JPS62184373A - 試験信号発生回路 - Google Patents
試験信号発生回路Info
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- JPS62184373A JPS62184373A JP61025178A JP2517886A JPS62184373A JP S62184373 A JPS62184373 A JP S62184373A JP 61025178 A JP61025178 A JP 61025178A JP 2517886 A JP2517886 A JP 2517886A JP S62184373 A JPS62184373 A JP S62184373A
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- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31908—Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns
- G01R31/3191—Calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31928—Formatter
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a)発明の技術分野
この発明は、論理回路用の試験信号発生回路に関するも
のであり、さらに詳しくいえば試験信号のタイミングを
任意の時間だけ遅延させたり、波形を変換したりするこ
とができるようにした試験信号発生回路に関するもので
ある。
のであり、さらに詳しくいえば試験信号のタイミングを
任意の時間だけ遅延させたり、波形を変換したりするこ
とができるようにした試験信号発生回路に関するもので
ある。
(b)発明の目的
この発明は、四つのカウンタを一つの基準信号で制御し
、それぞれのカウンタに独立の遅延時間を設定すること
により、試験信号のタイミングを遅延させたり、波形を
変えたりすることができるようにした試験信号発生回路
を提供するものである。
、それぞれのカウンタに独立の遅延時間を設定すること
により、試験信号のタイミングを遅延させたり、波形を
変えたりすることができるようにした試験信号発生回路
を提供するものである。
(cll開明実施例
まず、この発明による実施例のtR成図を第1図に示す
。
。
第1図の1〜6は入力端子、7は出力Er、8Aと8B
はゲート、9はフリ、プフロ、プ、10〜40は遅延I
sである。
はゲート、9はフリ、プフロ、プ、10〜40は遅延I
sである。
U延部lOにはゲートと設定器とカウンタがあリ、遅延
部20〜40側は遅延部10側と同しような構成になっ
ている。
部20〜40側は遅延部10側と同しような構成になっ
ている。
したがって、以丁、J!lI!延部10側の動作を十に
説明し、その他は必要な部分だけを説明することにする
。
説明し、その他は必要な部分だけを説明することにする
。
入力端rl〜4には、それぞれ信号IA〜4Aを加え、
入力端子5には基準信号5Aを加える。
入力端子5には基準信号5Aを加える。
入力端子6にはクロック信号6Aを加え、出力端−Ji
7からは試験信号9Aが取り出される。
7からは試験信号9Aが取り出される。
第1図の信号IAは「1」と「0」で構成されるディジ
タル信号である。
タル信号である。
基準信号5Aは信号IAの繰返し周期のJl信号であり
、信号IAの繰返し周期は基準信号5Aの周期と同しに
なるように構成される。
、信号IAの繰返し周期は基準信号5Aの周期と同しに
なるように構成される。
クロック信号6Aは基準信号5Aより繰返し周期の短い
信号であり、遅延zioのカラ/りに入る。
信号であり、遅延zioのカラ/りに入る。
遅延部lOのゲートには信号IAと基準信号5Aが入り
、信号IAが「1」になったとき、遅延部10のカウン
タに基準信号5Aを伝達する。
、信号IAが「1」になったとき、遅延部10のカウン
タに基準信号5Aを伝達する。
遅延部10の設定ムはH延部10のカラ/りに’Jj%
時間を設定させるためのものであり、例えばメモリなど
で遅g?JStoの設定器を構成することかできる、そ
して、図示を省略したCPUから遅延時間に対応する設
定値をあらかじめそのメそりに格納しておく。
時間を設定させるためのものであり、例えばメモリなど
で遅g?JStoの設定器を構成することかできる、そ
して、図示を省略したCPUから遅延時間に対応する設
定値をあらかじめそのメそりに格納しておく。
遅延部10の設定器からは第1のii延時間に対応する
設定値が遅延部10のカウンタに送られ、遅延部10の
カウンタには第1の遅延時間に対応する設定値が基準信
号5Aでセットされる。
設定値が遅延部10のカウンタに送られ、遅延部10の
カウンタには第1の遅延時間に対応する設定値が基準信
号5Aでセットされる。
遅延部10のカウンタはセットされた設定値だけクロッ
ク信号6Aを計数し、基準信号5Aから第1のJ!I!
延時間だけ遅れた信号をゲー)8Aに入れる。
ク信号6Aを計数し、基準信号5Aから第1のJ!I!
延時間だけ遅れた信号をゲー)8Aに入れる。
例えば、クロック信号6Aの周期がIonsの場合に第
1の遅延時間を900nsにするためには、遅延部10
のカウンタに設定値として90をセットするようにすれ
ばよい。
1の遅延時間を900nsにするためには、遅延部10
のカウンタに設定値として90をセットするようにすれ
ばよい。
遅延部20は基準信号5Aから第2の遅延時間だけ遅れ
た信号をゲー)8Aに加える。
た信号をゲー)8Aに加える。
一方、遅延部30.40はそれぞれ基準信号5Aから第
3.4の遅延時間だけ遅れた信号をゲート8Bに入れる
。
3.4の遅延時間だけ遅れた信号をゲート8Bに入れる
。
ゲート8Aとゲート8Bはオアゲートであり、ゲート8
Aはフリップフロップ9をセットし、ゲ−)8Bはフリ
ップフロップ9をリセットする。
Aはフリップフロップ9をセットし、ゲ−)8Bはフリ
ップフロップ9をリセットする。
したがって、フリップフロップ9はii延部10・20
の出力でセットされ、遅延部30・40の出力でリセッ
トされて試験信号9Aを出力する。
の出力でセットされ、遅延部30・40の出力でリセッ
トされて試験信号9Aを出力する。
なお、第1〜4の遅延時間は、同じ時間でもよく、異な
る時間にしてもよい。
る時間にしてもよい。
次に、第1図のタイムチャートを第2図に示す。
第2図(ア)〜(1)は、それぞれ信号IA〜4Aの波
形図である。
形図である。
第2図(ア)と(イ)、第2図(つ)と(工)はそれぞ
れ同し波形であり、第2図(つ)は第2図(ア)の反転
波形になっている。
れ同し波形であり、第2図(つ)は第2図(ア)の反転
波形になっている。
第2図(オ)は基準信号5Aの波形図であり、基準信号
5AがクロックPとクロックQの場合であり、また第2
図(力)はクロック信号6Aの波形図である。
5AがクロックPとクロックQの場合であり、また第2
図(力)はクロック信号6Aの波形図である。
第2図(キ)は、第2図(ア)の波形が「1」になった
とき、ii延都10のゲートから出る基準信号5Aの波
形図であり、第2図(キ)のクロックP1は第2図(1
)のクロックPに対応する。
とき、ii延都10のゲートから出る基準信号5Aの波
形図であり、第2図(キ)のクロックP1は第2図(1
)のクロックPに対応する。
第2図(り)−は遅延$10の出力波形図であり、第2
図(り)の出力pHは第2図(キ)のクロックPIから
遅延時間Tlだけ遅れた信号である。
図(り)の出力pHは第2図(キ)のクロックPIから
遅延時間Tlだけ遅れた信号である。
第2図(ケ)は、第2図(イ)の波形が「1」になった
とき、遅延部20のゲートから出る基準信号5Aの波形
図であり、第2図(ケ)のクロックP2は第2図(オ)
のクロックPに対応する。
とき、遅延部20のゲートから出る基準信号5Aの波形
図であり、第2図(ケ)のクロックP2は第2図(オ)
のクロックPに対応する。
第2図(コ)はii延都20の出力波形図であり、第2
図(コ)の出力P21は第2図(ケ)のクロックP2か
ら遅延時間T2だけ遅れた信号である。
図(コ)の出力P21は第2図(ケ)のクロックP2か
ら遅延時間T2だけ遅れた信号である。
第2図(号)は、第2図(つ)の波形が「1」になった
きき、遅延部30のゲートが出力する基準信>; 5
p、の波形図であり、第2図(1)のクロ、りQlは第
2図(オ)のクロックQに対応する。
きき、遅延部30のゲートが出力する基準信>; 5
p、の波形図であり、第2図(1)のクロ、りQlは第
2図(オ)のクロックQに対応する。
第2図())は遅延あ30の出力波形図であり、第2図
(1)の出力Qllは第2図(号)のクロ、りQlから
遅延時間T3たけ遅れた信号である。
(1)の出力Qllは第2図(号)のクロ、りQlから
遅延時間T3たけ遅れた信号である。
第2図(ス)は、第2図(11の波形が「1」になった
とき、遅延部40のゲートから出る基準信号5Aであり
、第2図(ス)のクロックQ2は第2図(オ)のクロッ
クQに対応する。
とき、遅延部40のゲートから出る基準信号5Aであり
、第2図(ス)のクロックQ2は第2図(オ)のクロッ
クQに対応する。
第2図(七)は遅延部40の出力波形図であり、第2図
(七)の出力Q21は第2図(ス)のクロックQ2から
遅延時間T4だけ遅れた信号である。
(七)の出力Q21は第2図(ス)のクロックQ2から
遅延時間T4だけ遅れた信号である。
第4図(ソ)はフリップフロップ9が出力する試験信号
9Aの波形図であり、第2図(ソ)の出力Rはフリップ
フロップ9を第2図(り)の出力pHでセットし、第2
図(ン)の出力Qllでリセットしたときの(−1号で
ある。また、第2図(ン)の出力Sは、フリップフロ1
プ9を第2図(コ)の出力P21でセットし、第2図(
1)の出力Q21でリセットしたときの信号である。
9Aの波形図であり、第2図(ソ)の出力Rはフリップ
フロップ9を第2図(り)の出力pHでセットし、第2
図(ン)の出力Qllでリセットしたときの(−1号で
ある。また、第2図(ン)の出力Sは、フリップフロ1
プ9を第2図(コ)の出力P21でセットし、第2図(
1)の出力Q21でリセットしたときの信号である。
第2図(ン)ではフリップフロップ9の2周期分だけを
表示しているが、信号IA〜4Aおよび基745号5A
はそれぞれ繰返し信号なので、第2図(ソ)の波形か連
続してフリップフロップ9の出力から得られる。
表示しているが、信号IA〜4Aおよび基745号5A
はそれぞれ繰返し信号なので、第2図(ソ)の波形か連
続してフリップフロップ9の出力から得られる。
+d)発明の効果
この発明によれば、遅1i9to〜40のカラ/りにそ
れぞれ第1〜4の遅延時間をセットし、クロ、り信号6
Aをこれらのカウンタで計数させているので、フリップ
フロップ9か出力する試験<rr号9Aのタイミングを
J!11延させたり、波形を変えたりすることが容易に
できる。
れぞれ第1〜4の遅延時間をセットし、クロ、り信号6
Aをこれらのカウンタで計数させているので、フリップ
フロップ9か出力する試験<rr号9Aのタイミングを
J!11延させたり、波形を変えたりすることが容易に
できる。
第1図はこの発明による実施例の構成図、第2図は第1
図のタイムチャートを示す図。 1〜6・・・・・・入力端F、7・・・・・・出力端r
18A・8B・・・・・・ゲート、9・・・・・・フリ
ップフロップ、lO〜40・・・・・・遅延部。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第1図 遅延部 ff12 図
