JPH0634721A - 電子機器の故障モジュール判別方法 - Google Patents
電子機器の故障モジュール判別方法Info
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- JPH0634721A JPH0634721A JP4210881A JP21088192A JPH0634721A JP H0634721 A JPH0634721 A JP H0634721A JP 4210881 A JP4210881 A JP 4210881A JP 21088192 A JP21088192 A JP 21088192A JP H0634721 A JPH0634721 A JP H0634721A
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Abstract
箇所判断に際し、故障分離テストの独立性を向上させ
る。 【構成】 第1のステップ(S10)においては、複数
のモジュール群について故障検出テストを行い、故障が
検出された場合には第2のステップ(S20)に移行
し、故障があるモジュール群についての情報を分離モジ
ュール情報として作成・記憶する。第3のステップ(S
30)では、故障分離テスト用モジュール群について故
障分離テストが行われ、テストモジュール情報が作成さ
れる。第4のステップ(S40)では、テスト用モジュ
ール群に故障が有るときは、前記両モジュール情報に共
通のモジュール以外の情報を分離モジュール情報から削
除する。第3,第4のステップを繰り返し、故障モジュ
ール候補を絞り込み、最終的に分離モジュール情報に情
報として含まれるモジュールを故障モジュールと判断す
る。
Description
ール判別方法に関し、特にICテスタ等の電子デバイス
測定機器の故障箇所判断に際し、故障分離テストの独立
性を向上させた上記判別方法に関する。
近年大型化しており、ホストコンピュータ内や付帯機器
に多数のハードウェアモジュール(本明細書において
は、単にモジュールと称す)を含んで構成される。この
ような、モジュールを多数含む機器では、故障モジュー
ル判別機能が搭載される。ところが、通常、上記のモジ
ュール同士は密接に連関して動作する。このため、ある
モジュールに故障があったとしても、故障モジュールを
特定することができない場合が多く、一般には、密接に
連関して動作する複数のモジュールからなる群の単位で
しか故障を判別することができない。
数のモジュールの組合せにより構成されるモジュール群
についての故障検出テストを順次行い、該モジュール群
ごとに故障の有無をまず判断し、故障と判断したとき
は、該モジュール群について複数の故障分離テストを順
次行い、故障モジュール候補を絞り込むと言った方法が
採用されている。
れを図3により説明する。まず、最初のステップ(S1
10)で、故障検出テストを実行した結果、故障が有る
と判断され、モジュールm(p),m(q),m
(r),m(s),m(t)からなるモジュール群M
(k)が特定されたものとする。この段階では、m
(p)〜m(t)のうち、何れかが故障していることは
判るが、どのモジュールが故障しているかの特定をする
ことはできない。
離テストFIT(1)が実行される。このテストでは、
m(p)〜m(t)のモジュールのうち少なくとも1モ
ジュールを含むモジュール群(ここでは、便宜上M
(A)とする)についてのテストを実行する。上記モジ
ュール群M(A)は、モジュールを任意に抽出して構成
はされず、一定の連関する複数モジュールにより構成さ
れる。そして、このテスト結果がpassである場合
(該モジュール群M(A)には故障が無いと判断した場
合)には、上記M(A)を構成するモジュールには故障
が有るものが存在しないと判断し、ステップS130の
故障分離テストFIT(2−1)に移行する。一方、テ
スト結果がfailである場合(該モジュール群M
(A)に故障が有ると判断した場合)には、上記M
(A)を構成するモジュールには故障が有るものが存在
すると判断し、ステップS140の故障分離テストFI
T(2−2)に移行する。
(b),m(c),m(p)から構成され、このモジュ
ール群についての故障分離テストFIT(1)を行った
結果がpassであったとする。この場合には、m
(p)は故障モジュールではなく、m(q),m
(r),m(s),m(t)の何れかに故障が有ると判
断され、故障分離テストはFIT(1)からFIT(2
−1)に移る。故障分離テストFIT(2−1)では、
故障分離テスト1と同様に、m(q),m(r),m
(s),m(t)のうち少なくとも1モジュールを含む
