JPH05241618A - シーケンサラダー回路の自動チェック装置 - Google Patents

シーケンサラダー回路の自動チェック装置

Info

Publication number
JPH05241618A
JPH05241618A JP7931492A JP7931492A JPH05241618A JP H05241618 A JPH05241618 A JP H05241618A JP 7931492 A JP7931492 A JP 7931492A JP 7931492 A JP7931492 A JP 7931492A JP H05241618 A JPH05241618 A JP H05241618A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
check
contact
checking
sequencer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP7931492A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2682328B2 (ja
Inventor
Tomohiro Arakawa
智広 荒川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Auto Body Co Ltd
Original Assignee
Toyota Auto Body Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Auto Body Co Ltd filed Critical Toyota Auto Body Co Ltd
Priority to JP4079314A priority Critical patent/JP2682328B2/ja
Publication of JPH05241618A publication Critical patent/JPH05241618A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2682328B2 publication Critical patent/JP2682328B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Stored Programmes (AREA)
  • Programmable Controllers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 シーケンサラダー回路の不具合箇所を事前に
自動的にチェックする。 【構成】 設計されたシーケンサラダー回路を読み込む
読込手段1と、使用されているデバイスが入出力の範囲
内かをチェックする使用デバイス・ステップ・命令判断
手段5と、使用されている接点・番号の整合性をチェッ
クする接点論理判断手段8と、ペアの接点とコイルをチ
ェックするコイル・接点ペア判定手段10と、ペアの命
令をチェックする命令ペア判定手段12と、入力信号の
タイミングおよび順序をチェックする総合判断手段17
および順序・組合せ判断手段20と、上記チェック結果
を表示する表示手段21を備えたシーケンサラダー回路
の自動チェック装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、シーケンサラダー回路
のプログラム全体を解析して不具合箇所をチェックする
とともに表示する、シーケンサラダー回路の自動チェッ
ク装置である。
【0002】
【従来の技術】近年自動化ラインにおいて、多くのシー
ケンサが導入され、ラダー回路も複雑化しており、設計
上の不具合箇所も多く、設備導入時、生産の立上がり時
に問題が発生している。そこで事前にチェックする第1
の方法としては、人がシーケンサラダー回路を1つ1つ
チェックして不具合箇所をチェックする方法がとられて
いた。
【0003】事後にチェックする第2の方法としては、
実際の機械とシーケンサを接続しその動作を確認するこ
とにより、機械系と電気系を同時にチェックする方法が
とられていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】第1の従来法では、2
000ステップから10000ステップにもなるシーケ
ンサラダー回路を1つ1つチェックするには非常に工数
がかかるとともに、チェック項目も単純でないためにチ
ェックもれも或る割合で残るという問題があった。
【0005】第2の従来法では、(1)機械系が完成し