図のタイムチャートを示す図。 1〜6・・・・・・入力端F、7・・・・・・出力端r
18A・8B・・・・・・ゲート、9・・・・・・フリ
ップフロップ、lO〜40・・・・・・遅延部。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第1図 遅延部 ff12 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 遅延時間を設定する設定器と、ゲートと、前記設定
器の設定値だけクロック信号を計数するカウンタとをそ
れぞれもつ第1、第2、第3および第4の遅延部と、 第1の遅延部の出力と第2の遅延部の出力をセット入力
とし、第3の遅延部の出力と第4の遅延部の出力をリセ
ット入力とするフリップフロップとを備え、 第1の信号と基準信号を第1の遅延部のゲートに入れ、
第2の信号と基準信号を第2の遅延部のゲートに入れ、
第3の信号と基準信号を第3の遅延部のゲートに入れ、
第4の信号と基準信号を第4の遅延部のゲートに入れ、
前記フリップフロップから各設定器で設定した遅延時間
だけ遅延した試験信号を取り出すことを特徴とする試験
信号発生器。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61025178A JPS62184373A (ja) | 1986-02-07 | 1986-02-07 | 試験信号発生回路 |
US07/011,175 US4802168A (en) | 1986-02-07 | 1987-02-05 | Test signal generating circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61025178A JPS62184373A (ja) | 1986-02-07 | 1986-02-07 | 試験信号発生回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62184373A true JPS62184373A (ja) | 1987-08-12 |
Family
ID=12158749
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61025178A Pending JPS62184373A (ja) | 1986-02-07 | 1986-02-07 | 試験信号発生回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4802168A (ja) |
JP (1) | JPS62184373A (ja) |
Families Citing this family (3)
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---|---|---|---|---|
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DE59010430D1 (de) * | 1990-12-28 | 1996-08-29 | Ibm | Programmgesteuertes Verfahren und Anordnung zur Erzeugung von Impulsen in aufeinanderfolgenden Impulsintervallen |
US5878055A (en) * | 1997-12-09 | 1999-03-02 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for verifying a single phase clocking system including testing for latch early mode |
Family Cites Families (19)
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JPS5693079A (en) * | 1979-12-27 | 1981-07-28 | Iwatsu Electric Co Ltd | Measurement of time duration |
DE3105554C2 (de) * | 1980-02-25 | 1983-07-14 | Tektronix, Inc., 97077 Beaverton, Oreg. | Schaltungsanordnung zur Abtastung mehrerer Signalabschnitte eines Analogsignals mit unterschiedlichen Abtastraten |
US4429389A (en) * | 1981-05-26 | 1984-01-31 | Burroughs Corporation | Test pattern address generator |
US4450560A (en) * | 1981-10-09 | 1984-05-22 | Teradyne, Inc. | Tester for LSI devices and memory devices |
JPS5994086A (ja) * | 1982-11-19 | 1984-05-30 | Advantest Corp | 論理回路試験装置 |
JPS5997065A (ja) * | 1982-11-25 | 1984-06-04 | Advantest Corp | 論理回路試験装置の試験パタ−ン発生装置 |
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US4719375A (en) * | 1986-05-09 | 1988-01-12 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | High resolution digital delay timer |
-
1986
- 1986-02-07 JP JP61025178A patent/JPS62184373A/ja active Pending
-
1987
- 1987-02-05 US US07/011,175 patent/US4802168A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4802168A (en) | 1989-01-31 |
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