JPH05232197A - 集積回路および集積回路の試験方法 - Google Patents
集積回路および集積回路の試験方法Info
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- JPH05232197A JPH05232197A JP4069038A JP6903892A JPH05232197A JP H05232197 A JPH05232197 A JP H05232197A JP 4069038 A JP4069038 A JP 4069038A JP 6903892 A JP6903892 A JP 6903892A JP H05232197 A JPH05232197 A JP H05232197A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 高電圧スクリーニング試験方法、電源電圧マ
ージン試験方法を提供すること。 【構成】 集積回路本体と電源電圧レギュレータ回路を
内蔵し、通常の状態では前記電源電圧レギュレータは一
定の電圧を前記集積回路本体の電源電圧として供給する
集積回路において、前記電源電圧レギュレータ回路の出
力電圧を集積回路の外部から可変できることを特徴とす
る集積回路としての構成を有するものである。或いはま
た、前記集積回路のレギュレータ出力電圧を集積回路本
体の定格電源電圧より高電圧に設定して高電圧で故障し
やすい欠陥を内在している集積回路をスクリーニングす
ることを特徴とする集積回路の試験方法としての構成を
有するものである。或いはまた、前記電源電圧レギュレ
ータ回路の出力電圧を変化させることにより集積回路本
体の電源電圧マージンを評価することを特徴とする集積
回路の試験方法としての構成を有するものである。
ージン試験方法を提供すること。 【構成】 集積回路本体と電源電圧レギュレータ回路を
内蔵し、通常の状態では前記電源電圧レギュレータは一
定の電圧を前記集積回路本体の電源電圧として供給する
集積回路において、前記電源電圧レギュレータ回路の出
力電圧を集積回路の外部から可変できることを特徴とす
る集積回路としての構成を有するものである。或いはま
た、前記集積回路のレギュレータ出力電圧を集積回路本
体の定格電源電圧より高電圧に設定して高電圧で故障し
やすい欠陥を内在している集積回路をスクリーニングす
ることを特徴とする集積回路の試験方法としての構成を
有するものである。或いはまた、前記電源電圧レギュレ
ータ回路の出力電圧を変化させることにより集積回路本
体の電源電圧マージンを評価することを特徴とする集積
回路の試験方法としての構成を有するものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電源電圧レギュレータ回
路内蔵の集積回路およびその集積回路の高電圧スクリー
ニング試験方法、電源電圧マージン試験方法に関するも
のである。
路内蔵の集積回路およびその集積回路の高電圧スクリー
ニング試験方法、電源電圧マージン試験方法に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】集積回路本体と集積回路本体に電源電圧
を供給するための電源電圧レギュレータ回路とを内蔵す
る集積回路を図５に示す。図５の電源電圧レギュレータ
の従来の回路例を図６に示す。ＶEXT は集積回路に外部
から印加する電源電圧で、ＶINT は内蔵している電源電
圧レギュレータの出力電圧で集積回路本体の電源電圧と
して印加される。ＶREFOは基準電圧である。この回路で
はＶINT は次式のように一定電圧となる。
を供給するための電源電圧レギュレータ回路とを内蔵す
る集積回路を図５に示す。図５の電源電圧レギュレータ
の従来の回路例を図６に示す。ＶEXT は集積回路に外部
から印加する電源電圧で、ＶINT は内蔵している電源電
圧レギュレータの出力電圧で集積回路本体の電源電圧と
して印加される。ＶREFOは基準電圧である。この回路で
はＶINT は次式のように一定電圧となる。
【０００３】
【数１】
【０００４】このように集積回路本体に常に一定電圧を
供給するため、集積回路の外部からその電圧を可変でき
なかった。
供給するため、集積回路の外部からその電圧を可変でき
なかった。
【０００５】このため、集積回路本体部分について高電
圧で故障しやすい欠陥品を除去するための高電圧スクリ
ーニングを実施することができなかった。
圧で故障しやすい欠陥品を除去するための高電圧スクリ
ーニングを実施することができなかった。
【０００６】同じく、集積回路本体部分の電源電圧マー
ジンを評価することもできなかった。
ジンを評価することもできなかった。
【０００７】通常、集積回路本体へ電源電圧を供給する
ための電源電圧レギュレータを内蔵する集積回路では、
集積回路の外部から印加する電源電圧の変動による悪影
響を受けないように、内蔵している電源電圧レギュレー
タ回路から常に一定の電圧を集積回路本体に供給してい