てからでないとチェック出来ないため、事前にチェック
することが出来ない、(2)機械系と同時に行うため論
理的に不具合な現象が発生しても機械系か電気系かの判
断をまず行った後、回路部分の不具合箇所をチェックす
る必要がある、(3)動作の確認は一定条件のもとで行
われるため、入力信号のタイミングや操作手順の違いに
よる不具合はチェックできない状態で生産に入らざるを
得なかったという問題があった。
【0006】そこで本発明者は、発生する不具合箇所を
整理解析した結果、事前にシーケンサラダー回路のプロ
グラム全体を解析して、不具合箇所の類型毎にチェック
するという本願発明の技術的思想に着眼し、研究開発を
重ねた結果、シーケンサラダー回路の不具合箇所を事前
において自動的にチェック出来るようにするという目的
を達成する本願発明に到達した。
【0007】
【課題を解決するための手段】本願発明(請求項1に記
載の第1発明)のシーケンサラダー回路の自動チェック
装置は、設計されたシーケンサラダー回路を読み込む読
込手段と、読み込まれたシーケンサラダー回路内で使用
されているデバイスが入出力の割付の範囲内に有るかど
うかをチェックするデバイスチェック手段と、シーケン
サラダー回路内で使用されている接点および番号が論理
的に整合性がとれているかどうかをチェックする論理チ
ェック手段とから成るものである。
【0008】本願発明(請求項2に記載の第2発明)の
同自動チェック装置は、第1発明において、前記シーケ
ンサラダー回路内でペアで使用される接点とコイルの一
方が不足しているかどうか、あるいは同一デバイス番号
におけるペアの命令の一方が不足しているかどうかをチ
ェックするペアチェック手段を付加したものである。
【0009】本願発明(請求項3に記載の第3発明)の
同自動チェック装置は、第1発明において、シーケンサ
の1スキャン内における入力信号の入るタイミングによ
って不具合が発生する回路をチェックする第1のタイミ
ングチェック手段を付加したものである。
【0010】本願発明(請求項4に記載の第4発明)の
同自動チェック装置は、第1発明において、入力信号の
順序が関係する回路および条件を抽出する第2のタイミ
ングチェック手段と、および各チェック手段がチェック
した不具合箇所を表示する表示手段とを付加したもので
ある。
【0011】
【作用】上記構成より成る第1発明のシーケンサラダー
回路の自動チェック装置は、デバイスチェック手段によ
りラダー回路で使用されているデバイスで入出力の割付
の範囲外のものを取り出すとともに、論理チェック手段
により接点および番号で論理的に整合がとれないものを
取り出すものである。
【0012】上記構成より成る第2発明の同自動チェッ
ク装置は、第1発明の作用に加え、ペアチェック手段に
よりペアで使用される接点とコイルの一方あるいはペア
の命令の一方が不足しているものを取り出すものであ
る。
【0013】上記構成より成る第3発明の同自動チェッ
ク装置は、第1発明の作用に加え、第1のタイミングチ
ェック手段によりシーケンサの1スキャン内における入
力信号の入力タイミングによって不具合が発生する回路
を取り出すものである。
【0014】上記構成より成る第4発明の同自動チェッ
ク装置は、第1発明の作用に加え、第2のタイミングチ
ェック手段により入力信号の順序が関係する回路および
条件を抽出するものである。
【0015】
【発明の効果】上記構成および作用を奏する第1発明の
シーケンサラダー回路の自動チェック装置は、入出力の
範囲外のデバイスと、整合がとれない接点などを事前に
取り出すことにより不具合箇所を自動的にチェックする
ことができるという効果を奏する。
【0016】上記構成および作用を奏する第2発明の同
自動チェック装置は、第1発明の効果に加え、ペアで使
用される接点とコイルあるいはペア命令の一方が不足し
ている不具合箇所を自動的にチェックすることができる
という効果を奏する。
【0017】上記構成および作用を奏する第3発明の同
自動チェック装置は、第1発明の効果に加え、シーケン
サの1スキャン内における入力信号の入力タイミングに
よって不具合が発生する不具合回路を自動的にチェック
することができるとともに、他の回路への影響をチェッ
クすることができるという効果を奏する。
【0018】上記構成および作用を奏する第4発明の同
自動チェック装置は、第1発明の効果に加え、入力信号
の順序が関係する回路および条件を抽出することができ
るという効果を奏する。
【0019】
【実施例】以下本発明(第1ないし第4発明)の実施例
のシーケンサラダー回路の自動チェック装置について図
面を用いて説明する。
【0020】(実施例の概要)まず、実施例のシーケン
