JPS62177465A - 試験信号発生回路 - Google Patents
試験信号発生回路Info
- Publication number
- JPS62177465A JPS62177465A JP61019764A JP1976486A JPS62177465A JP S62177465 A JPS62177465 A JP S62177465A JP 61019764 A JP61019764 A JP 61019764A JP 1976486 A JP1976486 A JP 1976486A JP S62177465 A JPS62177465 A JP S62177465A
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- JP
- Japan
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- signal
- counter
- output
- delay time
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- Pending
Links
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 5
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 abstract description 11
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a)発明の技術分野
この発明は、論理回路用の試験信号発生回路に関するも
のであり、さらに詳しくいえば試験信号のタイミングを
任意の時間だけ遅延させることができるようにした試験
信号発生回路に関するものである。
のであり、さらに詳しくいえば試験信号のタイミングを
任意の時間だけ遅延させることができるようにした試験
信号発生回路に関するものである。
(b)従来技術と問題点
まず、従来技術による構成図を第2図に示す。
第2図の1〜3は入力端子、4と5はゲート、6はフリ
ップフロップ、7は出力端子である。
ップフロップ、7は出力端子である。
入力端子1には信号IAが加えられ、入力端子2には信
号2人が加えられる。
号2人が加えられる。
また、入力端子3には基準信号3Aが加えられ、出力端
子7からは試験信号6Aが取り出される。
子7からは試験信号6Aが取り出される。
ゲート4側とゲート5側は同じような構成になっている
ので、ゲート4側を主として説明し、ゲート5側は必要
な部分だけを説明することにする。
ので、ゲート4側を主として説明し、ゲート5側は必要
な部分だけを説明することにする。
信号IAと信号2Aはディジタル信号であり、「1」と
「0」で構成される。
「0」で構成される。
基準信号3Aは信号IA@2Aの繰返し周期の基準信号
であり、信号IA・2Aの繰返し周期と同じになってい
る。
であり、信号IA・2Aの繰返し周期と同じになってい
る。
ゲート4には信号IAと基準信号3Aが入り、信号IA
が「1」のとき、基準信号3Aを出し、フリップフロッ
プ8をセットする。
が「1」のとき、基準信号3Aを出し、フリップフロッ
プ8をセットする。
ゲート5はゲート4と同じように基準信号3Aを出力し
、フリップフロップ6をリセットする。
、フリップフロップ6をリセットする。
したがって、フリ、プフロ、プロはゲート4の出力でセ
ットされ、ゲート5の出力でリセットされて出力端子7
に試験信号6Aを出力する。
ットされ、ゲート5の出力でリセットされて出力端子7
に試験信号6Aを出力する。
次に、第2図のタイムチャートを第3図に示す。
第3図(ア)は信号IAの波形図であり、「0」、「1
」、「0」と変化している。
」、「0」と変化している。
第3図(句は信号2Aの波形図であり、信号IAの反転
波形になっている。
波形になっている。
第3図(つ)は基準信号3Aの波形図であり、基準信号
3AがクロックPとクロックQの場合である。
3AがクロックPとクロックQの場合である。
第3図(I)は、第3図(ア)の信号IAがrlJにな
ったとき、ゲート4が出力する基準信号3Aの波形図で
あり、第3図(1)のクロックP1は第3図(つ)のク
ロックPに対応する。
ったとき、ゲート4が出力する基準信号3Aの波形図で
あり、第3図(1)のクロックP1は第3図(つ)のク
ロックPに対応する。
第3図(オ)は、第3図(イ)の信号2Aが「1」にな
ったとき、ゲート5が出力する基準信号3Aであり、第
3図(′4)のクロックQ1は第3図(イ)のクロック
Qに対応する。
ったとき、ゲート5が出力する基準信号3Aであり、第
3図(′4)のクロックQ1は第3図(イ)のクロック
Qに対応する。
M 3 図(*)は、フリップフロップ6を第3図(1
)のクロックP1でセットし、第3図(オ)のクロック
Q1でリセットしたとき、フリップフロップ6から出て
くる試験信号6Aの波形図である。
)のクロックP1でセットし、第3図(オ)のクロック
Q1でリセットしたとき、フリップフロップ6から出て
くる試験信号6Aの波形図である。
第3図(tl)ではフリップフロップ6の出力波形とし
て1周期分だけを表示しているが、信号IA。
て1周期分だけを表示しているが、信号IA。
2Aおよび基準信号3Aはそれぞれ繰返し信号なので、
第3図(mlの波形が連続してフリップフロップ6の出
力から得られる。
第3図(mlの波形が連続してフリップフロップ6の出
力から得られる。
第2図のような試験信号発生回路では、基準信号3Aか
ら任意の時間遅れた試験信号を出力することができない
という問題がある。
ら任意の時間遅れた試験信号を出力することができない
という問題がある。
(c)発明の目的
この発明は、カウンタを基準信号3Aで制御し、カウン
タに遅延時間を設定することにより、カウンタに設定さ
れた遅延時間だけ、第3図(つ)のクロックPとクロッ
クQから遅れた第3図(h)の語信号6Aを出力できる
ようにした試験信号発生回路を提供するものである。
タに遅延時間を設定することにより、カウンタに設定さ
れた遅延時間だけ、第3図(つ)のクロックPとクロッ
クQから遅れた第3図(h)の語信号6Aを出力できる
ようにした試験信号発生回路を提供するものである。
(d)発明の実施例
まず、この発明による実施例の構成図を第1図に示す。
第1図の11は設定器、12はカウンタ、13は入力端
子であり、その他の部分は第2図と同じである。
子であり、その他の部分は第2図と同じである。
入力端子13にはクロック信号13Aを加え、出力端子
7からは試験信号6Bが取り出される。
7からは試験信号6Bが取り出される。
第1図は設定器11とカウンタ12を第2図に追加し、
基準信号3Aの代りにカウンタ12の出力をゲート4と
ゲート5に加えるようにしたものである。
基準信号3Aの代りにカウンタ12の出力をゲート4と
ゲート5に加えるようにしたものである。
第1図のクロック信号13Aは基準信号3Aより繰返し
周期の短い信号であり、入力端子13からカウンタ12
に入る。
周期の短い信号であり、入力端子13からカウンタ12
に入る。
第1図の設定器11はカウンタ12に遅延時間を設定さ
せるためのものであり、例えばメモリなどで設定器11
を構成することができる。そして、図示を省略したCP
Uから遅延時間に対応する設定値をあらかしめ格納して
おく。
せるためのものであり、例えばメモリなどで設定器11
を構成することができる。そして、図示を省略したCP
Uから遅延時間に対応する設定値をあらかしめ格納して
おく。
設定器11からは遅延時間に対応する設定値がカウンタ
12に送られ、カウンタ12には遅延時間に対応する設
定値が基準信号3Aでセットされる。
12に送られ、カウンタ12には遅延時間に対応する設
定値が基準信号3Aでセットされる。
カウンタエ2はセットされた設定値だけクロック信号1
3Aを計数し、基準信号3Aから設定値に対応する遅延
時間だけ遅れた信号をゲート4とゲート5に加える。
3Aを計数し、基準信号3Aから設定値に対応する遅延
時間だけ遅れた信号をゲート4とゲート5に加える。
例えば、クロック信号13Aの周期がIonsの場合に
カウンタ12から出る信号の遅延時間を9DOnsにす
るためには、カウンタ12に設定値として90をセット
するようにすればよい。
カウンタ12から出る信号の遅延時間を9DOnsにす
るためには、カウンタ12に設定値として90をセット
するようにすればよい。
次に、第1図のタイムチャートを第4図に示す。
第4図(ア)〜(つ)はそれぞれ第3図(7’)〜(つ
)と同じ波形図である。
)と同じ波形図である。
第4図(1)はクロック信号13Aの波形図であり、第
4図(オ)は遅延時間Tに対応した設定値をカウンタ1
2にセットした場合のカウンタ12の出力波形図である
。
4図(オ)は遅延時間Tに対応した設定値をカウンタ1
2にセットした場合のカウンタ12の出力波形図である
。
第4図(オ)の出力Rは第4図(つ)のクロックPから
遅延時間Tだけ遅れた信号であり、第4図(オ)の出力
Sは第4図(つ)のクロックQからB延時間Tだけ遅れ
た信号である。
遅延時間Tだけ遅れた信号であり、第4図(オ)の出力
Sは第4図(つ)のクロックQからB延時間Tだけ遅れ
た信号である。
第4図(力)は第4図(1)が「1」になったとき、ゲ
ート4が出力するカウンタ12の出力波形図であり、第
4図(力)の出力R1は第4図(オ)の出力Rに対応す
゛る。
ート4が出力するカウンタ12の出力波形図であり、第
4図(力)の出力R1は第4図(オ)の出力Rに対応す
゛る。
第4図(キ)は、第4図(イ)が「1」になったときゲ
ート5が出力するカウンタ12の出力波形図であり、第
4図(キ)の出力S1は第4図(オ)の出力Sに対応す
る。
ート5が出力するカウンタ12の出力波形図であり、第
4図(キ)の出力S1は第4図(オ)の出力Sに対応す
る。
第4図(り)は、フリップフロップ6を第4図(h)の
出力R1でセットし、第4図(キ)の出力S1でリセッ
トしたとき、フリップフロップ6から出てくる試験信号
