JP2569601B2 - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置Info
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- JP2569601B2 JP2569601B2 JP62236602A JP23660287A JP2569601B2 JP 2569601 B2 JP2569601 B2 JP 2569601B2 JP 62236602 A JP62236602 A JP 62236602A JP 23660287 A JP23660287 A JP 23660287A JP 2569601 B2 JP2569601 B2 JP 2569601B2
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Description
【発明の詳細な説明】 A.発明の目的 （１） 産業上の利用分野 本発明は質量分析装置に関し、特に、未知の混合物試
料の成分を同定するのに適した質量分析装置に関する。
料の成分を同定するのに適した質量分析装置に関する。
（２） 従来の技術 従来、未知の混合物試料の成分を同定する際には、そ
の混合物試料をガスクロマトグラフ等で分離してから、
その分離された各成分を同定していた。そして、前記分
離された成分を同定する際に使用される質量分析装置
は、制御装置と、この制御装置に各々接続された、既知
成分の質量スペクトルが記憶されるメモリユニット、質
量分析計、入力装置および表示装置等、を備え、前記質
量分析計によって得られた試料スペクトルおよび前記入
力装置によって指定された前記既知成分の質量スペクト
ルが前記表示装置に一緒に表示されるように構成されて
いる。そして、前記混合物試料の分析者は、前記一緒に
表示された試料スペクトルと既知成分の質量スペクトル
とを見比べ、それらのスペクトルが異なるときには前記
入力装置により別の既知成分の質量スペクトルを前記メ
モリユニットから呼出して表示装置に表示させる。そし
て、表示装置上の試料スペクトルと前記メモリユニット
から呼び出した既知成分の質量スペクトルとが同一と判
断されたとき、前記混合物試料の同定がなされる。
の混合物試料をガスクロマトグラフ等で分離してから、
その分離された各成分を同定していた。そして、前記分
離された成分を同定する際に使用される質量分析装置
は、制御装置と、この制御装置に各々接続された、既知
成分の質量スペクトルが記憶されるメモリユニット、質
量分析計、入力装置および表示装置等、を備え、前記質
量分析計によって得られた試料スペクトルおよび前記入
力装置によって指定された前記既知成分の質量スペクト
ルが前記表示装置に一緒に表示されるように構成されて
いる。そして、前記混合物試料の分析者は、前記一緒に
表示された試料スペクトルと既知成分の質量スペクトル
とを見比べ、それらのスペクトルが異なるときには前記
入力装置により別の既知成分の質量スペクトルを前記メ
モリユニットから呼出して表示装置に表示させる。そし
て、表示装置上の試料スペクトルと前記メモリユニット
から呼び出した既知成分の質量スペクトルとが同一と判
断されたとき、前記混合物試料の同定がなされる。
（３） 発明が解決しようとする問題点 しかしながら、未知の混合物試料が難揮発性の試料の
場合、ガスクロマトグラフ等によって分離することが困
難である。このように、前記未知の混合物試料を各成分
に分離することが困難である場合には、従来はその成分
を同定することが容易でなかった。
場合、ガスクロマトグラフ等によって分離することが困
難である。このように、前記未知の混合物試料を各成分
に分離することが困難である場合には、従来はその成分
を同定することが容易でなかった。
本発明は前述の事情に鑑みてなされたもので、未知の
混合物試料を各成分に分離することなく、その成分の同
定を行えるようにすることを目的とする。
混合物試料を各成分に分離することなく、その成分の同
定を行えるようにすることを目的とする。
B.発明の構成 （１） 問題点を解決するための手段 前記目的を達成するために、本発明による質量分析装
置は、第１図のクレーム対応図に示された構成を備えて
いる。すなわち、本発明による分析装置は、制御装置Ｃ
と、この制御装置Ｃに各々接続された、既知成分の質量
スペクトルSiが記憶されるメモリユニットMe、質量分析
計MS、入力装置Ｋおよび表示装置Ｄと、を備え、前記質
量分析計MSによって得られた試料スペクトルS0および前
記入力装置Ｋによって指定された前記既知成分の質量ス
ペクトルSiが前記表示装置Ｄの第１および第２の領域に
それぞれ表示されるように構成された質量分析装置にお
いて、前記制御装置Ｃは、前記入力装置Ｋによって指定
された複数の質量スペクトルSiを前記メモリユニットMe
から読出す読出手段C1と、このメモリユニットMeから読
出された複数の質量スペクトルSiに前記入力装置Ｋによ
って指定された倍率A,Bをかける倍率変更手段C2と、こ
の倍率変更手段C2により指定された倍率をかけられた複
数の質量スペクトルを合成して前記表示装置Ｄの第２の
領域に表示するとともに前記試料スペクトルS0を前記第
１の領域に表示する合成表示制御手段C3と、を有するこ
とを特徴とする。
置は、第１図のクレーム対応図に示された構成を備えて
いる。すなわち、本発明による分析装置は、制御装置Ｃ
と、この制御装置Ｃに各々接続された、既知成分の質量
スペクトルSiが記憶されるメモリユニットMe、質量分析
計MS、入力装置Ｋおよび表示装置Ｄと、を備え、前記質
量分析計MSによって得られた試料スペクトルS0および前
記入力装置Ｋによって指定された前記既知成分の質量ス
ペクトルSiが前記表示装置Ｄの第１および第２の領域に
それぞれ表示されるように構成された質量分析装置にお
いて、前記制御装置Ｃは、前記入力装置Ｋによって指定
された複数の質量スペクトルSiを前記メモリユニットMe
から読出す読出手段C1と、このメモリユニットMeから読
出された複数の質量スペクトルSiに前記入力装置Ｋによ
って指定された倍率A,Bをかける倍率変更手段C2と、こ
の倍率変更手段C2により指定された倍率をかけられた複
数の質量スペクトルを合成して前記表示装置Ｄの第２の
領域に表示するとともに前記試料スペクトルS0を前記第
１の領域に表示する合成表示制御手段C3と、を有するこ
とを特徴とする。
（２） 作 用 前述の構成を備えた本発明の質量分析装置は、前記質
量分析計MSによって得られた試料スペクトルS0が表示装
置Ｄに表示される。この表示された試料スペクトルS
0は、未知の混合物試料の各成分の合成質量スペクトル
である。この未知の混合物試料の合成質量スペクトルS0
を見て予想される各成分の既知の質量スペクトルSiが前
記入力装置Ｋによって指定されると、その質量スペクト
ルSiが前記読出手段C1により前記メモリユニットMeから
読出される。そして、この予想される各成分の既知の質
量スペクトルSiは前記入力装置Ｋによって指定された適
当な倍率A,Bを倍率変更手段C2によりかけられる。そし
て、合成表示制御手段C3は、前記表示装置Ｄの第２の領
域に各成分の既知の質量スペクトルSiを合成して合成質
量スペクトルＳとして表示する。また、前記合成表示制
御手段C3は、前記試料スペクトルを前記第１の領域に表
示する。
量分析計MSによって得られた試料スペクトルS0が表示装
置Ｄに表示される。この表示された試料スペクトルS
0は、未知の混合物試料の各成分の合成質量スペクトル
である。この未知の混合物試料の合成質量スペクトルS0
を見て予想される各成分の既知の質量スペクトルSiが前
記入力装置Ｋによって指定されると、その質量スペクト
ルSiが前記読出手段C1により前記メモリユニットMeから
読出される。そして、この予想される各成分の既知の質
量スペクトルSiは前記入力装置Ｋによって指定された適
当な倍率A,Bを倍率変更手段C2によりかけられる。そし
て、合成表示制御手段C3は、前記表示装置Ｄの第２の領
域に各成分の既知の質量スペクトルSiを合成して合成質
量スペクトルＳとして表示する。また、前記合成表示制
御手段C3は、前記試料スペクトルを前記第１の領域に表
示する。
（３） 実施例 以下、図面にもとづいて本発明による質量分析装置の
一実施例について説明する。第２図において、本発明に
よる質量分析装置Ｕは、制御装置Ｃと、この制御装置Ｃ
に各々接続された、既知成分の質量スペクトルが記憶さ
れるメモリユニットMe、質量分析計MS、入力装置として
のキーボードＫおよび表示装置としてのCRTディスプレ
イD1およびプリンタD2と、を備えている。
一実施例について説明する。第２図において、本発明に
よる質量分析装置Ｕは、制御装置Ｃと、この制御装置Ｃ
に各々接続された、既知成分の質量スペクトルが記憶さ
れるメモリユニットMe、質量分析計MS、入力装置として
のキーボードＫおよび表示装置としてのCRTディスプレ
イD1およびプリンタD2と、を備えている。
前記制御装置Ｃは、中央処理装置CPU、ランダムアク
セスメモリRAM、読出し専用メモリROMおよび入出力ポー
トI/O等を有するコンピュータから構成されている。
セスメモリRAM、読出し専用メモリROMおよび入出力ポー
トI/O等を有するコンピュータから構成されている。
そして、この制御装置Ｃにより、前記質量分析計MSで
得られたたとえば第３図に示すような試料スペクトルS0
はCRTディスプレイD1の上半分の表示面に表示される。
この第３図に示された試料スペクトルS0は、未知の混合
物試料の各成分の質量スペクトルS01およびS02の合成質
量スペクトルである。
得られたたとえば第３図に示すような試料スペクトルS0
はCRTディスプレイD1の上半分の表示面に表示される。
この第３図に示された試料スペクトルS0は、未知の混合
物試料の各成分の質量スペクトルS01およびS02の合成質
量スペクトルである。
また、前記制御装置Ｃは、前記キーボードＫによって
指定された複数の質量スペクトルSi（ｉ＝1,2,…）を前
記メモリユニットMeから呼び出す機能、呼び出した前記
各質量スペクトルSi（例えばS1,S2）に前記キーボード
Ｋによって指定された倍率A,Bをかけ合せる機能、なら
びにこの倍率A,Bをかけ合せた質量スペクトルAS1,BS2を
合成して合成質量スペクトルＳ（第６図参照）を得ると
ともに前記試料スペクトルS0および前記合成質量スペク
トルＳをそれぞれ前記CRTディスプレイD1の表示面の第
１領域としての上半分および第２領域としての下半分に
表示する機能（すなわち、前記クレーム対応図における
読出手段C1の機能、倍率変更手段C2の機能ならびに合成
表示制御手段C3の機能）を実現している。
指定された複数の質量スペクトルSi（ｉ＝1,2,…）を前
記メモリユニットMeから呼び出す機能、呼び出した前記
各質量スペクトルSi（例えばS1,S2）に前記キーボード
Ｋによって指定された倍率A,Bをかけ合せる機能、なら
びにこの倍率A,Bをかけ合せた質量スペクトルAS1,BS2を
合成して合成質量スペクトルＳ（第６図参照）を得ると
ともに前記試料スペクトルS0および前記合成質量スペク
トルＳをそれぞれ前記CRTディスプレイD1の表示面の第
１領域としての上半分および第２領域としての下半分に
表示する機能（すなわち、前記クレーム対応図における
読出手段C1の機能、倍率変更手段C2の機能ならびに合成
表示制御手段C3の機能）を実現している。
次に、前述の構成を備えた本発明の実施例の作用につ
いて説明する。
いて説明する。
前述の構成を備えた本発明の質量分析装置Ｕにおいて
は、前記質量分析計MSによって得られた第３図に示す試
料スペクトルS0がCRTディスプレイＤの表示面の上半分
に表示される。
は、前記質量分析計MSによって得られた第３図に示す試
料スペクトルS0がCRTディスプレイＤの表示面の上半分
に表示される。
分析者は、前記未知の混合物試料の合成質量スペクト
ルS0（＝S01＋S02）を見て予想される各成分の既知の質
量スペクトル（Si＝1,2,…）を前記キーボードＫを介し
て前記メモリユニットMeから呼出す。このとき読出され
た既知の質量スペクトルがたとえば第４図および第５図
に示す質量スペクトルS1およびS2であったとする。そう
すると、質量スペクトルS1およびS2をそのまま合成した
もの前記CRTディスプレイの表示面の下半分に表示し
て、前記上半分に表示された試料成分の質量スペクトル
S01およびS02と比べて見たとき、質量スペクトルS1の強
度が質量スペクトルS01よりも大きいことが分かる。そ
こで、前記予想した各成分の既知の質量スペクトルS1,S
2に適当な倍率A,B（たとえばＡ＝0.8、Ｂ＝１）を掛け
た上で合成して、第６図に示す既知成分の合成質量スペ
クトルＳを得る。前述のように既知の質量スペクトルに
適当な倍率を掛ける理由は、前記混合物試料における各
成分の量の差を補償するためである。前記既知成分の合
成質量スペクトルＳ（＝AS1＋BS2）は前記CRTディスプ
レイD1の表示面に前記試料スペクトルS0と一緒に表示さ
れる。分析者は、その表示面を見て、ＡおよびＢの値を
変えたり、前記メモリユニットから呼び出す既知成分の
質量スペクトルSiを変えたりしながら、前記試料の成分
の同定を行う。
ルS0（＝S01＋S02）を見て予想される各成分の既知の質
量スペクトル（Si＝1,2,…）を前記キーボードＫを介し
て前記メモリユニットMeから呼出す。このとき読出され
た既知の質量スペクトルがたとえば第４図および第５図
に示す質量スペクトルS1およびS2であったとする。そう
すると、質量スペクトルS1およびS2をそのまま合成した
もの前記CRTディスプレイの表示面の下半分に表示し
て、前記上半分に表示された試料成分の質量スペクトル
S01およびS02と比べて見たとき、質量スペクトルS1の強
度が質量スペクトルS01よりも大きいことが分かる。そ
こで、前記予想した各成分の既知の質量スペクトルS1,S
2に適当な倍率A,B（たとえばＡ＝0.8、Ｂ＝１）を掛け
た上で合成して、第６図に示す既知成分の合成質量スペ
クトルＳを得る。前述のように既知の質量スペクトルに
適当な倍率を掛ける理由は、前記混合物試料における各
成分の量の差を補償するためである。前記既知成分の合
成質量スペクトルＳ（＝AS1＋BS2）は前記CRTディスプ
レイD1の表示面に前記試料スペクトルS0と一緒に表示さ
れる。分析者は、その表示面を見て、ＡおよびＢの値を
変えたり、前記メモリユニットから呼び出す既知成分の
質量スペクトルSiを変えたりしながら、前記試料の成分
の同定を行う。
そして、必要に応じて前記CRTディスプレイD1の表示
面をプリンタでハードコピーする。
面をプリンタでハードコピーする。
前述の作用を実現するためのソフトウェアを第７図の
フローチャートにより説明する。ステップ１において前
記試料の質量スペクトルS0を前記CRTディスプレイD1の
表示面の上半分に表示する。次に、ステップ２において
前記キーボードＫを介して既知の質量スペクトルSiを指
定し、たとえば質量スペクトルS1,S2を前記メモリユニ
ットMeから呼出す。次に、ステップ３で呼出された既知
の質量スペクトルS1,S2を合成して、前記CRTディスプレ
イD1の表示面の下半分に合成質量スペクトルＳとして表
示する。このとき、試料スペクトルS0と合成質量スペク
トルＳとが一致すればキーボードＫから倍率A,Bが入力
されないので、ステップ４においてノーとなる。このと
き、分析は終了する。また、一致しない場合は、前記キ
ーボードＫにより倍率A,Bが指定される。そのためステ
ップ４で、イエスとなり、ステップ５に進む。ステップ
５で、質量スペクトルS1,S2にそれぞれ倍率A,Bをかけ
る。次に、ステップ６で合成質量スペクトルＳ（＝AS1
＋BS2）を表示する。そして、倍率が適切でなかった場
合は再度、適当と思われる倍率A,Bが入力される。この
とき、ステップ７においてイエスと判断され、前記ステ
ップ５に戻る。そして、前述と同様な処理が繰返され
る。この繰返しの判断は前記ステップ７でなされる。ま
た、倍率A,Bを変更するだけでは、合成質量スペクトル
Ｓが試料スペクトルS0に一致しない場合は、ステップ２
で指定した既知の質量スペクトルSiが適切でない場合で
ある。この場合は、キーボードＫにより再度、既知の質
量スペクトルSiを指定する。このとき、ステップ８でイ
エスと判断され、前記ステップ２に戻る。そして、同様
な処理が繰返される。この繰返しの判断は前記ステップ
８でなされる。そして前述の処理により合成質量スペク
トルＳが試料スペクトルS0と一致すれば、倍率A,Bの入
力、および既知の質量スペクトルSiの指定はされないの
で、ステップ７および８を進み分析処理が終了する。
フローチャートにより説明する。ステップ１において前
記試料の質量スペクトルS0を前記CRTディスプレイD1の
表示面の上半分に表示する。次に、ステップ２において
前記キーボードＫを介して既知の質量スペクトルSiを指
定し、たとえば質量スペクトルS1,S2を前記メモリユニ
ットMeから呼出す。次に、ステップ３で呼出された既知
の質量スペクトルS1,S2を合成して、前記CRTディスプレ
イD1の表示面の下半分に合成質量スペクトルＳとして表
示する。このとき、試料スペクトルS0と合成質量スペク
トルＳとが一致すればキーボードＫから倍率A,Bが入力
されないので、ステップ４においてノーとなる。このと
き、分析は終了する。また、一致しない場合は、前記キ
ーボードＫにより倍率A,Bが指定される。そのためステ
ップ４で、イエスとなり、ステップ５に進む。ステップ
５で、質量スペクトルS1,S2にそれぞれ倍率A,Bをかけ
る。次に、ステップ６で合成質量スペクトルＳ（＝AS1
＋BS2）を表示する。そして、倍率が適切でなかった場
合は再度、適当と思われる倍率A,Bが入力される。この
とき、ステップ７においてイエスと判断され、前記ステ
ップ５に戻る。そして、前述と同様な処理が繰返され
る。この繰返しの判断は前記ステップ７でなされる。ま
た、倍率A,Bを変更するだけでは、合成質量スペクトル
Ｓが試料スペクトルS0に一致しない場合は、ステップ２
で指定した既知の質量スペクトルSiが適切でない場合で
ある。この場合は、キーボードＫにより再度、既知の質
量スペクトルSiを指定する。このとき、ステップ８でイ
エスと判断され、前記ステップ２に戻る。そして、同様
な処理が繰返される。この繰返しの判断は前記ステップ
８でなされる。そして前述の処理により合成質量スペク
トルＳが試料スペクトルS0と一致すれば、倍率A,Bの入
力、および既知の質量スペクトルSiの指定はされないの
で、ステップ７および８を進み分析処理が終了する。
以上、本発明による質量分析装置の実施例を詳述した
が、本発明は、前述の実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲に記載された本発明を逸脱すること
なく、種々の設計変更を行うことが可能である。
が、本発明は、前述の実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲に記載された本発明を逸脱すること
なく、種々の設計変更を行うことが可能である。
たとえば、表示装置としては、CRTディスプレイD1の
代わりに液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイ等を
使用することが可能であり、また、未知および既知の質
量スペクトルを表示装置の表示面の上半分および下半分
に分けて表示する代わりに、左半分および右半分に分け
て表示することも可能である。さらに、未知の混合物試
料の成分が３種以上のものに対しても本発明を適用する
ことが可能である。
代わりに液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイ等を
使用することが可能であり、また、未知および既知の質
量スペクトルを表示装置の表示面の上半分および下半分
に分けて表示する代わりに、左半分および右半分に分け
て表示することも可能である。さらに、未知の混合物試
料の成分が３種以上のものに対しても本発明を適用する
ことが可能である。
C.発明の効果 前述の本発明の質量分析装置によれば、未知の混合物
試料の各成分の合成質量スペクトルと、既知の成分の合
成質量スペクトルとを同時に観察することにより、未知
の混合物試料を各成分に分離することなく、各成分の同
定を行なえる。
試料の各成分の合成質量スペクトルと、既知の成分の合
成質量スペクトルとを同時に観察することにより、未知
の混合物試料を各成分に分離することなく、各成分の同
定を行なえる。
第１図は本発明のクレーム対応図、第２図は本発明によ
る質量分析装置の一実施例の説明図、第３図は未知混合
物試料の試料スペクトルS0を示す図、第4,5図は指定成
分の質量スペクトルを示す図、第６図は第4,5図の各質
量スペクトルを合成した合成質量スペクトルＳを示す
図、第７図は実施例のソフトウェアを示すフローチャー
トである。 Ｃ……制御装置、C1……読出手段、C2……倍率変更手
段、C3……合成表示制御手段、Ｄ……表示装置、Ｋ……
入力手段、Me……メモリユニット、MS……質量分析計、
S0……未知混合物の質量スペクトル、Si（ｉ＝1,2…）
……既知成分の質量スペクトル、Ｓ……既知成分の合成
質量スペクトル
る質量分析装置の一実施例の説明図、第３図は未知混合
物試料の試料スペクトルS0を示す図、第4,5図は指定成
分の質量スペクトルを示す図、第６図は第4,5図の各質
量スペクトルを合成した合成質量スペクトルＳを示す
図、第７図は実施例のソフトウェアを示すフローチャー
トである。 Ｃ……制御装置、C1……読出手段、C2……倍率変更手
段、C3……合成表示制御手段、Ｄ……表示装置、Ｋ……
入力手段、Me……メモリユニット、MS……質量分析計、
S0……未知混合物の質量スペクトル、Si（ｉ＝1,2…）
……既知成分の質量スペクトル、Ｓ……既知成分の合成
質量スペクトル
Claims (1)
- 【請求項１】制御装置（Ｃ）と、この制御装置（Ｃ）に
各々接続された、既知成分の質量スペクトル（Si）が記
憶されるメモリユニット（Me）、質量分析計（MS）、入
力装置（Ｋ）および表示装置（Ｄ）と、を備え、前記質
量分析計（MS）によって得られた試料スペクトル（S0）
および前記入力装置（Ｋ）によって指定された前記既知
成分の質量スペクトル（Si）が前記表示装置（Ｄ）の第
１および第２の領域にそれぞれ表示されるように構成さ
れた質量分析装置において、前記制御装置（Ｃ）は、前
記入力装置（Ｋ）によって指定された複数の質量スペク
トル（Si）を前記メモリユニット（Me）から読出す読出
手段（C1）と、このメモリユニット（Me）から読出され
た複数の質量スペクトル（Si）に前記入力装置（Ｋ）に
よって指定された倍率（A,B）をかける倍率変更手段（C
2）と、この倍率変更手段（C2）により指定された倍率
をかけられた複数の質量スペクトルを合成して前記表示
装置（Ｄ）の第２の領域に表示するとともに前記試料ス
ペクトル（S0）を前記第１の領域に表示する合成表示制
御手段（C3）と、を有することを特徴とする質量分析装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62236602A JP2569601B2 (ja) | 1987-09-21 | 1987-09-21 | 質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62236602A JP2569601B2 (ja) | 1987-09-21 | 1987-09-21 | 質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6481156A JPS6481156A (en) | 1989-03-27 |
| JP2569601B2 true JP2569601B2 (ja) | 1997-01-08 |
Family
ID=17003077
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62236602A Expired - Fee Related JP2569601B2 (ja) | 1987-09-21 | 1987-09-21 | 質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2569601B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009162665A (ja) * | 2008-01-08 | 2009-07-23 | Rigaku Corp | ガス分析方法及びガス分析装置 |
| JP2018119897A (ja) * | 2017-01-27 | 2018-08-02 | 株式会社島津製作所 | 質量分析を用いた物質同定方法及び質量分析データ処理装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61169751A (ja) * | 1985-01-23 | 1986-07-31 | Jeol Ltd | 元素の定性方式 |
-
1987
- 1987-09-21 JP JP62236602A patent/JP2569601B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6481156A (en) | 1989-03-27 |
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