サラダー回路の自動チェック装置について、図1および
図2を用いて説明する。
【0021】実施例の自動チェック装置は、図1に示す
ように、シーケンサラダー回路(以下単にシーケンス回
路と言う)を読み込むシーケンス回路読込手段1と、使
用デバイス・ステップ・命令判断手段2と、使用デバイ
ス・ステップ・命令記憶手段3と、デバイス割付読込手
段4と、デバイス割付範囲内チェック手段5と、1回路
判別手段6と、命令・デバイス・接点チェック用記憶手
段7と、接点論理判断手段8と、使用デバイス検索と、
コイル・接点判断手段9と、コイル・接点ペア判定手段
10と、命令検索手段11と、命令ペア判定手段12
と、回路検索手段13と、出力回路一時記憶手段14
と、出力デバイス一時記憶手段15と、タイミング組合
せ接点判断手段16と、総合判断手段17と、最終出力
影響検索手段18と、保持回路検索手段19と、順序組
合せ判断手段20と、および表示手段21とから成る。
【0022】上記構成の本実施例の自動チェック装置の
動作上のフローは、図2に示すように、シーケンス回路
を読み込んだ後、まず回路内で使用されているデバイス
が入出力の割付の範囲内かどうかをチェックし、次に回
路内で使用されている接点および番号が論理的に整合性
がとれているかどうかをチェックし、次にペアで使用さ
れる接点とコイルおよびペアの命令の一方が不足してい
るかどうかをチェックし、次にシーケンサの1スキャン
内における入力信号の入力タイミングによって不具合が
発生する回路をチェックし、次に入力信号の順序が関係
する回路および条件を抽出するもので、各ステップで発
見された不具合はいずれも表示手段21により表示およ
びフロッピーディスクその他に記憶されるものである。
【0023】(実施例の構成)本実施例の自動チェック
装置の詳細構成についてさらに述べる。割付チェック
は、図3および図4に示すように、シーケンス回路の読
込手段1によりシーケンス回路の読み込みを行い、使用
デバイス・ステップ・命令判断手段2により使用デバイ
スDnとステップと命令を取り出し、使用デバイス・ス
テップ・命令記憶手段3により使用デバイスDnと、使
用ステップおよび命令をn個記憶し、デバイス割付読込
手段4によりデバイスの入出力(I/O)の割付を読み
込み、デバイスチェック手段に対応するデバイス割付範
囲内チェック手段5により使用デバイスDn他が入出力
の割付の範囲内かどうかを順にチェックし、範囲外の使
用デバイスDnについては、表示手段21により表示お
よびフロッピーディスク他に記憶する。
【0024】論理チェックは、図5および図6に示すよ
うに、シーケンス回路読込手段1によりシーケンス回路
のプログラムを読み込み、1回路判別手段6により1出
力回路単位に整理し(例えばm個)、接点論理判断手段
8により1出力回路分のデータを読み込むとともに、デ
ータコードから命令(In)、および接点(Jn)とデ
バイスNo(Kn)に置き換え、論理チェック手段に対
応する接点論理判断手段8により、命令デバイス・接点
チェック用記憶手段7のデータに基づき、論理における
整合性がとれているかを出力回路毎に順にチェックし、
整合がとれない接点他については、表示手段21により
表示および記憶する。
【0025】なお、論理における整合性のチェックは、
命令の種類に応じて整合性をチェックする。命令(I
n)がロード(LD、LDI)の場合は、以下の命令と
同様にロード命令毎に命令(In)、デバイスNo(K
n)と接点(Jn)をチェックブロックに登録する。命
令(In)がオア(OR、ORI)の場合は、一つ前の
命令がLDでないかどうかにより、一つ前までの接点お
よびデバイスの状態と同一かどうか、LD命令のデバイ
スNo(Kn−1)とKnが同一かどうかにより注意デ
バイスとして表示する。命令(In)がAND命令の場
合は、メモリの区切れ位置nを呼び出すMPR命令や、
メモリの区切れ位置nを呼出し、記憶を消すMPP命令
が現在のチェックブロック内で使用されている場合、メ
モリの区切れ位置nを一時記憶するMPS、前記MPR
間またはMPS、MPP間の命令IPの場合は、デバイ
スNo(Kp)と接点(Jp)をチェックブロックの対
象外とし、現在のチェックブロック(Bn)内の{K
(0〜n−1)}がKnデバイスと同一の場合注意デバ
イスとして表示する。命令(In)がORB、ANDB
命令の場合は、1つ前のチェックブロック(Bn−1)
内と現在のブロック(Bn)内の各々の命令(In)、
デバイスNo(Kn)と接点(Jn)が全て同一で順序
も同一の場合は注意デバイスとして表示する。
【0026】すなわち、図7に具体的に示すように、コ
イルY1を起こす条件に同一のデバイスX1が反対の接