6Bの波形図である。
出力R1でセットし、第4図(キ)の出力S1でリセッ
トしたとき、フリップフロップ6から出てくる試験信号
6Bの波形図である。
第4図(り)の試験信号6Bは第3図(キ)の試験信号
6Aより遅延時間Tだけ遅延した信号である。
6Aより遅延時間Tだけ遅延した信号である。
(d)発明の効果
この発明によれば、第4図(1)の遅延時間Tに対応し
た設定値をカウンタ12にセットし、クロック信号13
Aをカウンタ12で計数させているので、フリノフロノ
プ6から出る試験信号のタイミングを容易に遅延させる
ことができる。
た設定値をカウンタ12にセットし、クロック信号13
Aをカウンタ12で計数させているので、フリノフロノ
プ6から出る試験信号のタイミングを容易に遅延させる
ことができる。
第1図はこの発明による実施例の構成図、第2図は従来
技術による構成図、 第3図は第2図のタイムチャート、 第4図は第1図のタイムチャート。 1〜3・・・・・・入力端子、4会5・・・・・・ゲー
ト、6・・・・・・フリップフロップ、7・・・・・・
出力端子、11・・・・・・設定器、12・・・・・・
カウンタ、13・・・・・・入力端子。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第 1 図 ゲート ニ 第 2 図 第3図 (力)
技術による構成図、 第3図は第2図のタイムチャート、 第4図は第1図のタイムチャート。 1〜3・・・・・・入力端子、4会5・・・・・・ゲー
ト、6・・・・・・フリップフロップ、7・・・・・・
出力端子、11・・・・・・設定器、12・・・・・・
カウンタ、13・・・・・・入力端子。 代理人 弁理士 小 俣 欽 司 第 1 図 ゲート ニ 第 2 図 第3図 (力)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 遅延時間を設定する設定器と、 クロック信号と基準信号を入力とし、前記設定器の設定
値だけ前記クロック信号を計数するカウンタと、 第1の信号と前記カウンタ出力を入力とする第1のゲー
トと、 第2の信号と前記カウンタ出力を入力とする第2のゲー
トと、 第1のゲート出力と第2のゲート出力を入力とするフリ
ップフロップとを備え、 前記フリップフロップの出力から試験信号を発生するこ
とを特徴とする試験信号発生回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61019764A JPS62177465A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 試験信号発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61019764A JPS62177465A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 試験信号発生回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62177465A true JPS62177465A (ja) | 1987-08-04 |
Family
ID=12008404
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61019764A Pending JPS62177465A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 試験信号発生回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62177465A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100463649B1 (ko) * | 2002-01-28 | 2004-12-29 | 삼홍엔지니어링 주식회사 | 엔진 진단용 신호 발생장치 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6027970U (ja) * | 1983-08-02 | 1985-02-25 | 株式会社 三共 | 弾球遊技機 |
-
1986
- 1986-01-31 JP JP61019764A patent/JPS62177465A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6027970U (ja) * | 1983-08-02 | 1985-02-25 | 株式会社 三共 | 弾球遊技機 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100463649B1 (ko) * | 2002-01-28 | 2004-12-29 | 삼홍엔지니어링 주식회사 | 엔진 진단용 신호 발생장치 |
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