JPH0551660B2 - - Google Patents

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JPH0551660B2
JPH0551660B2 JP1255361A JP25536189A JPH0551660B2 JP H0551660 B2 JPH0551660 B2 JP H0551660B2 JP 1255361 A JP1255361 A JP 1255361A JP 25536189 A JP25536189 A JP 25536189A JP H0551660 B2 JPH0551660 B2 JP H0551660B2
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JP
Japan
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plate
spring
substrate
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contact mask
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JP1255361A
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English (en)
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JPH02149662A (ja
Inventor
Eru Ruutsu Deuido
Ueido Meranda Kiiisu
Buraianto Miintaa Ratsuseru
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International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
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Publication date
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Publication of JPH02149662A publication Critical patent/JPH02149662A/ja
Publication of JPH0551660B2 publication Critical patent/JPH0551660B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/04Coating on selected surface areas, e.g. using masks
    • C23C14/042Coating on selected surface areas, e.g. using masks using masks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • H01L21/682Mask-wafer alignment

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 A 産業上の利用分野 本発明は一般的には、薄膜の蒸着前に基板に対
するコンタクト・マスクの正確な位置づけに関
し、特に薄膜蒸着法を実施する際に用いられる単
体の金属製コンタクト・マスクに複数の小基板を
正確に位置づける蒸着治具に関する。
B 従来技術 半導体ウエハなどの基板上の材料の蒸着パター
ンを制御するコンタクト・マスクはよく知られて
いる。基板に蒸着される材料の所要パターンに応
じて、ある一定のパターンの開口がコンタクト・
マスクに設けられる。コンタクト・マスクはこの
後、基板の表面に押し付けられ、マスク上のパタ
ーンが描かれた開口を通して一種以上の材料が蒸
着される。コンタクト・マスクが頻繁に用いられ
るのは、金属材料が集積回路の半導体ウエハに蒸
着され、ウエハが様々な電子素子に装着される場
合である。
しかしコンタクト・マスクを基板に位置づける
従来技術の方法は、単一の基板と単一のマスクの
係合に限られる。所定の蒸着過程で2つ以上の基
板にパターンを形成する場合、従来法は、各基板
に別のコンタクト・マスクを使わなければならな
いとする。数千の非常に小さい基板にマスクをか
けなければならない場合には驚くほど時間がかか
ることになる。従来法は、多数の小基板を整合し
て単一のコンタクト・マスクと位置合わせをする
状況を考慮していない。
複数の小基板と一つのマスクの位置合わせには