点で使用され、そのデバイスがAND条件の時、常にコ
イルY1はオフになり(図7(a))、この場合は、デ
バイスX1の番号間違いか、無意味な条件が入れられて
いることになる。また、コイルY1を起こす条件に同一
のデバイスX1が反対の接点で使用され、そのデバイス
がOR条件の時、常にコイルY1はオンになり(図7
(b))、この場合もデバイスX1の番号間違いか、無
意味な条件が入れられていることになる。
【0027】この様な場合の論理の整合性のチェック方
法は、1つの出力に関する1つの回路のなかで条件を取
り出し、条件の中に同一デバイス番号があるかチェック
し、その関係がANDか、ORの関係になっているかを
チェックすれば良い。
【0028】接点コイルペアチェックは、図8ないし図
11に示すように、使用デバイス検索およびコイル・接
点判断手段9により使用デバイスDnと使用ステップ、
およびそれが入力(接点)か出力(コイル)として使っ
ているか整理して、記憶するとともに、デバイスDnが
接点として使用されているかどうかをチェックする。す
なわち図9中Yは接点有りの場合であり、Nはコイル有
りの場合で、ペアチェック手段を構成するコイル・接点
ペア判定手段10によりペアとなるコイルまたは接点の
有無をチェックして、表示手段21により表示および記
憶する。
【0029】すなわち図10に示すように、回路全体で
M1の出力コイルの回路は有るが、図10中破線で示す
その出力コイルM1を使う接点の回路がどこにもない場
合、M1に関する回路の入力忘れや、間違い、あるいは
無意味な回路ということになる。逆に回路全体でM1の
接点使用の回路が有るが、図10中一点鎖線で示すその
M1のコイルを起こす回路がどこにもない場合も同様で
ある。
【0030】この様な場合のチェック方法は、1つのコ
イル(出力)として使用されるデバイスについて、同一
のデバイスが接点として使用されているかどうかを調べ
る。1つの接点として使用されるデバイスについて、同
一のデバイスがコイルとして使用されているかどうかを
調べる。これらのチェックは、回路読み込み時に、図1
1に示すようなテーブルを作成することにより容易に行
うことができる。
【0031】命令ペアチェックは、図12ないし図15
に示すように、使用デバイス・ステップ・命令判断手段
2により使用デバイス・ステップ・命令の判断をして、
使用デバイス・ステップ・命令記憶手段3により使用デ
バイスDnと使用ステップ、どの様な命令Mnを使って
いるかを整理して記憶する。命令検索手段11により、
デバイスDnがセット命令で検索され、ペアチェック手
段を構成する命令ペア判定手段12によりセット命令を
使う場合はデバイスDnに関して検索してリセットが有
るかどうかをチェックし、セット命令を使わない場合
は、デバイスDnに関して検索し、セット命令が有る
か、コイルが有るかをチェックし、表示手段21により
表示および記憶する。
【0032】すなわち、図14に示すように回路全体で
M1のセットの回路は有るが、そのM1のリセットの回
路(図14中破線で示す)がどこにも無い場合で、その
ほかの回路でM1に出力する回路が無い場合は、そのM
1に関する回路の入力忘れや、間違いが有るか、無意味
な回路の場合である。逆にM1のリセットの回路は有る
が、セット回路(図14中一点鎖線で示す)がどこにも
ない場合も同様である。
【0033】このような場合のチェック方法は、1つの
セット命令のデバイスと同一のデバイスでリセットが有
るかをチェックし、その他同一のデバイスがコイル(出
力)として使用されているかチェックする。リセットの
場合も同様である。これらのチェックは、上述した図1
1に示すテーブルと、図15に示すテーブルを作成する
ことにより容易に行うことができる。
【0034】シーケンサの1スキャン内におけるタイミ
ングチェックは、図16ないし、図22に示すように、
1回路判別手段6からの情報により1回路ブロックの区
切りを記憶するとともに、使用デバイス・ステップ・命
令記憶手段3により使用デバイスと使用ステップ、およ
びそれが入力(接点)か出力(コイル)として使ってい
るかを整理して記憶するとともに、回路検索手段13に
より、あるデバイスInに入力(接点)として使用して
いる出力回路(C0〜m)のデバイス(コイル)番号
(C0〜m)を取り出し、出力回路一時記憶手段14お
よび出力デバイス一時記憶手段15により、そのコイル
のデバイス番号Omが入力(接点)としてO′m、C0
〜Cmの回路で使われているかどうかをチェックし、タ
イミング組合せ接点判断手段16によりO′mと同一の
回路にあるInの接点の関係とOnコイルと使用してい
