JPH0434257B2 - - Google Patents

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JPH0434257B2
JPH0434257B2 JP59141898A JP14189884A JPH0434257B2 JP H0434257 B2 JPH0434257 B2 JP H0434257B2 JP 59141898 A JP59141898 A JP 59141898A JP 14189884 A JP14189884 A JP 14189884A JP H0434257 B2 JPH0434257 B2 JP H0434257B2
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JP
Japan
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peak
cleavage
mass
display
peaks
Prior art date
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JP59141898A
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English (en)
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JPS6120856A (ja
Inventor
Saburo Ishii
Kimio Sato
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Jeol Ltd
Original Assignee
Nihon Denshi KK
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/022Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、質量分析データ解析システムに係
り、分子ピークとその開裂ピークの表示及び開裂
表示を色分けして行うマス・スペクトルの開裂ピ
ーク表示方式に関するものである。
〔従来の技術〕
質量分析装置から得られたマス・スペクトルを
表示し、その解析を行う質量分析データ解析シス
テムにおいて、従来は測定ピークをもとに与えら
れた元素に対する組合わせ計算結果がテーブル形
式で出力され、補足的にバー・グラフによるパタ
ーン表示(オリジナル・データ表示)が行われて
いた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら上述の如き出力表示では、テーブ
ルとバー・グラフとの対応が取り難く、また、テ
ーブル形式により出力される内容は、機械的な組
合わせ計算によるものであるため、同一ピークに
対し多くの可能性結果を含んでいる。この結果、
このようなテーブルとバー・グラフから測定デー
タの解析を行うには、熟練と時間を要するという
問題があつた。本発明は、係る考案に基づくもの
であつて、分子ピークと開裂ピークの理論値との
質量数誤差等が容易に把握することができるマ
ス・スペクトルの開裂ピーク表示方式を提供する
ことを目的とするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
そのために本発明のマス・スペクトルの開裂ピ
ーク表示方式は、フラグメント情報を登録したテ
ーブル、指定された分子ピークの組成式に含まれ
る元素とその数とをもとに元素がはずれた組成式
に対応するピースを測定データから抽出するピー
ク抽出手段、各組成式の理論値と各ピークとの質
量数誤差を求め誤差範囲に対応して表示色を設定
するピーク表示設定手段、及び上記分子ピークと
各ピークとの質量差を計算しテーブルのフラグメ
ント情報を参照して各開裂の表示色を設定する開
裂表示設定手段を備え、分子ピークと各開裂ピー
クを質量数誤差に応じて色分けして表示すると共
に、各開裂をバー・グラフ上に色分けして表示す
ることを特徴とするものである。
〔作用〕
テーブルには、分子ピークからの質量差(脱離
する基の質量数)等が登録される。そして、オペ
レータが開裂ピーク情報を必要とする分子ピーク
の選定を行い、その組成式を入力すると、ピーク
抽出手段では、元素がはずれた組成式に対して一
対の誤差範囲に入るピークを測定データから抽出
する。それに対してピーク表示設定手段では、各
組成式の理論値と各ピークとの質量数誤差を求め
ると共に、その誤差範囲に応じた表示色を設定す
る。また、開裂表示設定手段では、各分子ピーク
と各ピークとの質量差を計算し、テーブルのフラ
グメント情報と一致するものはバー・グラフ上に