いくつか問題があり、これらは一つのマスクや一
つの基板の配置ではみられないか、または複数の
基板では複雑になる問題である。コンタクト・マ
スクについてこれ以上に重要な問題は、基板をこ
のマスクと一様に接触させなければならない点で
ある。他の場合、マスク下の被着した材料によつ
て基板上にハローイング(haloing)が生じる。
すなわち材料が目的の部分の外側の領域に蒸着さ
れる。ハローイングを防ぐには、マスクを基板に
対して充分平行にする必要がある。従来法では、
コンタクト・マスクを基板の平滑な面にきつく当
たるようたわませることでマスクとの接触を良く
している。この方法はしかし、厚みが異なり、コ
ンタクト・マスクが押し当てられる面が均一、平
滑でない複数の基板を扱うときは効果がない。
第2の問題は、XY面でチツプや基板とマスク
の整合をとるとき生じる。これは従来法では単純
に回避されている。コンタクト・マスクと整合さ
せる基板が一つだけだからである。コンタクト・
マスクと基板との位置合わせに対処する方法とし
て、数個の位置決めピンとこれを補助する位置決
めピンを受ける手段がある。一般に基板は保持具
に固定され、基板の位置決めピンはこれを受ける
手段と係合する。この手段はコンタクト・マスク
上か、マスクが収容されるマスク保持具上に置か
れる。これは、基板とマスクがそれぞれ一つの場
合には有効である。しかし複数の基板の長さや幅
が異なる場合、限られた個数の位置決めピンはこ
の役目に適さない。このほか従来法で使われる手
段には複数のカムや固定ピンなどがある。
コンタクト・マスクを用いた蒸着でもう一つ問
題になるのは、蒸着後にチツプをコンタクト・マ
スクから除去する過程である。コンタクト・マス
クを通して基板に形成される代表的な膜は、厚み
のある金属膜で、引張強度や接着力がかなり大き
い。基板が一つであれば、これを保持し、コンタ
クト・マスクを引き剥すのは比較的やさしい。し
かし個々のチツプを所定位置に保持しながらコン
タクト・マスクを除去するのは大きな問題とな
る。
材料が所要のパターンで基板に付着した後、マ
スクと、蒸着治具の少なくとも数カ所を洗浄しな
ければならない。蒸着治具は、最小の労力ですむ
よう最小限の部品を洗浄すればよく、製造時には
蒸着治具に別の部品を要するよう設計されている
のが望ましい。
C 発明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、XY面で単一のコンタクト・
マスクに対して複数の基板のそれぞれの位置合わ
せをすることにある。
本発明の目的は、Z方向で各基板をコンタク
ト・マスクに押し付けて、基板に被着した材料の
ハローイングを防ぐことにある。
本発明の目的は、厚み、長さ、幅の異なる複数
の基板を、再使用できる蒸着治具に収納すること
にある。
本発明の目的は、再使用できる蒸着治具の中の
洗浄すべき部品点数を最小にすることにある。
本発明の目的は、コンタクト・マスクを除去す
る際に蒸着治具に各基板を固定することにある。
D 問題点を解決するための手段 本発明のこれらの目的は再使用できる蒸着治具
において達成される。この治具では、一連の薄い
内板が底板と上板によつて保持される。内板、即
ち、Zスプリング板、XY位置決め板、XYスプ
リング板及びコンタクト・マスクの少なくとも4
枚の内板、が底板と上板により保持される。XY
スプリング板を除く他の内板は、底板の上面に設
けた2個の位置決めピンに整合して底板と一体に
固定される。XYスプリング板は、XY方向に交
差する方向に摺動可能に底板に関して支持され
る。Zスプリング板には、載置される複数個の各
基板にZ方向の押圧力を与える複数個のZ方向ス
プリング手段が設けられている。各スプリング手
段は、各基板をコンタクト・マスクの各パターン
開口区画位置へ向けて押圧する。このZスプリン
グ板は、各基板の厚さの差異を吸収し、蒸着パタ
ーンのハローイングを防止する。
XY位置決め板には、各基板を受理する開口ポ
ケツトが設けられ、この各ポケツトの一方のXY
内壁がXY位置決め面を構成する。XYスプリン
グ板には、上記開口ポケツトに対応する位置に開
口が設けられている。XYスプリング板が駆動機
構により斜め方向に摺動されて上記開口ポケツト
が開かれ(装填位置)、そのポケツト内に各基板
が落下する。次に、駆動機構が滅勢され、XYス
プリング板が元の位置に向けて復帰するにつれ
て、その各スプリング手段の押圧面が各ポケツト
内の基板をXY位置合せ面に向けて平行に押圧す
る。このようにして、各基板がXY位置合せ面に
整合して固定される(整合位置)。各基板が各開
口ポケツト内で整合された後、コンタクト・マス
クが内板の上に底板の位置決めピンに整合して固
定され、最後に、上板で内板組立て体が覆われ
る。上板は、蒸着時に、再使用できる蒸着治具の