る回路のOnと同一の回路にあるI′nの関係が図18
に示す状態の組合せがあるかどうかをチェックする。図
18中a接点とは入力がオンすると回路が接続される接
点、b接点とは入力がオフすると回路が接続される接
点、a状態とは回路が接続されるとオン状態になる出
力、b状態とは回路が接続されるとオフ状態になる出力
(リセット出力など)である。第1のタイミングチェッ
ク手段に相当する総合判断手段17により上記チェック
で入力として使用されているときはタイミング注意とし
て表示するように表示手段19に出力するとともに、さ
らにMPS、MRD、MPP命令分の削除デバイスも考
慮して回路分岐(ブロック)をチェックして、1入力デ
バイスについてC0〜Cmの全てについて終了したら、
順に全入力デバイスについてチェックして、1スキャン
内における入力信号の入るタイミングによって不具合が
発生する回路を表示手段21により表示および記憶す
る。
【0035】すなわち、ダイレクト方式のシーケンサに
おいては、図19に示すように、X1の入るタイミング
で動作が変化するものがある。例えばAステップのM2
の回路で、X1、Y1以外の条件はオンで且つBステッ
プのX1の回路でX1以外の条件がオンの時、X1がA
ステップを過ぎBステップを実現するまでにオンすると
き(1)と、Bステップを過ぎAステップを実行するま
でにオンするとき(2)では、動作が異なる。具体的に
は(1)の場合においては、M2はオフ状態でBステッ
プに入り、その間にX1はオンしているためY1はオフ
でAステップの回路を実行してもM2はオフのままとな
る。(2)の場合においては、Bステップ実行時はまだ
X1はオンしていないため、Y1はオン状態となる。次
にAステップを実行するまでにX1はオンするため、X
1はオンでY1もオンのためM2がオンし、M2は特に
保持回路になっているためオン状態が保持されてしま
う。M2が保持回路になっていない場合でも、そのスキ
ャンでM2がオンし、次のスキャンでオフする。ここで
シーケンサの流れにおいて、1スキャンは、通常数10
ms〜100ms程度である。短い信号の出力に反応す
る外部が接続されている場合も不具合となる。そこで図
20に示すように、対策としてX1で1回M3を起こす
ようなことをすれば変化する所が一定となり、上記のよ
うなことは起こらない。
【0036】この様な場合のチェック方法は、接点とし
て使用している直接デバイス(X、Bなど内部デバイス
を除いたデバイス)を2箇所以上使用しているデバイス
X1を選ぶ(第1ステップ)。そのデバイスと同一の先
頭のステップでコイルとして使用のデバイスY1、M2
を抽出する(第2ステップ)。抽出したコイルのデバイ
スで接点として使用されており、且つ先に選んだデバイ
スの先頭のステップと同じデバイスY1を抽出する(第
3ステップ)。但し、ここではコイルで使用の先頭のス
テップと接点で使用の先頭のステップは異なる事とす
る。保持回路と区別するためである。第1および第2ス
テップにおけるデバイスについて、その接点とコイルが
先のフローの組合せになっているかチェックする(第4
ステップ)。X1がA接点とY1がA接点の組合せで、
且つX1がB接点でオンするY1のコイルがある。先頭
のステップで検索しているため、図22に示すような、
MPS、MPP、MRD命令による回路も含めて対象と
なっているため、回路ブロックの分岐の関係もチェック
する必要がある。よってX1のはいるタイミングでM2
に関係したコイルに影響が出ることが分かる。
【0037】入力信号の順序が関係する回路および条件
の抽出におけるアルゴリズムは、次に述べるようなもの
である。(1)入力デバイスとして使用している回路ど
おしを比較、(2)一方Aの出力がもう一方Bの条件に
入っている、(3)その入力デバイス、出力デバイスい
ずれか一方が2つの回路でA接点、B接点と条件が異な
る、(4)直接入力デバイス(x、b、w)の場合、条
件に入っているBの回路より、もう一方の回路がシーケ
ンス上後に存在する、(5)内部デバイスの場合、検索
した内部デバイスの出力回路がAとBの間に存在する、
(6)AND命令系はオンするときのタイミングで、O
R命令系はオフ時のタイミングに影響する。
【0038】順序が関係する回路および命令は、直ちに
不具合と断定できないが、不具合になる可能性があるも
のである。内部メモリを使っていく中で、無意識のうち
に、順序関係を持つロジックが出来ていることが有り、
入力信号の入る順序によって動作したり、動作しなかっ
たりするものである。これは、状態を保持する回路が有
り、その回路の条件の組合せによって起こる。
【0039】図25に示す回路において、入力信号の順
