unpackaged semiconductor die
KR950013605B1 (ko) * 1993-11-20 1995-11-13 삼성전자주식회사 번인 테스트용 칩 홀딩장치 및 그 제조방법
US5614377A (en) 1994-02-28 1997-03-25 Myco Pharmaceuticals, Incorporated Methods for identifying inhibitors of fungal pathogenicity
JP3667786B2 (ja) * 1994-03-17 2005-07-06 インテル・コーポレーション Icソケットおよびそのプリント基板との導通接続状態の検査方法
US5451165A (en) * 1994-07-27 1995-09-19 Minnesota Mining And Manufacturing Company Temporary package for bare die test and burn-in
US5498970A (en) * 1995-02-06 1996-03-12 Minnesota Mining And Manufacturing Top load socket for ball grid array devices
KR100202326B1 (ko) * 1995-11-08 1999-06-15 오우라 히로시 Ic 소켓
US6403226B1 (en) 1996-05-17 2002-06-11 3M Innovative Properties Company Electronic assemblies with elastomeric members made from cured, room temperature curable silicone compositions having improved stress relaxation resistance
US5855347A (en) * 1996-07-18 1999-01-05 Hollingsworth; Don A. Fastener for holding items to a perforated wall
US6014031A (en) * 1996-12-10 2000-01-11 International Business Machines Corporation Apparatus for pressing an electronic card against contacts of a test socket
US6072323A (en) * 1997-03-03 2000-06-06 Micron Technology, Inc. Temporary package, and method system for testing semiconductor dice having backside electrodes
US6025730A (en) 1997-03-17 2000-02-15 Micron Technology, Inc. Direct connect interconnect for testing semiconductor dice and wafers
US6025728A (en) * 1997-04-25 2000-02-15 Micron Technology, Inc. Semiconductor package with wire bond protective member
US6040702A (en) 1997-07-03 2000-03-21 Micron Technology, Inc. Carrier and system for testing bumped semiconductor components
US6072326A (en) * 1997-08-22 2000-06-06 Micron Technology, Inc. System for testing semiconductor components
RU2133522C1 (ru) 1997-11-03 1999-07-20 Закрытое акционерное общество "Техно-ТМ" Способ изготовления и контроля электронных компонентов
US6285202B1 (en) 1999-02-19 2001-09-04 Micron Technology, Inc. Test carrier with force applying mechanism guide and terminal contact protector
US6396291B1 (en) 1999-04-23 2002-05-28 Micron Technology, Inc. Method for testing semiconductor components
US6114757A (en) * 1999-09-27 2000-09-05 Thomas & Betts International, Inc. Leadless IC socket
JP2001183415A (ja) * 1999-12-28 2001-07-06 Molex Inc ベアチップ用icソケット
US6353329B1 (en) 2000-03-14 2002-03-05 3M Innovative Properties Company Integrated circuit test socket lid assembly
TW570333U (en) * 2003-03-07 2004-01-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector assembly
US7112983B2 (en) * 2004-11-10 2006-09-26 International Business Machines Corporation Apparatus and method for single die backside probing of semiconductor devices
US20070111566A1 (en) * 2005-11-17 2007-05-17 Tyco Electronic Corporation Elastomeric connector assembly
CN2886983Y (zh) * 2006-02-18 2007-04-04 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 芯片保护装置
US7547216B1 (en) * 2008-01-18 2009-06-16 Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. Electrical connector assembly with alignment posts
TWM366780U (en) * 2009-04-03 2009-10-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Electrical connector
CN107766092A (zh) * 2016-08-18 2018-03-06 江苏迈隆电子科技有限公司 一种烧录冶具

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4340266A (en) * 1978-05-22 1982-07-20 Minnesota Mining And Manufacturing Company Connector system
US4351580A (en) * 1980-05-15 1982-09-28 Augat Inc. Carrier socket for leadless integrated circuit devices
US4395084A (en) * 1981-07-06 1983-07-26 Teledyne Industries, Inc. Electrical socket for leadless integrated circuit packages
US4554505A (en) * 1983-06-10 1985-11-19 Rockwell International Corporation Test socket for a leadless chip carrier
GB2164213B (en) * 1984-09-06 1988-07-13 Nec Corp Structure for connecting leadless chip carrier
GB2169154B (en) * 1984-12-31 1989-01-18 Gen Electric Pressure-fit electrical socket for direct interconnection to a semiconductor chip
US4669796A (en) * 1985-11-22 1987-06-02 Wells Electronics, Inc. RAM connector
US4744009A (en) * 1986-10-31 1988-05-10 Amp Incorporated Protective carrier and securing means therefor
US4783719A (en) * 1987-01-20 1988-11-08 Hughes Aircraft Company Test connector for electrical devices
US4859189A (en) * 1987-09-25 1989-08-22 Minnesota Mining And Manufacturing Company Multipurpose socket
JPH01119043A (ja) * 1987-10-31 1989-05-11 Yamaichi Electric Mfg Co Ltd Icソケット
US4949159A (en) * 1988-08-03 1990-08-14 Byers Photo Equipment Company Carrier for film-mounted integrated circuit
US4969828A (en) * 1989-05-17 1990-11-13 Amp Incorporated Electrical socket for TAB IC's
JPH07114136B2 (ja) * 1989-05-22 1995-12-06 第一精工株式会社 検査用icソケット
US5010038A (en) * 1989-06-29 1991-04-23 Digital Equipment Corp. Method of cooling and powering an integrated circuit chip using a compliant interposing pad
US5167326A (en) * 1990-03-19 1992-12-01 R. H. Murphy Co., Inc. Carriers for integrated circuits and the like
US5007842A (en) * 1990-10-11 1991-04-16 Amp Incorporated Flexible area array connector
US5161984A (en) * 1991-10-16 1992-11-10 Amp Incorporated Electrical socket
US5158467A (en) * 1991-11-01 1992-10-27 Amp Incorporated High speed bare chip test socket
JPH06276274A (ja) * 1993-03-17 1994-09-30 Toshiba Corp 電話装置
JPH06276273A (ja) * 1993-03-19 1994-09-30 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 着信払い通話の接続確認方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5727955A (en) * 1995-10-02 1998-03-17 Sumitomo Metal Industries Limited Socket for electronic components and electronic component with socket for connection
JP2009501340A (ja) * 2005-07-12 2009-01-15 スパンジョン・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 集積回路テストソケット
JP4757917B2 (ja) * 2005-07-12 2011-08-24 スパンション エルエルシー 集積回路テストソケット

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DE9405963U1 (de) 1994-08-04
GB2276988B (en) 1996-10-02
US5322446A (en) 1994-06-21
GB2276988A (en) 1994-10-12
GB9405522D0 (en) 1994-05-04

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