各部を遮蔽するため、洗浄が必要なのは上板とマ
スクだけになり、治具(別に製造しなければなら
ない)の点数および洗浄に伴う作業コストを大幅
に削減できる。XYスプリング板のスプリング力
によつて、コンタクト・マスクを取り除く際に基
板を所定位置に保持することができる。
本発明の構成は、次の通りである。
複数個の基板の各々を単一コンタクト・マスク
の複数個のXY方向パターン開口区画位置の各々
に整合させるための再使用可能な蒸着治具におい
て、 上記XY方向の基準点に関連した少なくとも2
個の位置決めピンを上面に有する底板と、 上記位置決めピンに整合して底板上に配置さ
れ、各基板を上記コンタクト・マスクに向けてZ
方向に個別に押圧する複数個の個別のZ方向スプ
リング手段を有するZスプリング板と、 上記位置決めピンに整合して第1の内板と上記
コンタクト・マスクとの間に配置され、各開口内
に装填された各基板に対して上記各パターン開口
区画位置に対応する各XY位置合せ面を与えるた
めのXY方向位置決め板と、 第1の内板と上記コンタクト・マスクとの間に
配列され、各開口内に装填された各基板を各XY
位置合せ面に押圧し保持するための複数個の個別
のXY方向スプリング手段を有するXYスプリン
グ板と、 上記位置決めピンに整合して上記XYスプリン
グ板及びXY位置決め板の上方に配置され、複数
個の上記パターン開口区画位置を有する単一コン
タクト・マスクと、 上記コンタクト・マスク上に配置され上記パタ
ーン開口区画位置に対応する開口を有する上板と
を備え、 上記XYスプリング板は、各XY方向スプリン
グ手段の押圧面が上記XY位置決め板の各XY位
置合せ面に実質的に平行に移動するように、XY
方向に交差する方向に摺動可能に上記底板に関し
て支持されている事を特徴とする上記蒸着治具。
E 実施例 第1A図は再使用できる蒸着治具が組み立てら
れたときの上面図、第1B図はその側面図、第1
C図は下面図を示す。再使用できる蒸着治具は、
組立時には上板20、底板22(これらがZスプ
リング板24を挟む)、第1のXY位置決め板2
6、XYスプリング板28、第2のXY位置決め
板30、およびコンタクト・マスク32を含む、
再使用できる蒸着治具は、摺動棒34およびリー
フ・スプリング(板ばね)36,38によつて
XY面に部分的に整合され、スプリング・クリツ
プ40,41,42およびクリツプ・ピン43,
44,45によつてZ方向に固定される。第1A
図からわかるとおり、上板20は、このアセンブ
リの大部分を、被着した材料から遮る。被着する
材料は上板20の開口50を通過し、コンタク
ト・マスク32に幾何学的に配置された開口によ
つて決定されるパターンで基板に被着する。
第2図は再使用できる蒸着治具の断面を示す。
図からわかるように、クリツプ・ピン43(上板
20固定)は底板22を貫通してその下面におい
てスプリング・クリツプ40で掛留められてい
る。摺動棒34に固定されたピン35は、底板2
2及び内板24,26,28,30,32の各開
口を通過して上板20へ向けて延びている。詳細
に云えば、内板28(XYスプリング板)を除い
た他の内板24,26,30,32及び底板22
の各開口は、ピン35が各開口内で微小距離だけ
XY方向に移動できるように、遊嵌合孔の寸法で
ある。後述するように、内板28は、その開口が
蒸着治具の装着位置において、ピン35に嵌合し
て整合しており、摺動棒34の摺動によるピン3
5のXY方向の移動に連動する。底板22の下面
に固定された2対のスプリング支持用ピン(スプ
リング・ピンと云う)58,59の対と60,6
1の対(第1C図)の各対のピンと摺動棒のピン
35及び37の各々との間に伸びている各リー
フ・スプリング36及び38によつて、摺動棒3
4が底板22の下面に弾性支持されている。
第3B図に図示のように底板22の上面には、
1対の位置決めピン54,56が固定されてい
る。第4A図、第5A図、第7A図に関して後述
するように、Zスプリング板24、XY位置決め
板26,30及びコンタクト・マスク32には、
上記ピン54,56に対応する位置に、位置決め
開口が、各々、設けられている。これらの内板
は、底板22と整合して固定されている。一方、
XYスプリング板28には、第6A図に関して後
述するように、上記ピン54,56を単に貫通さ
せるための大径の遊嵌合孔並びに摺動棒ピン3
5,37と嵌合し整合するための位置決め開口8
4,86が設けられている。このXYスプリング
板は、摺動棒34に連動して上記遊嵌合孔の範囲
内で内板26上を摺動する。
次に各基板をこの蒸着治具に装填し、整合する
動作を説明する。先ず、内板24,26,28,
30の組立てが完了すると、この組立て体は、摺
動棒34をその長手方向(第1C図の矢印の向
き)に駆動するための独立のバー作動機構に係合
