JPH07151743A - データ処理装置 - Google Patents
データ処理装置Info
- Publication number
- JPH07151743A JPH07151743A JP29664793A JP29664793A JPH07151743A JP H07151743 A JPH07151743 A JP H07151743A JP 29664793 A JP29664793 A JP 29664793A JP 29664793 A JP29664793 A JP 29664793A JP H07151743 A JPH07151743 A JP H07151743A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- measured data
- analytical curve
- plotted
- real measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 視覚的に演算結果と実測データとの乖離を判
別することが可能な表示を行うことを目的とする。 【構成】 演算処理データに近い実測データと遠い実測
データでは、表示形態を異ならせて表示することを特徴
とする。
別することが可能な表示を行うことを目的とする。 【構成】 演算処理データに近い実測データと遠い実測
データでは、表示形態を異ならせて表示することを特徴
とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、クロマトグラフ、分光
光度計などの分析装置のデータ処理装置に関する。
光度計などの分析装置のデータ処理装置に関する。
【０００２】
【従来技術】従来よりクロマトグラフや分光光度計など
からのアナログのクロマトグラムやスペクトル波形等を
Ａ／Ｄ変換器でデジタル信号に変換してデジタルデータ
として取り込み、ピーク検出、ピーク面積算出等による
分析処理演算を行うとともに、そのクロマトグラムやス
ペクトル波形等をプリンタでプリントアウトし、あるい
は表示装置に表示するようにしたデータ処理装置がよく
知られている。
からのアナログのクロマトグラムやスペクトル波形等を
Ａ／Ｄ変換器でデジタル信号に変換してデジタルデータ
として取り込み、ピーク検出、ピーク面積算出等による
分析処理演算を行うとともに、そのクロマトグラムやス
ペクトル波形等をプリンタでプリントアウトし、あるい
は表示装置に表示するようにしたデータ処理装置がよく
知られている。
【０００３】この種のデータ処理装置において、キャリ
ブレーションした結果やシュミレーション結果を表示す
る際、図４に示すように演算結果と同時に実測データの
プロットを行っていた。なお、図４（ａ）がキャリブレ
ーション時の表示図、（ｂ）がシュミレーション時の表
示図である。
ブレーションした結果やシュミレーション結果を表示す
る際、図４に示すように演算結果と同時に実測データの
プロットを行っていた。なお、図４（ａ）がキャリブレ
ーション時の表示図、（ｂ）がシュミレーション時の表
示図である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来にあって
は、実測データが演算結果とどれぐらい離れようが、実
測データの表示は全て同一の表示（例えば図４での×
印）であったため、視覚的に演算結果と実測データとの
乖離を判別することは困難であった。
は、実測データが演算結果とどれぐらい離れようが、実
測データの表示は全て同一の表示（例えば図４での×
印）であったため、視覚的に演算結果と実測データとの
乖離を判別することは困難であった。
【０００５】そのため、一見しただけでその演算結果が
どのくらい信頼性があるものか、実測データがどのくら
い信頼性がある実験によるものだったのかをが判別する
のは困難であった。
どのくらい信頼性があるものか、実測データがどのくら
い信頼性がある実験によるものだったのかをが判別する
のは困難であった。
【０００６】そこで、本発明は、視覚的に演算結果と実
測データとの乖離を判別することが可能なデータを表示
させるデータ処理装置を提供することを目的とする。
測データとの乖離を判別することが可能なデータを表示
させるデータ処理装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明では、前記従来技
術の課題を解決するため、分析装置からのデータをＡ／
Ｄ装置でデジタル信号に変換して取り込み、分析処理演
算を行うとともに、演算処理データと実測データを同時
に表示させるデータ処理装置において、演算処理データ
と実測データの乖離度を求める手段と、求められた乖離
度に基づき実測データの表示形態を選択する手段とを備
え、演算処理データからの乖離度に応じて実測データの
表示形態を異ならせて表示するようにしたことを特徴と
する。
術の課題を解決するため、分析装置からのデータをＡ／
Ｄ装置でデジタル信号に変換して取り込み、分析処理演
算を行うとともに、演算処理データと実測データを同時
に表示させるデータ処理装置において、演算処理データ
と実測データの乖離度を求める手段と、求められた乖離
度に基づき実測データの表示形態を選択する手段とを備
え、演算処理データからの乖離度に応じて実測データの
表示形態を異ならせて表示するようにしたことを特徴と
する。
【０００８】ここで、分析装置とは、クロマトグラフ、
分光光度計、原子吸光分析計などのあらゆる分析装置が
該当し、分析処理演算には、クロマトグラムやスペクト
ル波形などのの作成、検量線の作成、ピーク検出、ピー
ク面積算出などのあらゆる処理演算を含む。また、演算
処理データとは、クロマトグラムやスペクトル波形、検
量線などの演算して得られた曲線、直線などをいい、実
測データとは分析処理演算に用いられた原データをい
う。
分光光度計、原子吸光分析計などのあらゆる分析装置が
該当し、分析処理演算には、クロマトグラムやスペクト
ル波形などのの作成、検量線の作成、ピーク検出、ピー
ク面積算出などのあらゆる処理演算を含む。また、演算
処理データとは、クロマトグラムやスペクトル波形、検
量線などの演算して得られた曲線、直線などをいい、実
測データとは分析処理演算に用いられた原データをい
う。
【０００９】演算処理データと実測データの乖離度と
は、例えば演算処理データと実測データの単なる差、偏
差値などをいうが、これらには限定されず、これら乖離
度は、例えばＣＰＵなどで求める。また、実測データの
表示形態には、○、△、×などの記号のみならず、色変
化も含む。
は、例えば演算処理データと実測データの単なる差、偏
差値などをいうが、これらには限定されず、これら乖離
度は、例えばＣＰＵなどで求める。また、実測データの
表示形態には、○、△、×などの記号のみならず、色変
化も含む。
【００１０】
【作用】本発明では、演算処理データに近い実測データ
と遠い実測データでは、表示形態が異なるので、一見し
ただけで演算処理データと実測データの乖離の程度を判
別することができる。
と遠い実測データでは、表示形態が異なるので、一見し
ただけで演算処理データと実測データの乖離の程度を判
別することができる。
【００１１】
【実施例】本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
図１は、本発明のデータ処理装置のハード構成を示すブ
ロック図である。この装置は、クロマトグラフなどから
入力されるアナログのクロマトグラムデータなどをデジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１と、種々の分析処理
演算を行うＣＰＵ２と、このＣＰＵ２のプログラム等を
記憶するＲＯＭ３と、データの一時取り込み及び演算用
に使用されるＲＡＭ４と、種々の処理内容の指示、設定
条件、データ数値を入力するためのキー入力部５と、デ
ータを落とし込むためのフロッピディスクドライブ６
と、分析したデータを印字出力するプリンタ７と、取り
込まれたクロマトグラム、演算作成した検量線などを表
示する表示装置８とから構成されている。
図１は、本発明のデータ処理装置のハード構成を示すブ
ロック図である。この装置は、クロマトグラフなどから
入力されるアナログのクロマトグラムデータなどをデジ
タル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１と、種々の分析処理
演算を行うＣＰＵ２と、このＣＰＵ２のプログラム等を
記憶するＲＯＭ３と、データの一時取り込み及び演算用
に使用されるＲＡＭ４と、種々の処理内容の指示、設定
条件、データ数値を入力するためのキー入力部５と、デ
ータを落とし込むためのフロッピディスクドライブ６
と、分析したデータを印字出力するプリンタ７と、取り
込まれたクロマトグラム、演算作成した検量線などを表
示する表示装置８とから構成されている。
【００１２】ＣＰＵ２は、取り込まれたクロマトグラム
データなどにつきピーク検出や、各ピークの面積算出、
検量線作成、その他の分析処理を実行する機能の他、取
り込まれたクロマトグラムデータなどと演算処理データ
との乖離度の算出、乖離度に基づき取り込まれたデータ
の表示形態を選択する機能等をも備えている。
データなどにつきピーク検出や、各ピークの面積算出、
検量線作成、その他の分析処理を実行する機能の他、取
り込まれたクロマトグラムデータなどと演算処理データ
との乖離度の算出、乖離度に基づき取り込まれたデータ
の表示形態を選択する機能等をも備えている。
【００１３】上記データ処理装置においてキャリブレー
ションを行う場合の動作について図２のフローチャート
に基づいて説明する。先ず、キー入力部５よりキャリブ
レーションを指示すると、標準サンプルの分析が行われ
る。キャリブレーションが完了する（標準サンプルの分
析が終了する／ステップＳＴ１，ＳＴ２）と、ＲＯＭ３
に記憶されたプログラムに従い検量線（Ｙ＝Ｆ1 Ｘ＋Ｆ
2 ）の係数Ｆ1 、Ｆ2 を最小二乗法により計算し（ステ
ップＳＴ３）、検量線をプロットする（ステップＳＴ
４）。この検量線は、横軸が標準サンプルの濃度値、縦
軸が検出器の信号強度になるようプロットされる。
ションを行う場合の動作について図２のフローチャート
に基づいて説明する。先ず、キー入力部５よりキャリブ
レーションを指示すると、標準サンプルの分析が行われ
る。キャリブレーションが完了する（標準サンプルの分
析が終了する／ステップＳＴ１，ＳＴ２）と、ＲＯＭ３
に記憶されたプログラムに従い検量線（Ｙ＝Ｆ1 Ｘ＋Ｆ
2 ）の係数Ｆ1 、Ｆ2 を最小二乗法により計算し（ステ
ップＳＴ３）、検量線をプロットする（ステップＳＴ
４）。この検量線は、横軸が標準サンプルの濃度値、縦
軸が検出器の信号強度になるようプロットされる。
【００１４】検量線がプロットされると、その検量線情
報から実測データ（Ａ／Ｄ変換器１の信号値に相当）の
Ｘ，Ｙ座標の点を読取り（ステップＳＴ５）、検量線と
（Ｘ，Ｙ）との差を求める（ステップＳＴ６）。この時
求めるのは差であってもよいし、差の偏差値でもよい。
報から実測データ（Ａ／Ｄ変換器１の信号値に相当）の
Ｘ，Ｙ座標の点を読取り（ステップＳＴ５）、検量線と
（Ｘ，Ｙ）との差を求める（ステップＳＴ６）。この時
求めるのは差であってもよいし、差の偏差値でもよい。
【００１５】差に合わせて実測データのプロットする図
形を決める（ステップＳＴ７）。プロットする図形はＲ
ＯＭ３に記憶されており、例えば次のようになってい
る。
形を決める（ステップＳＴ７）。プロットする図形はＲ
ＯＭ３に記憶されており、例えば次のようになってい
る。
【００１６】 上記に基づき実測データをプロットし、表示装置８に表
示した（ステップ８）のが、図３である。この図よりわ
かるように、本発明によれば、実測データの乖離度が一
見してわかる。
示した（ステップ８）のが、図３である。この図よりわ
かるように、本発明によれば、実測データの乖離度が一
見してわかる。
【００１７】なお、以上の説明ではキャリブレーション
について述べたが、本発明はこれに限定されず、シュミ
レーション結果をプロットする際も同様に実測データの
形態を乖離度に応じて変えて表示できる。この場合は、
図２のフローチャートのステップ６までが異なる。
について述べたが、本発明はこれに限定されず、シュミ
レーション結果をプロットする際も同様に実測データの
形態を乖離度に応じて変えて表示できる。この場合は、
図２のフローチャートのステップ６までが異なる。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、一見しただけで演算処
理データと実測データの乖離の程度を判別することがで
き、演算処理データの信頼性を評価できる。
理データと実測データの乖離の程度を判別することがで
き、演算処理データの信頼性を評価できる。
【図１】本発明のデータ処理装置のハード構成を示すブ
ロック図
ロック図
【図２】データ処理装置においてキャリブレーションを
行う場合の動作図
行う場合の動作図
【図３】本発明に基づくキャリブレーション時の表示図
【図４】（ａ）従来のキャリブレーション時の表示図、
（ｂ）従来のシュミレーション時の表示図
（ｂ）従来のシュミレーション時の表示図
１：Ａ／Ｄ変換器 ２：ＣＰＵ ３：ＲＯＭ ８：表示装置
Claims (1)
- 【請求項１】 分析装置からのデータをＡ／Ｄ装置でデ
ジタル信号に変換して取り込み、分析処理演算を行うと
ともに、演算処理データと実測データを同時に表示させ
るデータ処理装置において、 演算処理データと実測データの乖離度を求める手段と、
求められた乖離度に基づき実測データの表示形態を選択
する手段とを備え、演算処理データからの乖離度に応じ
て実測データの表示形態を異ならせて表示するようにし
たことを特徴とするデータ処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29664793A JPH07151743A (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | データ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29664793A JPH07151743A (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | データ処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07151743A true JPH07151743A (ja) | 1995-06-16 |
Family
ID=17836253
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29664793A Pending JPH07151743A (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | データ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07151743A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021173628A (ja) * | 2020-04-24 | 2021-11-01 | 株式会社島津製作所 | 分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラム |
-
1993
- 1993-11-26 JP JP29664793A patent/JPH07151743A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021173628A (ja) * | 2020-04-24 | 2021-11-01 | 株式会社島津製作所 | 分析支援装置、分析支援方法および分析支援プログラム |
| US11829357B2 (en) | 2020-04-24 | 2023-11-28 | Shimadzu Corporation | Analysis assistance device, analysis assistance method and non-transitory computer readable medium storing analysis assistance program |
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