分離テスト用モジュール群(ここでは、便宜上M(B)
とする)が選択され、該モジュール群M(B)について
の故障分離テストが実行される。ここでは、M(B)は
モジュールm(h),m(i),m(j),m(q),
m(r)により構成され、このモジュール群M(B)に
ついて故障分離テストFIT(2−1)が行われるもの
とする。
(s),m(t)の何れかに故障が有ると判断され、ス
テップS150の故障分離テストFIT(3−1)に移
行し、failであればm(q),m(r)の何れか一
方に故障が有ると判断され,ステップS160の故障分
離テストFIT(3−2)に移行する。ここでは、テス
ト結果がfail、すなわちm(q),m(r)の何れ
か一方に故障が有ると判断されたものとし、故障分離テ
ストFIT(3−2)に移行するものとする。
(q),m(r)の何れか一方を含む分離テスト用モジ
ュール群が選択され、上述の分離テストと同様のテスト
が実行される。m(x),m(y),m(z),m
(q)が分離テスト用モジュール群(ここでは、便宜上
M(C)とする)であるとし、このモジュール群M
(C)についての故障分離テストFIT(3−2)を行
うものもとする。このテスト結果が、passであれば
故障モジュールはm(r)であることが判るし、fai
lであれば故障モジュールはm(q)であると判断され
る。
な不都合がある。単一のモジュールを特定してテストす
ることは、上述したように通常は困難であり、分離テス
ト用モジュール群を予め選択しておかなければならな
い。図3に示したように、従来、故障分離テストはツリ
ー構造の流れで処理を行っており、故障分離テストで処
理の流れを分岐させている。この場合には、故障分離テ
ストとして、どの分離テスト用モジュール群を採択する
かは、テストプログラム中でそれぞれ予め一義的に定め
ておかなければならない。
た。 (1)モジュール追加、変更、削除に対する、保守ソフ
トウェア(フォルト・アイソレーション・ソフトウェ
ア)変更の工数が大きくなる。これは、特に、上記ツリ
ー構造の上位の分岐の際に実行される故障分離テストに
関係するモジュールの追加等の場合に顕著となる。 (2)図3に示したようなツリー構造で処理を進める故
障分離テストでは、最初に選ばれたモジュール全てにつ
いて、漏れがないように故障分離テスト用モジュール群
を選択しておかなければならないため、各故障分離テス
トの設計が困難となる。 (3)電子機器のハードウェアオプションに柔軟に対応
できない。すなわち、たとえば、ICテスタのハードウ
ェアオプションモジュールの存在を前提として作成した
故障分離テストを、該ハードウェアオプションモジュー
ルが搭載されていないICテスタの故障分離テストとし
て使用することはできない。
ために提案されたものであって、柔軟に故障分離テスト
内容の変更ができるICテスタ等の電子機器の故障モジ
ュール判別方法を提供することを目的とする。
の処理の流れを具体的に示す図である。第1のステップ
(S10)においては、複数のモジュールの組合せによ
り構成されるモジュール群についての故障検出テストが
順次行われる(S11)。上記モジュール群は、密接に
連関するモジュール群同士の組合せにより構成され、故
障分離テストのためのプログラムは、通常、モジュール
群ごとに用意されている。ここで、故障が検出されなか
った場合には、プログラムが終了するが、故障が検出さ
れた場合には第2のステップ(S20)に移行する(S
12)。
ュール群を故障モジュール内在モジュール群として特定
し、故障モジュール内在モジュール群を構成する各モジ
ュールについての情報等を分離モジュール情報として作
成・記憶する(S22)。また、本例では、第2のステ
ップ(S20)において、後述する第3,第4のステッ
プの繰り返し回数iが初期化(ここでは、i=0)され
る(S21)。なお、後述する第3および第4の繰り返
しを抜けるための機能が別途備わっていれば、ステップ
S21における繰り返し回数iの設定は必要ではない。
内在モジュール群を構成するモジュールを特定する情報
やモジュールの属性を表す情報が含まれている。なお、
繰り返し回数iの最大値imaxの値(通常、この値は
たとえば所定のレジスタに格納されている)は、故障分
離テストに応じて予め設定されることもあるし、たとえ
ば、早期に故障モジュール候補が絞りこまれたために、
分離モジュール情報内に情報として存在するモジュール
に応じた新たな故障分離テストが存在しない場合等、故
障分離テストの結果如何によっては抹消されることもあ
る。
めグループ化された故障分離テスト用モジュール群のう
ちから、前記分離モジュール情報内に情報として存在す