る。集積回路の使用状態では以上のように一定電源電圧
を集積回路本体に供給することが望ましい。
ための電源電圧レギュレータを内蔵する集積回路では、
集積回路の外部から印加する電源電圧の変動による悪影
響を受けないように、内蔵している電源電圧レギュレー
タ回路から常に一定の電圧を集積回路本体に供給してい
る。集積回路の使用状態では以上のように一定電源電圧
を集積回路本体に供給することが望ましい。
【０００８】ところが、定格電源電圧以上の電圧で実施
する高電圧スクリーニングを実施する際および電源電圧
マージンを評価する際に集積回路本体へ印加する電源電
圧を変化させる必要がある。このため、集積回路の使用
状態では集積回路本体に一定電源電圧を供給し、かつ内
蔵している電源電圧レギュレータの出力電圧を集積回路
の外部から可変できることが必要となる。
する高電圧スクリーニングを実施する際および電源電圧
マージンを評価する際に集積回路本体へ印加する電源電
圧を変化させる必要がある。このため、集積回路の使用
状態では集積回路本体に一定電源電圧を供給し、かつ内
蔵している電源電圧レギュレータの出力電圧を集積回路
の外部から可変できることが必要となる。
【０００９】次に、高電圧スクリーニングと電源電圧マ
ージン評価について説明する。
ージン評価について説明する。
【００１０】集積回路のスクリーニングは、集積回路の
内部に何らかの欠陥を内在している信頼性の低い製品を
短時間に故障させて除去することが目的である。このた
め、１００℃〜１５０℃の高温中で定格電源電圧を印加
するスクリーニングが実施されることが多い。更に、電
圧の影響で故障しやすい欠陥を除くため、電源電圧を定
格電圧より高い電圧を印加する高電圧スクリーニングが
実施される場合がある。一定出力電圧の電源電圧レギュ
レータ回路を内蔵する集積回路では、外部から印加する
電源電圧を上昇させても集積回路本体に印加される電源
電圧は常に一定電圧である。このため、高電圧スクリー
ニングを実施することができない。電源電圧レギュレー
タの出力電圧を集積回路の外部から可変できるようにす
ると電源電圧レギュレータを内蔵する集積回路でも高電
圧スクリーニングが可能となる。
内部に何らかの欠陥を内在している信頼性の低い製品を
短時間に故障させて除去することが目的である。このた
め、１００℃〜１５０℃の高温中で定格電源電圧を印加
するスクリーニングが実施されることが多い。更に、電
圧の影響で故障しやすい欠陥を除くため、電源電圧を定
格電圧より高い電圧を印加する高電圧スクリーニングが
実施される場合がある。一定出力電圧の電源電圧レギュ
レータ回路を内蔵する集積回路では、外部から印加する
電源電圧を上昇させても集積回路本体に印加される電源
電圧は常に一定電圧である。このため、高電圧スクリー
ニングを実施することができない。電源電圧レギュレー
タの出力電圧を集積回路の外部から可変できるようにす
ると電源電圧レギュレータを内蔵する集積回路でも高電
圧スクリーニングが可能となる。
【００１１】通常の集積回路では電源電圧変動に対して
どれだけ安定に集積回路が動作するかを評価するため、
集積回路が安定動作を維持できる電源電圧の許容範囲、
即ち電源電圧マージンを評価することが重視される。一
定出力電圧の電源電圧レギュレータ回路を内蔵する集積
回路では、外部から印加する電源電圧を変化させても集
積回路本体に印加される電源電圧は常に一定電圧であ
る。このため、電源電圧マージンを評価することができ
ないが、電源電圧レギュレータの出力電圧を集積回路の
外部から可変できるようにすると電源電圧レギュレータ
を内蔵する集積回路でも電源電圧マージンの評価が可能
となる。
どれだけ安定に集積回路が動作するかを評価するため、
集積回路が安定動作を維持できる電源電圧の許容範囲、
即ち電源電圧マージンを評価することが重視される。一
定出力電圧の電源電圧レギュレータ回路を内蔵する集積
回路では、外部から印加する電源電圧を変化させても集
積回路本体に印加される電源電圧は常に一定電圧であ
る。このため、電源電圧マージンを評価することができ
ないが、電源電圧レギュレータの出力電圧を集積回路の
外部から可変できるようにすると電源電圧レギュレータ
を内蔵する集積回路でも電源電圧マージンの評価が可能
となる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記の欠点を
改善するために提案されたもので、その目的は集積回路
本体の高電圧印加スクリーニングおよび集積回路本体の
電源電圧マージンを評価できるように電源電圧レギュレ
ータ回路の出力電圧を集積回路の外部から可変できる集
積回路およびその集積回路の高電圧スクリーニング試験
方法、電源電圧マージン試験方法を提供することにあ
る。
改善するために提案されたもので、その目的は集積回路
本体の高電圧印加スクリーニングおよび集積回路本体の
電源電圧マージンを評価できるように電源電圧レギュレ
ータ回路の出力電圧を集積回路の外部から可変できる集
