JP6718694B2 - マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、および質量分析装置 - Google Patents

Description

本発明は、マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラムに関する。

質量分析装置では、試料成分をイオン化し、イオン化された試料成分を質量分離することで、イオン化された試料成分の質量電荷比（ｍ／ｚ）を横軸、検出強度を縦軸としたマススペクトルが得られる。マススペクトル上に現れるピークの位置（質量電荷比）と強度を正確に求めることで、試料成分の精密質量と相対的な存在量の情報を得ることができる。マススペクトルから得られた精密質量に対して、当該精密質量と近しい質量をもつ元素の組み合わせ（元素組成）を割り出す処理が元素組成の推定処理である。この元素組成の推定処理の結果として割り出された元素組成の候補から、試料成分の同定を行うことができる。

一般的な元素は、複数の同位体を持っている。そのため、単一成分であっても、マススペクトル上では、複数のピーク（同位体ピーク群）が検出される。同位体ピーク群は、天然存在比が最大の同位体で構成されるモノアイソトピックピークと、同位体ピークと、に大別できる。

マススペクトルを解析して元素組成の推定処理を行う場合、一般的に、モノアイソトピックピークを対象として行う。元素組成の推定処理で同位体ピークを対象とすることも可能であるが、この場合、モノアイソトピック元素だけでなく同位体元素も考慮しなければならない。そのため、元素の組み合わせの数が膨大となってしまい処理が複雑化してしまう。

例えば、特許文献１には、ＬＣ／ＭＳのように多価イオンが観測される質量分析計において、モノアイソトピックイオンを特定し、元素組成の推定処理を行う手法が開示されている。

特開２０１３−２３１７１５号公報

マススペクトル解析装置において、マススペクトルを解析して元素組成の推定処理を行う場合、一般的に、マススペクトル上のピークを検出し、解析対象となるピークを選択する処理を行った後、選択されたピークの精密質量から元素組成の推定処理を行う。マススペクトル上に複数のピークが検出された場合、検出された全てのピークに対して、順次、元素組成の推定処理を行う。

このマススペクトルの解析方法では、解析対象となるピークとしてモノアイソトピックピークだけでなく、同位体ピークも選択される。同位体ピークが選択されると、同位体ピークをモノアイソトピックピークとして元素組成の推定処理を行うことになり、誤った元素組成が出力されてしまう。また、モノアイソトピックピークに加えて同位体ピークも処理しなければならないため、処理時間が長くなってしまう。

本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、本発明のいくつかの態様に係る目的の１つは、マススペクトルを効率よく解析することができるマススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、およびプログラムを提供することにある。また、本発明のいくつかの態様に係る目的の１つは、上記マススペクトル解析装置を含む質量分析装置を提供することにある。

（１）本発明に係るマススペクトル解析装置は、
試料に対して質量分析を行うことにより取得されたマススペクトルデータから元素組成の推定を行うマススペクトル解析装置であって、
前記マススペクトルデータからピークを検出し、ピークリストを作成するピークリスト作成部と、
前記ピークリストから、解析対象となる解析対象ピークを選択するピーク選択部と、
前記解析対象ピークから元素組成を推定する組成推定部と、
前記解析対象ピークに基づいて前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範
囲を設定し、前記ピークリストを更新するピークリスト更新部と、
を含み、
前記ピークリスト更新部は、
前記解析対象ピークの質量電荷比に基づいて、前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の下限を設定し、
前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の大きさが、あらかじめ設定された大きさとなるように、前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の上限を設定し、
設定された質量電荷比の範囲に含まれるすべてのピークを前記ピークリストから削除する。

このようなマススペクトル解析装置では、ピークリスト更新部が解析対象ピークに基づいてピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲を設定し、ピークリストを更新するため、ピークリストから同位体ピークの少なくとも一部を削除することができる。したがって、このようなマススペクトル解析装置では、効率よくマススペクトルの解析を行うことができる。

（２）本発明に係るマススペクトル解析装置において、
前記ピークリスト更新部は、前記解析対象ピークの質量電荷比に基づいて、前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲を、前記解析対象ピークと関連する同位体ピークの少なくとも一部を含む範囲に設定してもよい。