る複数モジュールの一部を含むモジュール群を選択す
る。この選択の際には、分離モジュール情報内の情報を
参照して何れかの故障分離テスト用モジュール群を選択
することができる。そして、上記故障分離テスト用モジ
ュール群について、故障分離テストが行われ、該モジュ
ール群に含まれるモジュールの故障が判断される(S3
1)とともに、テストモジュール情報(S32)が作成
される。このテストモジュール情報は、故障分離テスト
用モジュール群を構成するモジュールについての情報を
含んでいる。なお、分離モジュール情報内に属性情報と
して含まれている故障確率の情報を参照して、複数の故
障分離テスト用モジュール群のうち、故障確率の高いも
のから故障分離テストを行えば故障の判定を早期に行う
ことができる。
テップにおいて選択した故障分離テスト用モジュール群
に故障が有ると判断されたときは、第2のステップにお
いて記憶された分離モジュール情報と、第3のステップ
において生成したテストモジュール情報とを比較する。
そして、両モジュール情報内に情報として共通に存在す
るモジュール以外のモジュールについての情報を分離モ
ジュール情報から削除する更新を行う。この第4のステ
ップにおいて、上記のようにして共通するモジュール以
外のモジュールについての情報を分離モジュール情報か
ら削除する場合、共通するモジュールについての属性情
報を更新することができる。また、第3のステップにお
いて選択した故障分離テスト用モジュール群に故障が無
いと判断されたときは、両モジュール情報内に共通する
モジュール情報に基づいて、これらのモジュールについ
ての属性情報を更新することができる。
返し回数iはインクリメントされる(S50)。そし
て、iに対応する故障分離テストが存在しており、かつ
分離モジュール情報に情報として含まれるモジュールが
1つとなっていないときには、第3のステップへ戻る
(S60)。この新たな第3のステップでは、分離モジ
ュール情報の内容は書換えられており、新たな故障分離
テスト用モジュール群について上記と同様の操作(S3
0,,40,50,60)が繰り返して行われる。この
ようにして、故障モジュール候補が絞り込まれ、iに対
応する故障分離テストが存在せず、または分離モジュー
ル情報に情報として含まれるモジュールが1つとなった
ときには、ステップS70に移り、分離モジュール情報
に情報として含まれるモジュールが故障モジュールと判
断される。
チャートおよび図2(A)〜(D)により説明する。図
1の第1のステップ(S10)において、あるモジュー
ル群について故障検出テストが行われ、第2のステップ
(S20)で該モジュールが故障モジュール内在モジュ
ール群FM(k)として特定されたものとし、FM
(k)は、m(p),m(q),m(r),m(s),
m(t)により構成されているものとする。
回数iは初期化(i=0)され(S21)、図2(A)
に示すように、分離モジュール情報FMI(0)が作成
される(S22)。同図(A)は、FMI(0)の内容
を示すもので、〔m(p)〕,〔m(q)〕,・・・,
〔m(t)〕は各モジュールについての情報、すなわち
これらのモジュールを特定する情報およびこれらのモジ
ュールの属性情報を意味している。
化された故障分離テスト用モジュール群のうちからm
(p)〜m(t)の少なくとも1部を含むモジュール
(ここでは、TM(0)とする)が分離モジュール情報
FMI(0)に基づき選択される。そして、この故障分
離テスト用モジュール群について、故障分離テストFI
T(0)が実行される。複数の故障分離テスト用モジュ
ール群から所望のモジュール群を選択するために、通常
はメモリ等にモジュール群選択用テーブルが置かれてい
る。故障分離テスト用モジュール群の選択の際には、分
離モジュール情報等に基づき、このテーブルが参照され
る。なお、このテーブルは、第1のステップにおける故
障検出テストごとにそれぞれ用意してもよいし、全故障
検出テストについて1つだけ用意してもよい。
TM(0)がm(a),m(b),m(c),m
(p),m(q)であるものとし、このモジュール群T
M(0)についての故障分離テストFIT(0)の結果
がpass、すなわちTM(0)に故障が存在しないも
のと判断されたものとする。上記故障分離テストFIT
(0)の前または後(図1では後となっている)に、図
2(B)に示すようなTM(0)についてのテストモジ
ュール情報(ここでは、便宜上TMI(0)とする)が
作成される(S32)。これは、TMI(0)の内容を
示すもので、〔m(a)〕,〔m(b)〕,〔m
(c)〕,〔m(p)〕,〔m(q)〕は各モジュール
