JPH054052U - Ic試験装置の波形制御回路 - Google Patents

Ic試験装置の波形制御回路

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JPH054052U
JPH054052U JP4989691U JP4989691U JPH054052U JP H054052 U JPH054052 U JP H054052U JP 4989691 U JP4989691 U JP 4989691U JP 4989691 U JP4989691 U JP 4989691U JP H054052 U JPH054052 U JP H054052U
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 クロックのオープン操作を誤動作せずに実行
することができるIC試験装置の波形制御回路を提供す
る。 【構成】 インターリーブ回路を有する波形制御回路を
具備したIC試験装置において、第2のアンド・ゲート
14、第1のディレー回路15およびオア・ゲート16
を具備し、ゲート14の一方の入力はOPEN信号端子
に接続し、他方の入力はCLOCK端子に接続し、その
出力は第1のディレー回路15を介してゲート16の一
方の入力に接続し、ゲート16の他方の入力はゲート1
4の他方の入力に接続し、その出力はカウンタ2のクロ
ック入力端子に接続し、更に第3のアンド・ゲート18
および第2のディレー回路17を具備し、ゲート18の
一方の入力はディレー回路17を介しそして他方の入力
は直接にカウンタ2のクロック入力端子にそれぞれ接続
し、そしてその出力は第1のアンド・ゲート13の入力
に接続する構成とする。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、IC試験装置に関し、特にインターリーブ回路を有する波形制御 回路を具備したIC試験装置において、クロックのオープン設定を可能にしたI C試験装置の波形制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
インターリーブ回路を有する波形制御回路の従来例を図1、3を参照して説明 する。 先ず、カウンタ1はシステム・クロックSNCをここにおいて4分周し、順次 に1システム・クロック周期ずれた4個の分周クロックを出力する。これら分周 クロック出力は図示される通りD型フリップ・フロップ10aないし10dに供 給されている。パターンAはこれら4個の分周クロックにより順次にD型フリッ プ・フロップ10aないし10dに読み込まれ、順次に図3においてCないしF で示される出力パターンとして出力される。D型フリップ・フロップ10aない し10dの出力はそれぞれアンド・ゲート11aないし11dに供給される。
【0003】 次に、カウンタ2はCLOCKを4分周し、図3においてHないしKで示され る持続時間が1繰り返し周期の出力パルスを順次に発生するものである。これら 出力パルスHないしKはそれぞれアンド・ゲート11aないし11dにゲート信 号として供給される。即ち、図3におけるゲート信号Hの1はその持続時間の間 出力パターンCの1を読みだしてオア・ゲート12の出力Lの1を得る。同様に 、ゲート信号Iの2はその持続時間の間出力パターンDの2を読みだしてオア・ ゲート12の出力Lの2を得る。以下、同様であってオア・ゲート12の出力L は結局、図3においてLで示される通りのものとなる。この出力Lは、換言する と、パターンAがカウンタ2のCLOCKの繰り返し周期の持続時間のパターン に変換されたものに相当する。ここで、オア・ゲート12の出力Lは、更にアン ド・ゲート13においてCLOCKとの間でアンドをとられる。この場合のアン ド・ゲート13の出力は図3においてMで示される。このアンド・ゲート13の 出力は図示されない波形設定回路に供給され、波形設定の用に供される。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
上述の波形制御回路において、パルサーによりCLOCKを消去するクロック ・オープン操作を実行する。このことを図1、4を参照して説明する。例えば、 図4におけるGの2番目のCLOCKパルスをクロック・オープンすると、図4 のIの3で示される長いパルスはアンド・ゲート11cではなくして11bに供 給されることとなり、フリップフロップ10bから図4のLのパターン即ち2番 目のパターンが読み出される。この場合、アンド・ゲート13においては3番目 のCLOCKと2番目のパターンとの間のアンドがとられることとなる。本来は 、3番目のCLOCKは3番目のパターンとの間のアンドがとられなければなら ないのである。これ以降、CLOCKとパターンとの間の関係はすべてずれ、誤 動作することとなる。
【0005】 この発明は、上述の通りのクロック・オープン操作を誤動作せずに実行するこ とができる波形制御回路を提供しようとするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
インターリーブ回路を有する波形制御回路を具備したIC試験装置において、 第2のアンド・ゲート、第1のディレー回路およびオア・ゲートを具備し、第2 のアンド・ゲートの一方の入力はOPEN信号端子に接続し、その他方の入力は CLOCK端子に接続し、そしてその出力は第1のディレー回路を介して上記オ ア・ゲートの一方の入力に接続し、オア・ゲートの他方の入力は第2のアンド・ ゲートの他方の入力に接続し、その出力は上記カウンタ2のクロック入力端子に 接続し、更に第3のアンド・ゲートおよび第2のディレー回路を具備し、第3の アンド・ゲートの一方の入力は第2のディレー回路を介しそして他方の入力は直 接に上記カウンタ2のクロック入力端子にそれぞれ接続し、そしてその出力は第 1のアンド・ゲートの入力に接続する構成を具備することにより、クロック・オ ープン操作を誤動作せずに実行することができるようにしたものである。
【0007】
【実施例】
この考案の一実施例を図1、2を参照して説明する。図2において、この考案 の波形制御回路は第2のアンド・ゲート14、第1のディレー回路15およびオ ア・ゲート16を具備し、第2のアンド・ゲート14の一方の入力はOPEN信 号端子に接続し、その他方の入力はCLOCK端子に接続し、そしてその出力は 第1のディレー回路15を介して上記オア・ゲート16の一方の入力に接続して いる。オア・ゲート16の他方の入力は第2のアンド・ゲート14の他方の入力 に接続し、その出力は上記カウンタ2のクロック入力端子に接続している。更に 第3のアンド・ゲート18および第2のディレー回路17を具備し、第3のアン ド・ゲート18の一方の入力は第2のディレー回路17を介し、そして他方の入 力は直接に上記カウンタ2のクロック入力端子にそれぞれ接続し、そしてその出 力は第1のアンド・ゲート13の入力に接続している。ところで、上記ディレー 回路15および17の遅延時間はCLOCKパルスのパルス幅をWとしたときW であるものとする。
【0008】 ここで、クロック・オープンではない時は、アンド・ゲート14のOPEN端 子に”H”のOPEN信号を送り込む。アンド・ゲート14の一方に印加された パルス幅WのCLOCKはこのゲートを介してディレー回路15に加えられ、こ こにおいてWだけ遅延せしめられてからオア・ゲート16の一方の入力に印加さ れる。オア・ゲート16の他方の入力にはCLOCKが直接に印加される。この 場合の各部のパルス幅は図5に示される通りであり、カウンタ1および2に対す るCLOCKであるオア・ゲート16の出力は結局、幅2Wのパルスとなる。と ころで、このオア・ゲート16の出力はアンド・ゲート18に対して一方は直接 に、他方はディレー回路17を介して印加される。このゲートの出力はアンド・ ゲート13において論理積をとるためのものであるが、結局そのパルスの幅はW となる。以上の通り、カウンタ1および2に対するCLOCKであるオア・ゲー ト16の出力のパルス幅は2Wであり、アンド・ゲート13において論理積をと るためのアンド・ゲート18の出力のパルス幅はWであるので、カウンタを含め て波形制御回路全体は正常な動作をすることとなる。
【0009】 ところで、クロック・オープンの時は、アンド・ゲート14のOPEN端子に 対して”L”のオープン信号を加える。この場合の各部のパルスのパルス幅は図 5Bに示される通りである。即ち、オープン信号が加えられたクロック・オープ ンの場合であっても、カウンタ1および2に対するCLOCKであるオア・ゲー ト16の出力はそのパルス幅が図5Bに示される通りWであり、しかも必ず発生 するのでこれらのカウンタは常に正常に動作し、従来例の如くにCLOCKとパ ターンとの間の関係がずれて誤動作するということはない。しかし、アンド・ゲ ート13において論理積をとるためのパルスであるアンド・ゲート18の出力は 出力されない。即ち、カウンタ1および2は正常に動作してCLOCKとパター ンとの間の関係は正常でありながら、アンド・ゲート13の出力は読み出されず 、従って実質上クロック・オープンされたこととなる。
【0010】
【考案の効果】
カウンタ1および2は正常に動作してCLOCKとパターンとの間の関係は正 常でありながら、アンド・ゲート13の出力は読み出されず、実質上のクロック ・オープン操作をすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】インターリーブ回路を採用した従来の波形制御
回路のブロック図。
【図2】この考案の波形制御回路を説明するためのブロ
ック図。
【図3】クロック・オープン操作なしの時のタイミング
・チャート。
【図4】クロック・オープン操作時のタイミング・チャ
ート。
【図5】Aはクロック・オープン操作なしの時の各部の
パルス幅を示す図。Bはクロック・オープン操作時の各
部のパルス幅を示す図。
【符号の説明】
10 D型フリップフロップ 13 第1のアンド・ゲート 14 第2のアンド・ゲート 15 第1のディレー回路 16 オア・ゲート 17 第2のディレー回路 18 第3のアンド・ゲート

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項1】パターンと同期したシステム・クロックと
    特定の繰り返し周期のCLOCKとにより上記パターン
    を上記特定の繰り返し周期のパターンに変換し、この変
    換されたパターンと上記CLOCKとの間の論理積を第
    1のアンド・ゲートによりとる波形制御回路を具備し、
    上記システム・クロックはカウンタ1を介して送り込ま
    れ、そして上記CLOCKはカウンタ2を介して送り込
    まれ、ここにおいて第2のアンド・ゲート、第1のディ
    レー回路およびオア・ゲートを具備し、第2のアンド・
    ゲートの一方の入力はOPEN信号端子に接続し、その
    他方の入力はCLOCK端子に接続し、そしてその出力
    は第1のディレー回路を介して上記オア・ゲートの一方
    の入力に接続し、オア・ゲートの他方の入力は第2のア
    ンド・ゲートの他方の入力に接続し、その出力は上記カ
    ウンタ2のクロック入力端子に接続し、更に第3のアン
    ド・ゲートおよび第2のディレー回路を具備し、第3の
    アンド・ゲートの一方の入力は第2のディレー回路を介
    しそして他方の入力は直接に上記カウンタ2のクロック
    入力端子にそれぞれ接続し、そしてその出力は第1のア
    ンド・ゲートの入力に接続するものであることを特徴と
    するIC試験装置の波形制御回路。
JP4989691U 1991-06-28 1991-06-28 Ic試験装置の波形制御回路 Expired - Fee Related JP2556918Y2 (ja)

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JPH054052U true JPH054052U (ja) 1993-01-22
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5212996U (ja) * 1975-07-16 1977-01-29
JPS5212995U (ja) * 1975-07-16 1977-01-29

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JPS5212996U (ja) * 1975-07-16 1977-01-29
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