このようなマススペクトル解析装置では、ピークリストから同位体ピークの少なくとも一部を削除することができるため、効率よくマススペクトルの解析を行うことができる。

（３）本発明に係るマススペクトル解析装置において、
前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の大きさは、３Ｄａに相当する質量電荷比であってもよい。

（４）本発明に係るマススペクトル解析装置において、
前記ピーク選択部は、前記ピークリストが更新された場合に、更新された前記ピークリストから、前記解析対象ピークを選択してもよい。

このようなマススペクトル解析装置では、効率よくマススペクトルの解析を行うことができる。

（５）本発明に係るマススペクトル解析方法は、
試料に対して質量分析を行うことにより取得されたマススペクトルデータから元素組成の推定を行うマススペクトル解析方法であって、
前記マススペクトルデータからピークを検出し、ピークリストを作成するピークリスト作成工程と、
前記ピークリストから、解析対象となる解析対象ピークを選択するピーク選択工程と、
前記解析対象ピークから元素組成を推定する組成推定工程と、
前記解析対象ピークに基づいて前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲を設定し、前記ピークリストを更新するピークリスト更新工程と、
を含み、
前記ピークリスト更新工程では、
前記解析対象ピークの質量電荷比に基づいて、前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の下限を設定し、
前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の大きさが、あらかじめ設定された大きさとなるように、前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の
上限を設定し、
設定された質量電荷比の範囲に含まれるすべてのピークを前記ピークリストから削除する。

このようなマススペクトル解析方法では、ピークリスト更新工程において解析対象ピークに基づいてピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲を設定し、ピークリストを更新するため、ピークリストから同位体ピークの少なくとも一部を削除することができる。したがって、このようなマススペクトル解析装置では、効率よくマススペクトルの解析を行うことができる。

（６）本発明に係る質量分析装置は、
本発明に係るマススペクトル解析装置を含む。

このような質量分析装置では、本発明に係るマススペクトル解析装置を含むため、効率よくマススペクトルの解析を行うことができる。

（７）本発明に係るマススペクトル解析装置において、
更新された前記ピークリストにピークが有るか否かを判定する判定部を含み、
前記判定部が更新された前記ピークリストにピークが有ると判定した場合、前記ピーク選択部は、更新された前記ピークリストから、解析対象となる解析対象ピークを選択してもよい。

本実施形態に係る質量分析装置を模式的に示す図。 マススペクトル解析装置におけるマススペクトルを解析する処理の一例を示すフローチャート。 解析対象となるマススペクトルの一例を模式的に示す図。 ピークリストから解析対象ピークを選択する処理を説明するための図。 ピークリストを更新する処理を説明するための図。 更新されたピークリストから解析対象ピークを選択する処理を説明するための図。 ピークリストを、再度、更新する処理を説明するための図。 ピークリスト更新部におけるピークリストを更新する処理の変形例を説明するための図。

以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また、以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。

１． 質量分析装置
まず、本実施形態に係る質量分析装置について図面を参照しながら説明する。図１は、本実施形態に係る質量分析装置１００を模式的に示す図である。

質量分析装置１００は、質量分析を行うための装置である。質量分析装置１００では、試料に対して質量分析を行うことによりマススペクトルデータを取得することができる。ここでは、質量分析装置１００が、ガスクロマトグラフ（ＧＣ）と、質量分析計（ＭＳ）と、を接続したガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）である場合について説明する。

質量分析装置１００は、本発明に係るマススペクトル解析装置を含む。ここでは、質量分析装置１００が、本発明に係るマススペクトル解析装置として、マススペクトル解析装置４０を含む場合について説明する。

質量分析装置１００は、さらに、ガスクロマトグラフ部１０と、質量分析部２０と、インターフェース部３０と、を含んで構成されている。

ガスクロマトグラフ部１０は、試料注入部１０２と、分離カラム部１０４と、を有している。試料注入部１０２には、測定対象となる試料（試料ガス）が注入される。試料注入部１０２に注入された試料は、キャリアガスによって、分離カラム部１０４に移動する。

