JPS6120856A - マス・スペクトルの開裂ピ−ク表示方式 - Google Patents
マス・スペクトルの開裂ピ−ク表示方式Info
- Publication number
- JPS6120856A JPS6120856A JP59141898A JP14189884A JPS6120856A JP S6120856 A JPS6120856 A JP S6120856A JP 59141898 A JP59141898 A JP 59141898A JP 14189884 A JP14189884 A JP 14189884A JP S6120856 A JPS6120856 A JP S6120856A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- peak
- mass
- cleavage
- peaks
- color
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- Granted
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/022—Circuit arrangements, e.g. for generating deviation currents or voltages ; Components associated with high voltage supply
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、質量分析データ解析システムに係り、分子ピ
ークとその開裂ピークの表示及び開裂表示を色分けして
行うマス・・スペクトルの開裂ピーク表示方式に関する
ものである。
ークとその開裂ピークの表示及び開裂表示を色分けして
行うマス・・スペクトルの開裂ピーク表示方式に関する
ものである。
質量分析装置から得られたマス・スペクトルを表示し、
その解析を行う質量分析データ解析システムにおいて、
従来は測定ピークをもとに与えられた元素に対する組合
わせ計算結果がテーブル形式で出力され、補足的にバー
・グラフによるパターン表示（オリジナル・データ表示
）が行われていた。
その解析を行う質量分析データ解析システムにおいて、
従来は測定ピークをもとに与えられた元素に対する組合
わせ計算結果がテーブル形式で出力され、補足的にバー
・グラフによるパターン表示（オリジナル・データ表示
）が行われていた。
（発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら上述の如き出力表示では、テーブルとバー
・グラフとの対応が取り難く、また、テーブル形式によ
り出力される内容は、機械的な組合わせ計算によるもの
であるため、同一ピークに対し多くの可能性結果を含ん
でいる。この結果、このようなテーブルとバー・グラフ
から測定データの解析を行うには、熟練と時間を要する
という問題があった。本発明は、係る考察に基づくもの
であって、分子ピークと開裂ピークの理論値との質量数
誤差等が容易に把握することができるマス・スペクトル
の開裂ピーク表示方式を提供することを目的とするもの
である。
・グラフとの対応が取り難く、また、テーブル形式によ
り出力される内容は、機械的な組合わせ計算によるもの
であるため、同一ピークに対し多くの可能性結果を含ん
でいる。この結果、このようなテーブルとバー・グラフ
から測定データの解析を行うには、熟練と時間を要する
という問題があった。本発明は、係る考察に基づくもの
であって、分子ピークと開裂ピークの理論値との質量数
誤差等が容易に把握することができるマス・スペクトル
の開裂ピーク表示方式を提供することを目的とするもの
である。
そのために本発明のマス・スペクトルの開裂ピーク表示
方式は、フラグメント情報を登録したテーブル、指定さ
れた分子ピークの組成式に含まれる元素とその数とをも
とに元素がはずれた組成式に対応するピークを測定デー
タから抽出するピーク抽出手段、各組成式の理論値と各
ピークとの質量数誤差を求め誤差範囲に対応して表示色
を設定するピーク表示設定手段、及び上記分子ピークと
各ピークとの質量差を計算しテーブルのフラグメント情
報を参照して各開裂の表示色を設定する開裂表示設定手
段を備え、分子ピークと各開裂ピークを質量数誤差に応
じて色分けして表示すると共に、各開裂をバー・グラフ
上に色分けして表示することを特徴とするものである。
方式は、フラグメント情報を登録したテーブル、指定さ
れた分子ピークの組成式に含まれる元素とその数とをも
とに元素がはずれた組成式に対応するピークを測定デー
タから抽出するピーク抽出手段、各組成式の理論値と各
ピークとの質量数誤差を求め誤差範囲に対応して表示色
を設定するピーク表示設定手段、及び上記分子ピークと
各ピークとの質量差を計算しテーブルのフラグメント情
報を参照して各開裂の表示色を設定する開裂表示設定手
段を備え、分子ピークと各開裂ピークを質量数誤差に応
じて色分けして表示すると共に、各開裂をバー・グラフ
上に色分けして表示することを特徴とするものである。
テーブルには、分子ピークからの質量差（脱離する基の
質量数）等が登録される。そして、オペレータが開裂ピ
ーク情報を必要とする分子ピークの選定を行い、その組
成式を入力すると、ピーク抽出手段では、元素がはずれ
た組成式に対して一定の誤差範囲に入るピークを測定デ
ータから抽出する。それに対してピーク表示設定手段で
は、各組成式の理論値と各ピークとの質量数誤差を求め
ると共に、その誤差範囲に応じた表示色を設定する。ま
た、開裂表示設定手段では、各分子ピークと各ピークと
の質量差を計算し、テーブルのフラグメント情報と一致
するものはバー・グラフ上に色分けして各開裂を表示す
る。
質量数）等が登録される。そして、オペレータが開裂ピ
ーク情報を必要とする分子ピークの選定を行い、その組
成式を入力すると、ピーク抽出手段では、元素がはずれ
た組成式に対して一定の誤差範囲に入るピークを測定デ
ータから抽出する。それに対してピーク表示設定手段で
は、各組成式の理論値と各ピークとの質量数誤差を求め
ると共に、その誤差範囲に応じた表示色を設定する。ま
た、開裂表示設定手段では、各分子ピークと各ピークと
の質量差を計算し、テーブルのフラグメント情報と一致
するものはバー・グラフ上に色分けして各開裂を表示す
る。
以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。
第１図は精密質量測定して得られたマス・スペクトルの
例を示す図、第２図は精密質量計算をして得られたデー
タの例を示す図、第３図は本発明の質量分析データ解析
システムの１実施例構成を示す図、第４図は本発明の質
量分析データ解析システムによる処理の流れを説明する
図、第５図は本発明の質量分析データ解析システムによ
る表示例を説明する図である。
例を示す図、第２図は精密質量計算をして得られたデー
タの例を示す図、第３図は本発明の質量分析データ解析
システムの１実施例構成を示す図、第４図は本発明の質
量分析データ解析システムによる処理の流れを説明する
図、第５図は本発明の質量分析データ解析システムによ
る表示例を説明する図である。
二重収束質量分析計を使って測定したメチルステアレー
ト（ＣＩ９Ｈ３Ｂ○２）のマス・スペクトルの例を示し
たのが第１図であり、このデータについて精密質量計算
を行って得られた出力データの例を示したのが第２図で
ある。第２図において、Ｍａｓｓは質量数（Ｍ／Ｚ）
、Ｉｎｔ、は強度、ｍｍｕは組成式の理論値と測定値と
の質量数誤差（ミリマス）、Ｅｌｅｍｅｎｔａｌ Ｆｏ
ｒｍｕｌａは組成式を示している。第１図において、質
量数Ｍ／Ｚ ＝２９８でピークがあるが、このピークは
第２図図示の精密質量計算の結果によれば、質量数Ｍ／
Ｚ ＝２９８．１１５７となる。そこで、Ｃ（炭素）、
Ｈ（水素）、０（酸素）の組み合わせを求めさせると、 Ｃ２２Ｈ３４、Ｃｚ ＋ Ｈ３００、Ｃｚ ｏ Ｈｓ
ｔ Ｏ。
ト（ＣＩ９Ｈ３Ｂ○２）のマス・スペクトルの例を示し
たのが第１図であり、このデータについて精密質量計算
を行って得られた出力データの例を示したのが第２図で
ある。第２図において、Ｍａｓｓは質量数（Ｍ／Ｚ）
、Ｉｎｔ、は強度、ｍｍｕは組成式の理論値と測定値と
の質量数誤差（ミリマス）、Ｅｌｅｍｅｎｔａｌ Ｆｏ
ｒｍｕｌａは組成式を示している。第１図において、質
量数Ｍ／Ｚ ＝２９８でピークがあるが、このピークは
第２図図示の精密質量計算の結果によれば、質量数Ｍ／
Ｚ ＝２９８．１１５７となる。そこで、Ｃ（炭素）、
Ｈ（水素）、０（酸素）の組み合わせを求めさせると、 Ｃ２２Ｈ３４、Ｃｚ ＋ Ｈ３００、Ｃｚ ｏ Ｈｓ
ｔ Ｏ。
Ｃ２゜Ｈ２６０□、Ｃ＋ｑＨ３，ｓＯｚ 。
の組み合わせが、与えられた条件内（各元素の真値より
の誤差許容量Ｍａχ値以内）で見出される。
の誤差許容量Ｍａχ値以内）で見出される。
この例の場合における正解は、メチルステアレート（Ｃ
＋ｑＨ３ｅＯｚ ）であり、真値は質量数Ｍ／Ｚ −２
９８，２８７１であるから、質量数誤差が１７１ミリマ
ス（ｍｍｕ）もあることになるが、通常は高分解能測定
でこの誤差が５ミリマス（ｍｍｕ）以西に入るように測
定される。同様に他のピークについてもそれぞれ質量数
が第２図図示の如く計算される。
＋ｑＨ３ｅＯｚ ）であり、真値は質量数Ｍ／Ｚ −２
９８，２８７１であるから、質量数誤差が１７１ミリマ
ス（ｍｍｕ）もあることになるが、通常は高分解能測定
でこの誤差が５ミリマス（ｍｍｕ）以西に入るように測
定される。同様に他のピークについてもそれぞれ質量数
が第２図図示の如く計算される。
質量分析計において、試料がイオン化される際、一部基
が落ちてバラバラになり、分子ピークから分解して他の
ピークとして現れるものがある。これを開裂ピークとい
う。先に述べたメチルステアレート（Ｃ＋ｑＨ３ａＯ□
）の例では、分子ピークが質量数２９８に対して、第２
図図示の如＜ ２６７、さらには２５５等の開裂ピーク
がある。これらの開裂ピークは、 ２６７＝ ２９８ ３１ （３１ｉ ＣＨｓ
０）２５５＝ ２９８ ４３ （４３； Ｃ３
Ｈ７）の如く、ｃ）（３０やＣ３Ｈ？がメチルステアレ
ー） （Ｃ＋ ｑ Ｈａ ｓ Ｏ２）からはずれた、そ
れぞれ質量差３１．４３のピークである。これらの脱離
は構造解析上大きな意味をもっている。本発明では、こ
の開裂を示すピーク（２６７、２５５等）を予めライブ
ラリとしてテーブルに登録しておき、これに近い脱離ピ
ークを抽出して測定値と理論値とめ質量数誤差を計算す
る。そして分子ピークをその質量数誤差の大きさに応じ
て色分けしバーグラフで表示する。また、分子ピークと
各開裂ピークとの質量差、即ち、上述の例では、 Ｍ−３１，Ｍ−４３ 等の開裂表示を併せて行う。
が落ちてバラバラになり、分子ピークから分解して他の
ピークとして現れるものがある。これを開裂ピークとい
う。先に述べたメチルステアレート（Ｃ＋ｑＨ３ａＯ□
）の例では、分子ピークが質量数２９８に対して、第２
図図示の如＜ ２６７、さらには２５５等の開裂ピーク
がある。これらの開裂ピークは、 ２６７＝ ２９８ ３１ （３１ｉ ＣＨｓ
０）２５５＝ ２９８ ４３ （４３； Ｃ３
Ｈ７）の如く、ｃ）（３０やＣ３Ｈ？がメチルステアレ
ー） （Ｃ＋ ｑ Ｈａ ｓ Ｏ２）からはずれた、そ
れぞれ質量差３１．４３のピークである。これらの脱離
は構造解析上大きな意味をもっている。本発明では、こ
の開裂を示すピーク（２６７、２５５等）を予めライブ
ラリとしてテーブルに登録しておき、これに近い脱離ピ
ークを抽出して測定値と理論値とめ質量数誤差を計算す
る。そして分子ピークをその質量数誤差の大きさに応じ
て色分けしバーグラフで表示する。また、分子ピークと
各開裂ピークとの質量差、即ち、上述の例では、 Ｍ−３１，Ｍ−４３ 等の開裂表示を併せて行う。
上述の如き分析データの開裂と誤差範囲とを色分は表示
する質量分析データ解析システムの１実施例構成を示し
たのが第３図であり、その処理の流れを示したのが第４
図である。第３図において、１は質量分析装置、２は処
理装置（ＣＰＵ） 、３は記憶装置、４は表示装置、５
は入力装置をそれぞれ示している。記憶装置３には、テ
ーブルが用意され、このテーブルにフラグメント情報が
登録されると共に、人力装置５からオペレータにより指
定された質量数誤差の範囲に応じた表示色が記憶される
。そして、質量分析装置１により得られた分析データに
対して、処理装置２は、オペレータの指示により精密質
量計算や上述した各種処理を行つて、表示装置４の画面
上にマス・スペクトルのバー・グラフ及び開裂をカラー
表示する。以下、第４図を参照しつつ処理装置による処
理の流れを説明する。
する質量分析データ解析システムの１実施例構成を示し
たのが第３図であり、その処理の流れを示したのが第４
図である。第３図において、１は質量分析装置、２は処
理装置（ＣＰＵ） 、３は記憶装置、４は表示装置、５
は入力装置をそれぞれ示している。記憶装置３には、テ
ーブルが用意され、このテーブルにフラグメント情報が
登録されると共に、人力装置５からオペレータにより指
定された質量数誤差の範囲に応じた表示色が記憶される
。そして、質量分析装置１により得られた分析データに
対して、処理装置２は、オペレータの指示により精密質
量計算や上述した各種処理を行つて、表示装置４の画面
上にマス・スペクトルのバー・グラフ及び開裂をカラー
表示する。以下、第４図を参照しつつ処理装置による処
理の流れを説明する。
■ 質量分析装置により測定したマス・スペクトル・デ
ータについて精密質量計算を行う。次に■の処理を行う
。
ータについて精密質量計算を行う。次に■の処理を行う
。
■ 各ピークについて組成演實を行う。次に■の処理を
行）。
行）。
■ 上記■による計算結果に従って組成式を表示装置の
画面に表示する。
画面に表示する。
ここまでは従来も行われていた処理であるが、本発明で
は、さらに上記■の処理で表示された組成式の中からオ
ペレータが開裂ピーク情報を必要とする分子ピークの選
定を行い、その組成式番号を入力装置から人力すると、
続いて次の処理を行う。
は、さらに上記■の処理で表示された組成式の中からオ
ペレータが開裂ピーク情報を必要とする分子ピークの選
定を行い、その組成式番号を入力装置から人力すると、
続いて次の処理を行う。
■ 入力された組成式に含まれる元素とその数とをもと
に元素がはずれた組成式をもつピークのみを上記■で出
力したデータから抽出する。次に■の処理を行う。
に元素がはずれた組成式をもつピークのみを上記■で出
力したデータから抽出する。次に■の処理を行う。
■ 上記■によりソーティン、グされた各組成式の測定
値からの質量数誤差をもとに各ピークの色分けを行う。
値からの質量数誤差をもとに各ピークの色分けを行う。
次に■の処理を行う。
■ 分子ピークと各開裂ピーク（フラグメント・ピーク
）との質量差計算及びフラグメント情報ライブラリの参
照を行い、開裂表示の色分けを行う。次に■の処理を行
う。
）との質量差計算及びフラグメント情報ライブラリの参
照を行い、開裂表示の色分けを行う。次に■の処理を行
う。
■ 選定された組成式番号の分子ピーク及び各開裂ピー
クについて質量数誤差の範囲に応じて色分けした上記■
の処理結果に従ってバー・グラフ表示を行うと共に、質
量差に応じて色分けした上記■の処理結果に従ってバー
・グラフ上に開裂表示を行う。
クについて質量数誤差の範囲に応じて色分けした上記■
の処理結果に従ってバー・グラフ表示を行うと共に、質
量差に応じて色分けした上記■の処理結果に従ってバー
・グラフ上に開裂表示を行う。
なお、質量数誤差の範囲に応じて色分は表示を行う場合
、例えば、質量数誤差ΔＭに対応して０〜１開Ｕ ・・
・・・・赤 ｌ ｍｍｕ〜３ ｍｍｕ −青 ３ ｍｍｕ〜５ ｍｍｕ・・・・・・黄５ ｍｍｕ〜１
０ｍｍｕ・・・・・・緑１０ｍｍｕ以上 ・・・・・
・ 紫 のようにオペレータが色の指定を行うと、表示色によっ
て黄よりも緑、緑よりも紫がより質量数誤差の大きいも
のとして認識できるので、質量数誤差の認識が容易とな
る。また分子ピークからの質量差をＭ−Ｘ、の型式で色
分けし開裂表示する場合にも、例えば Ｍ ＣＨｓ （Ｘ＝ＣＨ３に対応）・・・・・・
赤Ｍ ＣＨａ Ｏ（Ｘ＝ＣＨ９０〃）・・・・・・青
のようにオペレータが色の指定を行い、Ｘ７に対して予
め作成したテーブル（ライブラリ）を参照１２の斗−ブ
ルｒ、−、−５ケ１．たものを指定された色により開裂
表示すると、開裂表示の色によってはずれた基を把握す
ることが容易となる。
、例えば、質量数誤差ΔＭに対応して０〜１開Ｕ ・・
・・・・赤 ｌ ｍｍｕ〜３ ｍｍｕ −青 ３ ｍｍｕ〜５ ｍｍｕ・・・・・・黄５ ｍｍｕ〜１
０ｍｍｕ・・・・・・緑１０ｍｍｕ以上 ・・・・・
・ 紫 のようにオペレータが色の指定を行うと、表示色によっ
て黄よりも緑、緑よりも紫がより質量数誤差の大きいも
のとして認識できるので、質量数誤差の認識が容易とな
る。また分子ピークからの質量差をＭ−Ｘ、の型式で色
分けし開裂表示する場合にも、例えば Ｍ ＣＨｓ （Ｘ＝ＣＨ３に対応）・・・・・・
赤Ｍ ＣＨａ Ｏ（Ｘ＝ＣＨ９０〃）・・・・・・青
のようにオペレータが色の指定を行い、Ｘ７に対して予
め作成したテーブル（ライブラリ）を参照１２の斗−ブ
ルｒ、−、−５ケ１．たものを指定された色により開裂
表示すると、開裂表示の色によってはずれた基を把握す
ることが容易となる。
また、開裂ピークと判断されないピーク（内部標準ピー
ク、バンクグランド・ピーク、不純物ピーク等）は、例
えば点線又は白色により表示することによって、上記の
表示と区別することができる。これらの開裂ピークと判
断されないピークを点線で表示した例を示したのが第５
図である。なお、第５図では色分は表示の内容を示すこ
とはできないが、本発明によれば、表示装置の画面には
第５図図示実線の分子ピークと各開裂ピークのバー・グ
ラフがそれぞれ質量数誤差の範囲に応じた色により表示
され、ｒＭ−３１Ｊ、ｒＭ−４３Ｊ等の開裂表示もそれ
ぞれ開裂の内容に応じた色により表示されることは、先
に述べた通りである。
ク、バンクグランド・ピーク、不純物ピーク等）は、例
えば点線又は白色により表示することによって、上記の
表示と区別することができる。これらの開裂ピークと判
断されないピークを点線で表示した例を示したのが第５
図である。なお、第５図では色分は表示の内容を示すこ
とはできないが、本発明によれば、表示装置の画面には
第５図図示実線の分子ピークと各開裂ピークのバー・グ
ラフがそれぞれ質量数誤差の範囲に応じた色により表示
され、ｒＭ−３１Ｊ、ｒＭ−４３Ｊ等の開裂表示もそれ
ぞれ開裂の内容に応じた色により表示されることは、先
に述べた通りである。
一以上の説明から明らかなように、本発明によれば、測
定値と組成演算結果の誤差が各開裂ピーク（フラグ２ン
ト・ピーク）毎に色分けして表示されるため、誤差の大
きなものに対する認識が容易となり、全体的に誤差が大
きい場合には他の組成組み合わせの可能性を追求する等
、より効果的に解析を行うことができる。また、分子ピ
ークと各開裂ピーク（フラグメント・ピーク）との差が
バー・グラフ上に展開され、且つ予め登録したフラグメ
ント・テーブルとの比較により色分は表示を行うため、
構造決定が−より容易となる。
定値と組成演算結果の誤差が各開裂ピーク（フラグ２ン
ト・ピーク）毎に色分けして表示されるため、誤差の大
きなものに対する認識が容易となり、全体的に誤差が大
きい場合には他の組成組み合わせの可能性を追求する等
、より効果的に解析を行うことができる。また、分子ピ
ークと各開裂ピーク（フラグメント・ピーク）との差が
バー・グラフ上に展開され、且つ予め登録したフラグメ
ント・テーブルとの比較により色分は表示を行うため、
構造決定が−より容易となる。
第１図は精密質量測定して得られた７ス・スペクトルの
例を示す図、第２図は精密質量計算をして得られたデー
タの例を示す図、第３図は本発明の質量分析データ解析
システムの１実施例構成を示す図、第４図は本発明の質
量分析データ解析システムによる処理の流れを説明する
図、第５図は本発明の質量分析データ解析システムによ
る表示例を説明する図である。 １・・・質量分析装置、２・・・処理装置（ＣＰ Ｕ）
、３・・・記憶装置、４・・・表示装置、５・・・入力
装置。 特許出願人 日本電子株式会社 代理人弁理士 阿 部 龍 吉 ゲ Ｚ 口 ｆ４ 図 ト （ル）（ｂ）
例を示す図、第２図は精密質量計算をして得られたデー
タの例を示す図、第３図は本発明の質量分析データ解析
システムの１実施例構成を示す図、第４図は本発明の質
量分析データ解析システムによる処理の流れを説明する
図、第５図は本発明の質量分析データ解析システムによ
る表示例を説明する図である。 １・・・質量分析装置、２・・・処理装置（ＣＰ Ｕ）
、３・・・記憶装置、４・・・表示装置、５・・・入力
装置。 特許出願人 日本電子株式会社 代理人弁理士 阿 部 龍 吉 ゲ Ｚ 口 ｆ４ 図 ト （ル）（ｂ）
Claims (1)
- 質量数と該質量数に対応する強度を座標軸とし測定デー
タのバー・グラフを表示する質量分析データ解析システ
ムにおいて、フラグメント情報を登録したテーブル、指
定された分子ピークの組成式に含まれる元素とその数と
をもとに元素がはずれた組成式に対応するピークを測定
データから抽出するピーク抽出手段、各組成式の理論値
と各ピークとの質量数誤差を求め誤差範囲に対応して表
示色を設定するピーク表示設定手段、及び上記分子ピー