序によりX1がX2より先にオンになる場合、図26に
示す動作状態となり、すなわちY1をオンにする。逆に
X2がX1より先にオンになる場合、図27に示す動作
状態となり、Y1はオフのままであり、X1とX2の順
序が変化するとこのように動作が変わることになる。上
記のことを意識的に行っている場合は問題無いが、無意
識の場合は不具合となる場合があるので、これらを先ず
抽出し、最終的には確認をする必要がある。
【0040】図25に示すシーケンス回路についての入
力信号の順序が関係する回路および条件の抽出は、図2
3および図24に示すようにまず保持回路検索手段19
により保持回路としてM1を検索し、順序が関係する組
合せを判断する第2のタイミングチェック手段に相当す
る順序組合せ判断手段20により(1)b接点が影響を
与えるコイル(M2を除く)としてY1を検索し、
(2)保持回路のコイルが影響するコイルとしてY1を
検索し、(3)上記(1)および(2)のステップで同
じコイルが存在するかどうかをチェックしてX1とX2
を抽出し、(4)a接点、b接点の組合せを抽出して、
それが内部メモリの場合再検索してX1とX2を最終的
に抽出して表示手段21により表示および記憶する。順
序が関係する回路と信号を取り出し、最終的に仕様書と
比較しながら確認することになる。
【0041】上記保持回路としては、図28に示すよう
に間接的に保持するような回路も含める。入力の順序が
関係する回路としては、一例をあげれば図29に示すも
のであり、順序は関係なく条件のみの一例としては図3
0に示すもの等がそれに相当する。
【0042】表示手段39は、上述したチェック回路に
よるチェック結果である不具合回路他を入力単位で一括
して表示するとともにフロッピーディスク他のものに記
憶するものである。
【0043】(実施例の作用効果)上記構成より成る実
施例の自動チェック装置は、シーケンス回路を読み込ま
せれば、デバイス割付範囲内チェック手段5により回路
内で使用されているデバイスで入出力の割付の範囲外の
ものを自動的にチェックし、接点論理判断手段8により
回路内で使用されている接点および番号で論理的に整合
性がとれていないものを自動的にチェックし、コイル・
接点ペア判定手段10によりペアで使用される接点とコ
イルの一方が不足しているものを自動的にチェックし、
命令ペア判定手段12によりペアの命令の一方が不足し
ているものを自動的にチェックし、総合判断手段17に
よりシーケンサの1スキャン内における入力信号の入力
タイミングによって不具合が発生する回路を自動的にチ
ェックし、順序組合せ判断手段20により入力信号の順
序が関係する回路および条件を自動的に抽出して、表示
手段21により一括して表示および記憶するという作用
効果を奏する。
【0044】上記実施例の自動チェック装置は、入力す
る手間が殆ど無く、シーケンス回路を読み込ませるだけ
で、ハード上使用できない入出力番号が回路設計で使用
されている場合これらを発見できるとともに、基本的な
回路作成ミスや、見つけにくいタイミングが関連する不
具合回路を自動的に発見することができるという作用効
果を奏する。
【0045】実施例の自動チェック装置は、不具合箇所
および抽出箇所を全て自動的に直接入力デバイスで表示
するので、判断が容易になり、回路設計の知識が不要で
あり、チェックする人がシーケンス回路の設計者である
必要がなく、入力デバイスそのものでチェックするので
誰もが行うことができるという作用効果を奏する。
【0046】また、出力コイルの設計上のタイミングも
含めて、直接入力信号の条件が分かるため、機械系に接
続する以前に事前にチェックできるので、機械系の破
損、チェック修正の時間を減らすことができるという作
用効果を奏する。
【0047】上述の実施例は、説明のために一例として
示したもので、本発明としてはそれらに限定されるもの
では無く、特許請求の範囲の記載から当業者が把握する
技術的思想に反しない限り変更および付加が可能であ
る。
【0048】上述した実施例は、全ての場合を考慮して
全てのチェックを行ったが、設計したシーケンス回路の
ミス発生の特性が予め把握できればそれに関連する必要
なチェックのみを任意の順序で行うようにすることも可
能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例のシーケンサラダー回路の自動チェック
装置のシステムを示すブロック図である。
【図2】実施例装置のフローチャート図である。
【図3】実施例の割付チェック用のブロック図である。
【図4】実施例の割付チェック用のフローチャート図で
ある。
【図5】実施例の論理チェック用のブロック図である。