される。各基板を、各内板26,28,30の各
開口により限定された開口ポケツトに装填するに
当り、先ず、バー作動機構を付勢して摺動棒34
を、リーフ・スプリング36,38に反抗して所
定距離だけ、その長手方向に移動させる。この長
手方向は、XY方向と交差する方向である。XY
スプリング板28は、摺動棒ピン35,37を介
して摺動棒34に連動してXY方向と交差する方
向に「装填」位置までXY位置決め板26,30
及び底板22に関して摺動する。XYスプリング
板28が「装填」位置に移動するにつれて、上記
開口ポケツト、即ち内板26,30の開口80
(第5A図)及び内板28の開口90(第6A図)
により限定された開口ポケツト、がZスプリング
板24に達する深さまで開かれ、各基板が各開口
ポケツト内に落下し、その際各基板の底板は、Z
スプリング板の各スプリング区画上に略々一致し
て載置している。装填が完了すると、バー作動機
構が滅勢されて摺動棒34がリーフ・スプリング
36,38のバネ力により元の位置に向けて移動
する。これに連動して、XYスプリング板28も
XY方向に交差する方向(実施例では右斜め上方
向)に移動して、各ポケツト内の各基板を各ポケ
ツトの右角に向けてXY方向に平行に移動させ、
これにより、各基板がXY位置決め板26,30
のXY位置合せ面に整合して固定される。このよ
うにして、整合が完了すると、コンタクト・マス
ク32を位置決めピン54,56に整合して載置
し、次に上板20をクリツプ・ピン43,44,
45を介して載置し、スプリング・クリツプ4
0,41,42により底板22と一体に固定して
蒸着治具を完成する。
次に、各内板の構造について詳述する。第3A
図は、底板22の上面を、そして第3B図はその
側面を、各々、示す。底板は再使用可能な蒸着治
具の他の全部品の台板となる。これらの図におい
て、薄い内板24,26,30,32を正確に整
合する基準点となる方形の位置決めピン54と菱
形の位置決めピン56が底板の上面に延びている
ことが示されている。底板の下面に設けたスプリ
ング・ピン58,59,60,61はリーフ・ス
プリング36,38を支持し、これらリーフ・ス
プリングの力で摺動棒34が所定位置に収まる。
底板の各開口52は各基板の位置に対応するた
め、開口52の個数は治具に取り付けられる基板
の個数と同じである。
第4A図と第4B図はZスプリング板24を示
す。第4A図は、Zスプリング板24の全体と位
置合わせ孔66,67,68を示す。これらの孔
の両側方にある4個の小孔は摺動ピン35,37
を遊合する孔である。位置合わせ孔66は方形の
位置決めピン54に、位置合わせ孔67,68は
菱形の位置決めピンにそれぞれ対応する。Zスプ
リング板24は反転可能である。個々のZスプリ
ング70が永久に曲がつてしまうことはない。第
4B図は一つのZスプリング70を示す。基板2
Z方向のバイアスをかけるZスプリング板71
は、Zスプリングの4つのモーメント・アーム7
2,73,74,75によつて所定位置に固定さ
れる。一つのZスプリング70は各基板をコンタ
クト・マスク32に押し付ける。各基板はそれに
対応するZスプリング70上にあるため、基板厚
の違いはある程度吸収される一方、全基板がコン
タクト・マスク32に確実に押し付けられる。基
板厚の差は、モーメント・アームの設計、板厚、
板の材料によつて異なる。第4A図と第4B図の
設計では、基板厚の差がプラス・マイナス約
0.0508mmまで吸収される。
第5A図と第5B図は第1のXY位置決め板2
6を示す。第5A図はXY位置決め板26の全体
を示し、その位置合せ孔76,78により、位置
決め板26が方形位置決めピン54と菱形位置決
めピン56のそれぞれに対応して位置合せされ
る。孔76の右側方及び孔78の左側方の2つの
小孔は摺動棒ピン35,37を遊合する小孔であ
る。XY位置決め板26は、XY面における基板
の位置を決定する働きのXY位置合せ面をもつ。
基板はXY位置決め孔80の角に押し付けられ、
XY位置合せ面82,83と向き合う右上の角に
向けられる。この角の逃げ(relief)81は基板
のパリを逃がすものである。ここでもZスプリン
グ板24と同様、XY位置決めポケツト80の個
数はコンタクト・マスク32によつて覆われる基
板の個数と同じである。 第6A図と第6B図は
XYスプリング板28を示す。第6A図はXYス
プリング板28の全体を示し、その位置合せ孔8
4,86により、XYスプリング板が、摺動棒3
4に位置する摺動棒ピン35,37と位置合せさ
れる。孔84の左側方及び孔86の右側方にある
2つの大孔は底板22の位置決めピン54,56
を遊合するための大孔である。XYスプリング板
28は、マスクが取り除かれた後に基板を所定位
置に保持し、XY方向の位置決めを補助する働き
をもつ。第6B図は、1つのXYスプリング板の
