JP2001099894A - 試験装置 - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31924—Voltage or current aspects, e.g. driver, receiver
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/30—Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
- G01R31/3004—Current or voltage test
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電気部品１６が有する入出力ピンに対して、
同時に電圧印加電流測定試験または、電流印加電圧測定
試験をする。 【解決手段】 電気部品１６を試験する試験装置１００
に設けられ電気部品１６の入出力ピンに信号の入出力を
するピンエレクトロニクス１９において、所望する電流
を出力する電流源４８、５０と、所望する電圧を生成す
る電圧生成部２１と、電流源と、電圧生成部と、電気部
品の入出力ピンとに接続されているダイオードブリッジ
５２とを備え、電圧生成部２１は、所定の抵抗値を有す
る電流測定用抵抗３４を介して、ダイオードブリッジ５
２に入力される電流を測定する電流測定部２７を有する
ことを特徴とするピンエレクトロニクスを提供する。
同時に電圧印加電流測定試験または、電流印加電圧測定
試験をする。 【解決手段】 電気部品１６を試験する試験装置１００
に設けられ電気部品１６の入出力ピンに信号の入出力を
するピンエレクトロニクス１９において、所望する電流
を出力する電流源４８、５０と、所望する電圧を生成す
る電圧生成部２１と、電流源と、電圧生成部と、電気部
品の入出力ピンとに接続されているダイオードブリッジ
５２とを備え、電圧生成部２１は、所定の抵抗値を有す
る電流測定用抵抗３４を介して、ダイオードブリッジ５
２に入力される電流を測定する電流測定部２７を有する
ことを特徴とするピンエレクトロニクスを提供する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気部品を試験す
る試験装置に関する。特に本発明は、試験装置に設けら
れ、前記電気部品の入出力ピンに信号の入出力をするピ
ンエレクトロニクスに関する。
る試験装置に関する。特に本発明は、試験装置に設けら
れ、前記電気部品の入出力ピンに信号の入出力をするピ
ンエレクトロニクスに関する。
【０００２】
【従来の技術】図１は、従来の試験装置１００のブロッ
ク図である。試験装置１００は、電気部品１６に所定の
信号を印加して電気部品１６が正常か否かを判定する。
例えば、電気部品１６は、電流又は電圧に応じて所定の
作用を行う部品をいい、例えば、ＩＣ（Integrated Cir
cuit）やＬＳＩ（Large‐Scale Integrated circuit）
のような能動素子から成る半導体部品のみならず、受動
素子、各種センサー等の部品も含み、更に、これら部品
を結合して一つのパッケージに収めた部品や、これら部
品をプリント基板に装着して所定の機能を実現したブレ
ッドボード等の部品も含む。
ク図である。試験装置１００は、電気部品１６に所定の
信号を印加して電気部品１６が正常か否かを判定する。
例えば、電気部品１６は、電流又は電圧に応じて所定の
作用を行う部品をいい、例えば、ＩＣ（Integrated Cir
cuit）やＬＳＩ（Large‐Scale Integrated circuit）
のような能動素子から成る半導体部品のみならず、受動
素子、各種センサー等の部品も含み、更に、これら部品
を結合して一つのパッケージに収めた部品や、これら部
品をプリント基板に装着して所定の機能を実現したブレ
ッドボード等の部品も含む。
【０００３】電気部品１６の入出力ピンからドライバ２
０までの信号の伝送経路において、試験装置１００は、
電気部品１６の出力値に応じて所定の負荷を与えるプロ
グラマブルロード２４、電気部品１６の入出力ピンにお
ける電圧を制御してドライバ２０、判定部２２及びプロ
グラマブルロード２４を保護するクランプ部２６及び、
スイッチ２８を有する。スイッチ２８は、電気部品１６
に電圧を印加して電流を測定する電圧印加電流測定試験
及び、電気部品１６に電流を印加して電圧を測定する電
流印加電圧測定試験をする場合に、電気部品１６とＤＣ
測定部１４とを接続する。
０までの信号の伝送経路において、試験装置１００は、
電気部品１６の出力値に応じて所定の負荷を与えるプロ
グラマブルロード２４、電気部品１６の入出力ピンにお
ける電圧を制御してドライバ２０、判定部２２及びプロ
グラマブルロード２４を保護するクランプ部２６及び、
スイッチ２８を有する。スイッチ２８は、電気部品１６
に電圧を印加して電流を測定する電圧印加電流測定試験
及び、電気部品１６に電流を印加して電圧を測定する電
流印加電圧測定試験をする場合に、電気部品１６とＤＣ
測定部１４とを接続する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】電気部品１６のすべて
の入出力ピンに対してＤＣ測定部１４を設けると回路規
模が大きくなるので、すべての入出力ピン分のＤＣ測定
部１４は設けられていなかった。従って、電気部品１６
が有する入出力ピンに対して、同時に電圧印加電流測定
試験または、電流印加電圧測定試験をすることができな
かった。更に、伝送経路上に、ＤＣ測定部１４を設ける
と浮遊容量が増加してしまうのでＡＣ試験時における測
定精度の低下を招いた。
の入出力ピンに対してＤＣ測定部１４を設けると回路規
模が大きくなるので、すべての入出力ピン分のＤＣ測定
部１４は設けられていなかった。従って、電気部品１６
が有する入出力ピンに対して、同時に電圧印加電流測定
試験または、電流印加電圧測定試験をすることができな
かった。更に、伝送経路上に、ＤＣ測定部１４を設ける
と浮遊容量が増加してしまうのでＡＣ試験時における測
定精度の低下を招いた。
【０００５】そこで本発明は、上記の課題を解決するこ
とのできる試験装置を提供することを目的とする。この
目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組
み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更な
る有利な具体例を規定する。
とのできる試験装置を提供することを目的とする。この
目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組
み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更な
る有利な具体例を規定する。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の第１の形態は、電気部品を試験する試験装
置に設けられ前記電気部品の入出力ピンに信号を入出力
するピンエレクトロニクスにおいて、所望する電流を出
力する電流源と、所望する電圧を生成する第１の電圧生
成部と、前記電流源と、前記第１の電圧生成部と、前記
電気部品の入出力ピンとそれぞれ接続されて、前記所望
する電流を前記電気部品に与えると共に、前記所望する
電圧を前記電気部品に与えるダイオードブリッジとを備
え、前記第１の電圧生成部は、当該第１の電圧生成部か
ら前記ダイオードブリッジに入力される電流を測定する
電流測定部を有することを特徴とするピンエレクトロニ
クスを提供する。
に、本発明の第１の形態は、電気部品を試験する試験装
置に設けられ前記電気部品の入出力ピンに信号を入出力
するピンエレクトロニクスにおいて、所望する電流を出
