JP2018504607A - 断片化エネルギーを切り替えながらの幅広い四重極rf窓の高速スキャニング - Google Patents
断片化エネルギーを切り替えながらの幅広い四重極rf窓の高速スキャニング Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018504607A JP2018504607A JP2017541332A JP2017541332A JP2018504607A JP 2018504607 A JP2018504607 A JP 2018504607A JP 2017541332 A JP2017541332 A JP 2017541332A JP 2017541332 A JP2017541332 A JP 2017541332A JP 2018504607 A JP2018504607 A JP 2018504607A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- precursor
- trace
- values
- fragmentation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000013467 fragmentation Methods 0.000 title claims abstract description 108
- 238000006062 fragmentation reaction Methods 0.000 title claims abstract description 108
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract description 340
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims abstract description 238
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims abstract description 105
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims abstract description 61
- 239000012634 fragment Substances 0.000 claims abstract description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 62
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 51
- 238000004885 tandem mass spectrometry Methods 0.000 claims description 20
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 claims description 18
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 claims description 16
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 14
- 238000001211 electron capture detection Methods 0.000 claims description 6
- 238000001360 collision-induced dissociation Methods 0.000 claims description 5
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 3
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 claims description 3
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 claims description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 3
- 229930002839 ionone Natural products 0.000 abstract 1
- 150000002499 ionone derivatives Chemical class 0.000 abstract 1
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 8
- 238000002552 multiple reaction monitoring Methods 0.000 description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000005251 capillar electrophoresis Methods 0.000 description 3
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 3
- 238000004817 gas chromatography Methods 0.000 description 3
- 238000004811 liquid chromatography Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- NFGXHKASABOEEW-UHFFFAOYSA-N 1-methylethyl 11-methoxy-3,7,11-trimethyl-2,4-dodecadienoate Chemical compound COC(C)(C)CCCC(C)CC=CC(C)=CC(=O)OC(C)C NFGXHKASABOEEW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000533867 Fordia Species 0.000 description 1
- 239000012491 analyte Substances 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000005315 distribution function Methods 0.000 description 1
- 238000003255 drug test Methods 0.000 description 1
- 238000004401 flow injection analysis Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000002917 insecticide Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 210000003813 thumb Anatomy 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0027—Methods for using particle spectrometers
- H01J49/0031—Step by step routines describing the use of the apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
- H01J49/063—Multipole ion guides, e.g. quadrupoles, hexapoles
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
Description
本願は、米国仮特許出願第62/112,603号(2015年2月5日出願)の利益を主張し、上記出願の内容は、その全体が参照により本明細書に引用される。
図1は、本教示の実施形態が実装され得る、コンピュータシステム100を図示するブロック図である。コンピュータシステム100は、情報を通信するためのバス102または他の通信機構と、情報を処理するためにバス102と結合されるプロセッサ104とを含む。コンピュータシステム100は、プロセッサ104によって実行されるべき命令を記憶するために、バス102に結合されるランダムアクセスメモリ(RAM)または他の動的記憶デバイスであり得るメモリ106も含む。メモリ106は、プロセッサ104によって実行されるべき命令の実行の間、一時的変数または他の中間情報を記憶するためにも使用され得る。コンピュータシステム100はさらに、プロセッサ104のための静的情報および命令を記憶するために、バス102に結合される読み取り専用メモリ(ROM)108または他の静的記憶デバイスを含む。磁気ディスクまたは光ディスク等の記憶デバイス110は、情報および命令を記憶するために提供され、バス102に結合される。