についての情報を意味している。
(0)の内容と、TMI(0)との内容が比較される。
この場合には、故障は無いので、FMI(0)からモジ
ュールについての情報が削除されることはないが、FM
I(0)内の各モジュールについての属性情報が更新さ
れる。この場合の属性情報は、たとえば、m(p),m
(q)については故障の可能性が極めて低い旨の情報で
ある。これとともに、iは0から1にインクリメントさ
れ(S50)、iに対応する故障分離テストが存在する
か、およびFMI(0)が2以上のモジュールを情報と
して含んでいるかが判断される(S60)。この条件を
満足しない場合(たとえば、上記第3および第4のステ
ップで、故障モジュールが単一に絞り込まれた結果im
axの値が抹消されたような場合)には、第3のステッ
プに戻ることなく後述するステップ70に移行するが、
本実施例では、上記条件を共に満足しているので、第3
のステップに実行が戻る。
障分離テスト用モジュール群TM(1)についての故障
分離テストFIT(1)が行われる。ここでは、TM
(1)がm(j),m(k),m(l),m(p),m
(r)であり、このモジュール群についての故障分離テ
ストFIT(1)の結果がfail、すなわち故障が存
在するものと判断されたものとすると、図2(C)に示
すようなテストモジュール情報(更新された情報であ
り、便宜上TMI(1)とする)が作成される。
の内容と、TMI(1)との内容が比較される。この場
合には、両モジュール情報内に共通するモジュールにつ
いての情報が存在する。したがって、図2(D)に示す
ように、FMI(1)内から〔m(p)〕,〔m
(r)〕以外のモジュール情報(〔m(q)〕,〔m
(s)〕,〔m(t)〕)が削除される。そして、FM
I(1)内の〔m(p)〕,〔m(r)〕についての属
性情報が更新される。この場合の属性情報は、たとえ
ば、m(r)については故障の可能性が極めて高い旨の
情報である。さらに、ここでは、上記FMI(1)の更
新の際に、〔m(p)〕,〔m(r)〕を含む新たな故
障分離テスト用モジュール群が存在しないため、ima
xが抹消されているものとする。
メントされ(S50)、第3のステップに戻るか否かが
判断される(S60)が、この場合には故障分離テスト
iは存在しないので、処理は第3のステップに戻ること
なくステップS70に移行する。このステップS70で
は、FMI(1)内に残っているモジュール情報〔m
(p)〕,〔m(r)〕(m(r)の故障確率は極めて
高く、m(p)については、故障確率が極めて低いとい
う情報を含んでいる)から、モジュールm(r)を故障
モジュールとして特定する。
処理方式を採用していないので、各故障分離テストにお
ける独立性が、極めて高くなった。これにより、特に電
子デバイス測定機器(ICテスタ等)の保守ソフトウェ
アの設計・変更が容易となり、たとえば、モジュール追
加、変更、削除に伴う故障分離テストについてのプログ
ラムの作成や変更が、他の故障分離テストについてのプ
ログラムにより制限されるといった不都合は生じない
し、故障分離テスト以外の目的で作成されたテストプロ
グラムを故障分離テスト用のプログラムとして流用する
ことが容易となった。
を例示するフローチャートである。
ール情報の内容を示す図であり、(A)は最初の分離モ
ジュール情報の内容を、(B),(C)はテストモジュ
ール情報の内容を、(D)は更新後の分離モジュール情
報の内容をそれぞれ示す図である。
例示するフローチャートである。
Claims (3)
- 【請求項1】 複数のモジュールを含んで構成される電
子機器の故障モジュール判別方法であって、 複数のモジュールの組合せにより構成されるモジュール
群についての故障検出テストを順次行い、該モジュール
群の故障の有無を判断する第1のステップと、 第1のステップにおいて、あるモジュール群に故障が有
ると判断したときは、該モジュール群を故障モジュール
内在モジュール群として特定し、該故障モジュール内在
モジュール群を構成する各モジュールについての情報を
分離モジュール情報として生成・記憶する第2のステッ
プと、 複数の予めグループ化された故障分離テスト用モジュー
ル群のうちから、前記分離モジュール情報内に情報とし
て存在する複数モジュールの一部を含むモジュール群を
選択し、該モジュール群についての故障分離テストを行
い、該モジュール群の故障の有無を判断するとともに、
上記選択した故障分離テスト用モジュール群を構成する
各モジュールについての情報をテストモジュール情報と
して生成する第3のステップと、 第3のステップにおいて選択した故障分離テスト用モジ
ュール群に故障が有ると判断したときは、第2のステッ