色分けして各開裂を表示する。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明
する。
第1図は精密質量測定して得られたマス・スペ
クトルの例を示す図、第2図は精密質量計算をし
て得られたデータの例を示す図、第3図は本発明
の質量分析データ解析システムの1実施例構成を
示す図、第4図は本発明の質量分析データ解析シ
ステムによる処理の流れを説明する図、第5図は
本発明の質量分析データ解析システムによる表示
例を説明する図である。
二重収束質量分析計を使つて測定したメチルス
テアレート(C19H38O2)のマス・スペクトルの
例を示したのが第1図であり、このデータについ
て精密質量計算を行つて得られた出力データの例
を示したのが第2図である。第2図において、
Massは質量数(M/Z)、Int.は強度、mmuは組
成式の理論値と測定値との質量数誤差(ミリマ
ス)、Elemental Formulaは組成式を示してい
る。第1図において、質量数M/Z=298でピー
クがあるが、このピークは第2図図示の精密質量
計算の結果によれば、質量数M/Z=298.1157と
なる。そこで、C(炭素)、H(水素)、O(酸素)
の組み合わせを求めさせると、 C22H34,C21H30O,C20H42O, C20H26O2,C19H38O2, の組み合わせが、与えられた条件内(各元素の真
値よりの誤差許容量Max値以内)で見出される。
この例の場合における正解は、メチルステアレー
ト(C19H38O2)であり、真値は質量数M/Z=
298.2871であるから、質量数誤差が171ミリマス
(mmu)もあることになるが、通常は高分解能測
定でこの誤差が5ミリマス(mmu)以内に入るよ
うに測定される。同様に他のピークについてもそ
れぞれ質量数が第2図図示の如く計算される。
質量分析計において、試料がイオン化される
際、一部基が落ちてバラバラになり、分子ピーク
から分解して他のピークとして現れるものがあ
る。これを開裂ピークという。先に述べたメチル
ステアレート(C19H38O2)の例では、分子ピー
クが質量数298に対して、第2図図示の如く267、
さらには255等の開裂ピークがある。これらの開
裂ピークは、 267=298−31 (31;CH3O) 255=298−43 (43;C3H7) の如く、CH3OやC3H7がメチルステアレート
(C19H38O2)からはずれた、それぞれ質量差31、
43のピークである。これらの脱離は構造解析上大
きな意味をもつている。本発明では、この開裂を
示すピーク(267,255等)を予めライブラリとし
てテーブルに登録しておき、これに近い脱離ピー
クを抽出して測定値と理論値との質量数誤差を計
算する。そして分子ピークをその質量数誤差の大
きさに応じた色分けしバーグラフで表示する。ま
た、分子ピークと各開裂ピークとの質量差、即
ち、上述の例では、 M−31,M−43 等の開裂表示を併せて行う。
上述の如き分析データの開裂と誤差範囲とを色
分け表示する質量分析データ解析システムの1実
施例構成を示したのが第3図であり、その処理の
流れを示したのが第4図である。第3図におい
て、1は質量分析装置、2は処理装置(CPU)、
3は記憶装置、4は表示装置、5は入力装置をそ
れぞれ示している。記憶装置3には、テーブルが
用意され、このテーブルにフラグメント情報が登
録されると共に、入力装置5からオペレータによ
り指定された質量数誤差の範囲に応じた表示色が
記憶される。そして、質量分析装置1により得ら
れた分析データに対して、処理装置2は、オペレ
ータの指示により精密質量計算や上述した各種処
理を行つて、表示装置4の画面上にマス・スペク
トルのバー・グラフ及び開裂をカラー表示する。
以下、第4図を参照しつつ処理装置による処理の
流れを説明する。
質量分析装置により測定したマス・スペクト
ル・データについて精密質量計算を行う。次に
の処理を行う。
各ピークについて組成演算を行う。次にの
処理を行う。
上記による計算結果に従つて組成式を表示
装置の画面に表示する。
ここまでは従来も行われていた処理であるが、
本発明では、さらに上記の処理で表示された組
成式の中からオペレータが開裂ピーク情報を必要
とする分子ピークの選定を行い、その組成式番号
を入力装置から入力すると、続いて次の処理を行
う。
入力された組成式に含まれる元素とその数と
をもとに元素がはずれた組成式をもつピークの
みを上記で出力したデータから抽出する。次
にの処理を行う。
上記によりソーテイングされた各組成式の
測定値からの質量数誤差をもとに各ピークの色
分けを行う。次にの処理を行う。
分子ピークと各開裂ピーク(フラグメント・
ピーク)との質量差計算及びフラグメント情報
ライブラリの参照を行い、開裂表示の色分けを
行う。次にの処理を行う。
選定された組成式番号の分子ピーク及び各開
裂ピークについて質量数誤差の範囲に応じて色
分けした上記の処理結果に従つてバー・グラ
フ表示を行うと共に、質量差に応じて色分けし
た上記の処理結果に従つてバー・グラフ上に
開裂表示を行う。
なお、質量数誤差の範囲に応じて色分け表示を
行う場合、例えば、質量数誤差ΔMに対応して 0〜1mmu ……赤 1mmu〜3mmu ……青 3mmu〜5mmu ……黄 5mmu〜10mmu ……緑 10mmu以上 ……紫 のようにオペレータが色の指定を行うと、表示色
によつて黄よりも緑、緑よりも紫がより質量数誤
差の大きいものとして認識できるので、質量数誤
差の認識が容易となる。また分子ピークからの質
量差をM−Xoの型式で色分けし開裂表示する場
合にも、例えば M−CH3(X=CH3に対応) ……赤 M−CH3O(X=CH3O〃) ……青 のようにオペレータが色の指定を行い、Xoに対
して予め作成したテーブル(ライブラリ)を参照
し、そのテーブルに一致したものを指定された色
により開裂表示すると、開裂表示の色によつては
ずれた基を把握することが容易となる。
また、開裂ピークと判断されないピーク(内部
標準ピーク、バツクグランド・ピーク、不純物ピ
ーク等)は、例えば点線又は白色により表示する
ことによつて、上記の表示と区別することができ
る。これらの開裂ピークと判断されないピークを
点線で表示した例を示したのが第5図である。な
お、第5図では色分け表示の内容を示すことはで
きないが、本発明によれば、表示装置の画面には
第5図図示実線の分子ピークと各開裂ピークのバ
ー・グラフがそれぞれ質量数誤差の範囲に応じた
色により表示され、「M−31」、「M−43」等の開
裂表示もそれぞれ開裂の内容に応じた色により表
示されることは、先に述べた通りである。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、測定値と組成演算結果の誤差が各開裂ピーク
(フラグメント・ピーク)毎に色分けして表示さ
れるため、誤差の大きなものに対する認識が容易
となり、全体的に誤差が大きい場合には他の組成
組み合わせの可能性を追求する等、より効果的に
解析を行うことができる。また、分子ピークと各
開裂ピーク(フラグメント・ピーク)との差がバ
ー・グラフ上に展開され、且つ予め登録したフラ
グメント・テーブルとの比較により色分け表示を
行うため、構造決定がより容易となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は精密質量測定して得られたマス・スペ
クトルの例を示す図、第2図は精密質量計算をし
て得られたデータの例を示す図、第3図は本発明
の質量分析データ解析システムの1実施例構成を
示す図、第4図は本発明の質量分析データ解析シ
ステムによる処理の流れを説明する図、第5図は
本発明の質量分析データ解析システムによる表示
例を説明する図である。 1……質量分析装置、2……処置装置
(CPU)、3……記憶装置、4……表示装置、5
……入力装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 質量数と該質量数に対応する強度を座標軸と
    し測定データのバー・グラフを表示する質量分析
    データ解析システムのマス・スペクトルの開裂ピ
    ーク表示方式において、フラグメント情報を登録
    したテーブル、指定された分子ピークの組成式に
    含まれる元素とその数とをもとに元素がはずれた
    組成式に対応するピークを測定データから抽出す
    るピーク抽出手段、各組成式の理論値と各ピーク
    との質量数誤差を求め誤差範囲に対応して表示色
    を設定するピーク表示設定手段、及び上記分子ピ
    ークと各ピークとの質量差を計算しテーブルのフ
    ラグメント情報を参照して各開裂の表示色を設定
    する開裂表示設定手段を備え、分子ピークと各開
    裂ピークを質量数誤差に応じて色分けして表示す
    ると共に、各開裂をバー・グラフ上に色分けして
    表示することを特徴とするマス・スペクトルの開
    裂ピーク表示方式。
JP59141898A 1984-07-09 1984-07-09 マス・スペクトルの開裂ピ−ク表示方式 Granted JPS6120856A (ja)

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Families Citing this family (12)

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