力する電流源と、所望する電圧を生成する第１の電圧生
成部と、前記電流源と、前記第１の電圧生成部と、前記
電気部品の入出力ピンとそれぞれ接続されて、前記所望
する電流を前記電気部品に与えると共に、前記所望する
電圧を前記電気部品に与えるダイオードブリッジとを備
え、前記第１の電圧生成部は、当該第１の電圧生成部か
ら前記ダイオードブリッジに入力される電流を測定する
電流測定部を有することを特徴とするピンエレクトロニ
クスを提供する。
【０００７】また、前記電流源は、前記所望する電流を
前記ダイオードブリッジへ出力する第１の電流源及び前
記ダイオードブリッジから前記所望する電流を入力する
第２の電流源を有し、前記入出力ピンに所定の電圧を印
加して、前記電気部品に入力される電流を測定する場合
に、前記第１の電流源に所定の電流を出力させ、前記第
２の電流源に前記所定の電流を前記ダイオードブリッジ
から入力させる制御部を更に備えてもよい。
前記ダイオードブリッジへ出力する第１の電流源及び前
記ダイオードブリッジから前記所望する電流を入力する
第２の電流源を有し、前記入出力ピンに所定の電圧を印
加して、前記電気部品に入力される電流を測定する場合
に、前記第１の電流源に所定の電流を出力させ、前記第
２の電流源に前記所定の電流を前記ダイオードブリッジ
から入力させる制御部を更に備えてもよい。
【０００８】また、前記第１の電圧生成部は、少なくと
も前記電気部品の有する前記入出力ピンのそれぞれに対
応して設けられてもよい。また、前記電気部品の出力イ
ンピーダンスと、前記電気部品から出力される出力電圧
を判定するコンパレータから前記電気部品までの伝送経
路のインピーダンスとの違いにより生じる前記電気部品
の出力値の歪みを補正するクランプ部を更に備え、前記
クランプ部は、前記電気部品に与える電圧を生成する第
２の電圧生成部と、所望する電流を生成する電流生成部
と、前記第２の電圧生成部により生成される電圧を前記
電気部品に供給するか、前記電流生成部により生成され
る前記所望の電流を前記電気部品に供給するかを選択す
るスイッチとを含み、前記電気部品に前記所望の電流を
印加して、前記出力電圧を測定する場合に、前記制御部
は、前記スイッチに、前記電流生成部を選択させて前記
所望する電流を前記電気部品に供給させ、前記コンパレ
ータに前記出力電圧を判定させてもよい。
も前記電気部品の有する前記入出力ピンのそれぞれに対
応して設けられてもよい。また、前記電気部品の出力イ
ンピーダンスと、前記電気部品から出力される出力電圧
を判定するコンパレータから前記電気部品までの伝送経
路のインピーダンスとの違いにより生じる前記電気部品
の出力値の歪みを補正するクランプ部を更に備え、前記
クランプ部は、前記電気部品に与える電圧を生成する第
２の電圧生成部と、所望する電流を生成する電流生成部
と、前記第２の電圧生成部により生成される電圧を前記
電気部品に供給するか、前記電流生成部により生成され
る前記所望の電流を前記電気部品に供給するかを選択す
るスイッチとを含み、前記電気部品に前記所望の電流を
印加して、前記出力電圧を測定する場合に、前記制御部
は、前記スイッチに、前記電流生成部を選択させて前記
所望する電流を前記電気部品に供給させ、前記コンパレ
ータに前記出力電圧を判定させてもよい。
【０００９】また、前記電気回路に前記所望する電流を
印加して、前記出力電圧を測定する場合に、前記制御部
は、前記第１の電流源と前記第２の電流源から前記ダイ
オードブリッジへの電流の供給を停止させてもよい。ま
た、前記コンパレータは、前記電気部品に前記所望の電
流を印加して、前記電気部品から出力される前記出力電
圧を測定する場合に、前記参照電圧源は参照電圧源から
供給される参照電圧を順次変化させ、前記コンパレータ
は順次変化する前記参照電圧と前記出力電圧とを比較し
て、前記参照電圧と前記出力電圧が一致した場合に、前
記出力電圧は前記参照電圧と等しい電圧値であると判定
してもよい。
印加して、前記出力電圧を測定する場合に、前記制御部
は、前記第１の電流源と前記第２の電流源から前記ダイ
オードブリッジへの電流の供給を停止させてもよい。ま
た、前記コンパレータは、前記電気部品に前記所望の電
流を印加して、前記電気部品から出力される前記出力電
圧を測定する場合に、前記参照電圧源は参照電圧源から
供給される参照電圧を順次変化させ、前記コンパレータ
は順次変化する前記参照電圧と前記出力電圧とを比較し
て、前記参照電圧と前記出力電圧が一致した場合に、前
記出力電圧は前記参照電圧と等しい電圧値であると判定
してもよい。
【００１０】本発明の第２の形態は、電気部品を試験す
る試験装置に設けられ前記電気部品の入出力ピンに信号
の入出力をするピンエレクトロニクスにおいて、前記電
気部品の出力インピーダンスと、前記電気部品から出力
される出力電圧を判定するコンパレータから前記電気部
品までの伝送経路のインピーダンスとの違いにより生じ
る前記電気部品の出力値の歪みを補正するクランプ部を
備え、前記クランプ部は、前記電気部品に与える電圧を
生成する電圧生成部と、所望する電流を生成する電流生
成部と、前記電圧生成部により生成される電圧を前記電
気部品に供給するか、前記電流生成部により生成される
前記所望の電流を前記電気部品に供給するかを選択する
スイッチとを含み、前記電気部品に前記所望の電流を印
加して、前記出力電圧を測定する場合に、前記スイッチ
に前記電流生成部を選択させて前記所望する電流を前記
電気部品に供給させ、前記コンパレータに前記出力電圧
を判定させる制御部を有することを特徴とするピンエレ
クトロニクスを提供する。
る試験装置に設けられ前記電気部品の入出力ピンに信号
の入出力をするピンエレクトロニクスにおいて、前記電
気部品の出力インピーダンスと、前記電気部品から出力
される出力電圧を判定するコンパレータから前記電気部
品までの伝送経路のインピーダンスとの違いにより生じ
る前記電気部品の出力値の歪みを補正するクランプ部を
備え、前記クランプ部は、前記電気部品に与える電圧を
生成する電圧生成部と、所望する電流を生成する電流生
成部と、前記電圧生成部により生成される電圧を前記電
気部品に供給するか、前記電流生成部により生成される
前記所望の電流を前記電気部品に供給するかを選択する
スイッチとを含み、前記電気部品に前記所望の電流を印
加して、前記出力電圧を測定する場合に、前記スイッチ
に前記電流生成部を選択させて前記所望する電流を前記
電気部品に供給させ、前記コンパレータに前記出力電圧
を判定させる制御部を有することを特徴とするピンエレ
クトロニクスを提供する。
【００１１】本発明の第３の形態は、電気部品が正常か
否かを試験する試験装置において、前記電気部品に印加
する試験パターンと、前記電気部品が正常な場合に出力
されるべき期待値とを発生するパターン発生部と、前記
試験パターンを前記電気部品に出力して、前記電気部品
の出力値を入力するピンエレクトロニクスと、前記期待
値と前記ピンエレクトロニクスを介して供給される前記
出力値とを比較して前記電気回路が正常か否かを判定す
る比較部とを備え、前記ピンエレクトロニクスは、所望
する電流を出力する電流源と、所望する電圧を生成する
電圧生成部と、前記電流源と、前記電圧生成部と、前記
電気部品の入出力ピンとそれぞれ接続されて、前記所望
する電流を前記電気部品に与えると共に、前記所望する
電圧を前記電気部品に与えるダイオードブリッジとを備
え、前記電圧生成部は、当該電圧生成部から前記ダイオ
ードブリッジに入力される電流を測定する電流測定部を
有することを特徴とする試験装置を提供する。
否かを試験する試験装置において、前記電気部品に印加
する試験パターンと、前記電気部品が正常な場合に出力
されるべき期待値とを発生するパターン発生部と、前記
試験パターンを前記電気部品に出力して、前記電気部品
の出力値を入力するピンエレクトロニクスと、前記期待
値と前記ピンエレクトロニクスを介して供給される前記
出力値とを比較して前記電気回路が正常か否かを判定す
る比較部とを備え、前記ピンエレクトロニクスは、所望
する電流を出力する電流源と、所望する電圧を生成する
電圧生成部と、前記電流源と、前記電圧生成部と、前記
電気部品の入出力ピンとそれぞれ接続されて、前記所望
する電流を前記電気部品に与えると共に、前記所望する
電圧を前記電気部品に与えるダイオードブリッジとを備
え、前記電圧生成部は、当該電圧生成部から前記ダイオ
ードブリッジに入力される電流を測定する電流測定部を
有することを特徴とする試験装置を提供する。
【００１２】本発明の第４の形態は、電気部品が正常か
否かを試験する試験装置において、前記電気部品に印加
する試験パターンと、前記電気部品が正常な場合に出力
されるべき期待値とを発生するパターン発生部と、前記
試験パターンを前記電気部品に出力して、前記電気部品
の出力値を入力するピンエレクトロニクスと、前記期待
値と前記ピンエレクトロニクスを介して供給される前記
出力値とを比較して前記電気回路が正常か否かを判定す
る比較部とを備え、前記ピンエレクトロニクスは、前記
電気部品の出力インピーダンスと、前記電気部品から出
力される出力電圧を判定するコンパレータから前記電気
部品までの伝送経路のインピーダンスとの違いにより生
じる前記電気部品の出力値の歪みを補正するクランプ部
を備え、前記クランプ部は、前記電気部品に与える電圧
を生成する電圧生成部と、所望する電流を生成する電流
生成部と、前記電圧生成部により生成される電圧を前記
電気部品に供給するか、前記電流生成部により生成され
る所望の電流を前記電気部品に供給するかを選択するス
イッチとを含み、前記電気部品に前記所望の電流を印加
して、前記出力電圧を測定する場合に、前記スイッチに
前記電流生成部を選択させて前記所望する電流を前記電
気部品に供給させ、前記コンパレータに前記出力電圧を
判定させる制御部を有することを特徴とする試験装置を
提供する。
否かを試験する試験装置において、前記電気部品に印加
する試験パターンと、前記電気部品が正常な場合に出力
されるべき期待値とを発生するパターン発生部と、前記
試験パターンを前記電気部品に出力して、前記電気部品
の出力値を入力するピンエレクトロニクスと、前記期待
値と前記ピンエレクトロニクスを介して供給される前記
出力値とを比較して前記電気回路が正常か否かを判定す
る比較部とを備え、前記ピンエレクトロニクスは、前記
電気部品の出力インピーダンスと、前記電気部品から出
力される出力電圧を判定するコンパレータから前記電気
部品までの伝送経路のインピーダンスとの違いにより生
じる前記電気部品の出力値の歪みを補正するクランプ部
を備え、前記クランプ部は、前記電気部品に与える電圧
を生成する電圧生成部と、所望する電流を生成する電流
生成部と、前記電圧生成部により生成される電圧を前記
電気部品に供給するか、前記電流生成部により生成され
る所望の電流を前記電気部品に供給するかを選択するス
イッチとを含み、前記電気部品に前記所望の電流を印加
して、前記出力電圧を測定する場合に、前記スイッチに
前記電流生成部を選択させて前記所望する電流を前記電
気部品に供給させ、前記コンパレータに前記出力電圧を
判定させる制御部を有することを特徴とする試験装置を
提供する。
【００１３】なお上記の発明の概要は、本発明の必要な
特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群の
サブコンビネーションも又発明となりうる。
特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群の
サブコンビネーションも又発明となりうる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、発明の実施の形態を通じて
本発明を説明するが、以下の実施形態はクレームにかか
る発明を限定するものではなく、又実施形態の中で説明
されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に
必須であるとは限らない。
本発明を説明するが、以下の実施形態はクレームにかか
る発明を限定するものではなく、又実施形態の中で説明
されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に
必須であるとは限らない。
【００１５】図２は、電気部品１６を試験する試験装置
１００の１つの実施形態を示す。試験装置１００は、パ
ターン発生部１０、比較部１２、コントローラ１７、ピ
ンエレクトロニクス１９を備える。ピンエレクトロニク
ス１９は、ドライバ２０、判定部２２、プログラマブル
ロード２５、クランプ部５４を有する。判定部２２は、
電気部品１６の出力電圧が、ハイレベル電位（論理値
“１”）か、ロウレベル電位（論理値“０”）かを判定
する。判定部２２は、ハイレベル電位を判定するのに用
いる第１参照電圧を発生する参照電圧源２３ａ、ローレ
ベル電位を判定するのに用いる第２参照電圧を発生する
参照電圧源２３ｂ、電気部品１６の出力電圧と第１参照
電圧とを比較するコンパレータ２２ａ及び、電気部品１
６の出力電圧と第２参照電圧とを比較するコンパレータ
２２ｂとを有する。プログラマブルロード２５は、所望
する電圧を生成する電圧生成部２１及び、電流を測定す
る電流測定部２７を有する。
１００の１つの実施形態を示す。試験装置１００は、パ
ターン発生部１０、比較部１２、コントローラ１７、ピ
ンエレクトロニクス１９を備える。ピンエレクトロニク
ス１９は、ドライバ２０、判定部２２、プログラマブル
ロード２５、クランプ部５４を有する。判定部２２は、
電気部品１６の出力電圧が、ハイレベル電位（論理値
“１”）か、ロウレベル電位（論理値“０”）かを判定
する。判定部２２は、ハイレベル電位を判定するのに用
いる第１参照電圧を発生する参照電圧源２３ａ、ローレ
ベル電位を判定するのに用いる第２参照電圧を発生する
参照電圧源２３ｂ、電気部品１６の出力電圧と第１参照
電圧とを比較するコンパレータ２２ａ及び、電気部品１
６の出力電圧と第２参照電圧とを比較するコンパレータ
２２ｂとを有する。プログラマブルロード２５は、所望
する電圧を生成する電圧生成部２１及び、電流を測定す
る電流測定部２７を有する。
【００１６】パターン発生部１０は、電気部品１６の試
験に用いる試験パターンをドライバ２０に出力し、試験
パターンを入力した正常な電気部品１６から出力される
べき期待値を比較部１２に出力する。ドライバ２０は、
試験パターンを電気部品１６に印加する。クランプ部５
４は、ドライバ２０、判定部２２及びプログラマブルロ
ード２５に許容入力電圧外の電圧が印加され、破壊する
ことを防止する。ドライバ２０、判定部２２及びプログ
ラマブルロード２５が破壊せずに入力できる電圧の範囲
を、許容入力電圧と定義する。判定部２２は、電気部品
１６から供給される電圧に基づいて論理値を判定して比
較部１２に出力する。比較部１２は、パターン発生部１
０から供給される期待値と、判定部２２から供給される
電気部品１６の出力値とを比較して、電気部品１６が正
常か否かを判定する。
験に用いる試験パターンをドライバ２０に出力し、試験
パターンを入力した正常な電気部品１６から出力される
べき期待値を比較部１２に出力する。ドライバ２０は、
試験パターンを電気部品１６に印加する。クランプ部５
４は、ドライバ２０、判定部２２及びプログラマブルロ
ード２５に許容入力電圧外の電圧が印加され、破壊する
ことを防止する。ドライバ２０、判定部２２及びプログ
ラマブルロード２５が破壊せずに入力できる電圧の範囲
を、許容入力電圧と定義する。判定部２２は、電気部品
１６から供給される電圧に基づいて論理値を判定して比
較部１２に出力する。比較部１２は、パターン発生部１
０から供給される期待値と、判定部２２から供給される
電気部品１６の出力値とを比較して、電気部品１６が正
常か否かを判定する。
【００１７】プログラマブルロード２５は、電気部品１
６の出力電圧に基づいて電気部品１６に所定の負荷を与
える。また、電圧印加電流測定試験をする場合に、電圧
生成部２１は、電気部品１６に所定の電圧を印加する。
電流測定部２７は、電気部品１６に入力される電流を測
定する。試験装置１００を制御するコントローラ１７
は、電気部品１６の出力電圧に基づいて電気部品１６に
所定の負荷を与えるか、電圧印加電流測定試験をするか
否かに応じて、プログラマブルロード２５を制御する。
６の出力電圧に基づいて電気部品１６に所定の負荷を与
える。また、電圧印加電流測定試験をする場合に、電圧
生成部２１は、電気部品１６に所定の電圧を印加する。
電流測定部２７は、電気部品１６に入力される電流を測
定する。試験装置１００を制御するコントローラ１７
は、電気部品１６の出力電圧に基づいて電気部品１６に
所定の負荷を与えるか、電圧印加電流測定試験をするか
否かに応じて、プログラマブルロード２５を制御する。
【００１８】図３は、プログラマブルロード２５の１つ
の実施形態を示す。プログラマブルロード２５は、電圧
生成部２１、電流測定部２７、第１の電流源４８、第２
の電流源５０、制御部５１及びダイオードブリッジ５２
を備える。電圧生成部２１は、Ｄ／Ａ変換器３０、オペ
アンプ３２及び電流測定用抵抗３４を有する。電流測定
部２７は、オペアンプ４４、抵抗Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及び
Ｒ４並びにＡ／Ｄ変換器４６を有する。
の実施形態を示す。プログラマブルロード２５は、電圧
生成部２１、電流測定部２７、第１の電流源４８、第２
の電流源５０、制御部５１及びダイオードブリッジ５２
を備える。電圧生成部２１は、Ｄ／Ａ変換器３０、オペ
アンプ３２及び電流測定用抵抗３４を有する。電流測定
部２７は、オペアンプ４４、抵抗Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３及び
Ｒ４並びにＡ／Ｄ変換器４６を有する。
【００１９】Ｄ／Ａ変換器３０は、コントローラ１７に
より設定された所定の電圧を発生してオペアンプ３２の
非反転入力端子に出力する。オペアンプ３２の出力が反
転入力端子に負帰還されているので、オペアンプ３２
は、電流測定用抵抗３４を介してダイオードブリッジ５
２に印加する電圧と、Ｄ／Ａ変換器３０から供給される
所定の電圧とが等しくなるように電圧を出力する。従っ
て、電圧生成部２１は、Ｄ／Ａ変換器３０に設定された
所定の電圧をダイオードブリッジ５２に出力することが
できる。
より設定された所定の電圧を発生してオペアンプ３２の
非反転入力端子に出力する。オペアンプ３２の出力が反
転入力端子に負帰還されているので、オペアンプ３２
は、電流測定用抵抗３４を介してダイオードブリッジ５
２に印加する電圧と、Ｄ／Ａ変換器３０から供給される
所定の電圧とが等しくなるように電圧を出力する。従っ
て、電圧生成部２１は、Ｄ／Ａ変換器３０に設定された
所定の電圧をダイオードブリッジ５２に出力することが
できる。
【００２０】オペアンプ４４は、オペアンプ３２の非反
転入力端子とオペアンプ３２の出力端子との電位差を増
幅してＡ／Ｄ変換器４６に出力する。オペアンプ３２の
非反転入力端子とオペアンプ３２の出力端子との電位差
は、電流測定用抵抗３４において生じる電圧降下に等し
い。他の形態において、オペアンプ４４は、電流測定用
抵抗３４の両端の電位差を増幅して、Ａ／Ｄ変換器４６
に出力してもよい。Ａ／Ｄ変換器４６は、オペアンプ４
４から供給された電圧をディジタル信号に変換して、コ
ントローラ１７に出力する。コントローラ１７は、Ａ／
Ｄ変換器４６から供給される電圧を示すディジタル信号
と、電流測定用抵抗３４の抵抗値に基づいて電流測定用
抵抗３４に流れる電流を算出する。従って、電流測定部
２７は、電流測定用抵抗３４により生じる電圧降下を測
定して、ダイオードブリッジ５２に流入する電流を算出
することができる。
転入力端子とオペアンプ３２の出力端子との電位差を増
幅してＡ／Ｄ変換器４６に出力する。オペアンプ３２の
非反転入力端子とオペアンプ３２の出力端子との電位差
は、電流測定用抵抗３４において生じる電圧降下に等し
い。他の形態において、オペアンプ４４は、電流測定用
抵抗３４の両端の電位差を増幅して、Ａ／Ｄ変換器４６
に出力してもよい。Ａ／Ｄ変換器４６は、オペアンプ４
４から供給された電圧をディジタル信号に変換して、コ
ントローラ１７に出力する。コントローラ１７は、Ａ／
Ｄ変換器４６から供給される電圧を示すディジタル信号
と、電流測定用抵抗３４の抵抗値に基づいて電流測定用
抵抗３４に流れる電流を算出する。従って、電流測定部
２７は、電流測定用抵抗３４により生じる電圧降下を測
定して、ダイオードブリッジ５２に流入する電流を算出
することができる。
【００２１】ダイオードブリッジ５２は、ダイオードＤ
１、Ｄ２、Ｄ３及びＤ４を有する。ダイオードブリッジ
５２は、電圧生成部２１と、所望する電流を出力する第
１の電流源４８と第２の電流源５０と電気部品１６とに
接続されている。制御部５１は、コントローラ１７から
供給される信号に基づいて、第１の電流源４８及び第２
の電流源５０から出力される電流を設定する。他の実施
形態において、制御部５１は、コントローラ１７であっ
てもよく、コントローラ１７が第１の電流源４８及び第
２の電流源５０を制御してもよい。例えば、制御部５１
は、ロジックであっても、プログラムにより制御される
ＣＰＵであってもよい。
１、Ｄ２、Ｄ３及びＤ４を有する。ダイオードブリッジ
５２は、電圧生成部２１と、所望する電流を出力する第
１の電流源４８と第２の電流源５０と電気部品１６とに
接続されている。制御部５１は、コントローラ１７から
供給される信号に基づいて、第１の電流源４８及び第２
の電流源５０から出力される電流を設定する。他の実施
形態において、制御部５１は、コントローラ１７であっ
てもよく、コントローラ１７が第１の電流源４８及び第
２の電流源５０を制御してもよい。例えば、制御部５１
は、ロジックであっても、プログラムにより制御される
ＣＰＵであってもよい。
【００２２】電気部品１６から出力されるハイレベル電
位またはロウレベル電位（論理値“１”または論理値
“０”）のそれぞれに応じて、電気部品１６に所定の負
荷を与えるプログラマブルロードとして使う場合、制御
部５１は、電気部品１６がロウレベル電位（論理値
“０”）を出力した時に、電気部品１６に与える負荷電
流を第１の電流源４８に設定し、電気部品１６がハイレ
ベル電位（論理値“１”）を出力した時に、電気部品１
６に与える負荷電流を第２の電流源５０に設定する。
位またはロウレベル電位（論理値“１”または論理値
“０”）のそれぞれに応じて、電気部品１６に所定の負
荷を与えるプログラマブルロードとして使う場合、制御
部５１は、電気部品１６がロウレベル電位（論理値
“０”）を出力した時に、電気部品１６に与える負荷電
流を第１の電流源４８に設定し、電気部品１６がハイレ
ベル電位（論理値“１”）を出力した時に、電気部品１
６に与える負荷電流を第２の電流源５０に設定する。
【００２３】また、電圧生成部２１は、電気部品１６の
スレショルド電位に等しい電圧を生成してダイオードブ
リッジ５２に出力する。ダイオードブリッジ５２は、電
圧生成部２１から供給される電圧と、電気部品１６から
供給される電圧に基づいて第１の電流源４８または第２
の電流源５０のいずれかが発生する負荷電流を電気部品
１６に出力する。例えば、電気部品１６から供給される
電圧が電圧生成部２１から供給される電圧より低い場
合、第１の電流源４８は負荷電流をダイオードＤ１を介
して、電気部品１６に出力する。また、電気部品１６か
ら供給される電圧が電圧生成部２１から供給される電圧
より高い場合、第２の電流源５０は電流をダイオードブ
リッジ５２が有するダイオードＤ４を介して流入する。
従って、電圧生成部２１が、ダイオードブリッジ５２に
電気部品１６のスレショルド電圧に等しい電圧を印加
し、制御部５１が第１の電流源４８及び第２の電流源５
０のそれぞれに電気部品１６の出力電圧に応じた負荷電
流を設定することでプログラマブルロードとして機能す
る。
スレショルド電位に等しい電圧を生成してダイオードブ
リッジ５２に出力する。ダイオードブリッジ５２は、電
圧生成部２１から供給される電圧と、電気部品１６から
供給される電圧に基づいて第１の電流源４８または第２
の電流源５０のいずれかが発生する負荷電流を電気部品
１６に出力する。例えば、電気部品１６から供給される
電圧が電圧生成部２１から供給される電圧より低い場
合、第１の電流源４８は負荷電流をダイオードＤ１を介
して、電気部品１６に出力する。また、電気部品１６か
ら供給される電圧が電圧生成部２１から供給される電圧
より高い場合、第２の電流源５０は電流をダイオードブ
リッジ５２が有するダイオードＤ４を介して流入する。
従って、電圧生成部２１が、ダイオードブリッジ５２に
電気部品１６のスレショルド電圧に等しい電圧を印加
し、制御部５１が第１の電流源４８及び第２の電流源５
０のそれぞれに電気部品１６の出力電圧に応じた負荷電
流を設定することでプログラマブルロードとして機能す
る。
【００２４】電圧印加電流測定試験をする場合、制御部
５１は、第１の電流源４８に所定の電流を出力させ、第
２の電流源５０に第１の電流源４８が出力した電流と同
一の電流を入力させる。電圧生成部２１は、ダイオード
ブリッジ５２に所定の電圧を印加する。例えば、所定の
電圧は、電気部品１６の許容入力電圧の範囲であって、
ドライバ２０及び判定部２２の許容入力電圧の範囲であ
ることが好ましい。更に具体的には、−４Ｖから８Ｖの
範囲の電圧であってもよい。また、他の実施形態におい
て、電圧印加電流測定試験中にドライバ２０及び判定部
２２に電圧が供給されないようにスイッチを設け、電圧
生成部２１は、所定の電圧を電気部品１６の許容入力電
圧の範囲でダイオードブリッジ５２に印加してもよい。
５１は、第１の電流源４８に所定の電流を出力させ、第
２の電流源５０に第１の電流源４８が出力した電流と同
一の電流を入力させる。電圧生成部２１は、ダイオード
ブリッジ５２に所定の電圧を印加する。例えば、所定の
電圧は、電気部品１６の許容入力電圧の範囲であって、
ドライバ２０及び判定部２２の許容入力電圧の範囲であ
ることが好ましい。更に具体的には、−４Ｖから８Ｖの
範囲の電圧であってもよい。また、他の実施形態におい
て、電圧印加電流測定試験中にドライバ２０及び判定部
２２に電圧が供給されないようにスイッチを設け、電圧
生成部２１は、所定の電圧を電気部品１６の許容入力電
圧の範囲でダイオードブリッジ５２に印加してもよい。
【００２５】ダイオードブリッジ５２は、入力する電流
と出力する電流とを一定するので、電気部品１６に入出
力される電流と等しい電流が、電圧生成部２１からダイ
オードブリッジ５２に入出力される。従って、電流測定
用抵抗３４により生じる電圧降下を測定し、電圧降下に
基づいて電流を算出することで電気部品１６に入力され
る電流を測定することができる。従って、電圧生成部２
１及び電流測定部２７の構成により、電圧印加電流測定
試験をすることができる。また、電圧生成部２１は、プ
ログラマブルロードとして使用する場合及び、電圧印加
電流測定試験をする場合で電圧生成部２１を共有するの
で部品数を減じることができる。また、部品数が減るの
で、電圧生成部２１及び電流測定部２７を電気部品１６
の全ての入出力ピンに対応して設けることができ、電気
部品１６が有する入出力ピンに対して同時に電圧印加電
流測定試験をすることができる。例えば、電気部品１６
が１０２４ピンを有する場合に１０２４ピンを同時に測
定することができる。更に、電気部品１６から判定部２
２までの伝送経路上に、図１を用いて説明したスイッチ
２８及びＤＣ測定部１４が不要になるので、伝送経路上
の浮遊容量を減じることができる。浮遊容量を減じるこ
とができるので、精度の高い電気部品１６の試験ができ
る。また、プログラマブルロードとして使用する場合
に、電気部品１６に供給されている負荷電流を測定する
ことができる。
と出力する電流とを一定するので、電気部品１６に入出
力される電流と等しい電流が、電圧生成部２１からダイ
オードブリッジ５２に入出力される。従って、電流測定
用抵抗３４により生じる電圧降下を測定し、電圧降下に
基づいて電流を算出することで電気部品１６に入力され
る電流を測定することができる。従って、電圧生成部２
１及び電流測定部２７の構成により、電圧印加電流測定
試験をすることができる。また、電圧生成部２１は、プ
ログラマブルロードとして使用する場合及び、電圧印加
電流測定試験をする場合で電圧生成部２１を共有するの
で部品数を減じることができる。また、部品数が減るの
で、電圧生成部２１及び電流測定部２７を電気部品１６
の全ての入出力ピンに対応して設けることができ、電気
部品１６が有する入出力ピンに対して同時に電圧印加電
流測定試験をすることができる。例えば、電気部品１６
が１０２４ピンを有する場合に１０２４ピンを同時に測
定することができる。更に、電気部品１６から判定部２
２までの伝送経路上に、図１を用いて説明したスイッチ
２８及びＤＣ測定部１４が不要になるので、伝送経路上
の浮遊容量を減じることができる。浮遊容量を減じるこ
とができるので、精度の高い電気部品１６の試験ができ
る。また、プログラマブルロードとして使用する場合
に、電気部品１６に供給されている負荷電流を測定する
ことができる。
【００２６】図４は、クランプ部５４の１つの実施形態
を示す。クランプ部５４は、第１クランプ部５４ａ及び
第２クランプ部５４ｂを備える。第１クランプ部５４ａ
は、第１ダイナミッククランプ部９０ａ、スイッチ６５
及び電圧源Ｐ１、Ｐ２を有する。第１ダイナミッククラ
ンプ部９０ａは、オペアンプ７２、７４、スイッチ（６
６、７０）、Ｄ／Ａ変換器８０を有する。第２クランプ
部５４ｂは、第２ダイナミッククランプ部９０ｂ、スイ
ッチ６７及び電圧源Ｐ３、Ｐ４を有する。第２ダイナミ
ッククランプ部９０ｂは、オペアンプ７６、７８、スイ
ッチ（６８、６９）、Ｄ／Ａ変換器８２を有する。電気
部品１６の入出力ピンにおける電圧が、ドライバ２０、
判定部２２及びプログラマブルロード２５の最小許容入
力電圧より低い場合、第１クランプ部５４ａは、電気部
品１６の入出力ピンにおける電圧が最小許容電圧より低
くならないように第１の電圧を電気部品１６に出力す
る。電気部品１６の入出力ピンにおける電圧が、電気部
品１６の最大許容入力電圧より高い場合、第２クランプ
部５４ｂは、電気部品１６の入出力ピンにおける電圧が
最大許容入力電圧より高くならないように第２の電圧を
電気部品１６に供給する。
を示す。クランプ部５４は、第１クランプ部５４ａ及び
第２クランプ部５４ｂを備える。第１クランプ部５４ａ
は、第１ダイナミッククランプ部９０ａ、スイッチ６５
及び電圧源Ｐ１、Ｐ２を有する。第１ダイナミッククラ
ンプ部９０ａは、オペアンプ７２、７４、スイッチ（６
６、７０）、Ｄ／Ａ変換器８０を有する。第２クランプ
部５４ｂは、第２ダイナミッククランプ部９０ｂ、スイ
ッチ６７及び電圧源Ｐ３、Ｐ４を有する。第２ダイナミ
ッククランプ部９０ｂは、オペアンプ７６、７８、スイ
ッチ（６８、６９）、Ｄ／Ａ変換器８２を有する。電気
部品１６の入出力ピンにおける電圧が、ドライバ２０、
判定部２２及びプログラマブルロード２５の最小許容入
力電圧より低い場合、第１クランプ部５４ａは、電気部
品１６の入出力ピンにおける電圧が最小許容電圧より低
くならないように第１の電圧を電気部品１６に出力す
る。電気部品１６の入出力ピンにおける電圧が、電気部
品１６の最大許容入力電圧より高い場合、第２クランプ
部５４ｂは、電気部品１６の入出力ピンにおける電圧が
最大許容入力電圧より高くならないように第２の電圧を
電気部品１６に供給する。
【００２７】第１クランプ部５４ａについて説明する。
コンデンサＣ２は、第１クランプ部５４ａにおける電圧
の変動を抑えるために設けられる。電圧源Ｐ２は第１の
電圧を発生する。例えば、第１の電圧は、ドライバ２
０、判定部２２及びプログラマブルロード２５の最小許
容入力電圧より高い電圧であることが好ましい。電気部
品１６の入出力ピンにおける電圧が、第１の電圧より低
い場合に電気部品１６に電流を出力するので、電気部品
１６の入出力ピンにおける電圧を、第１の電圧より低く
ならないようにできる。従って、電気部品１６の入出力
ピンにおける電圧が、ドライバ２０、判定部２２及びプ
ログラマブルロード２５の許容入力電圧より低いことに
よるドライバ２０、判定部２２及びプログラマブルロー
ド２５の破壊を防ぐことができる。電圧源Ｐ１は電圧源
Ｐ２より低い電圧を発生することが好ましく、電圧源Ｐ
２から電圧源Ｐ１へ電流が流れ、ダイオードＤ７におけ
る電圧が不定になることを防ぐ。
コンデンサＣ２は、第１クランプ部５４ａにおける電圧
の変動を抑えるために設けられる。電圧源Ｐ２は第１の
電圧を発生する。例えば、第１の電圧は、ドライバ２
０、判定部２２及びプログラマブルロード２５の最小許
容入力電圧より高い電圧であることが好ましい。電気部
品１６の入出力ピンにおける電圧が、第１の電圧より低
い場合に電気部品１６に電流を出力するので、電気部品
１６の入出力ピンにおける電圧を、第１の電圧より低く
ならないようにできる。従って、電気部品１６の入出力
ピンにおける電圧が、ドライバ２０、判定部２２及びプ
ログラマブルロード２５の許容入力電圧より低いことに
よるドライバ２０、判定部２２及びプログラマブルロー
ド２５の破壊を防ぐことができる。電圧源Ｐ１は電圧源
Ｐ２より低い電圧を発生することが好ましく、電圧源Ｐ
２から電圧源Ｐ１へ電流が流れ、ダイオードＤ７におけ
る電圧が不定になることを防ぐ。
【００２８】伝送経路のインピーダンスと電気部品１６
の出力インピーダンスとの違いにより生じる電気部品１
６の出力値の歪みを補正するために第１ダイナミックク
ランプ部９０ａを用いる場合、スイッチ６５及び６６は
閉じて、スイッチ７０は開く。電流印加電圧測定試験を
する場合、スイッチ６５及び７０は閉じて、スイッチ６
６は開く。スイッチ７０が閉じると、Ｄ／Ａ変換器８
０、オペアンプ７４、７２及び抵抗Ｒ７、Ｒ８、Ｒ９、
Ｒ１０、Ｒ１１、Ｒ１２及びＲ１３を有する電流生成部
が構成される。Ｄ／Ａ変換器８０は、所定の電圧をオペ
アンプ７４の反転入力端子に出力する。オペアンプ７２
は、抵抗Ｒ１１の両端の電圧を差動増幅して得られた電
圧をオペアンプ７４に帰還する。従って、電流生成部は
定電流を出力する。電流生成部が生成した定電流は、ス
イッチ６５、ダイオードＤ８、Ｄ６を介して電気部品１
６に供給される。判定部２２は、電気部品１６の入出力
ピンにおける電圧値を判定する。判定方法は、後述す
る。
の出力インピーダンスとの違いにより生じる電気部品１
６の出力値の歪みを補正するために第１ダイナミックク
ランプ部９０ａを用いる場合、スイッチ６５及び６６は
閉じて、スイッチ７０は開く。電流印加電圧測定試験を
する場合、スイッチ６５及び７０は閉じて、スイッチ６
６は開く。スイッチ７０が閉じると、Ｄ／Ａ変換器８
０、オペアンプ７４、７２及び抵抗Ｒ７、Ｒ８、Ｒ９、
Ｒ１０、Ｒ１１、Ｒ１２及びＲ１３を有する電流生成部
が構成される。Ｄ／Ａ変換器８０は、所定の電圧をオペ
アンプ７４の反転入力端子に出力する。オペアンプ７２
は、抵抗Ｒ１１の両端の電圧を差動増幅して得られた電
圧をオペアンプ７４に帰還する。従って、電流生成部は
定電流を出力する。電流生成部が生成した定電流は、ス
イッチ６５、ダイオードＤ８、Ｄ６を介して電気部品１
６に供給される。判定部２２は、電気部品１６の入出力
ピンにおける電圧値を判定する。判定方法は、後述す
る。
【００２９】また、電流印加電圧測定試験をする場合
に、図３を用いて説明した制御部５１は、第１の電流源
４８及び第２の電流源５０に電流の出力を停止させるこ
とを指定する信号を供給し、第１の電流源４８及び第２
の電流源５０は、制御部５１からの信号に基づいて、ダ
イオードブリッジ５２への電流の供給を停止する。ダイ
オードブリッジ５２に電流が供給されないので、電圧生
成部２１及び電流測定部２７は電気的に切り離すことが
できる。従って、電圧生成部２１及び電流測定部２７を
電気的に切り離さない場合より、測定精度の高い試験が
できる。
に、図３を用いて説明した制御部５１は、第１の電流源
４８及び第２の電流源５０に電流の出力を停止させるこ
とを指定する信号を供給し、第１の電流源４８及び第２
の電流源５０は、制御部５１からの信号に基づいて、ダ
イオードブリッジ５２への電流の供給を停止する。ダイ
オードブリッジ５２に電流が供給されないので、電圧生
成部２１及び電流測定部２７は電気的に切り離すことが
できる。従って、電圧生成部２１及び電流測定部２７を
電気的に切り離さない場合より、測定精度の高い試験が
できる。
【００３０】電流印加電圧測定試験をする場合、第１ク
ランプ部５４ａは、電気部品１６に正の電流を印加する
のに対して、第２クランプ部５４ｂは、電気部品１６に
負の電流を印加する。第２クランプ部５４ｂの機能及び
動作は、当業者にとって第１クランプ部５４ａの機能及
び動作に基づいて容易に理解できるので説明を省略す
る。
ランプ部５４ａは、電気部品１６に正の電流を印加する
のに対して、第２クランプ部５４ｂは、電気部品１６に
負の電流を印加する。第２クランプ部５４ｂの機能及び
動作は、当業者にとって第１クランプ部５４ａの機能及
び動作に基づいて容易に理解できるので説明を省略す
る。
【００３１】また、第１クランプ部５４ａが電流を電気
部品１６に印加している場合、第２クランプ部５４ｂ
は、電気部品１６に電流を印加しない。また、第２クラ
ンプ部５４ｂが、電気部品１６に電流を印加している場
合、第１クランプ部５４ａは、電気部品１６に電流を印
加しない。例えば、スイッチ７０及びスイッチ６５が閉
じている場合に、スイッチ６９は開いている。また、ス
イッチ６５、６６、６７、６８、６９及び７０の開閉
は、図４に図示しない制御部５１により制御されること
が好ましい。他の実施形態において、コントローラ１７
により制御されてもよい。例えば、制御部５１は、ロジ
ックであっても、プログラムにより制御されるＣＰＵで
あってもよい。
部品１６に印加している場合、第２クランプ部５４ｂ
は、電気部品１６に電流を印加しない。また、第２クラ
ンプ部５４ｂが、電気部品１６に電流を印加している場
合、第１クランプ部５４ａは、電気部品１６に電流を印
加しない。例えば、スイッチ７０及びスイッチ６５が閉
じている場合に、スイッチ６９は開いている。また、ス
イッチ６５、６６、６７、６８、６９及び７０の開閉
は、図４に図示しない制御部５１により制御されること
が好ましい。他の実施形態において、コントローラ１７
により制御されてもよい。例えば、制御部５１は、ロジ
ックであっても、プログラムにより制御されるＣＰＵで
あってもよい。
【００３２】ダイナミッククランプとして用いる場合及
び、電流印加電圧測定試験でＤ／Ａ変換器８０を共有す
ることができるので、部品数を減じることができる。ま
た、部品数が減るので、電気部品１６が有する入出力ピ
ンの全てに対応する電流生成部を設けることができ、電
気部品１６が有する入出力ピンに対して同時に電流印加
電圧測定試験をすることができる。例えば、電気部品１
６が１０２４ピンを有する場合に１０２４ピンを同時に
測定することができる。更に、電気部品１６から判定部
２２までの伝送経路上に、図１を用いて説明したスイッ
チ２８及びＤＣ測定部１４が不要になるので、伝送経路
上の浮遊容量を減じることができる。浮遊容量を減じる
ことができるので、精度の高い電気部品１６の試験がで
きる。
び、電流印加電圧測定試験でＤ／Ａ変換器８０を共有す
ることができるので、部品数を減じることができる。ま
た、部品数が減るので、電気部品１６が有する入出力ピ
ンの全てに対応する電流生成部を設けることができ、電
気部品１６が有する入出力ピンに対して同時に電流印加
電圧測定試験をすることができる。例えば、電気部品１
６が１０２４ピンを有する場合に１０２４ピンを同時に
測定することができる。更に、電気部品１６から判定部
２２までの伝送経路上に、図１を用いて説明したスイッ
チ２８及びＤＣ測定部１４が不要になるので、伝送経路
上の浮遊容量を減じることができる。浮遊容量を減じる
ことができるので、精度の高い電気部品１６の試験がで
きる。
【００３３】図５は、判定部２２が有するコンパレータ
２２ａ及び参照電圧源２３ａを示す。電流印加電圧測定
試験において、電気部品１６の入出力ピンに定電流を印
加した場合の、電気部品１６の入出力ピンにおける電圧
がコンパレータ２２ａに入力される。参照電圧源２３ａ
は、コントローラ１７からの信号に基づいて、参照電圧
を順次変化させてコンパレータ２２ａに出力する。コン
パレータ２２ａは、電気部品１６から供給される入出力
ピンにおける電圧と、参照電圧源２３ａから供給される
参照電圧を比較する。従って、判定部２２は、電気部品
１６から供給される入出力ピンにおける電圧と、参照電
圧が一致するか否かで、電気部品１６から供給される入
出力ピンにおける電圧を判定することができる。
２２ａ及び参照電圧源２３ａを示す。電流印加電圧測定
試験において、電気部品１６の入出力ピンに定電流を印
加した場合の、電気部品１６の入出力ピンにおける電圧
がコンパレータ２２ａに入力される。参照電圧源２３ａ
は、コントローラ１７からの信号に基づいて、参照電圧
を順次変化させてコンパレータ２２ａに出力する。コン
パレータ２２ａは、電気部品１６から供給される入出力
ピンにおける電圧と、参照電圧源２３ａから供給される
参照電圧を比較する。従って、判定部２２は、電気部品
１６から供給される入出力ピンにおける電圧と、参照電
圧が一致するか否かで、電気部品１６から供給される入
出力ピンにおける電圧を判定することができる。
【００３４】以上、本発明を実施の形態を用いて説明し
たが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範
囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又
は改良を加えることができる。その様な変更又は改良を
加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、
特許請求の範囲の記載から明らかである。
たが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範
囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更又
は改良を加えることができる。その様な変更又は改良を
加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、
特許請求の範囲の記載から明らかである。
【００３５】
【発明の効果】上記説明から明らかなように、本発明に
よれば電気部品が有する入出力ピンに対して、同時に電
圧印加電流測定試験及び、電流印加電圧測定試験ができ
る。
よれば電気部品が有する入出力ピンに対して、同時に電
圧印加電流測定試験及び、電流印加電圧測定試験ができ
る。
【図１】従来の試験装置１００を示す。
【図２】試験装置１００の１つの実施形態を示す。
【図３】プログラマブルロード２５の１つの実施形態を
示す。
示す。
【図４】クランプ部５４の１つの実施形態を示す。
【図５】判定部２２を示す。
１０・・・パターン発生部、１２・・・比較部、１４・
・・ＤＣ測定部、１６・・・電気部品、１８・・・ピン
エレクトロニクス、１９・・・ピンエレクトロニクス、
２０・・・ドライバ、２１・・・電圧生成部、２２・・
・判定部、２２ａ・・・コンパレータ、２３ａ・・・参
照電圧源、２４・・・プログラマブルロード、２５・・
・プログラマブルロード、２６・・・クランプ部、２７
・・・電流測定部、２８・・・スイッチ、３０・・・Ｄ
／Ａ変換器、３２・・・オペアンプ、３４・・・電流測
定用抵抗、４４・・・オペアンプ、４６・・・Ａ／Ｄ変
換器、４８・・・第１の電流源、５０・・・第２の電流
源、５１・・・制御部、５２・・・ダイオードブリッ
ジ、５４・・・クランプ部、６５・・・スイッチ、７２
・・・オペアンプ、８０・・・Ｄ／Ａ変換器
・・ＤＣ測定部、１６・・・電気部品、１８・・・ピン
エレクトロニクス、１９・・・ピンエレクトロニクス、
２０・・・ドライバ、２１・・・電圧生成部、２２・・
・判定部、２２ａ・・・コンパレータ、２３ａ・・・参
照電圧源、２４・・・プログラマブルロード、２５・・
・プログラマブルロード、２６・・・クランプ部、２７
・・・電流測定部、２８・・・スイッチ、３０・・・Ｄ
／Ａ変換器、３２・・・オペアンプ、３４・・・電流測
定用抵抗、４４・・・オペアンプ、４６・・・Ａ／Ｄ変
換器、４８・・・第１の電流源、５０・・・第２の電流
源、５１・・・制御部、５２・・・ダイオードブリッ
ジ、５４・・・クランプ部、６５・・・スイッチ、７２
・・・オペアンプ、８０・・・Ｄ／Ａ変換器
Claims (9)
- 【請求項１】 電気部品を試験する試験装置に設けられ
前記電気部品の入出力ピンに信号を入出力するピンエレ
クトロニクスにおいて、 所望する電流を出力する電流源と、 所望する電圧を生成する第１の電圧生成部と、 前記電流源と、前記第１の電圧生成部と、前記電気部品
の入出力ピンとそれぞれ接続されて、前記所望する電流
を前記電気部品に与えると共に、前記所望する電圧を前
記電気部品に与えるダイオードブリッジと、を備え、 前記第１の電圧生成部は、当該第１の電圧生成部から前
記ダイオードブリッジに入力される電流を測定する電流
測定部を有する、ことを特徴とするピンエレクトロニク
ス。 - 【請求項２】 前記電流源は、前記所望する電流を前記
ダイオードブリッジへ出力する第１の電流源及び前記ダ
イオードブリッジから前記所望する電流を入力する第２
の電流源を有し、 前記入出力ピンに所定の電圧を印加して、前記電気部品
に入力される電流を測定する場合に、前記第１の電流源
に所定の電流を出力させ、前記第２の電流源に前記所定
の電流を前記ダイオードブリッジから入力させる制御部
を更に備えることを特徴とする請求項１に記載のピンエ
レクトロニクス。 - 【請求項３】 前記第１の電圧生成部は、少なくとも前
記電気部品の有する前記入出力ピンのそれぞれに対応し
て設けられることを特徴とする請求項１または２に記載
のピンエレクトロニクス。 - 【請求項４】 前記電気部品の出力インピーダンスと、
前記電気部品から出力される出力電圧を判定するコンパ
レータから前記電気部品までの伝送経路のインピーダン
スとの違いにより生じる前記電気部品の出力値の歪みを
補正するクランプ部を更に備え、 前記クランプ部は、 前記電気部品に与える電圧を生成する第２の電圧生成部
と、 所望する電流を生成する電流生成部と、 前記第２の電圧生成部により生成される電圧を前記電気
部品に供給するか、前記電流生成部により生成される前
記所望の電流を前記電気部品に供給するかを選択するス
イッチと、を含み、 前記電気部品に前記所望の電流を印加して、前記出力電
圧を測定する場合に、 前記制御部は、前記スイッチに、前記電流生成部を選択
させて前記所望する電流を前記電気部品に供給させ、前
記コンパレータに前記出力電圧を判定させる、ことを特
徴とする請求項２または３に記載のピンエレクトロニク
ス。 - 【請求項５】 前記電気回路に前記所望する電流を印加
して、前記出力電圧を測定する場合に、 前記制御部は、前記第１の電流源と前記第２の電流源か
ら前記ダイオードブリッジへの電流の供給を停止させる
ことを特徴とする請求項２から４のいずれかに記載のピ
ンエレクトロニクス。 - 【請求項６】 前記コンパレータは、 前記電気部品に前記所望の電流を印加して、前記電気部
品から出力される前記出力電圧を測定する場合に、 前記参照電圧源は参照電圧源から供給される参照電圧を
順次変化させ、前記コンパレータは順次変化する前記参
照電圧と前記出力電圧とを比較して、 前記参照電圧と前記出力電圧が一致した場合に、前記出
力電圧は前記参照電圧と等しい電圧値であると判定す
る、ことを特徴とする請求項４または５に記載のピンエ
レクトロニクス。 - 【請求項７】 電気部品を試験する試験装置に設けられ
前記電気部品の入出力ピンに信号の入出力をするピンエ
レクトロニクスにおいて、 前記電気部品の出力インピーダンスと、前記電気部品か
ら出力される出力電圧を判定するコンパレータから前記
電気部品までの伝送経路のインピーダンスとの違いによ
り生じる前記電気部品の出力値の歪みを補正するクラン
プ部、を備え、 前記クランプ部は、 前記電気部品に与える電圧を生成する電圧生成部と、 所望する電流を生成する電流生成部と、 前記電圧生成部により生成される電圧を前記電気部品に
供給するか、前記電流生成部により生成される前記所望
の電流を前記電気部品に供給するかを選択するスイッチ
と、を含み、 前記電気部品に前記所望の電流を印加して、前記出力電
圧を測定する場合に、 前記スイッチに前記電流生成部を選択させて前記所望す
る電流を前記電気部品に供給させ、前記コンパレータに
前記出力電圧を判定させる制御部を、有することを特徴
とするピンエレクトロニクス。 - 【請求項８】 電気部品が正常か否かを試験する試験装
置において、 前記電気部品に印加する試験パターンと、前記電気部品
が正常な場合に出力されるべき期待値とを発生するパタ
ーン発生部と、 前記試験パターンを前記電気部品に出力して、前記電気
部品の出力値を入力するピンエレクトロニクスと、 前記期待値と前記ピンエレクトロニクスを介して供給さ
れる前記出力値とを比較して前記電気回路が正常か否か
を判定する比較部と、を備え、 前記ピンエレクトロニクスは、 所望する電流を出力する電流源と、 所望する電圧を生成する電圧生成部と、 前記電流源と、前記電圧生成部と、前記電気部品の入出
力ピンとそれぞれ接続されて、前記所望する電流を前記
電気部品に与えると共に、前記所望する電圧を前記電気
部品に与えるダイオードブリッジと、を備え、 前記電圧生成部は、当該電圧生成部から前記ダイオード
ブリッジに入力される電流を測定する電流測定部を有す
る、ことを特徴とする試験装置。 - 【請求項９】 電気部品が正常か否かを試験する試験装
置において、 前記電気部品に印加する試験パターンと、前記電気部品
が正常な場合に出力されるべき期待値とを発生するパタ
ーン発生部と、 前記試験パターンを前記電気部品に出力して、前記電気
部品の出力値を入力するピンエレクトロニクスと、 前記期待値と前記ピンエレクトロニクスを介して供給さ
れる前記出力値とを比較して前記電気回路が正常か否か
を判定する比較部と、を備え、 前記ピンエレクトロニクスは、 前記電気部品の出力インピーダンスと、前記電気部品か
ら出力される出力電圧を判定するコンパレータから前記
電気部品までの伝送経路のインピーダンスとの違いによ
り生じる前記電気部品の出力値の歪みを補正するクラン
プ部、を備え、 前記クランプ部は、 前記電気部品に与える電圧を生成する電圧生成部と、 所望する電流を生成する電流生成部と、 前記電圧生成部により生成される電圧を前記電気部品に
供給するか、前記電流生成部により生成される所望の電
流を前記電気部品に供給するかを選択するスイッチと、
を含み、 前記電気部品に前記所望の電流を印加して、前記出力電
圧を測定する場合に、 前記スイッチに前記電流生成部を選択させて前記所望す
る電流を前記電気部品に供給させ、前記コンパレータに
前記出力電圧を判定させる制御部を、有することを特徴
とする試験装置。
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|---|---|---|---|
| JP28217599A JP4119060B2 (ja) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | 試験装置 |
| US09/677,784 US6498473B1 (en) | 1999-10-01 | 2000-10-02 | Pin electronics having current measuring unit and testing apparatus having pin electronics thereof |
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|---|---|---|---|
| JP28217599A JP4119060B2 (ja) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | 試験装置 |
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|---|---|
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| JP4119060B2 JP4119060B2 (ja) | 2008-07-16 |
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ID=17649075
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28217599A Expired - Fee Related JP4119060B2 (ja) | 1999-10-01 | 1999-10-01 | 試験装置 |
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| Country | Link |
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| US (1) | US6498473B1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2010540972A (ja) * | 2007-10-04 | 2010-12-24 | テラダイン、 インコーポレイテッド | レガシー試験システムの挙動エミュレート |
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-
2000
- 2000-10-02 US US09/677,784 patent/US6498473B1/en not_active Expired - Fee Related
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