JP2676744B2 - 質量分析計のスペクトル表示装置 - Google Patents
質量分析計のスペクトル表示装置Info
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- JP2676744B2 JP2676744B2 JP62276218A JP27621887A JP2676744B2 JP 2676744 B2 JP2676744 B2 JP 2676744B2 JP 62276218 A JP62276218 A JP 62276218A JP 27621887 A JP27621887 A JP 27621887A JP 2676744 B2 JP2676744 B2 JP 2676744B2
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- Japan
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- peak
- spectrum
- mass spectrometer
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は質量分析計の出力の表示手段に関するもので
ある。 （従来技術） 一般に質量分析計で得られたスペクトルを解析する際
には、現出している各スペクトルピーク間の質量差を計
算し、その質量差に適当な原子や分子や官能基の質量数
あるいはそれらの和の質量数を対応させることによって
試料の分子構造に解析しており、この質量差の計算には
通常、暗算、筆算あるいは電卓が用いられている。 （発明が解決しようとする問題点） 試料をEI法でイオン化した場合、試料分子が分断され
て多種のフラグメントイオンを生成される。この場合、
一つの原子団に既知の原子団の一つあるいは幾つかが連
結した状態のフラグメントイオンが生成されるので、質
量スペクトルのピークの中には、相互の質量数の差がこ
れら既知の原子団の質量数と一致するピーク系列が幾つ
か見出だされる。このようなピーク系列を見付けること
が質量スペクトルによる試料の分子構造解析上の一つの
方法となる。 第４図は１例として大豆ステロールの質量スペクトル
を示したものである。同図において、基準にとったピー
クＭ（＝414）からの質量差が−18であるフラグメント
イオンのピークM1の構造は容易に（Ｍ−H2O）として同
定することができるが、フラグメントイオンピークM
2（＝M1−C9H11）やM3（＝M2−H2O）の構造は、上記Ｍ
からの質量差を見るよりも、それぞれM1あるいはM2から
の質量差を見るほうが遥かに同定が容易である。 しかしながら、上述のように基準ピークを試行錯誤的
に選びながら各フラグメントイオンの質量差を計算する
のは非常に手間が掛かり、従ってまた不正確になり易い
という欠点があった。そこで本発明は、任意のフラグメ
ントイオンピークからの質量差が一目で分かるような質
量分析計のスペクトル表示手段を提供することを目的と
するものである。 （問題点を解決するための手段） 上記の目的を達成するために本発明は、横軸に質量
数、縦軸にスペクトル強度をとって質量スペクトルを表
示するようにしたスペクトル表示装置において、横軸と
して本来の質量数と共に、操作入力により任意に指定さ
れる質量数からの差を表示するようにしたものである。 （作用） 上記の構成によれば、操作入力によって任意のフラグ
メントイオンのピークを基準ピークに指定し、その基準
ピークからの質量差を横軸として表示することができる
ので、質量差を求めるための煩雑な計算が不要となり、
各フラグメントの分子構造の同定を迅速且つ正確に行う
ことができる。 （実施例） 第１図は本発明装置の一実施例をブロック図で示した
もので、質量分析計１の出力であるスペクトル信号がイ
ンタフェイス２を介して制御回路３に取り込まれ、フロ
ッピーディスクなどよりなる外部記憶装置４に収録され
る。制御回路３はCPU5、内部メモリ６などで構成されて
おり、装置が始動されると外部記憶装置４に保持されて
いる処理プログラムが制御回路３に呼び出されて実行さ
れるようになっている。処理されたデータはCRT7あるい
はプリンタ８に出力される。 第２図はCRT7またはプリンタ８による表示の一例を示
したもので、図中（イ）は本来の質量数を示す主目盛で
ある。いま主目盛（イ）で質量数91のフラグメントピー
クＡを基準ピークに指定すると、質量数91をゼロ点とす
る補助目盛（ロ）が図示のごとく表示される。これによ
ってフラグメントＡを基準とするフラグメントB,C,Dの
質量差がそれぞれ−1,9,10であることは計算を要するこ
となく一目で判別できる。なお補助目盛（ロ）を複数本
設けて、基準ピークを同時に複数本指定できるようにし
てもよい。 更に第３図の実施例は、表示装置としてカラーCRTあ
るいはカラープリンタを使用し、質量数が101のフラグ
メントピークＡと、質量数が102のフラグメントピーク
Ｂをそれぞれ基準ピークとして指定した場合における各
フラグメントピークのＡ及びＢからの質量差を各フラグ
メントピークの先端に色違いで２段に表示するようにし
たもので、フラグメントピークＣの先端には、Ａを基準
とした場合の質量差７が青色で、Ｂを基準とした場合の
質量差６が赤色で、それぞれ表示されている。 （発明の効果） 上述のように本発明は、質量スペクトルの横軸として
質量数と共に、操作入力によって指定される任意の質量
数からの質量差を表示するようにしたものであるから、
操作者は任意のフラグメントイオンピークを基準ピーク
に指定し、その基準ピークからの質量差を表示すること
ができ、従って従来のような質量差を求めるための煩雑
な計算が不要となり、主要なピーク系列を見出だす作業
が容易になって、各フラグメントイオンの分子構造の同
定を迅速且つ正確に行うことができるという利点があ
る。
ある。 （従来技術） 一般に質量分析計で得られたスペクトルを解析する際
には、現出している各スペクトルピーク間の質量差を計
算し、その質量差に適当な原子や分子や官能基の質量数
あるいはそれらの和の質量数を対応させることによって
試料の分子構造に解析しており、この質量差の計算には
通常、暗算、筆算あるいは電卓が用いられている。 （発明が解決しようとする問題点） 試料をEI法でイオン化した場合、試料分子が分断され
て多種のフラグメントイオンを生成される。この場合、
一つの原子団に既知の原子団の一つあるいは幾つかが連
結した状態のフラグメントイオンが生成されるので、質
量スペクトルのピークの中には、相互の質量数の差がこ
れら既知の原子団の質量数と一致するピーク系列が幾つ
か見出だされる。このようなピーク系列を見付けること
が質量スペクトルによる試料の分子構造解析上の一つの
方法となる。 第４図は１例として大豆ステロールの質量スペクトル
を示したものである。同図において、基準にとったピー
クＭ（＝414）からの質量差が−18であるフラグメント
イオンのピークM1の構造は容易に（Ｍ−H2O）として同
定することができるが、フラグメントイオンピークM
2（＝M1−C9H11）やM3（＝M2−H2O）の構造は、上記Ｍ
からの質量差を見るよりも、それぞれM1あるいはM2から
の質量差を見るほうが遥かに同定が容易である。 しかしながら、上述のように基準ピークを試行錯誤的
に選びながら各フラグメントイオンの質量差を計算する
のは非常に手間が掛かり、従ってまた不正確になり易い
という欠点があった。そこで本発明は、任意のフラグメ
ントイオンピークからの質量差が一目で分かるような質
量分析計のスペクトル表示手段を提供することを目的と
するものである。 （問題点を解決するための手段） 上記の目的を達成するために本発明は、横軸に質量
数、縦軸にスペクトル強度をとって質量スペクトルを表
示するようにしたスペクトル表示装置において、横軸と
して本来の質量数と共に、操作入力により任意に指定さ
れる質量数からの差を表示するようにしたものである。 （作用） 上記の構成によれば、操作入力によって任意のフラグ
メントイオンのピークを基準ピークに指定し、その基準
ピークからの質量差を横軸として表示することができる
ので、質量差を求めるための煩雑な計算が不要となり、
各フラグメントの分子構造の同定を迅速且つ正確に行う
ことができる。 （実施例） 第１図は本発明装置の一実施例をブロック図で示した
もので、質量分析計１の出力であるスペクトル信号がイ
ンタフェイス２を介して制御回路３に取り込まれ、フロ
ッピーディスクなどよりなる外部記憶装置４に収録され
る。制御回路３はCPU5、内部メモリ６などで構成されて
おり、装置が始動されると外部記憶装置４に保持されて
いる処理プログラムが制御回路３に呼び出されて実行さ
れるようになっている。処理されたデータはCRT7あるい
はプリンタ８に出力される。 第２図はCRT7またはプリンタ８による表示の一例を示
したもので、図中（イ）は本来の質量数を示す主目盛で
ある。いま主目盛（イ）で質量数91のフラグメントピー
クＡを基準ピークに指定すると、質量数91をゼロ点とす
る補助目盛（ロ）が図示のごとく表示される。これによ
ってフラグメントＡを基準とするフラグメントB,C,Dの
質量差がそれぞれ−1,9,10であることは計算を要するこ
となく一目で判別できる。なお補助目盛（ロ）を複数本
設けて、基準ピークを同時に複数本指定できるようにし
てもよい。 更に第３図の実施例は、表示装置としてカラーCRTあ
るいはカラープリンタを使用し、質量数が101のフラグ
メントピークＡと、質量数が102のフラグメントピーク
Ｂをそれぞれ基準ピークとして指定した場合における各
フラグメントピークのＡ及びＢからの質量差を各フラグ
メントピークの先端に色違いで２段に表示するようにし
たもので、フラグメントピークＣの先端には、Ａを基準
とした場合の質量差７が青色で、Ｂを基準とした場合の
質量差６が赤色で、それぞれ表示されている。 （発明の効果） 上述のように本発明は、質量スペクトルの横軸として
質量数と共に、操作入力によって指定される任意の質量
数からの質量差を表示するようにしたものであるから、
操作者は任意のフラグメントイオンピークを基準ピーク
に指定し、その基準ピークからの質量差を表示すること
ができ、従って従来のような質量差を求めるための煩雑
な計算が不要となり、主要なピーク系列を見出だす作業
が容易になって、各フラグメントイオンの分子構造の同
定を迅速且つ正確に行うことができるという利点があ
る。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明装置の一実施例を示すブロック図、第２
図は同上の表示画面の一例を示す要部拡大図、第３図は
同上の表示画面の他例を示す要部拡大図、第４図は従来
の質量スペクトルの一例を示す説明図である。 １……質量分析計、２……インタフェイス、３……制御
回路、４……外部記憶装置、５……CPU、６……内部メ
モリ、７……CRT、８……プリンタ。
図は同上の表示画面の一例を示す要部拡大図、第３図は
同上の表示画面の他例を示す要部拡大図、第４図は従来
の質量スペクトルの一例を示す説明図である。 １……質量分析計、２……インタフェイス、３……制御
回路、４……外部記憶装置、５……CPU、６……内部メ
モリ、７……CRT、８……プリンタ。
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 １．質量分析計で得られたスペクトルを横軸に質量数、
縦軸にスペクトル強度をとって表示するようにしたスペ
クトル表示装置において、横軸として上記質量数と共
に、操作入力により指定される任意の質量数からの質量
差を表示するようにして成る質量分析計のスペクトル表
示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62276218A JP2676744B2 (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | 質量分析計のスペクトル表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62276218A JP2676744B2 (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | 質量分析計のスペクトル表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01120754A JPH01120754A (ja) | 1989-05-12 |
| JP2676744B2 true JP2676744B2 (ja) | 1997-11-17 |
Family
ID=17566331
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62276218A Expired - Lifetime JP2676744B2 (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | 質量分析計のスペクトル表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2676744B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4678439B2 (ja) * | 2006-05-18 | 2011-04-27 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置用データ処理装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6120856A (ja) * | 1984-07-09 | 1986-01-29 | Jeol Ltd | マス・スペクトルの開裂ピ−ク表示方式 |
-
1987
- 1987-10-31 JP JP62276218A patent/JP2676744B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01120754A (ja) | 1989-05-12 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
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