積回路およびその集積回路の高電圧スクリーニング試験
方法、電源電圧マージン試験方法を提供することにあ
る。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記の目的達成のため本
発明では、集積回路に内蔵している電源電圧レギュレー
タ回路の出力電圧を変化させる端子を集積回路の外部に
取り出し、その端子電圧を変化させるか或いはその端子
と電源端子間に抵抗を接続することにより、電源電圧レ
ギュレータ回路の出力電圧を変化させる手段を採用し
た。
発明では、集積回路に内蔵している電源電圧レギュレー
タ回路の出力電圧を変化させる端子を集積回路の外部に
取り出し、その端子電圧を変化させるか或いはその端子
と電源端子間に抵抗を接続することにより、電源電圧レ
ギュレータ回路の出力電圧を変化させる手段を採用し
た。
【００１４】従って、本発明の構成は下記に示す通りで
ある。即ち、本発明は集積回路本体と電源電圧レギュレ
ータ回路を内蔵し、通常の状態では前記電源電圧レギュ
レータは一定の電圧を前記集積回路本体の電源電圧とし
て供給する集積回路において、前記電源電圧レギュレー
タ回路の出力電圧を集積回路の外部から可変できること
を特徴とする集積回路としての構成を有するものであ
る。
ある。即ち、本発明は集積回路本体と電源電圧レギュレ
ータ回路を内蔵し、通常の状態では前記電源電圧レギュ
レータは一定の電圧を前記集積回路本体の電源電圧とし
て供給する集積回路において、前記電源電圧レギュレー
タ回路の出力電圧を集積回路の外部から可変できること
を特徴とする集積回路としての構成を有するものであ
る。
【００１５】或いはまた、集積回路本体および集積回路
本体に電源電圧を供給するための出力電圧可変の電源電
圧レギュレータ回路を内蔵する集積回路について、欠陥
を内在する製品を除去するスクリーニング試験を実施す
る際に前記集積回路のレギュレータ出力電圧を集積回路
本体の定格電源電圧より高電圧に設定して高電圧で故障
しやすい欠陥を内在している集積回路をスクリーニング
することを特徴とする集積回路の試験方法としての構成
を有するものである。
本体に電源電圧を供給するための出力電圧可変の電源電
圧レギュレータ回路を内蔵する集積回路について、欠陥
を内在する製品を除去するスクリーニング試験を実施す
る際に前記集積回路のレギュレータ出力電圧を集積回路
本体の定格電源電圧より高電圧に設定して高電圧で故障
しやすい欠陥を内在している集積回路をスクリーニング
することを特徴とする集積回路の試験方法としての構成
を有するものである。
【００１６】或いはまた、集積回路本体および集積回路
本体に電源電圧を供給するための出力電圧可変の電源電
圧レギュレータ回路を内蔵する集積回路について、前記
電源電圧レギュレータ回路の出力電圧を変化させること
により集積回路本体の電源電圧マージンを評価すること
を特徴とする集積回路の試験方法としての構成を有する
ものである。
本体に電源電圧を供給するための出力電圧可変の電源電
圧レギュレータ回路を内蔵する集積回路について、前記
電源電圧レギュレータ回路の出力電圧を変化させること
により集積回路本体の電源電圧マージンを評価すること
を特徴とする集積回路の試験方法としての構成を有する
ものである。
【００１７】
【実施例】以下実施例により本発明を詳細に説明する。
【００１８】
【実施例１】図１に本発明の集積回路に内蔵する電源電
圧レギュレータ回路の第１の実施例を示す。この回路を
用いた本発明の全体構成は図５と同様の形式であり、図
２に示す通りである。図１の回路で集積回路の外部に設
けたＶREF の端子を開放状態にすれば、図６と同じ従来
の回路になり(1) 式の一定電圧が出力される。集積回路
の外部から基準電圧ＶREF を強制的に入力すると、内蔵
している基準電圧発生回路の出力ノードの電圧はＶREF
となる。このため、ＶINT は次式のようになる。
圧レギュレータ回路の第１の実施例を示す。この回路を
用いた本発明の全体構成は図５と同様の形式であり、図
２に示す通りである。図１の回路で集積回路の外部に設
けたＶREF の端子を開放状態にすれば、図６と同じ従来
の回路になり(1) 式の一定電圧が出力される。集積回路
の外部から基準電圧ＶREF を強制的に入力すると、内蔵
している基準電圧発生回路の出力ノードの電圧はＶREF
となる。このため、ＶINT は次式のようになる。
【００１９】
【数２】
【００２０】このようにＶINT は集積回路の外部から入
力するＶREF に追従して変化できるようになる。
力するＶREF に追従して変化できるようになる。
【００２１】本実施例の集積回路を用いると集積回路本
体に対する高電圧スクリーニングの実施および電源電圧
のマージン評価が可能となる。
体に対する高電圧スクリーニングの実施および電源電圧
のマージン評価が可能となる。
【００２２】
【実施例２】図３に本発明の集積回路に内蔵する電源電
圧レギュレータ回路の第２の実施例を示す。この回路を
用いた本発明の全体構成は図５と同様の形式であり、図
４に示す通りである。図３の回路では集積回路の外部に
ＲEXT の端子を設けている。Ｒ11とＲ22を接続しなけれ
ば、図６と同じ従来の回路になり(1) 式の一定電圧が出
力される。Ｒ22を接続せずＲ11のみを接続すれば、Ｖ
INT は次式のようになる。
圧レギュレータ回路の第２の実施例を示す。この回路を
用いた本発明の全体構成は図５と同様の形式であり、図
４に示す通りである。図３の回路では集積回路の外部に
ＲEXT の端子を設けている。Ｒ11とＲ22を接続しなけれ
ば、図６と同じ従来の回路になり(1) 式の一定電圧が出
力される。Ｒ22を接続せずＲ11のみを接続すれば、Ｖ
INT は次式のようになる。
【００２３】
【数３】
【００２４】この式より外部に接続したＲ11を低下させ
るとＶINT を上昇させることができることが明らかであ
る。
るとＶINT を上昇させることができることが明らかであ
る。
【００２５】Ｒ11を接続せずＲ22のみを接続すれば、Ｖ
INT は次式のようになる。
INT は次式のようになる。
【００２６】
【数４】
【００２７】この式より外部に接続したＲ22を低下させ
るとＶINT を低下させることができることが明らかであ
る。
るとＶINT を低下させることができることが明らかであ
る。
【００２８】このようにＶINT は集積回路の外部にＲ11
あるいはＲ22の抵抗を接続することにより変化できるよ
うになる。当然、Ｒ11，Ｒ22の両方を接続し、その抵抗
値を変化させてもＶINT を変化できる。
あるいはＲ22の抵抗を接続することにより変化できるよ
うになる。当然、Ｒ11，Ｒ22の両方を接続し、その抵抗
値を変化させてもＶINT を変化できる。
【００２９】本実施例の集積回路を用いると集積回路本
体に対する高電圧スクリーニングの実施および電源電圧
マージンの評価が可能となる。
体に対する高電圧スクリーニングの実施および電源電圧
マージンの評価が可能となる。
【００３０】以上説明した実施例では、一定出力電圧を
有する電源電圧レギュレータの出力電圧を集積回路の外
部から変化させることが可能であることを例を用いて説
明した。一定出力電圧を有する電源電圧レギュレータの
出力を強制的に変化できる回路はすべて本発明の集積回
路に適用可能である。
有する電源電圧レギュレータの出力電圧を集積回路の外
部から変化させることが可能であることを例を用いて説
明した。一定出力電圧を有する電源電圧レギュレータの
出力を強制的に変化できる回路はすべて本発明の集積回
路に適用可能である。
【００３１】
【発明の効果】本発明によれば、電源電圧レギュレータ
と集積回路本体を内蔵する集積回路において、集積回路
本体に印加する電源電圧を集積回路の外部から可変でき
るため、高い電源電圧を印加して実施する高電圧スクリ
ーニングの実施および電源電圧マージンの評価が可能と
なる。このため、高電圧スクリーニングでは、欠陥を内
在する不良集積回路を高電圧により故障に至らしめ除去
できる効果があり、電源電圧マージンの評価では、設計
の評価および欠陥内在により電源電圧マージンの少ない
不良品集積回路の選別を実施できる効果がある。
と集積回路本体を内蔵する集積回路において、集積回路
本体に印加する電源電圧を集積回路の外部から可変でき
るため、高い電源電圧を印加して実施する高電圧スクリ
ーニングの実施および電源電圧マージンの評価が可能と
なる。このため、高電圧スクリーニングでは、欠陥を内
在する不良集積回路を高電圧により故障に至らしめ除去
できる効果があり、電源電圧マージンの評価では、設計
の評価および欠陥内在により電源電圧マージンの少ない
不良品集積回路の選別を実施できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の集積回路に適用する電源電圧レギュレ
ータ（実施例１）を示す。
ータ（実施例１）を示す。
【図２】本発明の第１の実施例としての電源電圧レギュ
レータ内蔵集積回路を示す。
レータ内蔵集積回路を示す。
【図３】本発明の集積回路に適用する電源電圧レギュレ
ータ（実施例２）を示す。
ータ（実施例２）を示す。
【図４】本発明の第２の実施例としての電源電圧レギュ
レータ内蔵集積回路を示す。
レータ内蔵集積回路を示す。
【図５】電源電圧レギュレータ内蔵集積回路のブロック
図であって、原理図を示す。
図であって、原理図を示す。
【図６】従来の電源電圧レギュレータ回路を示す。
ＶEXT 集積回路の外部から印加する電源電圧および電
源電圧端子。 ＶINT 電源電圧レギュレータ回路の出力電圧および出
力電圧端子。 ＶREFO 基準電圧発生回路の出力電圧。 ＶREF 集積回路の外部から印加する基準電圧および基
準電圧入力端子。 ＲEXT 集積回路の外部に抵抗を接続する端子。
源電圧端子。 ＶINT 電源電圧レギュレータ回路の出力電圧および出
力電圧端子。 ＶREFO 基準電圧発生回路の出力電圧。 ＶREF 集積回路の外部から印加する基準電圧および基
準電圧入力端子。 ＲEXT 集積回路の外部に抵抗を接続する端子。
Claims (3)
- 【請求項１】 集積回路本体と電源電圧レギュレータ回
路を内蔵し、通常の状態では前記電源電圧レギュレータ
は一定の電圧を前記集積回路本体の電源電圧として供給
する集積回路において、前記レギュレータ回路の出力電
圧を集積回路の外部から可変できることを特徴とする集
積回路。 - 【請求項２】 集積回路本体および集積回路本体に電源
電圧を供給するための出力電圧可変の電源電圧レギュレ
ータ回路を内蔵する集積回路について、欠陥を内在する
製品を除去するスクリーニング試験を実施する際に前記
集積回路のレギュレータ出力電圧を集積回路本体の定格
電源電圧より高電圧に設定して高電圧で故障しやすい欠
陥を内在している集積回路をスクリーニングすることを
特徴とする集積回路の試験方法。 - 【請求項３】 集積回路本体および集積回路本体に電源
電圧を供給するための出力電圧可変の電源電圧レギュレ
ータ回路を内蔵する集積回路について、前記レギュレー
タ回路の出力電圧を変化させることにより集積回路本体
の電源電圧マージンを評価することを特徴とする集積回
路の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4069038A JPH05232197A (ja) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | 集積回路および集積回路の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4069038A JPH05232197A (ja) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | 集積回路および集積回路の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05232197A true JPH05232197A (ja) | 1993-09-07 |
Family
ID=13391019
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4069038A Pending JPH05232197A (ja) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | 集積回路および集積回路の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05232197A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006170898A (ja) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Ricoh Co Ltd | 半導体装置のテスト回路 |
| CN100391090C (zh) * | 2006-07-27 | 2008-05-28 | 华为技术有限公司 | 一种控制电源电压输出范围的电路 |
| US8030958B2 (en) | 2006-12-21 | 2011-10-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | System for providing a reference voltage to a semiconductor integrated circuit |
| CN102818983A (zh) * | 2011-05-17 | 2012-12-12 | 马维尔国际贸易有限公司 | 用于测试集成电路的方法和装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03160699A (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-10 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
| JPH03172782A (ja) * | 1989-12-01 | 1991-07-26 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路 |
-
1992
- 1992-02-18 JP JP4069038A patent/JPH05232197A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03160699A (ja) * | 1989-11-17 | 1991-07-10 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
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