プにおいて生成・記憶した分離モジュール情報と、第3
のステップにおいて生成したテストモジュール情報とを
比較し、両モジュール情報内に情報として共通に存在す
るモジュール以外のモジュールについての情報を分離モ
ジュール情報から削除する更新を行う第4のステップ
と、を有してなり、 前記第3および第4のステップを新たな故障分離テスト
用モジュール群について所定回数繰り返し、故障モジュ
ール候補を絞り込むことを特徴とする電子機器の故障モ
ジュール判別方法。 - 【請求項2】 前記分離モジュール情報の各モジュール
についての情報が、属性情報を含んでなり、 前記第3のステップにおいて、予めグループ化された複
数の故障分離テスト用モジュール群のうちから、前記分
離モジュール情報内に情報として存在する複数モジュー
ルの一部を含むモジュール群を選択するに際し、この選
択を分離モジュール情報の属性情報を参照して行うこと
を特徴とする請求項1記載の電子機器の故障モジュール
判別方法。 - 【請求項3】 前記分離モジュール情報の各モジュール
についての情報が、属性情報を含んでなり、 前記第3のステップにおいて選択した故障分離テスト用
モジュール群に故障が有ると判断した場合および故障が
無いと判断した場合の双方について、前記第4のステッ
プにおいて、分離モジュール情報内に情報として共通に
存在するモジュールについての属性情報を更新すること
を特徴とする請求項1または請求項2記載の電子機器の
故障モジュール判別方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21088192A JP3157047B2 (ja) | 1992-07-15 | 1992-07-15 | 電子機器の故障モジュール判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21088192A JP3157047B2 (ja) | 1992-07-15 | 1992-07-15 | 電子機器の故障モジュール判別方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0634721A true JPH0634721A (ja) | 1994-02-10 |
JP3157047B2 JP3157047B2 (ja) | 2001-04-16 |
Family
ID=16596642
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21088192A Expired - Fee Related JP3157047B2 (ja) | 1992-07-15 | 1992-07-15 | 電子機器の故障モジュール判別方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3157047B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104198833A (zh) * | 2014-07-18 | 2014-12-10 | 技嘉科技股份有限公司 | 特殊图样自动化辨识之检测系统及其方法 |
CN113568398A (zh) * | 2021-09-26 | 2021-10-29 | 西安热工研究院有限公司 | 一种分散控制系统组态删除方法和系统 |
Families Citing this family (1)
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---|---|---|---|---|
JP4742253B1 (ja) * | 2010-08-19 | 2011-08-10 | 奥野機材株式会社 | 輪止め及び輪止めシステム |
-
1992
- 1992-07-15 JP JP21088192A patent/JP3157047B2/ja not_active Expired - Fee Related
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CN113568398A (zh) * | 2021-09-26 | 2021-10-29 | 西安热工研究院有限公司 | 一种分散控制系统组态删除方法和系统 |
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---|---|
JP3157047B2 (ja) | 2001-04-16 |
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