上で説明されるように、種々の実施形態は、具体的には、生成イオンと前駆体イオンとが相関させられることを可能にする前駆体イオン情報をデータ非依存性収集(DIA)タンデム質量分析方法において提供するためのシステムおよび方法に関する。タンデム質量分析ワークフローの2つの広いカテゴリは、情報依存性収集(IDA)およびDIAである。
図7は、種々の実施形態による、断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析DIA実験において前駆体イオン情報を提供するためのシステムの概略図700である。
図10は、種々の実施形態による、断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析DIA実験において前駆体イオン情報を提供する方法1000を示す流れ図である。
種々の実施形態では、コンピュータプログラム製品は、そのコンテンツが、断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析DIA実験において前駆体イオン情報を提供する方法を行うためのプロセッサ上で実行される命令を伴うプログラムを含む有形コンピュータ読み取り可能な記憶媒体を含む。方法は、1つ以上の異なるソフトウェアモジュールを含むシステムによって行われる。
Claims (21)
- 断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析データ非依存性収集(DIA)実験において前駆体イオン情報を提供するためのシステムであって、
サンプルを受け取り、サンプルをイオン化して、イオンビームを生成するように構成されているイオン源と、
前記イオンビームを受け取り、前記イオンビームのm/z範囲を分析するように構成されているタンデム質量分析計と、
前記タンデム質量分析計と通信するプロセッサと
を備え、
前記プロセッサは、
(a)前記m/z範囲を2つ以上の前駆体イオン単離窓に分割することと、
(b)断片化パラメータのための2つ以上の値を選択することであって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの第1の値は、前記イオンビームの最少量のイオンを断片化するレベルを有し、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの1つ以上の追加の値は、前記イオンビームの前記イオンの次第により多くの断片化を生成する次第に攻撃的なレベルを有する、ことと、
(c)前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの各前駆体イオン単離窓に対して、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記第1の値を使用して、前記イオンビームの選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することと、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記1つ以上の追加の値を使用して、前記イオンビームの1つ以上の追加の選択および断片を行うように前記タンデム質量分析計に命令することとによって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの各値に対する生成イオンスペクトルを生成することと
を行う、システム。 - 前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われる衝突誘起解離方法の衝突エネルギーを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われるRF解離方法の高周波数(RF)励起を含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われる電子捕獲解離(ECD)方法の電子エネルギーを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、(d)前記断片化パラメータのための同一の値を使用して生成された、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の生成イオンスペクトルをさらに組み合わせ、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、m/z範囲全体に対する複合生成イオンスペクトルを生成する、請求項1に記載のシステム。
- 時間と共に前記サンプルを前記イオン源に提供するサンプル導入デバイスをさらに備え、前記プロセッサは、1つ以上の追加の時間においてステップ(c)および(d)をさらに行い、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、時系列の複合生成イオンスペクトルを生成する、請求項5に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、前記第1の値の前記時系列の複合生成イオンスペクトルにおける各無傷前駆体イオンに対する無傷前駆体イオン強度トレースを計算して、1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースを生成することと、前記1つ以上の追加の値の時系列の複合生成イオンスペクトルにおける少なくとも1つの生成イオンに対する少なくとも1つの生成イオン強度トレースを計算することとをさらに行う、請求項6に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースを前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースと比較することと、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係がある場合、その無傷前駆体イオントレースの無傷前駆体イオンを前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの前記少なくとも1つの生成イオンを生成するものとして同定することとをさらに行う、請求項7に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの頂点が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの頂点と同時に出現しているかどうかを決定することによって、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることを決定する、請求項8に記載のシステム。
- 前記プロセッサは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの形状が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの形状と同一であるかどうかを決定することによって、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることをさらに決定する、請求項8に記載のシステム。
- 断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析データ非依存性収集(DIA)実験において前駆体イオン情報を提供する方法であって、
(a)イオン源を使用してサンプルをイオン化し、イオンビームを生成することと、
(b)タンデム質量分析計を使用して、前記イオンビームを受け取ることと、
(c)プロセッサを使用して、m/z範囲を2つ以上の前駆体イオン単離窓に分割することと、
(d)前記プロセッサを使用して、断片化パラメータのための2つ以上の値を選択することであって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの第1の値は、前記イオンビームの最少量のイオンを断片化するレベルを有し、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの1つ以上の追加の値は、前記イオンビームの前記イオンの次第により多くの断片化を生成する次第に攻撃的なレベルを有する、ことと、
