JP2517970B2 - 質量分析装置のデ−タ処理装置 - Google Patents
質量分析装置のデ−タ処理装置Info
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- JP2517970B2 JP2517970B2 JP62149877A JP14987787A JP2517970B2 JP 2517970 B2 JP2517970 B2 JP 2517970B2 JP 62149877 A JP62149877 A JP 62149877A JP 14987787 A JP14987787 A JP 14987787A JP 2517970 B2 JP2517970 B2 JP 2517970B2
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Description
【発明の詳細な説明】 イ．産業上の利用分野 本発明は、質量分析計の精密質量数測定のためのデー
タ処理及び表示に関する。
タ処理及び表示に関する。
ロ．従来の技術 精密質量の決定（ミリマス測定）は、測定しようとす
る試料の質量の両側に近接して、質量が精密に分かって
いる２種の既知試料を、被測定試料に混合することによ
って、被測定試料ピークが１つ，既知試料ピークが２つ
の計３つのイオンピークを検出する。質量既知の２種の
試料のイオンピークの位置を基準にして被測定試料の質
量を算出する。この場合、質量測定は10-5まで行われる
ので、実際の質量走査は10-5単位で行われ、各試料につ
いての質量スペクトルのプロファイルを求めることは可
能であるが、従来はピークプロファイルの表示は行わ
ず、自動的一律に、例えば、そのピークプロファイルの
頂点位置を以てピークセンターとして表示していた。
る試料の質量の両側に近接して、質量が精密に分かって
いる２種の既知試料を、被測定試料に混合することによ
って、被測定試料ピークが１つ，既知試料ピークが２つ
の計３つのイオンピークを検出する。質量既知の２種の
試料のイオンピークの位置を基準にして被測定試料の質
量を算出する。この場合、質量測定は10-5まで行われる
ので、実際の質量走査は10-5単位で行われ、各試料につ
いての質量スペクトルのプロファイルを求めることは可
能であるが、従来はピークプロファイルの表示は行わ
ず、自動的一律に、例えば、そのピークプロファイルの
頂点位置を以てピークセンターとして表示していた。
ハ．発明が解決しようとする問題点 しかし、質量分析計におけるスペクトルピークは一般
に第２図B,Cに示されるような形状をしている。これは
近接して存在する不純物の影響、ノイズ、試料自身を構
成している同位体の影響等によるものであるが、Ｂの場
合、本来は一つのピークで、何らかの原因で中央部が凹
んだものであるが、２つのピークと判断され、質量の整
数表示では第２図Ａで質量30,31の２本のピークとして
表示され、Ｃの場合、２つのピークで、何れが試料のピ
ークかは別途判断しなければならないものだが、１つの
ピークと判断され、整数表示では第２図Ａに質量40にお
ける１本のピークとして表示されて、しかもそのピーク
頂点は真のピーク中心よりはずれたものとなり、測定精
度が良くないと云う問題がある。
に第２図B,Cに示されるような形状をしている。これは
近接して存在する不純物の影響、ノイズ、試料自身を構
成している同位体の影響等によるものであるが、Ｂの場
合、本来は一つのピークで、何らかの原因で中央部が凹
んだものであるが、２つのピークと判断され、質量の整
数表示では第２図Ａで質量30,31の２本のピークとして
表示され、Ｃの場合、２つのピークで、何れが試料のピ
ークかは別途判断しなければならないものだが、１つの
ピークと判断され、整数表示では第２図Ａに質量40にお
ける１本のピークとして表示されて、しかもそのピーク
頂点は真のピーク中心よりはずれたものとなり、測定精
度が良くないと云う問題がある。
本発明は、ピークセンターがピークトップとして固定
的に決定されることによって、ピーク形状における微妙
な差を考慮できないために、精密質量数の算出誤差が大
きくなると云う問題を解消し、精密質量数の測定精度を
向上させることを目的とする。
的に決定されることによって、ピーク形状における微妙
な差を考慮できないために、精密質量数の算出誤差が大
きくなると云う問題を解消し、精密質量数の測定精度を
向上させることを目的とする。
ニ．問題点解決のための手段 質量分析計において、ピークプロファイルデータのデ
ータを記憶する手段を設け、上記ピークプロファイルデ
ータをCRTに表示できるようにした。
ータを記憶する手段を設け、上記ピークプロファイルデ
ータをCRTに表示できるようにした。
ホ．作用 本発明は、データ記憶装置にピークプロファイルを記
憶させることにより、ピーク形状をCRTに随時表示でき
るようになり、CRTに表示されたピーク形状により、分
析者が自分の判断により該ピークを２ピークデータに分
割したり、１ピークに統合したりする。分割又は統括し
たピークのピークプロファイルデータからピークの重心
を求め、そのピーク重心をピークセンターとすると云う
ようなことが可能となり、測定データから自動的に一律
にピークセンターを決定していたことによる問題が解消
し、精密質量数をCPUで演算して求める場合の精密質量
数の測定精度が向上される。
憶させることにより、ピーク形状をCRTに随時表示でき
るようになり、CRTに表示されたピーク形状により、分
析者が自分の判断により該ピークを２ピークデータに分
割したり、１ピークに統合したりする。分割又は統括し
たピークのピークプロファイルデータからピークの重心
を求め、そのピーク重心をピークセンターとすると云う
ようなことが可能となり、測定データから自動的に一律
にピークセンターを決定していたことによる問題が解消
し、精密質量数をCPUで演算して求める場合の精密質量
数の測定精度が向上される。
ヘ．実施例 第１図に本発明の一実施例を示す。第１図において、
１は質量分析装置で試料をイオン化して、イオン化した
試料の質量を分析する。２はCPUで質量分析装置１の質
量走査を制御し、質量分析装置１で分析された質量測定
データをデータ記憶装置３に記憶させ、併せてCRT5に表
示させ、記憶されたデータから質量範囲を指定して試料
分子の質量数を小数点以下５桁の精度まで求める。ま
た、記憶されたデータからピークプロファイル及び精密
質量の算出結果を表示させる。５は測定データ及び演算
結果を画像表示するCRTである。６はプロッタ等の記録
装置で、概要スペクトル図や拡大ピークプロット図、測
定結果等を記録する。
１は質量分析装置で試料をイオン化して、イオン化した
試料の質量を分析する。２はCPUで質量分析装置１の質
量走査を制御し、質量分析装置１で分析された質量測定
データをデータ記憶装置３に記憶させ、併せてCRT5に表
示させ、記憶されたデータから質量範囲を指定して試料
分子の質量数を小数点以下５桁の精度まで求める。ま
た、記憶されたデータからピークプロファイル及び精密
質量の算出結果を表示させる。５は測定データ及び演算
結果を画像表示するCRTである。６はプロッタ等の記録
装置で、概要スペクトル図や拡大ピークプロット図、測
定結果等を記録する。
上述した構成により、測定動作を説明する。指定した
質量範囲を質量分析装置１で質量走査して測定を行い、
10-5質量単位で測定出力サンプリングを行う。その測定
データをデータ記憶装置３に記憶すると共に、その質量
スペクトルを整数マス表示でCRT5に表示する。表示され
たピークから分析者が標準試料ピーク及び被測定試料ピ
ークを指定すると、CPU2は指定されたピークのプロファ
イルを詳細マス表示で拡大表示する。表示されたピーク
プロファイルから、分析者がピークセンターとして、ピ
ークトップの位置をとるか、ピーク重心をとるか、寄生
ピーク成分を除外してピーク重心をとるか等の判断を行
って、CPU2に夫々の場合に対応するプログラムを実行さ
せ、ピークセンターを決定する。CPU2は、決定されたピ
ークセンターのデータ記憶装置３のアドレスデータから
既知質量とアドレスデータとの関係を用いて、被測定試
料の精密質量数を算出する。その算出結果をCRT5又は記
録装置６で表示する。
質量範囲を質量分析装置１で質量走査して測定を行い、
10-5質量単位で測定出力サンプリングを行う。その測定
データをデータ記憶装置３に記憶すると共に、その質量
スペクトルを整数マス表示でCRT5に表示する。表示され
たピークから分析者が標準試料ピーク及び被測定試料ピ
ークを指定すると、CPU2は指定されたピークのプロファ
イルを詳細マス表示で拡大表示する。表示されたピーク
プロファイルから、分析者がピークセンターとして、ピ
ークトップの位置をとるか、ピーク重心をとるか、寄生
ピーク成分を除外してピーク重心をとるか等の判断を行
って、CPU2に夫々の場合に対応するプログラムを実行さ
せ、ピークセンターを決定する。CPU2は、決定されたピ
ークセンターのデータ記憶装置３のアドレスデータから
既知質量とアドレスデータとの関係を用いて、被測定試
料の精密質量数を算出する。その算出結果をCRT5又は記
録装置６で表示する。
ト．効果 本発明によれば、ピークプロファイルを記憶し、画面
に表示されたピークプロファイル表示から、分析者がピ
ークの重心ずれ等を判断し、測定対象となっている物質
のピークの真のピーク中心を求め、そのピーク中心をピ
ークセンターとして質量数を算出することにより、測定
ノイズとか不純物によるピーク変形が修正でき、精密質
量数の測定精度が一段と向上した。
に表示されたピークプロファイル表示から、分析者がピ
ークの重心ずれ等を判断し、測定対象となっている物質
のピークの真のピーク中心を求め、そのピーク中心をピ
ークセンターとして質量数を算出することにより、測定
ノイズとか不純物によるピーク変形が修正でき、精密質
量数の測定精度が一段と向上した。
第１図は本発明の一実施例の構成図、第２図は上記実施
例のCRT画面の表示グラフで、同図Ａは整数マス表示の
質量スペクトル図、同図B,Cは拡大ピークプロット表示
図である。 １……質量分析装置、２……CPU、３……データ記憶装
置、４……入力装置、５……CRT、６……記録装置
例のCRT画面の表示グラフで、同図Ａは整数マス表示の
質量スペクトル図、同図B,Cは拡大ピークプロット表示
図である。 １……質量分析装置、２……CPU、３……データ記憶装
置、４……入力装置、５……CRT、６……記録装置
Claims (1)
- 【請求項１】測定データを記憶する手段と、測定データ
を質量スペクトルとして表示する手段と、記憶されたデ
ータから質量数を算出する手段を有する質量分析計にお
いて、上記表示された質量スペクトルから任意ピークを
指定したとき、上記記憶する手段からそのピークのプロ
ファイルデータを読出してCRTに表示する制御手段を設
けたことを特徴とする質量分析装置のデータ処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62149877A JP2517970B2 (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 質量分析装置のデ−タ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62149877A JP2517970B2 (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 質量分析装置のデ−タ処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63313059A JPS63313059A (ja) | 1988-12-21 |
| JP2517970B2 true JP2517970B2 (ja) | 1996-07-24 |
Family
ID=15484590
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62149877A Expired - Fee Related JP2517970B2 (ja) | 1987-06-16 | 1987-06-16 | 質量分析装置のデ−タ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2517970B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103196986A (zh) * | 2012-01-06 | 2013-07-10 | 中国科学院地理科学与资源研究所 | 一种测定水的氢氧同位素组分时的数据校正方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55112562A (en) * | 1979-02-23 | 1980-08-30 | Hitachi Ltd | Mass spectrometer |
| JPS57103596A (en) * | 1980-12-19 | 1982-06-28 | Yokogawa Electric Works Ltd | Waveform outputting of waveform memory device |
| JPS5836819A (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-03 | Fuji Photo Film Co Ltd | 高速振分けゲ−ト |
| JPS5961773A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-09 | Shimadzu Corp | 精密質量測定方法 |
-
1987
- 1987-06-16 JP JP62149877A patent/JP2517970B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103196986A (zh) * | 2012-01-06 | 2013-07-10 | 中国科学院地理科学与资源研究所 | 一种测定水的氢氧同位素组分时的数据校正方法 |
| CN103196986B (zh) * | 2012-01-06 | 2014-12-24 | 中国科学院地理科学与资源研究所 | 一种测定水的氢氧同位素组分时的数据校正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63313059A (ja) | 1988-12-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |