JP6698668B2 - 断片化エネルギーを切り替えながらの幅広い四重極rf窓の高速スキャニング - Google Patents
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Description
本願は、米国仮特許出願第62/112,603号(2015年2月5日出願)の利益を主張し、上記出願の内容は、その全体が参照により本明細書に引用される。
本発明は、例えば、以下を提供する。
(項目1)
断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析データ非依存性収集(DIA)実験において前駆体イオン情報を提供するためのシステムであって、
サンプルを受け取り、サンプルをイオン化して、イオンビームを生成するように構成されているイオン源と、
前記イオンビームを受け取り、前記イオンビームのm/z範囲を分析するように構成されているタンデム質量分析計と、
前記タンデム質量分析計と通信するプロセッサと
を備え、
前記プロセッサは、
(a)前記m/z範囲を2つ以上の前駆体イオン単離窓に分割することと、
(b)断片化パラメータのための2つ以上の値を選択することであって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの第1の値は、前記イオンビームの最少量のイオンを断片化するレベルを有し、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの1つ以上の追加の値は、前記イオンビームの前記イオンの次第により多くの断片化を生成する次第に攻撃的なレベルを有する、ことと、
(c)前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの各前駆体イオン単離窓に対して、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記第1の値を使用して、前記イオンビームの選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することと、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記1つ以上の追加の値を使用して、前記イオンビームの1つ以上の追加の選択および断片を行うように前記タンデム質量分析計に命令することとによって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの各値に対する生成イオンスペクトルを生成することと
を行う、システム。
(項目2)
前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われる衝突誘起解離方法の衝突エネルギーを含む、項目1に記載のシステム。
(項目3)
前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われるRF解離方法の高周波数(RF)励起を含む、項目1に記載のシステム。
(項目4)
前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われる電子捕獲解離(ECD)方法の電子エネルギーを含む、項目1に記載のシステム。
(項目5)
前記プロセッサは、(d)前記断片化パラメータのための同一の値を使用して生成された、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の生成イオンスペクトルをさらに組み合わせ、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、m/z範囲全体に対する複合生成イオンスペクトルを生成する、項目1に記載のシステム。
(項目6)
時間と共に前記サンプルを前記イオン源に提供するサンプル導入デバイスをさらに備え、前記プロセッサは、1つ以上の追加の時間においてステップ(c)および(d)をさらに行い、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、時系列の複合生成イオンスペクトルを生成する、項目5に記載のシステム。
(項目7)
前記プロセッサは、前記第1の値の前記時系列の複合生成イオンスペクトルにおける各無傷前駆体イオンに対する無傷前駆体イオン強度トレースを計算して、1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースを生成することと、前記1つ以上の追加の値の時系列の複合生成イオンスペクトルにおける少なくとも1つの生成イオンに対する少なくとも1つの生成イオン強度トレースを計算することとをさらに行う、項目6に記載のシステム。
(項目8)
前記プロセッサは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースを前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースと比較することと、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係がある場合、その無傷前駆体イオントレースの無傷前駆体イオンを前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの前記少なくとも1つの生成イオンを生成するものとして同定することとをさらに行う、項目7に記載のシステム。
(項目9)
前記プロセッサは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの頂点が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの頂点と同時に出現しているかどうかを決定することによって、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることを決定する、項目8に記載のシステム。
(項目10)
前記プロセッサは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの形状が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの形状と同一であるかどうかを決定することによって、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることをさらに決定する、項目8に記載のシステム。
(項目11)
断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析データ非依存性収集(DIA)実験において前駆体イオン情報を提供する方法であって、
(a)イオン源を使用してサンプルをイオン化し、イオンビームを生成することと、
(b)タンデム質量分析計を使用して、前記イオンビームを受け取ることと、
(c)プロセッサを使用して、m/z範囲を2つ以上の前駆体イオン単離窓に分割することと、
(d)前記プロセッサを使用して、断片化パラメータのための2つ以上の値を選択することであって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの第1の値は、前記イオンビームの最少量のイオンを断片化するレベルを有し、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの1つ以上の追加の値は、前記イオンビームの前記イオンの次第により多くの断片化を生成する次第に攻撃的なレベルを有する、ことと、
(e)前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの各前駆体イオン単離窓に対して、前記プロセッサを使用して、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記第1の値を使用して、前記イオンビームの選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することと、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記1つ以上の追加の値を使用して、前記イオンビームの1つ以上の追加の選択および断片を行うように前記タンデム質量分析計に命令することとによって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの各値に対する生成イオンスペクトルを生成することと
を含む、方法。
(項目12)
前記断片化パラメータは、衝突誘起解離方法の衝突エネルギーを含む、項目11に記載の方法。
(項目13)
前記断片化パラメータは、RF解離方法の高周波数(RF)励起を含む、項目11に記載の方法。
(項目14)
前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われる電子捕獲解離(ECD)方法の電子エネルギーを含む、項目11に記載の方法。
(項目15)
(f)前記断片化パラメータのための同一の値を使用して生成された、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の生成イオンスペクトルを組み合わせ、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、m/z範囲全体に対する複合生成イオンスペクトルを生成することをさらに含む、項目11に記載の方法。
(項目16)
サンプル導入デバイスを使用して前記サンプルが時間と共に前記イオン源に導入されているときに1つ以上の追加の時間においてステップ(c)および(d)を行い、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、時系列の複合生成イオンスペクトルを生成することをさらに含む、項目15に記載の方法。
(項目17)
前記第1の値の前記時系列の複合生成イオンスペクトルにおける各無傷前駆体イオンに対する無傷前駆体イオン強度トレースを計算して、1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースを生成することと、前記1つ以上の追加の値の時系列の複合生成イオンスペクトルにおける少なくとも1つの生成イオンに対する少なくとも1つの生成イオン強度トレースを計算することとを行うことをさらに含む、項目16に記載の方法。
(項目18)
前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースを前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースと比較し、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係がある場合、前記無傷前駆体イオントレースのうちのある無傷前駆体イオンを前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの前記少なくとも1つの生成イオンを生成するものとして同定することをさらに含む、項目17に記載の方法。
(項目19)
前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることを決定することは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの頂点が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの頂点と同時に出現しているかどうかを決定することを含む、項目18に記載の方法。
(項目20)
前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることを決定することは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの形状が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの形状と同一であるかどうかを決定することを含む、項目18に記載の方法。
(項目21)
非一過性の有形コンピュータ読み取り可能な記憶媒体を備えているコンピュータプログラム製品であって、前記記憶媒体のコンテンツは、命令を伴うプログラムを含み、前記命令は、断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析データ非依存性収集(DIA)実験において前駆体イオン情報を提供する方法を行うようにプロセッサ上で実行され、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の異なるソフトウェアモジュールを備え、前記異なるソフトウェアモジュールは、制御モジュールを備えている、ことと、
前記制御モジュールを使用して、タンデム質量分析計によって分析されるイオンビームのm/z範囲を2つ以上の前駆体イオン単離窓に分割することであって、前記タンデム質量分析計は、サンプルをイオン化するイオン源から前記イオンビームを受け取る、ことと、
前記制御モジュールを使用して、断片化パラメータのための2つ以上の値を選択することであって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの第1の値は、前記イオンビームの最少量のイオンを断片化するレベルを有し、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの1つ以上の追加の値は、前記イオンビームの前記イオンの次第により多くの断片化を生成する次第に攻撃的なレベルを有する、ことと、
前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの各前駆体イオン単離窓に対して、前記制御モジュールを使用して、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記第1の値を使用して、前記イオンビームの選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することと、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記1つ以上の追加の値を使用して、前記イオンビームの1つ以上の追加の選択および断片を行うように前記タンデム質量分析計に命令することとによって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの各値に対する生成イオンスペクトルを生成することと
を含む、コンピュータプログラム製品。
図1は、本教示の実施形態が実装され得る、コンピュータシステム100を図示するブロック図である。コンピュータシステム100は、情報を通信するためのバス102または他の通信機構と、情報を処理するためにバス102と結合されるプロセッサ104とを含む。コンピュータシステム100は、プロセッサ104によって実行されるべき命令を記憶するために、バス102に結合されるランダムアクセスメモリ(RAM)または他の動的記憶デバイスであり得るメモリ106も含む。メモリ106は、プロセッサ104によって実行されるべき命令の実行の間、一時的変数または他の中間情報を記憶するためにも使用され得る。コンピュータシステム100はさらに、プロセッサ104のための静的情報および命令を記憶するために、バス102に結合される読み取り専用メモリ(ROM)108または他の静的記憶デバイスを含む。磁気ディスクまたは光ディスク等の記憶デバイス110は、情報および命令を記憶するために提供され、バス102に結合される。
上で説明されるように、種々の実施形態は、具体的には、生成イオンと前駆体イオンとが相関させられることを可能にする前駆体イオン情報をデータ非依存性収集(DIA)タンデム質量分析方法において提供するためのシステムおよび方法に関する。タンデム質量分析ワークフローの2つの広いカテゴリは、情報依存性収集(IDA)およびDIAである。
図7は、種々の実施形態による、断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析DIA実験において前駆体イオン情報を提供するためのシステムの概略図700である。
図10は、種々の実施形態による、断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析DIA実験において前駆体イオン情報を提供する方法1000を示す流れ図である。
種々の実施形態では、コンピュータプログラム製品は、そのコンテンツが、断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析DIA実験において前駆体イオン情報を提供する方法を行うためのプロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含む有形コンピュータ読み取り可能な記憶媒体を含む。方法は、1つ以上の異なるソフトウェアモジュールを含むシステムによって行われる。
Claims (21)
- 断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析データ非依存性収集(DIA)実験において前駆体イオン情報を提供するためのシステムであって、
サンプルを受け取り、前記サンプルをイオン化して、イオンビームを生成するように構成されているイオン源と、
前記イオンビームを受け取り、前記イオンビームのm/z範囲を分析するように構成されているタンデム質量分析計と、
前記タンデム質量分析計と通信するプロセッサと
を備え、
前記プロセッサは、
(a)前記m/z範囲を2つ以上の前駆体イオン単離窓に分割することと、
(b)断片化パラメータのための2つ以上の値を選択することであって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの第1の値は、前記イオンビームの前駆体イオンの断片化を防止するために十分に低い衝突エネルギーレベルを有し、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの1つ以上の追加の値は、前記イオンビームの前記前駆体イオンを断片化するために十分に高い衝突エネルギーレベルを有し、前記1つ以上の追加の値のうちの各後続値は、前記1つ以上の追加の値のうちの先行値の衝突エネルギーレベルよりも高い衝突エネルギーレベルを有する、ことと、
(c)前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの各前駆体イオン単離窓に対して、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記第1の値を使用して、前記イオンビームの選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することと、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記1つ以上の追加の値を使用して、前記イオンビームの1つ以上の追加の選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することとによって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの各値に対する生成イオンスペクトルを生成することと
を行う、システム。 - 前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われる衝突誘起解離方法の衝突エネルギーを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われるRF解離方法の高周波数(RF)励起を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われる電子捕獲解離(ECD)方法の電子エネルギーを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、(d)前記断片化パラメータのための同一の値を使用して生成された、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の生成イオンスペクトルを組み合わせ、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、m/z範囲全体に対する複合生成イオンスペクトルを生成することをさらに行う、請求項1に記載のシステム。
- ある期間中に前記サンプルを前記イオン源に提供するサンプル導入デバイスをさらに備え、前記プロセッサは、前記期間中に2回以上、ステップ(c)およびステップ(d)をさらに行い、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、時系列の複合生成イオンスペクトルを生成する、請求項5に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、前記第1の値の前記時系列の複合生成イオンスペクトルにおける各無傷前駆体イオンに対する無傷前駆体イオン強度トレースを計算して、1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースを生成することと、前記1つ以上の追加の値の時系列の複合生成イオンスペクトルにおける少なくとも1つの生成イオンに対する少なくとも1つの生成イオン強度トレースを計算することとをさらに行う、請求項6に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースを前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースと比較することと、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係がある場合、その無傷前駆体イオントレースの無傷前駆体イオンを前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの前記少なくとも1つの生成イオンを生成するものとして同定することとをさらに行う、請求項7に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの頂点が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの頂点と同時に出現しているかどうかを決定することによって、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることを決定する、請求項8に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの形状が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの形状と同一であるかどうかを決定することによって、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることをさらに決定する、請求項8に記載のシステム。
- 断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析データ非依存性収集(DIA)実験において前駆体イオン情報を提供する方法であって、
(a)イオン源を使用してサンプルをイオン化し、イオンビームを生成することと、
(b)タンデム質量分析計を使用して、前記イオンビームを受け取ることと、
(c)プロセッサを使用して、m/z範囲を2つ以上の前駆体イオン単離窓に分割することと、