分離カラム部１０４は、試料に含まれる各成分を時間軸で分離する。分離された試料は、インターフェース部３０を介して質量分析部２０に導入される。

インターフェース部３０は、ガスクロマトグラフ部１０と質量分析部２０とを接続している。

質量分析部２０は、ガスクロマトグラフ部１０で分離された試料の各成分をイオン化し、生成されたイオンを質量電荷比に応じて分離し検出する。質量分析部２０におけるイオン化の手法としては、例えば、ＥＩ（Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｉｏｎｉｚａｔｉｏｎ）法や、ＣＩ（Ｃｈｅｍｉｃａｌ Ｉｏｎｉｚａｔｉｏｎ）法などを用いることができる。質量分析部２０における質量分離は、例えば、飛行時間型質量分析計や、四重極型質量分析計などを用いて行うことができる。なお、イオン化の手法および質量分離の手法は、これらの例に限定されない。

質量分析部２０で質量分離されたイオンの検出結果は、マススペクトル解析装置４０に送られ、マススペクトル解析装置４０においてマススペクトルデータが作成される。作成されたマススペクトルデータは、記憶部４４０に記憶される。マススペクトルデータから、横軸を質量電荷比とし、縦軸をイオン強度とするマススペクトルを作成することができる。

マススペクトル解析装置４０は、試料に対する質量分析を行うことで取得されたマススペクトルデータから、試料に含まれる成分の元素組成を推定する処理を行う。

マススペクトル解析装置４０は、処理部４１０と、操作部４２０と、表示部４３０と、記憶部４４０と、情報記憶媒体４５０と、を含んで構成されている。マススペクトル解析
装置４０は、例えば、パーソナルコンピューター（ＰＣ）などで実現することができる。

操作部４２０は、ユーザーによる操作に応じた操作信号を取得し、処理部４１０に送る処理を行う。操作部４２０は、例えば、ボタン、キー、タッチパネル型ディスプレイ、マイクなどである。操作部４２０は、例えば、マススペクトルの解析条件の入力を行うために用いられる。

表示部４３０は、処理部４１０によって生成された画像を表示するものであり、その機能は、ＬＣＤ、ＣＲＴなどにより実現できる。

記憶部４４０は、処理部４１０が各種の計算処理を行うためのプログラムやデータ等を記憶している。また、記憶部４４０は、処理部４１０の作業領域として用いられ、処理部４１０が各種プログラムに従って実行した算出結果等を一時的に記憶するためにも使用される。

情報記憶媒体４５０は、コンピューターにより読み取り可能な媒体である。情報記憶媒体４５０は、プログラムやデータなどを格納するものである。情報記憶媒体４５０の機能は、光ディスク（ＤＶＤ、ＣＤ等）、ＨＤＤ（ハードディスクドライブ）、或いはメモリ（ＲＯＭ等）などにより実現できる。処理部４１０は、情報記憶媒体４５０に格納されるプログラム（データ）に基づいて本実施形態の種々の処理を行う。すなわち、情報記憶媒体４５０には、処理部４１０の各部としてコンピューターを機能させるためのプログラム（各部の処理をコンピューターに実行させるためのプログラム）が記憶される。

処理部４１０は、マススペクトルを取得する処理や、マススペクトルデータから元素組成を推定する処理、マススペクトルの解析結果等を表示部４３０に表示させる処理などの処理を行う。処理部４１０の機能は、各種プロセッサ（ＣＰＵ、ＤＳＰ等）でプログラムを実行することにより実現することができる。なお、処理部４１０の機能の少なくとも一部を、ＡＳＩＣ（ゲートアレイ等）などの専用回路により実現してもよい。処理部４１０は、ピークリスト作成部４１２と、ピーク選択部４１４と、組成推定部４１６と、ピークリスト更新部４１８と、判定部４１９と、を含む。

ピークリスト作成部４１２は、記憶部４４０に記憶されているマススペクトルデータを読み出し、当該マススペクトルデータからピークを検出し、ピークリストを作成する。ピークリスト作成部４１２は、マススペクトルデータから検出されたピークの位置（質量電荷比）とピークの強度をリストアップしてピークリストを作成する。ピークリスト作成部４１２は、各ピークの位置（質量電荷比）から求めた精密質量の情報をピークリストに加える処理を行ってもよい。

ピーク選択部４１４は、ピークリスト作成部４１２で作成されたピークリストから、解析対象となるピーク（以下、「解析対象ピーク」ともいう）を選択する。ピーク選択部４１４は、ピークリストに含まれているピークのうち、最も強度の大きいピークを解析対象ピークとする。ピーク選択部４１４は、ピークリスト更新部４１８によってピークリストが更新された場合には、更新されたピークリストから解析対象ピークを選択する。

なお、上記では、ピーク選択部４１４が最大強度のピークを解析対象ピークとする例について説明したが、解析対象ピークを選択する処理はこれに限定されない。例えば、ピークリストに含まれているピークのうち、ユーザーによって選択されたピークを解析対象ピークとしてもよい。

組成推定部４１６は、ピーク選択部４１４で選択された解析対象ピークに対して元素組
成を推定する処理を行う。組成推定部４１６は、マススペクトル上における解析対象ピークの位置（質量電荷比）から精密質量を求め、データベース等から当該精密質量に近しい質量を持つ元素組成を割り出すことで、元素組成を推定する。解析対象ピークに対する元素組成を推定する処理の結果、解析対象ピークから推定される元素組成の候補が得られる。解析対象ピークから推定される元素組成の候補は、例えば、記憶部４４０に記憶される。

ピークリスト更新部４１８は、ピークリスト作成部４１２で作成されたピークリストを更新する処理を行う。具体的には、ピークリスト更新部４１８は、解析対象ピークに基づいてピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲（以下「ピーク削除範囲」ともいう）を設定し、ピークリストを更新する。

ピークリスト更新部４１８は、解析対象ピークの質量電荷比に基づいて、ピーク削除範囲を解析対象ピークと関連する同位体ピークの少なくとも一部を含む範囲に設定する。ここで、同位体ピークは、一般的に、モノアイソトピックピークから高質量側に３Ｄａ（ダルトン）以内に出現する。そのため、ピークリスト更新部４１８は、解析対象ピークの質量電荷比を下限とし、解析対象ピークの質量電荷比から高質量側に３Ｄａ（すなわち３Ｄａに相当する質量電荷比）を上限とするピーク削除範囲を設定する。これにより、解析対象ピークを含む同位体ピーク群の少なくとも一部を、ピークリストから削除することができる。

なお、ここでは、ピーク削除範囲の大きさ（ピーク削除範囲の上限と下限との差）を３Ｄａとしたが、この値は特に限定されず、例えばユーザーが適宜設定することができる。

また、ピーク削除範囲は、解析対象ピークの質量電荷比よりも低質量側を含むように設定されてもよい。また、ピーク削除範囲は、解析対象ピークの質量電荷比よりも低質量側および高質量側の両方を含むように設定されてもよい。また、ピーク削除範囲は、ユーザーが任意に設定可能であってもよい。

ピークリスト更新部４１８がピーク削除範囲に含まれるピークをピークリストから削除することにより、ピークリストが更新される。

判定部４１９は、ピークリスト更新部４１８によって更新されたピークリストにピークが有るか否かの判定を行う。

処理部４１０は、各解析対象ピークについての元素組成の推定結果を記憶部４４０から読み出して、表示部４３０に表示させる制御を行う。

２． マススペクトルの解析方法
次に、本実施形態に係るマススペクトルの解析方法について説明する。ここでは、マススペクトル解析装置４０がマススペクトルを解析する場合について説明する。

図２は、マススペクトル解析装置４０におけるマススペクトルを解析する処理の一例を示すフローチャートである。

まず、ピークリスト作成部４１２がマススペクトルからピークを検出し、ピークリストを作成する（ステップＳ１００）。

図３は、解析対象となるマススペクトルの一例を模式的に示す図である。ピークリスト作成部４１２は、マススペクトルデータからピークを検出し、ピークリストを作成する。
これにより、図３に示すマススペクトル上の全てのピークがリストアップされ、各ピークの質量電荷比や、強度等の情報が掲載されたピークリストが作成される。

次に、ピーク選択部４１４が、ピークリストから解析対象となる解析対象ピークを選択する（ステップＳ１０２）。

図４は、ピークリストから解析対象ピークを選択する処理を説明するための図である。ピーク選択部４１４は、ピークリストから最大強度のピークを検出して、解析対象ピークＰ１とする。