クと各ピークとの質量差を計算しテーブルのフラグメン
ト情報を参照して各開裂の表示色を設定する開裂表示設
定手段を備え、分子ピークと各開裂ピークを質量数誤差
に応じて色分けして表示すると共に、各開裂をバー・グ
ラフ上に色分けして表示することを特徴とするマス・ス
ペクトルの開裂ピーク表示方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59141898A JPS6120856A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | マス・スペクトルの開裂ピ−ク表示方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59141898A JPS6120856A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | マス・スペクトルの開裂ピ−ク表示方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6120856A true JPS6120856A (ja) | 1986-01-29 |
| JPH0434257B2 JPH0434257B2 (ja) | 1992-06-05 |
Family
ID=15302729
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59141898A Granted JPS6120856A (ja) | 1984-07-09 | 1984-07-09 | マス・スペクトルの開裂ピ−ク表示方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6120856A (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01120754A (ja) * | 1987-10-31 | 1989-05-12 | Shimadzu Corp | 質量分析計のスペクトル表示装置 |
| US6815555B2 (en) | 2001-09-26 | 2004-11-09 | Theravance, Inc. | Substituted phenol compounds useful for anesthesia and sedation |
| JP2004317509A (ja) * | 2003-04-10 | 2004-11-11 | Micromass Uk Ltd | 質量分析計 |
| WO2007060760A1 (ja) * | 2005-11-22 | 2007-05-31 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
| WO2007135708A1 (ja) * | 2006-05-18 | 2007-11-29 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置用データ処理装置 |
| WO2009054024A1 (ja) * | 2007-10-22 | 2009-04-30 | Shimadzu Corporation | 質量分析データ処理装置 |
| JP2016170174A (ja) * | 2016-05-25 | 2016-09-23 | 株式会社島津製作所 | タンデム質量分析データ処理装置 |
| JP2017129534A (ja) * | 2016-01-22 | 2017-07-27 | 日本電子株式会社 | マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム |
| JP2017142173A (ja) * | 2016-02-10 | 2017-08-17 | 日本電子株式会社 | マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム |
| US10249480B2 (en) | 2014-01-20 | 2019-04-02 | Shimadzu Corporation | Tandem mass spectrometry data processing system |
| JP2020030177A (ja) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | 株式会社島津製作所 | 分析支援装置および分析支援方法 |
| JP2020115117A (ja) * | 2019-01-18 | 2020-07-30 | 日本電子株式会社 | マススペクトル処理装置及び方法 |
-
1984
- 1984-07-09 JP JP59141898A patent/JPS6120856A/ja active Granted
Cited By (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01120754A (ja) * | 1987-10-31 | 1989-05-12 | Shimadzu Corp | 質量分析計のスペクトル表示装置 |
| US6815555B2 (en) | 2001-09-26 | 2004-11-09 | Theravance, Inc. | Substituted phenol compounds useful for anesthesia and sedation |
| US7226946B2 (en) | 2001-09-26 | 2007-06-05 | Theravance, Inc. | Substituted phenol compounds useful for anesthesia and sedation |
| JP4497455B2 (ja) * | 2003-04-10 | 2010-07-07 | マイクロマス ユーケー リミテッド | 質量分析計 |
| JP2004317509A (ja) * | 2003-04-10 | 2004-11-11 | Micromass Uk Ltd | 質量分析計 |
| WO2007060760A1 (ja) * | 2005-11-22 | 2007-05-31 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
| US7880135B2 (en) | 2005-11-22 | 2011-02-01 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
| JPWO2007060760A1 (ja) * | 2005-11-22 | 2009-05-07 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
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| JPWO2007135708A1 (ja) * | 2006-05-18 | 2009-09-24 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置用データ処理装置 |
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| US7956320B2 (en) | 2006-05-18 | 2011-06-07 | Shimadzu Corporation | Data processor for mass spectrometer |
| WO2009054024A1 (ja) * | 2007-10-22 | 2009-04-30 | Shimadzu Corporation | 質量分析データ処理装置 |
| US8417466B2 (en) | 2007-10-22 | 2013-04-09 | Shimadzu Corporation | Mass analysis data processing apparatus |
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| JP2017129534A (ja) * | 2016-01-22 | 2017-07-27 | 日本電子株式会社 | マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム |
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