JPH0586605B2 - - Google Patents

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JPH0586605B2
JPH0586605B2 JP61121650A JP12165086A JPH0586605B2 JP H0586605 B2 JPH0586605 B2 JP H0586605B2 JP 61121650 A JP61121650 A JP 61121650A JP 12165086 A JP12165086 A JP 12165086A JP H0586605 B2 JPH0586605 B2 JP H0586605B2
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JP
Japan
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antimony
film
sol
transparent conductive
tin oxide
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JP61121650A
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Hiroshi Nishikura
Shin Yamamoto
Yukio Terao
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Taki Chemical Co Ltd
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Taki Chemical Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野) 本発明は結晶質酸化スズ・アンチモンゾルから
なる透明導電材料に関する。 透明導電材料は太陽電池、撮像管等の光電変換
素子、防曇結氷防止ガラス等の透明面発熱体に利
用され、また最近はエレクトロルミネツセンス素
子、液晶表示素子、エレクトロクトミツク表示素
子、プラズマデイスプレイ、電子写真法等にも応
用され研究開発が盛んに行われている。 これらの中で、酸化スズや酸化インジウム系の
透明導電材料は、その耐熱性、耐摩耗性が優れる
ことより、発熱体や薄膜抵抗体として広く応用さ
れており、更に赤外部の反射率の高いことを利用
して、近年太陽熱発電のための選択透過膜として
の研究開発も盛んに行われている。 この様に、電気光学素子の目覚ましい発展と相
まつて、透明導電材料は近年飛躍的に需要が伸び
つつある材料である。 (従来の技術) 透明導電材料として、従来より酸化インジウム
−スズ系、酸化スズ−アンチモン系の材料が知ら
れており、これらの金属あるいは酸化物粉末等の
材料が使用されている。 この様な透明導電材料は、一般に化学蒸着法、
真空蒸着法、反応性イオンプレーテイング法、ス
パツタ法、イオンビームスパツタ法等の膜形成法
により基板に膜状に被覆され実用に供されてい
る。 しかし、これらの方法はいずれも装置が複雑で
あり、また膜形成速度が小さいという欠点を有す
るばかりでなく、装置が複雑で、非常に高価なも
のであるため膜形成が小面積であり、大面積の膜
を得ることができない問題がある。 更に、複雑な形状に膜を形成する場合には、こ
の方法では不均一となることにより、利用上制約
があつた。 また化学スプレー法によると、比較的大面積の
被膜を得ることができるが、基板を高温に保ちな
がら溶液をスプレーすることより大装置を必要と
し、更に膜の均一性の制御が困難である。 これに対し、液状の原料を基板にデイツプして
膜を形成する所謂塗布法は、比較的単純なプロセ
スにより大面積の膜が得られるという利点があ
り、且つ複雑な形状部位への塗布でも比較的容易
であることより、工業的に有望な方法である。 酸化スズ−アンチモン系の材料に於いてもこの
塗布法は幅広く検討されており、多種多様の液状
スズ−アンチモン化合物の熱分解挙動が研究され
ている。 従来より検討されているスズ−アンチモン系材
料は、主としてスズ及びアンチモンを共にイオン
として含有する有機或いは無機化合物の塩溶液で
ある。従つて、有機化合物の塩溶液の使用時に
は、有機物の残存がないように注意深く熱分解を
行わなければならず、スズ及びアンチモンが有機
塩として揮散したり、溶液の極性が低く、ガラス
などの基板とのなじみが悪く、均一な膜を得るこ
とができなかつた。 また、有機塩の液安定性を保つために安定化剤
を多く必要とする結果、薄い膜厚のものしか得ら
れず、且つ有機物含量が多いため、乾燥後に多層
デイツプを行つても焼成時に剥離する等の問題が
あつた。 更に、これらの熱分解時に生成する酸化スズ・
アンチモンは一般に粒子径が粗く、殊に均一微細
性が要求される分野への適用については問題があ
つた。 また塩化第二スズ、三塩化アンチモン等の無機
化合物の使用時には、形成された膜が白濁化し、
透明性の悪い膜となるばかりか膜強度も小さく、
更に、焼成時に腐食性のガスを発生するため、炉
の選定を要し、作業環境上も好ましくない。また
予め電極を取り付けた基板上に塗布し、一体成
形、焼成する場合には電極を腐食させるなどの問
題があつた。 (発明が解決しようとする問題点) 本発明者らはこれらの実情に鑑み、電気光学分
野等への適用時に所望される種々の特性に於て優
れる透明導電材料を得べく鋭意研究を重ねた結
果、本発明を完成させたものである。 (問題点を解決するための手段) 即ち本発明は、Sb/Snモル比0.3以下でSb及び
Snが固溶する結晶質酸化スズ・アンチモンゾル
からなる透明導電材料に関し、膜形成が容易であ
り、且つ均一な膜を得ることができる塗布法によ
り使用することができる、優れた透明導電材料を
提供するものである。 また本発明の結晶質酸化スズ・アンチモンゾル
は、スズ、アンチモンの二成分を混合物として含
有して熱処理後に導電性化合物となるものでな
く、ゾル状態で分子分散状に固溶した酸化スズ・
アンチモンの微細結晶コロイド溶液であり、これ
を透明導電材料に用いるものである。 本発明の透明導電材料の特徴を更に挙げれば、
極性の大きなゾル溶液からなる透明導電材料であ
るため、ガラス基板をはじめ、セラミツク材料や
フイラーへのなじみが良く均一な薄膜が得られる
こと、また、酸化スズと酸化アンチモンの混合物
ではなく、酸化スズと酸化アンチモンが分子分散
状に均一に固溶した超微粒子からなるゾルである
ために、透明導電薄膜の透光性が著しく優れてい
ること。更に、比較的低温の熱処理によつても導
電性を有し、500〜600℃では非常に導電率が高い
ことである。 (作用) 本発明の透明導電材料について更に説明する
と、本発明に使用する結晶質酸化スズ・アンチモ
ンゾルはSb/Snモル比0.3以下でSb及びSnが固溶
しているものであり、その製法については特願昭
61−63657に記載する方法によればよい。 その製法の一例を挙げると、先ず塩化第二スズ
水溶液に三塩化アンチモンをSb/Snモル比0.07
になるように混合溶解させ、これを重炭酸アンモ
ニウム水溶液に加えゲルを生成させる。 次いで、このゲルをよく水洗した後、アンモニ
ア水を適量加え、オートクレーブで200℃10時間
の水熱処理を行うことにより結晶質酸化スズ・ア
ンチモンゾルを得ることができる。 この様にして得られるゾルを透明導電材料とし
て使用する方法は、塗布法についてその一例を挙
げると、先ず前記ゾルをSnO2換算で10%濃度と
したものをガラス板に塗布し、乾燥させる。この
場合、室温で風乾させるだけで透明な膜が生成す
るが、100℃前後で乾燥を行つても良い。また所
望する膜厚の調整は、結晶質酸化スズ・アンモニ
アゾルの濃度や塗布方法を適時選択すれば良く、
塗布及び乾燥操作を繰返すことにより、膜厚を厚
く調整することは可能である。 従来の塩化第二スズ水溶液やテトラブトキシス
ズ化合物等の使用できは、熱分解時の揮散の問題
や熱分解量が多いために膜厚を厚くすると剥離す
る問題を生じる。 しかし本発明によると、前記ゾルは水溶液で且
つ安定剤として少量のアンモニアを含むだけであ
るため、乾燥操作のみで充分な強度を有する膜を
得ることが可能であり、多層コーテイングの後、
熱処理を行つても膜は剥離することがない。 塗布、乾燥した後の基板を焼成することにより
透明導電性を有するガラス基板を得ることができ
る。 従来の塩化第二スズやテトラブトキシスズ化合
物の使用では、300℃以下の焼成によると塩素や
有機物が残留することより導電性が低いが、本発
明の結晶質酸化スズ・アンモニアゾルの使用で
は、酸化スズにアンチモンが固溶する結晶形を有
すること、及び水分散体であることから、水、ア
ンモニアが乾燥操作で殆ど揮散するため、200℃
の熱処理後でも面抵抗値は107Ω/sq程度の導電
性を示し、且つ透光率も98%程度と優れている。 熱処理温度については、上述のように200℃程
度の低温処理で導電性が得られるが、高温で焼成
を行う程SnO2の焼結が進行し、導電性が向上す
ることから、より好ましくは500〜600℃で30〜60
分程度の焼成を行えば良い。 このようにして得られる本発明の透明導電材料
は、導電性材料として優れた特性を有することよ
り、太陽電池、EL素子、液晶素子、透明スイツ
チ等の透明電極、CRT等のデイスプレイ表面の
帯電防止、マイクロ波による電磁波障害防止、放
電管の導電促進、自動車、航空機、機器等の窓の
曇り防止、透明発熱体、薄膜抵抗器、無電解メツ
キの下地処理、ガラス繊維の帯電防止等に利用す
ることができる。 更には、炭カル、シリカ等の無機質フイラーに
コーテイングを行なつた導電性粉末としての利用
もできる。 (実施例) 以下に本発明の実施例を掲げ更に説明を行う
が、本発明はこれらに限定されるものではない。
尚、%は特にことわらない限り全て重量%を示
す。 実施例 1 Sb/Snモル表0.01になるように塩化第二スズ
水溶液に三塩化アンチモンを加えた混合溶液を、
重炭酸アンモニウム水溶液に攪はんを行ないなが
ら徐々に添加し、SbとSnの共沈ゲルを生成させ
た。 このゲルをろ別し、ろ液中に塩素イオンが認め
られなくなるまで洗浄を繰り返し行なつた。 洗浄後のゲルに適量のアンモニア、及び水を加
えてSnO210%に調整し、オートクレーブに移し
た後、220℃で4時間の水熱処理を行ない、結晶
質酸化スズ・アンモニアゾルを得た。 また、Sb/Snモル比が0.03,0.1,0.25となる
ように上記と同様の方法によりゾルを製造し、更
に、比較のためにSb/Snモル比が0.35について
も同様に行つた。 この様にして得たゾルを充分に脱脂処理したパ
イレツクスガラス上に塗布し、100℃で1時間の
乾燥を行なつた。次いで、これを5℃/minで昇
温加熱し、500℃で30分の焼成を行ない、透明導
電薄膜を得た。 この薄膜に銀ペーストで電極を付け、薄膜の面
抵抗値を測定した。 また、薄膜の波長600nm可視光線の透過率、及
び光干渉法による膜厚を測定した。 更に、鉛筆による引つ掻き試験により膜の強度
を調べ、10%硫酸により膜の耐薬品性をみた。 此等の結果を第1表に示した。
【表】 実施例 2 Sb/Snモル表0.07になるように硫酸第二スズ
水溶液に三塩化アンチモンを加えた混合溶液を、
重炭酸アンモニウム水溶液に攪はんを行ないなが
ら徐々に添加し、SbとSnの共沈ゲルを生成させ
た。 このゲルをろ別し、ろ液中に塩素イオンが認め
られなくなるまで洗浄を繰り返し行なつた。 洗浄後のゲルに適量のアンモニア、及び水を加
えてSnO210%に調整し、オートクレーブに移し
た後、180℃で10時間の水熱処理を行ない、結晶
質酸化スズ・アンモニアゾルを得た。 この様にして得たゾルを充分に脱脂処理したパ
イレツクスガラス上に塗布し、100℃で1時間の
乾燥を行なつた。 次いで、これを第2表に示した各温度で1時間
焼成し、透明導電薄膜を得た。 此等の面抵抗、光透過率、膜厚及び膜強度を測
定し、結果を第2表に示した。
【表】 実施例 3 Sb/Snモル表0.05で実施例1と同様に製造し
た結晶酸化スズ・アンモニアゾルを、充分に脱脂
処理したソーダガラス上に塗布し、100℃で1時
間の乾燥を行ない、次いで500℃で1時間の焼成
を行なつた。 次に、この塗布、乾燥、焼成の工程を数回繰り
返し、いわゆる多層コーテイング法により透明導
電薄膜を得た。 此等の面抵抗、光透過率、膜状態を調べ、結果
を第3表に示した。
【表】 実施例 4 実施例2で得た本発明の結晶質酸化スズ・アン
モニアゾル(Sb/Snモル比0.7,SnO210%)を用
い、充分に脱脂処理したソーダガラス上に塗布を
行い、100℃で20分の乾燥を行つた。 この操作を3回繰り返し、次いで200℃2時間
の焼成を行つた。 また比較のために、塩化第二スズ水溶液に三塩
化アンチモンをSb/Snモル比0.07となるように
添加し、適量の塩酸と水をこれに加え溶解させ、
SnO210%のスズ、アンチモンを含有する均一な
溶液を得た。 又更に、テトラブトキシスズとアンチモントリ
ブトキシサイドをブタノールに溶解させ、Sb/
Snモル比0.07,SnO110%のスズ、アンチモンを
含有する溶液を得た。 これらの溶液を前記と同様に、ソーダガラス上
に塗布、乾燥、焼成処理を行なつた。 この様にして得られた薄膜の面抵抗、光透過
率、膜状態を調べ、結果を第4表に示した。
【表】

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 Sb/Snモル比0.3以下でSb及びSnが固溶する
    結晶質酸化スズ・アンチモンゾルからなる透明導
    電材料。
JP12165086A 1986-05-26 1986-05-26 透明導電材料 Granted JPS62278705A (ja)

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