開口すなわちポケツト90を示す。「装填」位置
において各基板は、XYスプリング板の開口90
内に落込んでおり、摺動棒34を整合位置に復帰
させると、XYスプリング板28が移動し、その
XYスプリング条片91,92は、各基板を、
XY位置決め板26の開口80内において、右上
方の角に向けて平行に移動させて位置合せ面8
2,83に押付けてこのXY面に整合して固定す
る(第5B図)。各基板のXY方向の寸法に依存
してXYスプリング条片91,92は弯曲して基
板の大きさの違いを或る程度吸収することができ
る。第6B図に示したスプリング板の場合、基板
の長さや幅の差がプラス・マイナス約0.05mmまで
吸収できる。
第2のXY位置決め板30は、第5A図と第5
B図に示した第1のXY位置決め板26と全く同
一である。第2のXY位置決め板30は必ず必要
というわけではない。基板のXY方向の位置決め
はXY位置決め板26とXYスプリング板28に
よつて達成できるからである。しかし第2のXY
位置決め板30を追加することで、再使用できる
蒸着治具がより安定し、この治具による基板の保
持力が増す。
第7A図は代表的な蒸着マスク32を示す。第
7B図は一つのコンタクト・マスク箇所110を
示す。コンタクト・マスクの開口111は幾何学
的パターンで配置され、ここに蒸着材料が配布さ
れる。この幾何学模様はコンタクト・マスク箇所
110が異なれば変化し、素子の特性も変わるこ
とが考えられるが、一般にはコンタクト・マスク
32全体で同一であり、扱いやすい。再使用でき
る蒸着治具は、2つ以上の蒸着パターンが基板に
形成されるよう設計される。たとえばCr,Cu,
Crの島状パターンを第1のコンタクト・マスク
で基板に直接蒸着でき、第1コンタクト・マスク
を、再使用できる蒸着治具から除去し、第2のコ
ンタクト・マスクを使つて、Cr,Cu,Au,
PbSnの接点金属パターンがその島の上に蒸着さ
れる。被着したCr,Cu,Crの島は厚みがそれぞ
れ約2500Å,4500Å,2000Åで、接点金属の接続
部をなす第2の蒸着部では、Cr,Cu,Au,
PbSnの厚みがそれぞれ3000Å,4500Å、1000Å、
約2.54mmである。
第8A図は上板20の上面図、第8B図はその
側面図である。他の板と同じく、開口50の個数
はマスクされる基板の個数と同じである。蒸着材
料は、開口50を通して付着し、開口111のパ
ターンが各基板に転写される。クリツプ・ピン4
3,44,45は、スプリング・クリツプ40,
41,42とともに、アセンブリ全体を固定する
ための手段である。上板20は、再使用できる蒸
着治具の大部分を蒸着材料に対してマスクするよ
う設計される。蒸着後に洗浄する必要のあるのは
マスク32と上板20だけである。
第9A図と第9B図の方形の位置決めピン54
とその頭部62を示す。方形位置決めピン54
は、第9C図と第9D図に示した菱形の位置決め
ピン56とともに、内板24,26,30,32
と底板22の位置合わせに使われる。
第10図は、被着材料のパターン101を持つ
一つの基板100を示す。基板100はロツトご
とに厚み、長さ、幅が変わることがある。基板を
コンタクト・マスク32に押し付け、XY方向の
位置合わせをするための治具のスプリングを使う
ことで、寸法誤差をかなりの程度まで補正するこ
とができる。再使用できる蒸着治具は現在、寸法
が約1.016mm×約1.524mm×約1.778mmのセラミツク
製チツプ・コンデンサ(第10図)上に蒸着する
ため用いられている。チツプ・コンデンサは、積
層セラミツクの押抜き技術で製造される金属電極
のセラミツク板が層状になつたセラミツク材を主
原料とする積層からなる。この技術により、それ
ぞれの許容差をもつ複数のチツプが作られ、この
後、チツプの一面に蒸発材料を塗布しなければな
らない。
第11A図、第11B図に示すように、長方形
基板の場合、変更が可能である。第11A図は、
第6A図、第6B図に示したXYスプリング板の
開口変更例である開口120を示す。スプリング
121,122,123,124は板の終端側で
一部曲げられ、第6B図に示す2つの平坦なスプ
リング91,92ではなく4つのスプリングであ
る。第11B図は、XYスプリング板の開口90
のもう一つの変更例である開口130を示す。こ
の第11B図では位置決めピン131,132が
使われている。これが可能なのは、基板寸法の許
容差を最小にでき、コンタクト・マスク32が除
去されるとき蒸着材料が基板に大きな力を加えな
い場合だけである。残念ながら量産の場合、基板
の許容差を最小に保つのは、基板の大幅なコスト
アツプにつながる。
本発明の原則により、上記実施例の再使用でき
る蒸着治具を3つの板とコンタクト・マスクに簡
素化することができる。上板は、蒸着材料に対し
て治具の他の部分をふさぐために必要である。
XYスプリング板(比較的厚みがあるものなど)
は、当該工程に不可欠のXY方向の位置合わせを
行い、各基板を治具に固定するため、単独でも使
用できる。基板を安定に位置づけるには、XY位
置決め板を加えるのが望ましい。最後に、Zスプ
リング板は、各基板をコンタクト・マスクに対し
て揃えるために必要である。底板を使わない場
合、Zスプリング板は、各図に示した薄板よりも
さらに強固にする必要がある。また、Zスプリン
グのモーメント・アームは、寸法差を補正するた
め比較的薄くしなければならないため、Zスプリ
ング板の耐用寿命をそれを逆向きにして伸ばすこ
とはできなくなる。実施例を基に本発明を説明し
てきたが、再使用できる蒸着治具の各板の形状が
変更可能なことは当業者には明らかであろう。た
とえば各図に示した治具は方形または矩形の基板
を対象としている。他の形状の基板(円形、三角
形の基板など)の場合、XY面で位置合わせを
し、固定するためにポケツトの配置を変える必要
があるのは明らかである。
F 発明の効果 上述のように、本発明は、薄膜の蒸着に用いら
れる一つの金属製コンタクト・マスクと複数の小
基板の正確な位置合わせを行なう蒸着治具を提供
する。
【図面の簡単な説明】
第1A図は、再使用できる蒸着治具が組み立て
られたときの上面図である。第1B図は、再使用
できる蒸着治具が組み立てられたときの側面図で
ある。第1C図は、再使用できる蒸着治具が組み
立てられたときの下面である。第2A図と第2B
図は、再使用できる蒸着治具が組み立てられたと
きの断面図である。第3A図は底板の上面図であ
る。第3B図は底板の側面図である。第4A図は
Z方向スプリング板の上面図である。第4B図は
Zスプリング板の部分図で、単一のZスプリング
を示す。第5A図はXY位置決め板である。第5
B図はXY位置決め板の一部で、単一の基板ポケ
ツトを示す。第6A図はXYスプリング板の上面
図である。第6B図はXYスプリング板の部分図
で、単一の基板ポケツトを示す。第7A図は代表
的なマスク板の上面図である。第7B図はマスク
板の部分図で、単一のマスク箇所を示す。第8A
図は上板の上面図である。第8B図は上板の側面
図である。第9A図は底板用の方形の位置決めピ
ンの側面図、第9B図はその上面図である。第9
C図は底板用の菱形の位置決めピンの側面図、第
9D図はその上面図である。第10図は、再使用
できる蒸着治具に固定されるセラミツク基板の斜
視図である。第11A図と第11B図は、第6A
図と第6B図に示したXYスプリング板上の単一
の基板ポケツトの2つの実施例である。 20……上板、22……底板、24……Zスプ
リング板、26……XY位置決め板、34……摺
動棒、50……開口。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数個の基板の各々を単一コンタクト・マス
    クの複数個のXY方向パターン開口区画位置の
    各々に整合させるための再使用可能な蒸着治具に
    おいて、 上記XY方向の基準点に関連した少なくとも2
    個の位置決めピンを上面に有する底板と、 上記位置決めピンに整合して底板上に配置さ
    れ、各基板を上記コンタクト・マスクに向けてZ
    方向に個別に押圧する複数個の個別のZ方向スプ
    リング手段を有するZスプリング板と、 上記位置決めピンに整合して第1の内板と上記
    コンタクト・マスクとの間に配置され、各開口内
    に装填された各基板に対して上記各パターン開口
    区画位置に対応する各XY位置合せ面を与えるた
    めのXY方向位置決め板と、 第1の内板と上記コンタクト・マスクとの間に
    配列され、各開口内に装填された各基板を各XY
    位置合せ面に押圧し保持するための複数個の個別
    のXY方向スプリング手段を有するXYスプリン
    グ板と、 上記位置決めピンに整合して上記XYスプリン
    グ板及びXY位置決め板の上方に配置され、複数
    個の上記パターン開口区画位置を有する単一コン
    タクト・マスクと、 上記コンタクト・マスク上に配置され上記パタ
    ーン開口区画位置に対応する開口を有する上板と
    を備え、 上記XYスプリング板は、各XY方向スプリン
    グ手段の押圧面が上記XY位置決め板の各XY位
    置合せ面に実質的に平行に移動するように、XY
    方向に交差する方向に摺動可能に上記底板に関し
    て支持されている事を特徴とする上記蒸着治具。
JP1255361A 1988-10-03 1989-10-02 蒸着治具 Granted JPH02149662A (ja)

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