JP3157047B2 - 電子機器の故障モジュール判別方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子機器の故障モジュ
ール判別方法に関し、特にＩＣテスタ等の電子デバイス
測定機器の故障箇所判断に際し、故障分離テストの独立
性を向上させた上記判別方法に関する。

【０００２】

【技術背景】ＩＣテスタ等の電子デバイス測定機器は、
近年大型化しており、ホストコンピュータ内や付帯機器
に多数のハードウェアモジュール（本明細書において
は、単にモジュールと称す）を含んで構成される。この
ような、モジュールを多数含む機器では、故障モジュー
ル判別機能が搭載される。ところが、通常、上記のモジ
ュール同士は密接に連関して動作する。このため、ある
モジュールに故障があったとしても、故障モジュールを
特定することができない場合が多く、一般には、密接に
連関して動作する複数のモジュールからなる群の単位で
しか故障を判別することができない。

【０００３】このため、従来、以下に述べるように、複
数のモジュールの組合せにより構成されるモジュール群
についての故障検出テストを順次行い、該モジュール群
ごとに故障の有無をまず判断し、故障と判断したとき
は、該モジュール群について複数の故障分離テストを順
次行い、故障モジュール候補を絞り込むと言った方法が
採用されている。

【０００４】従来の故障モジュール判別方法の処理の流
れを図３により説明する。まず、最初のステップ（Ｓ１
１０）で、故障検出テストを実行した結果、故障が有る
と判断され、モジュールｍ（ｐ），ｍ（ｑ），ｍ
（ｒ），ｍ（ｓ），ｍ（ｔ）からなるモジュール群Ｍ
（ｋ）が特定されたものとする。この段階では、ｍ
（ｐ）〜ｍ（ｔ）のうち、何れかが故障していることは
判るが、どのモジュールが故障しているかの特定をする
ことはできない。

【０００５】つぎのステップ（Ｓ１２０）では、故障分
離テストＦＩＴ（１）が実行される。このテストでは、
ｍ（ｐ）〜ｍ（ｔ）のモジュールのうち少なくとも１モ
ジュールを含むモジュール群（ここでは、便宜上Ｍ
（Ａ）とする）についてのテストを実行する。上記モジ
ュール群Ｍ（Ａ）は、モジュールを任意に抽出して構成
はされず、一定の連関する複数モジュールにより構成さ
れる。そして、このテスト結果がｐａｓｓである場合
（該モジュール群Ｍ（Ａ）には故障が無いと判断した場
合）には、上記Ｍ（Ａ）を構成するモジュールには故障
が有るものが存在しないと判断し、ステップＳ１３０の
故障分離テストＦＩＴ（２−１）に移行する。一方、テ
スト結果がｆａｉｌである場合（該モジュール群Ｍ
（Ａ）に故障が有ると判断した場合）には、上記Ｍ
（Ａ）を構成するモジュールには故障が有るものが存在
すると判断し、ステップＳ１４０の故障分離テストＦＩ
Ｔ（２−２）に移行する。

【０００６】いま、Ｍ（Ａ）がモジュールｍ（ａ），ｍ
（ｂ），ｍ（ｃ），ｍ（ｐ）から構成され、このモジュ
ール群についての故障分離テストＦＩＴ（１）を行った
結果がｐａｓｓであったとする。この場合には、ｍ
（ｐ）は故障モジュールではなく、ｍ（ｑ），ｍ
（ｒ），ｍ（ｓ），ｍ（ｔ）の何れかに故障が有ると判
断され、故障分離テストはＦＩＴ（１）からＦＩＴ（２
−１）に移る。故障分離テストＦＩＴ（２−１）では、
故障分離テスト１と同様に、ｍ（ｑ），ｍ（ｒ），ｍ
（ｓ），ｍ（ｔ）のうち少なくとも１モジュールを含む
分離テスト用モジュール群（ここでは、便宜上Ｍ（Ｂ）
とする）が選択され、該モジュール群Ｍ（Ｂ）について
の故障分離テストが実行される。ここでは、Ｍ（Ｂ）は
モジュールｍ（ｈ），ｍ（ｉ），ｍ（ｊ），ｍ（ｑ），
ｍ（ｒ）により構成され、このモジュール群Ｍ（Ｂ）に
ついて故障分離テストＦＩＴ（２−１）が行われるもの
とする。

【０００７】このテスト結果が、ｐａｓｓであればｍ
（ｓ），ｍ（ｔ）の何れかに故障が有ると判断され、ス
テップＳ１５０の故障分離テストＦＩＴ（３−１）に移
行し、ｆａｉｌであればｍ（ｑ），ｍ（ｒ）の何れか一
方に故障が有ると判断され，ステップＳ１６０の故障分
離テストＦＩＴ（３−２）に移行する。ここでは、テス
ト結果がｆａｉｌ、すなわちｍ（ｑ），ｍ（ｒ）の何れ
か一方に故障が有ると判断されたものとし、故障分離テ
ストＦＩＴ（３−２）に移行するものとする。

【０００８】故障分離テストＦＩＴ（３−２）では、ｍ
（ｑ），ｍ（ｒ）の何れか一方を含む分離テスト用モジ
ュール群が選択され、上述の分離テストと同様のテスト
が実行される。ｍ（ｘ），ｍ（ｙ），ｍ（ｚ），ｍ
（ｑ）が分離テスト用モジュール群（ここでは、便宜上
Ｍ（Ｃ）とする）であるとし、このモジュール群Ｍ
（Ｃ）についての故障分離テストＦＩＴ（３−２）を行
うものもとする。このテスト結果が、ｐａｓｓであれば
故障モジュールはｍ（ｒ）であることが判るし、ｆａｉ
ｌであれば故障モジュールはｍ（ｑ）であると判断され
る。

【０００９】しかし、上記テスト方法では、以下のよう
な不都合がある。単一のモジュールを特定してテストす
ることは、上述したように通常は困難であり、分離テス
ト用モジュール群を予め選択しておかなければならな
い。図３に示したように、従来、故障分離テストはツリ
ー構造の流れで処理を行っており、故障分離テストで処
理の流れを分岐させている。この場合には、故障分離テ
ストとして、どの分離テスト用モジュール群を採択する
かは、テストプログラム中でそれぞれ予め一義的に定め
ておかなければならない。

【００１０】このため、従来、以下のような問題があっ
た。 （１）モジュール追加、変更、削除に対する、保守ソフ
トウェア（フォルト・アイソレーション・ソフトウェ
ア）変更の工数が大きくなる。これは、特に、上記ツリ
ー構造の上位の分岐の際に実行される故障分離テストに
関係するモジュールの追加等の場合に顕著となる。 （２）図３に示したようなツリー構造で処理を進める故
障分離テストでは、最初に選ばれたモジュール全てにつ
いて、漏れがないように故障分離テスト用モジュール群
を選択しておかなければならないため、各故障分離テス
トの設計が困難となる。 （３）電子機器のハードウェアオプションに柔軟に対応
できない。すなわち、たとえば、ＩＣテスタのハードウ
ェアオプションモジュールの存在を前提として作成した
故障分離テストを、該ハードウェアオプションモジュー
ルが搭載されていないＩＣテスタの故障分離テストとし
て使用することはできない。

【００１１】

【発明の目的】本発明は、上記のような問題を解決する
ために提案されたものであって、柔軟に故障分離テスト
内容の変更ができるＩＣテスタ等の電子機器の故障モジ
ュール判別方法を提供することを目的とする。

【００１２】

【発明の概要】図１は本発明の故障モジュール判別方法
の処理の流れを具体的に示す図である。第１のステップ
（Ｓ１０）においては、複数のモジュールの組合せによ
り構成されるモジュール群についての故障検出テストが
順次行われる（Ｓ１１）。上記モジュール群は、密接に
連関するモジュール群同士の組合せにより構成され、故
障分離テストのためのプログラムは、通常、モジュール
群ごとに用意されている。ここで、故障が検出されなか
った場合には、プログラムが終了するが、故障が検出さ
れた場合には第２のステップ（Ｓ２０）に移行する（Ｓ
１２）。

【００１３】第２のステップ（Ｓ２０）では、上記モジ
ュール群を故障モジュール内在モジュール群として特定
し、故障モジュール内在モジュール群を構成する各モジ
ュールについての情報等を分離モジュール情報として作
成・記憶する（Ｓ２２）。また、本例では、第２のステ
ップ（Ｓ２０）において、後述する第３，第４のステッ
プの繰り返し回数ｉが初期化（ここでは、ｉ＝０）され
る（Ｓ２１）。なお、後述する第３および第４の繰り返
しを抜けるための機能が別途備わっていれば、ステップ
Ｓ２１における繰り返し回数ｉの設定は必要ではない。

【００１４】上記モジュール情報には、故障モジュール
内在モジュール群を構成するモジュールを特定する情報
やモジュールの属性を表す情報が含まれている。なお、
繰り返し回数ｉの最大値ｉｍａｘの値（通常、この値は
たとえば所定のレジスタに格納されている）は、故障分
離テストに応じて予め設定されることもあるし、たとえ
ば、早期に故障モジュール候補が絞りこまれたために、
分離モジュール情報内に情報として存在するモジュール
に応じた新たな故障分離テストが存在しない場合等、故
障分離テストの結果如何によっては抹消されることもあ
る。

【００１５】第３のステップ（Ｓ３０）では、複数の予
めグループ化された故障分離テスト用モジュール群のう
ちから、前記分離モジュール情報内に情報として存在す
る複数モジュールの一部を含むモジュール群を選択す
る。この選択の際には、分離モジュール情報内の情報を
参照して何れかの故障分離テスト用モジュール群を選択
することができる。そして、上記故障分離テスト用モジ
ュール群について、故障分離テストが行われ、該モジュ
ール群に含まれるモジュールの故障が判断される（Ｓ３
１）とともに、テストモジュール情報（Ｓ３２）が作成
される。このテストモジュール情報は、故障分離テスト
用モジュール群を構成するモジュールについての情報を
含んでいる。なお、分離モジュール情報内に属性情報と
して含まれている故障確率の情報を参照して、複数の故
障分離テスト用モジュール群のうち、故障確率の高いも
のから故障分離テストを行えば故障の判定を早期に行う
ことができる。

【００１６】第４のステップ（Ｓ４０）では、第３のス
テップにおいて選択した故障分離テスト用モジュール群
に故障が有ると判断されたときは、第２のステップにお
いて記憶された分離モジュール情報と、第３のステップ
において生成したテストモジュール情報とを比較する。
そして、両モジュール情報内に情報として共通に存在す
るモジュール以外のモジュールについての情報を分離モ
ジュール情報から削除する更新を行う。この第４のステ
ップにおいて、上記のようにして共通するモジュール以
外のモジュールについての情報を分離モジュール情報か
ら削除する場合、共通するモジュールについての属性情
報を更新することができる。また、第３のステップにお
いて選択した故障分離テスト用モジュール群に故障が無
いと判断されたときは、両モジュール情報内に共通する
モジュール情報に基づいて、これらのモジュールについ
ての属性情報を更新することができる。

【００１７】そして、第４のステップが終了すると繰り
返し回数ｉはインクリメントされる（Ｓ５０）。そし
て、ｉに対応する故障分離テストが存在しており、かつ
分離モジュール情報に情報として含まれるモジュールが
１つとなっていないときには、第３のステップへ戻る
（Ｓ６０）。この新たな第３のステップでは、分離モジ
ュール情報の内容は書換えられており、新たな故障分離
テスト用モジュール群について上記と同様の操作（Ｓ３
０，４０，５０，６０）が繰り返して行われる。このよ
うにして、故障モジュール候補が絞り込まれ、ｉに対応
する故障分離テストが存在せず、または分離モジュール
情報に情報として含まれるモジュールが１つとなったと
きには、ステップＳ７０に移り、分離モジュール情報に
情報として含まれるモジュールが故障モジュールと判断
される。

【００１８】

【実施例】本発明の一実施例を、前述した図１のフロー
チャートおよび図２（Ａ）〜（Ｄ）により説明する。図
１の第１のステップ（Ｓ１０）において、あるモジュー
ル群について故障検出テストが行われ、第２のステップ
（Ｓ２０）で該モジュールが故障モジュール内在モジュ
ール群ＦＭ（ｋ）として特定されたものとし、ＦＭ
（ｋ）は、ｍ（ｐ），ｍ（ｑ），ｍ（ｒ），ｍ（ｓ），
ｍ（ｔ）により構成されているものとする。

【００１９】次に、第２のステップにおいて、繰り返し
回数ｉは初期化（ｉ＝０）され（Ｓ２１）、図２（Ａ）
に示すように、分離モジュール情報ＦＭＩ（０）が作成
される（Ｓ２２）。同図（Ａ）は、ＦＭＩ（０）の内容
を示すもので、〔ｍ（ｐ）〕，〔ｍ（ｑ）〕，・・・，
〔ｍ（ｔ）〕は各モジュールについての情報、すなわち
これらのモジュールを特定する情報およびこれらのモジ
ュールの属性情報を意味している。

【００２０】第３のステップでは、複数の予めグループ
化された故障分離テスト用モジュール群のうちからｍ
（ｐ）〜ｍ（ｔ）の少なくとも１部を含むモジュール
（ここでは、ＴＭ（０）とする）が分離モジュール情報
ＦＭＩ（０）に基づき選択される。そして、この故障分
離テスト用モジュール群について、故障分離テストＦＩ
Ｔ（０）が実行される。複数の故障分離テスト用モジュ
ール群から所望のモジュール群を選択するために、通常
はメモリ等にモジュール群選択用テーブルが置かれてい
る。故障分離テスト用モジュール群の選択の際には、分
離モジュール情報等に基づき、このテーブルが参照され
る。なお、このテーブルは、第１のステップにおける故
障検出テストごとにそれぞれ用意してもよいし、全故障
検出テストについて１つだけ用意してもよい。

【００２１】ここでは、故障分離テスト用モジュール群
ＴＭ（０）がｍ（ａ），ｍ（ｂ），ｍ（ｃ），ｍ
（ｐ），ｍ（ｑ）であるものとし、このモジュール群Ｔ
Ｍ（０）についての故障分離テストＦＩＴ（０）の結果
がｐａｓｓ、すなわちＴＭ（０）に故障が存在しないも
のと判断されたものとする。上記故障分離テストＦＩＴ
（０）の前または後（図１では後となっている）に、図
２（Ｂ）に示すようなＴＭ（０）についてのテストモジ
ュール情報（ここでは、便宜上ＴＭＩ（０）とする）が
作成される（Ｓ３２）。これは、ＴＭＩ（０）の内容を
示すもので、〔ｍ（ａ）〕，〔ｍ（ｂ）〕，〔ｍ
（ｃ）〕，〔ｍ（ｐ）〕，〔ｍ（ｑ）〕は各モジュール
についての情報を意味している。

【００２２】第４のステップ（Ｓ４０）では、ＦＭＩ
（０）の内容と、ＴＭＩ（０）との内容が比較される。
この場合には、故障は無いので、ＦＭＩ（０）からモジ
ュールについての情報が削除されることはないが、ＦＭ
Ｉ（０）内の各モジュールについての属性情報が更新さ
れる。この場合の属性情報は、たとえば、ｍ（ｐ），ｍ
（ｑ）については故障の可能性が極めて低い旨の情報で
ある。これとともに、ｉは０から１にインクリメントさ
れ（Ｓ５０）、ｉに対応する故障分離テストが存在する
か、およびＦＭＩ（０）が２以上のモジュールを情報と
して含んでいるかが判断される（Ｓ６０）。この条件を
満足しない場合（たとえば、上記第３および第４のステ
ップで、故障モジュールが単一に絞り込まれた結果ｉｍ
ａｘの値が抹消されたような場合）には、第３のステッ
プに戻ることなく後述するステップ７０に移行するが、
本実施例では、上記条件を共に満足しているので、第３
のステップに実行が戻る。

【００２３】この新たな第３のステップでは、新たな故
障分離テスト用モジュール群ＴＭ（１）についての故障
分離テストＦＩＴ（１）が行われる。ここでは、ＴＭ
（１）がｍ（ｊ），ｍ（ｋ），ｍ（ｌ），ｍ（ｐ），ｍ
（ｒ）であり、このモジュール群についての故障分離テ
ストＦＩＴ（１）の結果がｆａｉｌ、すなわち故障が存
在するものと判断されたものとすると、図２（Ｃ）に示
すようなテストモジュール情報（更新された情報であ
り、便宜上ＴＭＩ（１）とする）が作成される。

【００２４】新たな第４のステップでは、ＦＭＩ（１）
の内容と、ＴＭＩ（１）との内容が比較される。この場
合には、両モジュール情報内に共通するモジュールにつ
いての情報が存在する。したがって、図２（Ｄ）に示す
ように、ＦＭＩ（１）内から〔ｍ（ｐ）〕，〔ｍ
（ｒ）〕以外のモジュール情報（〔ｍ（ｑ）〕，〔ｍ
（ｓ）〕，〔ｍ（ｔ）〕）が削除される。そして、ＦＭ
Ｉ（１）内の〔ｍ（ｐ）〕，〔ｍ（ｒ）〕についての属
性情報が更新される。この場合の属性情報は、たとえ
ば、ｍ（ｒ）については故障の可能性が極めて高い旨の
情報である。さらに、ここでは、上記ＦＭＩ（１）の更
新の際に、〔ｍ（ｐ）〕，〔ｍ（ｒ）〕を含む新たな故
障分離テスト用モジュール群が存在しないため、ｉｍａ
ｘが抹消されているものとする。

【００２５】上記処理の後に、ｉは１から２にインクリ
メントされ（Ｓ５０）、第３のステップに戻るか否かが
判断される（Ｓ６０）が、この場合には故障分離テスト
ｉは存在しないので、処理は第３のステップに戻ること
なくステップＳ７０に移行する。このステップＳ７０で
は、ＦＭＩ（１）内に残っているモジュール情報〔ｍ
（ｐ）〕，〔ｍ（ｒ）〕（ｍ（ｒ）の故障確率は極めて
高く、ｍ（ｐ）については、故障確率が極めて低いとい
う情報を含んでいる）から、モジュールｍ（ｒ）を故障
モジュールとして特定する。

【００２６】

【発明の効果】本発明では、従来のようなツリー構造の
処理方式を採用していないので、各故障分離テストにお
ける独立性が、極めて高くなった。これにより、特に電
子デバイス測定機器（ＩＣテスタ等）の保守ソフトウェ
アの設計・変更が容易となり、たとえば、モジュール追
加、変更、削除に伴う故障分離テストについてのプログ
ラムの作成や変更が、他の故障分離テストについてのプ
ログラムにより制限されるといった不都合は生じない
し、故障分離テスト以外の目的で作成されたテストプロ
グラムを故障分離テスト用のプログラムとして流用する
ことが容易となった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の故障モジュール判別方法の処理の流れ
を例示するフローチャートである。

【図２】本発明の一実施例を説明する際に用いたモジュ
ール情報の内容を示す図であり、（Ａ）は最初の分離モ
ジュール情報の内容を、（Ｂ），（Ｃ）はテストモジュ
ール情報の内容を、（Ｄ）は更新後の分離モジュール情
報の内容をそれぞれ示す図である。

【図３】従来の故障モジュール判別方法の処理の流れを
例示するフローチャートである。

【符号の説明】

Ｓ１０ 第１のステップ Ｓ２０ 第２のステップ Ｓ３０ 第３のステップ

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数のモジュールを含んで構成される電
   子機器の故障モジュール判別方法であって、 複数のモジュールの組合せにより構成されるモジュール
   群についての故障検出テストを順次行い、該モジュール
   群の故障の有無を判断する第１のステップと、 第１のステップにおいて、あるモジュール群に故障が有
   ると判断したときは、該モジュール群を故障モジュール
   内在モジュール群として特定し、該故障モジュール内在
   モジュール群を構成する各モジュールについての情報を
   分離モジュール情報として生成・記憶する第２のステッ
   プと、 複数の予めグループ化された故障分離テスト用モジュー
   ル群のうちから、前記分離モジュール情報内に情報とし
   て存在する複数モジュールの一部を含むモジュール群を
   選択し、該モジュール群についての故障分離テストを行
   い、該モジュール群の故障の有無を判断するとともに、
   上記選択した故障分離テスト用モジュール群を構成する
   各モジュールについての情報をテストモジュール情報と
   して生成する第３のステップと、 第３のステップにおいて選択した故障分離テスト用モジ
   ュール群に故障が有ると判断したときは、第２のステッ
   プにおいて生成・記憶した分離モジュール情報と、第３
   のステップにおいて生成したテストモジュール情報とを
   比較し、両モジュール情報内に情報として共通に存在す
   るモジュール以外のモジュールについての情報を分離モ
   ジュール情報から削除する更新を行う第４のステップ
   と、 を有してなり、 前記第３および第４のステップを新たな故障分離テスト
   用モジュール群について所定回数繰り返し、故障モジュ
   ール候補を絞り込むことを特徴とする電子機器の故障モ
   ジュール判別方法。
2. 【請求項２】 前記分離モジュール情報の各モジュール
   についての情報が、属性情報を含んでなり、 前記第３のステップにおいて、予めグループ化された複
   数の故障分離テスト用モジュール群のうちから、前記分
   離モジュール情報内に情報として存在する複数モジュー
   ルの一部を含むモジュール群を選択するに際し、この選
   択を分離モジュール情報の属性情報を参照して行うこと
   を特徴とする請求項１記載の電子機器の故障モジュール
   判別方法。
3. 【請求項３】 前記分離モジュール情報の各モジュール
   についての情報が、属性情報を含んでなり、 前記第３のステップにおいて選択した故障分離テスト用
   モジュール群に故障が有ると判断した場合および故障が
   無いと判断した場合の双方について、前記第４のステッ
   プにおいて、分離モジュール情報内に情報として共通に
   存在するモジュールについての属性情報を更新すること
   を特徴とする請求項１または請求項２記載の電子機器の
   故障モジュール判別方法。
4. 【請求項４】 前記属性情報は、故障確率情報を含んで
   なり、前記第３のステップにおけるモジュール群の選択
   に際して、故障確率の高いモジュール群から選択するこ
   とを特徴とする請求項２に記載の電子機器の故障モジュ
   ール判別方法。