【図6】実施例の論理チェック用のフローチャート図で
ある。
【図7】実施例の論理チェックの具体例を示す回路図で
ある。
【図8】実施例のコイル・接点ペアチェック用のブロッ
ク図である。
【図9】実施例のコイル・接点ペアチェック用のフロー
チャート図である。
【図10】実施例のコイル・接点ペアチェックの具体例
を示す回路図である。
【図11】実施例のコイル・接点ペアチェック用のテー
ブルを示す線図である。
【図12】実施例の命令ペアチェック用のブロック図で
ある。
【図13】実施例の命令ペアチェック用のフローチャー
ト図である。
【図14】実施例の命令ペアチェックの具体例を示す回
路図である。
【図15】実施例の命令ペアチェック用のテーブルを示
す線図である。
【図16】実施例の1スキャン内におけるタイミングチ
ェック用のブロック図である。
【図17】実施例の1スキャン内におけるタイミングチ
ェック用のフローチャート図である。
【図18】実施例の1スキャン内におけるタイミングチ
ェック用の接点とその状態のテーブルを示す線図であ
る。
【図19】実施例の1スキャン内におけるタイミングチ
ェックの具体例を示す回路図である。
【図20】実施例の1スキャン内におけるタイミングチ
ェックによる対策例を示す回路図である。
【図21】実施例の1スキャン内におけるタイミングチ
ェック用のテーブルを示す線図である。
【図22】実施例の1スキャン内におけるタイミングチ
ェックの他の具体例を示す回路図である。
【図23】実施例の入力信号の順序が関係する回路およ
び命令の抽出用のブロック図である。
【図24】実施例の入力信号の順序が関係する回路およ
び命令の抽出用のフローチャート図である。
【図25】実施例の入力信号の順序が関係する回路およ
び命令の抽出の具体例を示す回路図である。
【図26】図25の具体例の動作を説明するためのタイ
ムチャート図である。
【図27】図25の具体例の入力条件が異なる場合の動
作を説明するためのタイムチャート図である。
【図28】間接的に保持する具体例を示す回路図であ
る。
【図29】入力の順序が関係する一具体例を示す回路図
である。
【図30】条件が関係する一具体例を示す回路図であ
る。
【符号の説明】
1 シーケンス回路読込手段 2 使用デバイス・ステップ・命令判断手段 3 使用デバイス・ステップ・命令記憶手段 4 デバイス割付読込手段 5 デバイス割付範囲内チェック手段 6 1回路判別手段 7 命令・デバイス・接点チェック用記憶手段 8 接点論理判断手段 9 使用デバイス検索、コイル・接点判断手段 10 コイル・接点ペア判定手段 11 命令検索手段 12 命令ペア判定手段 13 回路検索手段 14 出力回路一時記憶手段 15 出力デバイス一時記憶手段 16 タイミング組合せ接点判断手段 17 総合判断手段 18 最終出力影響検索手段 19 保持回路検索手段 20 順序組合せ判断手段 21 表示手段

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 設計されたシーケンサラダー回路を読み
    込む読込手段と、 読み込まれたシーケンサラダー回路内で使用されている
    デバイスが入出力の割付の範囲内に有るかどうかをチェ
    ックするデバイスチェック手段と、 シーケンサラダー回路内で使用されている接点および番
    号が論理的に整合性がとれているかどうかをチェックす
    る論理チェック手段とから成ることを特徴とするシーケ
    ンサラダー回路の自動チェック装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 前記シーケンサラダー回路内でペアで使用される接点と
    コイルの一方が不足しているかどうか、あるいは同一デ
    バイス番号におけるペアの命令の一方が不足しているか
    どうかをチェックするペアチェック手段を付加したこと
    を特徴とするシーケンサラダー回路の自動チェック装
    置。
  3. 【請求項3】 請求項1において、 シーケンサの1スキャン内における入力信号の入るタイ
    ミングによって不具合が発生する回路をチェックする第
    1のタイミングチェック手段を付加したことを特徴とす
    るシーケンサラダー回路の自動チェック装置。
  4. 【請求項4】 請求項1において、 入力信号の順序が関係する回路および条件を抽出する第
    2のタイミングチェック手段と、および各チェック手段
    がチェックした不具合箇所を表示する表示手段とを付加
    したことを特徴とするシーケンサラダー回路の自動チェ
    ック装置。
JP4079314A 1992-02-28 1992-02-28 シーケンサラダー回路の自動チェック装置 Expired - Fee Related JP2682328B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4079314A JP2682328B2 (ja) 1992-02-28 1992-02-28 シーケンサラダー回路の自動チェック装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4079314A JP2682328B2 (ja) 1992-02-28 1992-02-28 シーケンサラダー回路の自動チェック装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05241618A true JPH05241618A (ja) 1993-09-21
JP2682328B2 JP2682328B2 (ja) 1997-11-26

Family

ID=13686406

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4079314A Expired - Fee Related JP2682328B2 (ja) 1992-02-28 1992-02-28 シーケンサラダー回路の自動チェック装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2682328B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016224557A (ja) * 2015-05-27 2016-12-28 株式会社キーエンス プログラム作成支援装置、プログラムおよび判別方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016224557A (ja) * 2015-05-27 2016-12-28 株式会社キーエンス プログラム作成支援装置、プログラムおよび判別方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2682328B2 (ja) 1997-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2682328B2 (ja) シーケンサラダー回路の自動チェック装置
EP3929751A1 (en) Test case generation device, test case generation method, and test case generation program
CN106055472A (zh) 进入调试模式的方法、装置及终端设备
JPH0577143A (ja) 自動化ラインの故障診断装置
JPH0634721A (ja) 電子機器の故障モジュール判別方法
JP2976621B2 (ja) 半導体集積回路
JP3147070B2 (ja) 論理回路のテストパターン生成方法及びテストパターン生成プログラムを記録した機械読取り可能な記録媒体
JPH05244267A (ja) 電子交換機
JPH1183959A (ja) テストパターン発生装置、テストパターン発生方法およびテストパターン発生プログラムを記録した媒体
JP2001010497A (ja) 制御システム構成データの作成支援装置
JPH11110430A (ja) 論理シミュレーションにおける波形情報表示方式
JP2899438B2 (ja) ジャンパ・リフト装置
JPH0812697B2 (ja) パタ−ン欠陥検査装置
JPH06309400A (ja) 回路図検証装置
JPS63106870A (ja) Lsiマスクパタ−ン設計装置
JPH0353303A (ja) プログラマブルコントローラのプログラム入力装置
JPH0676016A (ja) 論理シミュレーション方法
JPS61161574A (ja) 回路図の点検装置
JPH01205357A (ja) メモリエラー検出回路テスト方式
JPH0581388A (ja) 図形情報表示機能検査方式
JPH02148337A (ja) 未検出故障回路対応lsi
JPH09179899A (ja) レイアウト情報生成装置およびその生成方法
JPH01187648A (ja) データ作成装置
JPH04178772A (ja) 回路設計支援システムおよび回路設計支援方法
JPH06332757A (ja) 学習機能付きエラーチェック方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees