JPH0496301A - 角形チップ抵抗器 - Google Patents

角形チップ抵抗器

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JPH0496301A
JPH0496301A JP2214530A JP21453090A JPH0496301A JP H0496301 A JPH0496301 A JP H0496301A JP 2214530 A JP2214530 A JP 2214530A JP 21453090 A JP21453090 A JP 21453090A JP H0496301 A JPH0496301 A JP H0496301A
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electrode layer
chip resistor
square chip
electrodes
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Masato Hashimoto
正人 橋本
Seiji Tsuda
清二 津田
Akio Fukuoka
章夫 福岡
Hiroyuki Yamada
博之 山田
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は高密度配線回路に用いられる角形チップ抵抗器
に関するものである。
従来の技術 近年、電子機器の軽薄短小化ム、゛対ジーる要求がます
まt増大りでいく中、回路基板の配線密度を高めるため
、抵抗素子61丁は非常に小型な角形チップ抵抗器が多
く用いらメするようになってきた。
従来の角形千ノブ抵抗器の構造を、第2図1.二示ず。
従来の角形チップ抵抗器9Gアルミナ基板10による基
材と、銀系厚膜電極による上面電極層11、この上面電
極胴11に重なり暴(反の端面を覆いかつ基板の表面ま
でのびた表面8極層12、ルヲニウム系厚膜抵抗による
抵抗層13と、抵抗Jl113を剛・)ガラスによるオ
ーバー・コーi・ガラス層14とからなっている、なお
、露出し7た電極面にははんだ何υ性を向−にさ(るた
めに、Niめz * Jii 15とSn−’Pbめっ
き層16を電解めっきにより施している。
発明が解決しようとする課題 しかし、従来の角形チップ抵抗器の裏面電極層12の表
面と2つの裏面電極間に露出した96アルミナ基板10
の底面との高低差は約15μm以下であり、このため角
形チップ抵抗器の製造工程の最終工程である電解めっき
(バレルによるめっき)工程にて、第3図に示すごとく
2個の角形チップ抵抗器の裏面電極層12同士がめつき
中にくっつきやすく、不良となる率が高かった。 (3
〜4%程度)それゆえ、2個くっついた角形チップ抵抗
器に振動を加え1個づつに分離する工程を設けていたが
、分離した角形チップ抵抗器の裏面電極は表面凹凸が大
きく、角形チップ抵抗器をプリント基板に実装するとき
にはんだ付は不良による実装不良となるといった課題が
あった。
本発明は上記課題に鑑みてなされたもので、電極めっき
工程にて裏面電極層同士がくっつき合うことのない角形
チップ抵抗器を目的とする。
課題を解決するための手段 上記目的を達成するために本発明の角形チップ抵抗器は
、裏面電極の表面と裏面電極間に露出した基板の底面と
の高低差を20μm以上となるように構成されている。
作用 本発明の角形チップ抵抗器によれば、角形チップ抵抗器
の最終工程である電解めっき(バレルめっき)工程にお
ける不良率が低減し、角形チップ抵抗器の裏面電極の凹
凸の小さい角形チップ抵抗器を提供することが出来る。
めっき時の不良率が小さくなる原因としては、2つの角
形チップ抵抗器の裏面電極層同士を引き付ける作用をし
てしまうめっき液による表面張力が、裏面電極と基板底
面とに高低差を設けたことにより小さくなったためと考
えられる。
実施例 以下、本発明の一実施例の角形チップ抵抗器について、
第1図を用いて説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図である。
第1図において、本発明の角形チップ抵抗器は、96ア
ルミナ基板1と、銀系厚膜電橋による上面電極層2と、
厚みが10μm以上の裏面電極層8と、厚みが10μm
以上の端面電橋層3、ルテニウム系厚膜抵抗による抵抗
層4と、この抵抗層4を覆うオーバーコートガラス層5
とからなっている。なお、露出した電極面にははんだ付
は性を向上させるために、Niめっき層6と5n−Pb
めっき層7を電解めっきにより施されている。
次に、第1図に示した本実施例の製造工程の詳細につい
て説明する。まず、耐熱性および絶縁性に優れた96ア
ルミナ基板1を受は入れる。この96アルミナ基板1に
は短冊状、および個片状に分割するために、分割のため
の溝(グリーンシート時に金型成型)が形成されている
0次に、前記96アルミナ基板lの表面および裏面に厚
膜銀ペーストをスクリーン印刷し、ベルト式連続焼成炉
によって850℃の温度で、ピーク時間6分、lN−0
UT45分のプロファイルによって焼成し、上面電極層
2と裏面電極層8を同時に形成する0次に、上面電極層
2の一部に重なるように、Ru5tを主成分とする厚膜
抵抗ペーストをスクリーン印刷し、ヘルド式連続焼成炉
により850°Cの温度でピーク時間6分、lN−0U
T時間45分のプロファイルによって焼成し、抵抗層4
を形成する0次に、前記上面電極層2間の前記抵抗層4
の抵抗値を揃えるために、レーザー光によって、前記抵
抗層4の一部を破壊し抵抗値修正を行う、更に、前記抵
抗層4を完全に覆うように、ホウケイ酸鉛系ガラスペー
ストをスクリーン印刷し、ベルト式連続焼成炉によって
590℃の温度で、ピーク時間6分、lN−0UT50
分の焼成プロファイルによって焼成し、オーバーコート
ガラス層5を形成する0次に、端面を掻を形成するため
の準備工程として、基板端面を露出させるために、アル
ミナ基板lを短冊状に分割し、短冊状アルミナ基板を得
る。前記短冊状アルミナ基板の側面に、前記上面電極層
2の一部と裏面電極層8の一部に重なるように厚膜銀ペ
ーストをローラーによって塗布し、ベルト式連続焼成炉
によって600°Cの温度で、ピーク時間6分、lN−
0UT45分の焼成プロファイルによって焼成し、端面
電極層3を形成する。次に、電極メツキの準備工程とし
て、前記端面電極層3を形成済みの短冊上アルミナ基板
を個片状に分割5−る二次基板分割を行い、個片状アル
ミナ基板を得る。
そして最後に、露出している上面電極N2と端面電極層
3のはんだ付は時の電極喰われの防止およびはんだ付け
の信軌製の確保のため、電解めっきによってNiめっき
[6と5n−Pbのメツキ層7を形成する。
以上の工程により、本実施例による角板型チップ抵抗器
を製造した。
更に、比較例として、裏面部電極と基板底面の高低差が
約157zmの従来例に示した角形チップ抵抗器も製造
した。
実施例と比較例のめっきによる不良率(2僧くっつき率
)を第1表にまとめる。
(以下余白2 第1表 第1表より分かるように本発明の実施例はいずれもめっ
きによるくっつき不良率が激減することが分かった。こ
れにより、くっつき不良品を分離することで発生してい
た裏面電極の凹凸の大きな角形チップ抵抗器の数が激減
し実装時のはんだ付は不良も激減した。
以上の説明より明らかなように、本実施例の角形チップ
抵抗器は非常に優れた性能を有するど言える。
なお、実施例では裏面部電極8と基板底面との高低差は
裏面電極間8と端面1に極層3を重ね合わせることによ
り設けたが、これは厚みの厚い端面電極層3をまわり込
まセで形成しても良いし、また、96アルミナ基板1の
裏面端部にあらかL2め凸部を形成しておいてもよい。
発明の効果 以上の説明より明らかなように、本発明の角形子ノブ抵
抗器によれば、裏面電極の表面と裏面電極間に露出した
基板の底面との高低差を20μm以上となるように構成
されているので、角形チップ抵抗器の最終工程である電
解めっき(バ1−ルめっき)工程に於て不良率が低減し
、裏面電極凹凸の大きい角形チップ抵抗器の数を沌らし
、実装性に優れた角形チップ抵抗器を提供することか出
来るといった優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の角形チップ抵抗器の構造を示す断面図
、第2図は従来の角形チップ抵抗器の構造を示す断面図
、第3図は従来の角形チップ抵抗器のめっき工程にて多
数発生していたくっつき不良品の不良発生状態の説明図
である。 l・・・・・・96アルミナ基板、2・・・・・・土面
電極層、4・・・・・・抵抗層、5・・・・・・オーバ
ーコートガラス層、3・・・・・・端面電極層、6・・
・・・・Niめヮき層、7・・・・・・5n−Pbめっ
き層、8・・・・・・裏面電極層。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 ばか1名!・−96
アルミナ羞1反 2−上面を種層 3一端面wL棟層 4−ボ坑層 5−−一オーバーゴートカ゛ラス1 乙−・NIの−)き層 7−5杭−Pbf)フさ眉

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)絶縁基板と、前記絶縁基板の表面に形成された上
    面電極層と、前記絶縁基板の裏面に形成された裏面電極
    層と、前記上面電極層の一部に重なる厚膜の抵抗層と、
    前記抵抗層を完全に覆うオーバーコートガラス層と、前
    記上面電極層と裏面電極層とを接続するように前記絶縁
    基板の端面に形成された端面電極層とから構成され、前
    記裏面電極層の表面と絶縁基板との高低差が20μm以
    上であることを特徴とする角形チップ抵抗器。
  2. (2)絶縁基板と、前記絶縁基板の表面に形成された上
    面電極層と、前記絶縁基板の裏面に形成された厚み10
    μm以上の裏面電極層と、前記上面電極層の一部に重な
    る厚膜の抵抗層と、前記抵抗層を完全に覆うオーバーコ
    ートガラス層と、前記上面電極層と裏面電極層の一部に
    重なる厚み10μm以上の端面電極層とから構成したこ
    とを特徴とする角形チップ抵抗器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6400251B1 (en) * 1999-04-01 2002-06-04 Murata Manufacturing Co., Ltd. Chip thermistor
JP2010050469A (ja) * 2009-10-16 2010-03-04 Koa Corp 電流検出用抵抗器の製造方法

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US6400251B1 (en) * 1999-04-01 2002-06-04 Murata Manufacturing Co., Ltd. Chip thermistor
JP2010050469A (ja) * 2009-10-16 2010-03-04 Koa Corp 電流検出用抵抗器の製造方法
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