(d)前記プロセッサを使用して、断片化パラメータのための2つ以上の値を選択することであって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの第1の値は、前記イオンビームの前駆体イオンの断片化を防止するために十分に低い衝突エネルギーレベルを有し、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの1つ以上の追加の値は、前記イオンビームの前記前駆体イオンを断片化するために十分に高い衝突エネルギーレベルを有し、前記1つ以上の追加の値のうちの各後続値は、前記1つ以上の追加の値のうちの先行値の衝突エネルギーレベルよりも高い衝突エネルギーレベルを有する、ことと、
(e)前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの各前駆体イオン単離窓に対して、前記プロセッサを使用して、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記第1の値を使用して、前記イオンビームの選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することと、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記1つ以上の追加の値を使用して、前記イオンビームの1つ以上の追加の選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することとによって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの各値に対する生成イオンスペクトルを生成することと
を含む、方法。 - 前記断片化パラメータは、衝突誘起解離方法の衝突エネルギーを含む、請求項11に記載の方法。
- 前記断片化パラメータは、RF解離方法の高周波数(RF)励起を含む、請求項11に記載の方法。
- 前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われる電子捕獲解離(ECD)方法の電子エネルギーを含む、請求項11に記載の方法。
- (f)前記断片化パラメータのための同一の値を使用して生成された、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の生成イオンスペクトルを組み合わせ、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、m/z範囲全体に対する複合生成イオンスペクトルを生成することをさらに含む、請求項11に記載の方法。
- サンプル導入デバイスを使用して前記サンプルがある期間中に前記イオン源に導入されているときに、前記期間中に2回以上、ステップ(c)およびステップ(d)を行い、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、時系列の複合生成イオンスペクトルを生成することをさらに含む、請求項15に記載の方法。
- 前記第1の値の前記時系列の複合生成イオンスペクトルにおける各無傷前駆体イオンに対する無傷前駆体イオン強度トレースを計算して、1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースを生成することと、前記1つ以上の追加の値の時系列の複合生成イオンスペクトルにおける少なくとも1つの生成イオンに対する少なくとも1つの生成イオン強度トレースを計算することとを行うことをさらに含む、請求項16に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースを前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースと比較し、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係がある場合、前記無傷前駆体イオントレースの無傷前駆体イオンを前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの前記少なくとも1つの生成イオンを生成するものとして同定することをさらに含む、請求項17に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることを決定することは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの頂点が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの頂点と同時に出現しているかどうかを決定することを含む、請求項18に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることを決定することは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの形状が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの形状と同一であるかどうかを決定することを含む、請求項18に記載の方法。
- 命令を記憶しているコンピュータ読み取り可能な記憶媒体であって、前記命令は、プロセッサによって実行されると、断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析データ非依存性収集(DIA)実験において前駆体イオン情報を提供する方法を前記プロセッサに行わせ、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の異なるソフトウェアモジュールを備え、前記異なるソフトウェアモジュールは、制御モジュールを備えている、ことと、
前記制御モジュールを使用して、タンデム質量分析計によって分析されるイオンビームのm/z範囲を2つ以上の前駆体イオン単離窓に分割することであって、前記タンデム質量分析計は、サンプルをイオン化するイオン源から前記イオンビームを受け取る、ことと、
前記制御モジュールを使用して、断片化パラメータのための2つ以上の値を選択することであって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの第1の値は、前記イオンビームの前駆体イオンの断片化を防止するために十分に低い衝突エネルギーレベルを有し、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの1つ以上の追加の値は、前記イオンビームの前記前駆体イオンを断片化するために十分に高い衝突エネルギーレベルを有し、前記1つ以上の追加の値のうちの各後続値は、前記1つ以上の追加の値のうちの先行値の衝突エネルギーレベルよりも高い衝突エネルギーレベルを有する、ことと、
前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの各前駆体イオン単離窓に対して、前記制御モジュールを使用して、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記第1の値を使用して、前記イオンビームの選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することと、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記1つ以上の追加の値を使用して、前記イオンビームの1つ以上の追加の選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することとによって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの各値に対する生成イオンスペクトルを生成することと
を含む、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
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