次に、組成推定部４１６が解析対象ピークＰ１から元素組成を推定する（ステップＳ１０４）。組成推定部４１６は、解析対象ピークＰ１の位置（質量電荷比）から精密質量を求め、データベース等から当該精密質量に近しい質量を持つ元素組成を割り出して、元素組成を推定する。

次に、ピークリスト更新部４１８は、解析対象ピークＰ１に基づいてピーク削除範囲を設定し、ピークリストを更新する（ステップＳ１０６）。

図５は、ピークリストを更新する処理を説明するための図である。なお、図５では、ピークリストから削除されたピークを破線で示している。図５に示す例では、ピークリスト更新部４１８は、解析対象ピークＰ１の質量電荷比に基づいて、ピークを削除する範囲を、下限を解析対象ピークＰ１の質量電荷比とし、上限を解析対象ピークＰ１から高質量側に３Ｄａ（３Ｄａに相当する質量電荷比）とする範囲に設定した。ピークリスト更新部４１８は、ピークリストから、設定されたピーク削除範囲に含まれるピークを削除して、ピークリストを更新する。これにより、解析対象ピークＰ１を含む同位体ピーク群が、ピークリストから削除される。

次に、判定部４１９は、更新されたピークリストにピークが有るか否かを判定する（ステップＳ１０８）。

ピークリストにピークが有ると判定された場合（ステップＳ１０８でＹｅｓの場合）、ステップＳ１０２に戻って、ピーク選択部４１４が、更新されたピークリストから解析対象ピークを選択する処理を行う。

図６は、更新されたピークリストから解析対象ピークを選択する処理を説明するための図である。ピーク選択部４１４は、更新されたピークリストから最大強度のピークを検出して、解析対象ピークＰ２とする。

次に、組成推定部４１６が解析対象ピークＰ２から元素組成を推定する（ステップＳ１０４）。

次に、ピークリスト更新部４１８は、解析対象ピークＰ２に基づいてピーク削除範囲を設定し、ピークリストを、再度、更新する（ステップＳ１０６）。

図７は、ピークリストを、再度、更新する処理を説明するための図である。なお、図７では、ピークリストから削除されたピークを破線で示している。図７に示す例では、ピークリスト更新部４１８は、解析対象ピークＰ２に基づいて、ピークを削除する範囲を、下限を解析対象ピークＰ２の質量電荷比とし、上限を解析対象ピークＰ２から高質量側に３Ｄａとする範囲に設定した。ピークリスト更新部４１８は、ピークリストから、設定されたピーク削除範囲に含まれるピークを削除して、ピークリストを、再度、更新する。

ピーク選択部４１４、組成推定部４１６、ピークリスト更新部４１８、および判定部４１９は、ステップＳ１０２〜ステップＳ１０８の処理を、ピークリストからピークがなくなるまで繰り返し行う。

ピークリストにピークが無いと判定された場合（ステップＳ１０８でＮｏの場合）、処理部４１０は、各解析対象ピークについての元素組成の推定結果を記憶部４４０から読み出して、表示部４３０に表示させる制御を行う。そして、処理部４１０は、マススペクトルを解析する処理を終了する。

上述したように、マススペクトル解析装置４０では、ピークリスト更新部４１８が解析対象ピークに基づいて、ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲を設定し、ピークリストを更新する。ピークリスト更新部４１８は、解析対象ピークの質量電荷比に基づいて、ピーク削除範囲を解析対象ピークと関連する同位体ピークの少なくとも一部を含む範囲に設定する。そのため、マススペクトル解析装置４０では、ピークリストから同位体ピークの少なくとも一部を削除することができ、効率よくマススペクトルの解析を行うことができる。したがって、マススペクトル解析装置４０では、処理時間を短縮することができる。また、マススペクトル解析装置４０では、マススペクトルの解析の結果を簡素化することができる。

本実施形態に係るマススペクトル解析方法は、マススペクトルデータからピークを検出し、ピークリストを作成するピークリスト作成工程と、ピークリストから、解析対象となる解析対象ピークを選択するピーク選択工程と、解析対象ピークから元素組成を推定する組成推定工程と、解析対象ピークに基づいてピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲を設定し、ピークリストを更新するピークリスト更新工程と、を含む。そのため、本実施形態に係るマススペクトル解析方法によれば、ピークリストから同位体ピークの少なくとも一部を削除することができ、効率よくマススペクトルの解析を行うことができる。

質量分析装置１００は、マススペクトル解析装置４０を含むため、効率よくマススペクトルの解析を行うことができる。

３． 変形例
なお、本発明は上述した実施形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。

（１）第１変形例
上述した実施形態では、ピークリスト更新部４１８がピークを削除する範囲を、下限を解析対象ピークの質量電荷比とし、上限を解析対象ピークＰ２から高質量側に３Ｄａとする範囲に設定する例について説明したが、ピークリスト更新部４１８におけるピーク削除範囲の設定の手法はこの例に限定されない。例えば、ピークリスト更新部４１８は、解析対象ピークの質量電荷比に基づいて、ピーク削除範囲を解析対象ピークから一定の間隔で複数設定してもよい。すなわち、ピークリスト更新部４１８は、複数のピーク削除範囲を、一定の間隔でとびとびに設定してもよい。

図８は、ピークリスト更新部４１８におけるピークリストを更新する処理の変形例を説明するための図である。なお、図８では、ピークリストから削除されたピークを破線で示している。

同位体ピークの間隔は、通常、一定である。そのため、本変形例では、ピークリスト更
新部４１８は、ピーク削除範囲を、間隔ａで複数設定する。例えば、１価イオンの場合（すなわちｚ＝１の場合）、同位体ピークの間隔は、１Ｄａに相当する。したがって、間隔ａを１Ｄａ（すなわち１Ｄａに相当する質量電荷比）とすることで、ピークリストを更新する処理において、ピークリストから１価イオンの同位体ピークを削除しつつ、解析対象ピークＰ１に近接する他の試料成分のピークＰ３が削除される可能性を低減することができる。なお、ピーク削除範囲の間隔ａは、隣接するピーク削除範囲の中心間の大きさである。

また、２価イオンの場合（すなわちＺ＝２の場合）、同位体ピークの間隔は、１／２Ｄａに相当する。したがって、間隔ａを１／２Ｄａとすることで、ピークリストを更新する処理において、ピークリストから２価イオンの同位体ピークを削除しつつ、解析対象ピークＰ１に近接する他の試料成分のピークＰ３が削除される可能性を低減することができる。

また、３価イオンの場合（すなわちＺ＝３の場合）、同位体ピークの間隔は、１／３Ｄａに相当する。したがって、間隔ａを１／３Ｄａとすることで、ピークリストを更新する処理において、ピークリストから３価イオンの同位体ピークを削除しつつ、解析対象ピークＰ１に近接する他の試料成分のピークＰ３が削除される可能性を低減することができる。

例えば、ユーザーによってイオンの価数が指定された場合、ピークリスト更新部４１８は、ピーク削除範囲を、指定されたイオンの価数に応じた間隔ａで複数設定する。イオンの価数の指定は、操作部４２０を介して行うことができる。なお、ユーザーが間隔ａの値を指定し、ピークリスト更新部４１８が、ピーク削除範囲を、指定された間隔ａで複数設定してもよい。

ピーク削除範囲の大きさｂは、例えば、１０ｍＤａ程度に設定される。なお、ピーク削除範囲の大きさｂは、この値に限定されず、ユーザーが適宜設定することができる。また、ピーク削除範囲の数は図示の例では４個であるが、ピーク削除範囲の数は特に限定されず、ユーザーが適宜設定することができる。

第１変形例に係るマススペクトル解析装置４０の処理は、図２に示すピークリストを更新する処理（ステップＳ１０６）において、ピーク削除範囲を解析対象ピークから一定の間隔で複数設定する点を除いて、上述した実施形態で説明した処理と同様であり、その説明を省略する。

第１変形例に係るマススペクトル解析装置４０では、ピークリスト更新部４１８が解析対象ピークの質量電荷比に基づいて、ピーク削除範囲を解析対象ピークから一定の間隔で複数設定するため、上記のように、ピークリストから解析対象ピークに近接する他の試料成分のピークが削除される可能性を低減することができる。

（２）第２変形例
上述した実施形態では、図１に示すように、マススペクトル解析装置４０が質量分析装置１００に含まれている場合について説明したが、マススペクトル解析装置４０は質量分析装置に含まれていなくてもよい。マススペクトル解析装置４０は、他の質量分析装置で得られたマススペクトルや、シミュレーションで得られたマススペクトルの解析を行ってもよい。この場合、マススペクトル解析装置４０は、情報記憶媒体４５０等を介して、マススペクトルデータを取得してもよい。

（３）第３変形例
上述した実施形態では、質量分析装置１００が、ガスクロマトグラフ質量分析装置（ＧＣ／ＭＳ）である場合について説明したが、本発明に係る質量分析装置は、ガスクロマトグラフ質量分析装置に限定されず、その他の質量分析装置にも適用可能である。

なお、上述した実施形態及び変形例は一例であって、これらに限定されるわけではない。例えば各実施形態及び各変形例は、適宜組み合わせることが可能である。

本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成（例えば、機能、方法および結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成）を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。

１０…ガスクロマトグラフ部、２０…質量分析部、３０…インターフェース部、４０…マススペクトル解析装置、１００…質量分析装置、１０２…試料注入部、１０４…分離カラム部、４１０…処理部、４１２…ピークリスト作成部、４１４…ピーク選択部、４１６…組成推定部、４１８…ピークリスト更新部、４１９…判定部、４２０…操作部、４３０…表示部、４４０…記憶部、４５０…情報記憶媒体

Claims (7)

1. 試料に対して質量分析を行うことにより取得されたマススペクトルデータから元素組成の推定を行うマススペクトル解析装置であって、
   前記マススペクトルデータからピークを検出し、ピークリストを作成するピークリスト作成部と、
   前記ピークリストから、解析対象となる解析対象ピークを選択するピーク選択部と、
   前記解析対象ピークから元素組成を推定する組成推定部と、
   前記解析対象ピークに基づいて前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲を設定し、前記ピークリストを更新するピークリスト更新部と、
   を含み、
   前記ピークリスト更新部は、
   前記解析対象ピークの質量電荷比に基づいて、前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の下限を設定し、
   前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の大きさが、あらかじめ設定された大きさとなるように、前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の上限を設定し、
   設定された質量電荷比の範囲に含まれるすべてのピークを前記ピークリストから削除する、マススペクトル解析装置。
2. 請求項１において、
   前記ピークリスト更新部は、前記解析対象ピークの質量電荷比に基づいて、前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲を、前記解析対象ピークと関連する同位体ピークの少なくとも一部を含む範囲に設定する、マススペクトル解析装置。
3. 請求項１または２において、
   前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の大きさは、３Ｄａに相当する質量電荷比である、マススペクトル解析装置。
4. 請求項１ないし３のいずれか１項において、
   前記ピーク選択部は、前記ピークリストが更新された場合に、更新された前記ピークリストから、前記解析対象ピークを選択する、マススペクトル解析装置。
5. 試料に対して質量分析を行うことにより取得されたマススペクトルデータから元素組成の推定を行うマススペクトル解析方法であって、
   前記マススペクトルデータからピークを検出し、ピークリストを作成するピークリスト作成工程と、
   前記ピークリストから、解析対象となる解析対象ピークを選択するピーク選択工程と、
   前記解析対象ピークから元素組成を推定する組成推定工程と、
   前記解析対象ピークに基づいて前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲を設定し、前記ピークリストを更新するピークリスト更新工程と、
   を含み、
   前記ピークリスト更新工程では、
   前記解析対象ピークの質量電荷比に基づいて、前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の下限を設定し、
   前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の大きさが、あらかじめ設定された大きさとなるように、前記ピークリストからピークを削除する質量電荷比の範囲の上限を設定し、
   設定された質量電荷比の範囲に含まれるすべてのピークを前記ピークリストから削除する、マススペクトル解析方法。
6. 請求項１ないし４のいずれか１項に記載のマススペクトル解析装置を含む、質量分析装置。
7. 請求項１ないし４のいずれか１項において、
   更新された前記ピークリストにピークが有るか否かを判定する判定部を含み、
   前記判定部が更新された前記ピークリストにピークが有ると判定した場合、前記ピーク選択部は、更新された前記ピークリストから、解析対象となる解析対象ピークを選択する、マススペクトル解析装置。

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