(e)前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの各前駆体イオン単離窓に対して、前記プロセッサを使用して、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記第1の値を使用して、前記イオンビームの選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することと、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記1つ以上の追加の値を使用して、前記イオンビームの1つ以上の追加の選択および断片を行うように前記タンデム質量分析計に命令することとによって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの各値に対する生成イオンスペクトルを生成することと
を含む、方法。 - 前記断片化パラメータは、衝突誘起解離方法の衝突エネルギーを含む、請求項11に記載の方法。
- 前記断片化パラメータは、RF解離方法の高周波数(RF)励起を含む、請求項11に記載の方法。
- 前記断片化パラメータは、前記タンデム質量分析計によって行われる電子捕獲解離(ECD)方法の電子エネルギーを含む、請求項11に記載の方法。
- (f)前記断片化パラメータのための同一の値を使用して生成された、前記2つ以上の前駆体イオン単離窓の生成イオンスペクトルを組み合わせ、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、m/z範囲全体に対する複合生成イオンスペクトルを生成することをさらに含む、請求項11に記載の方法。
- サンプル導入デバイスを使用して前記サンプルが時間と共に前記イオン源に導入されているときに1つ以上の追加の時間においてステップ(c)および(d)を行い、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値の各々に対して、時系列の複合生成イオンスペクトルを生成することをさらに含む、請求項15に記載の方法。
- 前記第1の値の前記時系列の複合生成イオンスペクトルにおける各無傷前駆体イオンに対する無傷前駆体イオン強度トレースを計算して、1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースを生成することと、前記1つ以上の追加の値の時系列の複合生成イオンスペクトルにおける少なくとも1つの生成イオンに対する少なくとも1つの生成イオン強度トレースを計算することとを行うことをさらに含む、請求項16に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースを前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースと比較し、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係がある場合、前記無傷前駆体イオントレースのうちのある無傷前駆体イオンを前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの前記少なくとも1つの生成イオンを生成するものとして同定することをさらに含む、請求項17に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることを決定することは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの頂点が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの頂点と同時に出現しているかどうかを決定することを含む、請求項18に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースが、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースと相関関係があることを決定することは、前記少なくとも1つの生成イオン強度トレースの形状が、前記1つ以上の無傷前駆体イオン強度トレースのうちのある無傷前駆体イオントレースの形状と同一であるかどうかを決定することを含む、請求項18に記載の方法。
- 非一過性の有形コンピュータ読み取り可能な記憶媒体を備えているコンピュータプログラム製品であって、前記記憶媒体のコンテンツは、命令を伴うプログラムを含み、前記命令は、断片化パラメータのための異なる値を用いて、2回以上、各前駆体イオン単離窓を断片化することによって、タンデム質量分析データ非依存性収集(DIA)実験において前駆体イオン情報を提供する方法を行うようにプロセッサ上で実行され、前記方法は、
システムを提供することであって、前記システムは、1つ以上の異なるソフトウェアモジュールを備え、前記異なるソフトウェアモジュールは、制御モジュールを備えている、ことと、
前記制御モジュールを使用して、タンデム質量分析計によって分析されるイオンビームのm/z範囲を2つ以上の前駆体イオン単離窓に分割することであって、前記タンデム質量分析計は、サンプルをイオン化するイオン源から前記イオンビームを受け取る、ことと、
前記制御モジュールを使用して、断片化パラメータのための2つ以上の値を選択することであって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの第1の値は、前記イオンビームの最少量のイオンを断片化するレベルを有し、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの1つ以上の追加の値は、前記イオンビームの前記イオンの次第により多くの断片化を生成する次第に攻撃的なレベルを有する、ことと、
前記2つ以上の前駆体イオン単離窓のうちの各前駆体イオン単離窓に対して、前記制御モジュールを使用して、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記第1の値を使用して、前記イオンビームの選択および断片化を行うように前記タンデム質量分析計に命令することと、前記各前駆体イオン単離窓を使用して、かつ前記1つ以上の追加の値を使用して、前記イオンビームの1つ以上の追加の選択および断片を行うように前記タンデム質量分析計に命令することとによって、前記断片化パラメータのための前記2つ以上の値のうちの各値に対する生成イオンスペクトルを生成することと
を含む、コンピュータプログラム製品。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201562112603P | 2015-02-05 | 2015-02-05 | |
US62/112,603 | 2015-02-05 | ||
PCT/IB2016/050483 WO2016125061A1 (en) | 2015-02-05 | 2016-01-29 | Rapid scanning of wide quadrupole rf windows while toggling fragmentation energy |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018504607A true JP2018504607A (ja) | 2018-02-15 |
JP6698668B2 JP6698668B2 (ja) | 2020-05-27 |
Family
ID=56563519
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017541332A Active JP6698668B2 (ja) | 2015-02-05 | 2016-01-29 | 断片化エネルギーを切り替えながらの幅広い四重極rf窓の高速スキャニング |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10079137B2 (ja) |
EP (1) | EP3254298B1 (ja) |
JP (1) | JP6698668B2 (ja) |
CN (1) | CN107210181B (ja) |
CA (1) | CA2975963A1 (ja) |
WO (1) | WO2016125061A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2019012589A1 (ja) * | 2017-07-10 | 2020-03-26 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置、質量分析方法、及び質量分析用プログラム |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110494951B (zh) * | 2017-02-22 | 2022-07-26 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 针对ida的前体离子选择中的加合物及其它复杂因素的物理隔离 |
CN109828068B (zh) * | 2017-11-23 | 2021-12-28 | 株式会社岛津制作所 | 质谱数据采集及分析方法 |
EP3575797A1 (en) * | 2018-06-01 | 2019-12-04 | Fundació Centre de Regulació Genòmica | Improvements in mass spectrometry |
Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005524211A (ja) * | 2002-04-29 | 2005-08-11 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 衝突エネルギーを変化させることによる質量分析における広いイオンフラグメント化範囲を得る方法 |
JP2009523234A (ja) * | 2006-01-11 | 2009-06-18 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス スルー イッツ エムディーエス サイエックス ディヴィジョン | 質量分析計におけるイオンの断片化 |
JP2009170238A (ja) * | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Hitachi Ltd | 質量分析計及び質量分析方法 |
JP2010526987A (ja) * | 2006-12-26 | 2010-08-05 | ブリガム・ヤング・ユニバーシティ | 血清プロテオミクスシステムと関連する方法 |
WO2010095586A1 (ja) * | 2009-02-19 | 2010-08-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析システム |
JP2011520129A (ja) * | 2008-05-15 | 2011-07-14 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー | Ms/msデータ処理 |
US20120109533A1 (en) * | 2009-06-01 | 2012-05-03 | Korea Basic Science Institute | Method of analyzing protein using data-independent analysis combined with data-dependent analysis |
JP2013504146A (ja) * | 2009-09-04 | 2013-02-04 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 質量分析計においてイオンをフィルタリングするための方法、システムおよび装置 |
JP2013537312A (ja) * | 2010-09-15 | 2013-09-30 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 生成イオンスペクトルのデータ独立取得および参照スペクトルライブラリ照合 |
JP2013541720A (ja) * | 2010-11-08 | 2013-11-14 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 質量分析計によって試料を迅速にスクリーニングするためシステムおよび方法 |
JP2014502725A (ja) * | 2010-12-29 | 2014-02-03 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 依存的質量分析走査をトリガするための方法 |
JP2014206497A (ja) * | 2013-04-15 | 2014-10-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分析システム |
WO2014184320A1 (en) * | 2013-05-15 | 2014-11-20 | Electrophoretics Limited | Mass labels |
WO2014195785A1 (en) * | 2013-06-06 | 2014-12-11 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Improved data quality after demultiplexing of overlapping acquisition windows |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA2340150C (en) * | 2000-06-09 | 2005-11-22 | Micromass Limited | Methods and apparatus for mass spectrometry |
GB0427632D0 (en) * | 2004-12-17 | 2005-01-19 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
GB0609253D0 (en) * | 2006-05-10 | 2006-06-21 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
CA2784485C (en) * | 2009-12-18 | 2018-04-03 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Method of processing ions |
GB201208961D0 (en) * | 2012-05-18 | 2012-07-04 | Micromass Ltd | 2 dimensional MSMS |
US9236231B2 (en) * | 2012-05-18 | 2016-01-12 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Modulation of instrument resolution dependant upon the complexity of a previous scan |
WO2014096915A1 (en) * | 2012-12-20 | 2014-06-26 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Compound identification using multiple spectra at different collision energies |
JP6831337B2 (ja) * | 2015-05-29 | 2021-02-17 | ウオーターズ・テクノロジーズ・コーポレイシヨン | 質量スペクトルデータを処理する技術 |
-
2016
- 2016-01-29 EP EP16746193.8A patent/EP3254298B1/en active Active
- 2016-01-29 CA CA2975963A patent/CA2975963A1/en not_active Abandoned
- 2016-01-29 JP JP2017541332A patent/JP6698668B2/ja active Active
- 2016-01-29 WO PCT/IB2016/050483 patent/WO2016125061A1/en active Application Filing
- 2016-01-29 CN CN201680008552.4A patent/CN107210181B/zh active Active
- 2016-01-29 US US15/544,021 patent/US10079137B2/en active Active
Patent Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005524211A (ja) * | 2002-04-29 | 2005-08-11 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス アズ エムディーエス サイエックス | 衝突エネルギーを変化させることによる質量分析における広いイオンフラグメント化範囲を得る方法 |
JP2009523234A (ja) * | 2006-01-11 | 2009-06-18 | エムディーエス インコーポレイテッド ドゥーイング ビジネス スルー イッツ エムディーエス サイエックス ディヴィジョン | 質量分析計におけるイオンの断片化 |
JP2010526987A (ja) * | 2006-12-26 | 2010-08-05 | ブリガム・ヤング・ユニバーシティ | 血清プロテオミクスシステムと関連する方法 |
JP2009170238A (ja) * | 2008-01-16 | 2009-07-30 | Hitachi Ltd | 質量分析計及び質量分析方法 |
JP2011520129A (ja) * | 2008-05-15 | 2011-07-14 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー | Ms/msデータ処理 |
WO2010095586A1 (ja) * | 2009-02-19 | 2010-08-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析システム |
US20120109533A1 (en) * | 2009-06-01 | 2012-05-03 | Korea Basic Science Institute | Method of analyzing protein using data-independent analysis combined with data-dependent analysis |
JP2013504146A (ja) * | 2009-09-04 | 2013-02-04 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 質量分析計においてイオンをフィルタリングするための方法、システムおよび装置 |
JP2013537312A (ja) * | 2010-09-15 | 2013-09-30 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 生成イオンスペクトルのデータ独立取得および参照スペクトルライブラリ照合 |
JP2013541720A (ja) * | 2010-11-08 | 2013-11-14 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 質量分析計によって試料を迅速にスクリーニングするためシステムおよび方法 |
JP2014502725A (ja) * | 2010-12-29 | 2014-02-03 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | 依存的質量分析走査をトリガするための方法 |
JP2014206497A (ja) * | 2013-04-15 | 2014-10-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分析システム |
WO2014184320A1 (en) * | 2013-05-15 | 2014-11-20 | Electrophoretics Limited | Mass labels |
WO2014195785A1 (en) * | 2013-06-06 | 2014-12-11 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Improved data quality after demultiplexing of overlapping acquisition windows |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2019012589A1 (ja) * | 2017-07-10 | 2020-03-26 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置、質量分析方法、及び質量分析用プログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107210181A (zh) | 2017-09-26 |
EP3254298A1 (en) | 2017-12-13 |
CA2975963A1 (en) | 2016-08-11 |
EP3254298B1 (en) | 2023-10-18 |
WO2016125061A1 (en) | 2016-08-11 |
US20180012742A1 (en) | 2018-01-11 |
CN107210181B (zh) | 2019-11-01 |
EP3254298A4 (en) | 2018-10-31 |
JP6698668B2 (ja) | 2020-05-27 |
US10079137B2 (en) | 2018-09-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11107666B2 (en) | Systems and methods for using variable mass selection window widths in tandem mass spectrometry | |
US9818590B2 (en) | Data quality after demultiplexing of overlapped acquisition windows in tandem mass spectrometry | |
US9691595B2 (en) | Modulation of instrument resolution dependant upon the complexity of a previous scan | |
JP6698668B2 (ja) | 断片化エネルギーを切り替えながらの幅広い四重極rf窓の高速スキャニング | |
EP3497709B1 (en) | Automated spectral library retention time correction | |
US10163613B2 (en) | Deconvolution of mixed spectra | |
EP3308154B1 (en) | Method for deconvolution | |
US11024494B2 (en) | Assessing MRM peak purity with isotope selective MSMS | |
US20200234936A1 (en) | Dynamic Equilibration Time Calculation to Improve MS/MS Dynamic Range | |
JP2023502923A (ja) | 質量分析の方法-直交断片化方法論を用いたswath | |
US11923183B2 (en) | Dynamic equilibration time calculation to improve MS/MS dynamic range | |
JP2022552372A (ja) | 閾値ベースのida除外リスト | |
JP2023546822A (ja) | Ms/msによる定量的分析のためのグループ検出を管理するための高分解能検出 | |
CN116324403A (zh) | 通过质谱法进行的化合物识别 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190125 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190925 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20191023 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200122 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200401 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200428 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6698668 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |