JP6943897B2 - マススペクトル処理装置及び方法 - Google Patents
マススペクトル処理装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6943897B2 JP6943897B2 JP2019006807A JP2019006807A JP6943897B2 JP 6943897 B2 JP6943897 B2 JP 6943897B2 JP 2019006807 A JP2019006807 A JP 2019006807A JP 2019006807 A JP2019006807 A JP 2019006807A JP 6943897 B2 JP6943897 B2 JP 6943897B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mass spectrum
- peak
- mass
- difference
- ion peak
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/72—Mass spectrometers
- G01N30/7206—Mass spectrometers interfaced to gas chromatograph
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
- H01J49/0045—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn characterised by the fragmentation or other specific reaction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0422—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for gaseous samples
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/107—Arrangements for using several ion sources
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/0009—Calibration of the apparatus
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
Claims (9)
- フラグメントイオンピークを含む第1マススペクトルと分子イオンピークを含む第2マススペクトルの内の一方又は両方を強度軸方向に大きくする強度調整を行う強度調整手段を含み、当該強度調整後に前記第1マススペクトルと前記第2マススペクトルとを合成して合成マススペクトルを生成する合成手段と、
前記合成マススペクトルに含まれる前記フラグメントイオンピークと前記分子イオンピークとの間で、質量電荷比の差分を示す情報及び組成の差分を示す情報の内の少なくとも一方を含む差分情報を演算する差分情報演算手段と、
前記合成マススペクトル及び前記差分情報を表示する表示手段と、
を含み、
前記第1マススペクトルは第1イオン化法の適用により生成されたマススペクトルであり、前記第2マススペクトルは前記第1イオン化法とは異なる第2イオン化法の適用により生成されたマススペクトルである、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記強度調整手段は、
前記第1マススペクトル中の最大ピークが所定強度になるように前記第1マススペクトルの大きさを調整し、
前記第2マススペクトル中の最大ピークが前記所定強度になるように前記第2マススペクトルの大きさを調整する、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記合成マススペクトルの表示に際して前記第1マススペクトルに属していたピーク群と前記第2マススペクトルに属していたピーク群とを識別表示する手段を含む、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記差分情報に基づいて部分構造を推定する部分構造推定手段を含み、
前記表示手段には、前記合成マススペクトル及び前記差分情報に加えて前記部分構造を示す情報が表示される、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記合成マススペクトル上において、前記分子イオンピークを基準として探索範囲を決定し、前記探索範囲内において前記フラグメントイオンピークを探索する手段を含む、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記合成手段は、前記第1マススペクトル及び前記第2マススペクトルの合成に際して、それらの間でのm/z軸方向のずれを補正する補正手段を含む、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記第1イオン化法の適用下において第1クロマトグラムを生成し、前記第2イオン化法の適用下において第2クロマトグラムを生成する手段と、
前記第1クロマトグラムと前記第2クロマトグラムとの間でペアリングされたピークペアごとに、前記第1マススペクトル及び前記第2マススペクトルを生成する手段と、
を含み、
前記合成手段は、前記ピークペアごとに前記合成マススペクトルを生成する、
ことを特徴とするマススペクトル処理装置。 - フラグメントイオンピークを含む第1マススペクトルと分子イオンピークを含む第2マススペクトルの内の一方又は両方を強度軸方向に大きくする強度調整を行った上で前記第1マススペクトルと前記第2マススペクトルとを合成して合成マススペクトルを生成する工程と、
前記合成マススペクトルに含まれる前記フラグメントイオンピークと前記分子イオンピークとの間で、質量電荷比の差分を示す情報及び組成の差分を示す情報の内の少なくとも一方を含む差分情報を演算する工程と、
前記合成マススペクトルと共に前記差分情報を表示する工程と、
を含み、
前記第1マススペクトルは第1イオン化法の適用により生成されたマススペクトルであり、前記第2マススペクトルは前記第1イオン化法とは異なる第2イオン化法の適用により生成されたマススペクトルである、
ことを特徴とするマススペクトル処理方法。 - 情報処理装置においてマススペクトル処理方法を実行するためのプログラムであって、
フラグメントイオンピークを含む第1マススペクトルと分子イオンピークを含む第2マススペクトルの内の一方又は両方を強度軸方向に大きくする強度調整を行った上で前記第1マススペクトルと前記第2マススペクトルとを合成して合成マススペクトルを生成する機能と、
前記合成マススペクトルに含まれる前記フラグメントイオンピークと前記分子イオンピークとの間で、質量電荷比の差分を示す情報及び組成の差分を示す情報の内の少なくとも一方を含む差分情報を演算する機能と、
前記合成マススペクトルと共に前記差分情報を表示する機能と、
を含み、
前記第1マススペクトルは第1イオン化法の適用により生成されたマススペクトルであり、前記第2マススペクトルは前記第1イオン化法とは異なる第2イオン化法の適用により生成されたマススペクトルである、
ことを特徴とするプログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019006807A JP6943897B2 (ja) | 2019-01-18 | 2019-01-18 | マススペクトル処理装置及び方法 |
US16/742,263 US11506644B2 (en) | 2019-01-18 | 2020-01-14 | Mass spectrum processing apparatus and method |
EP20152014.5A EP3683823B1 (en) | 2019-01-18 | 2020-01-15 | Mass spectrum processing apparatus and method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019006807A JP6943897B2 (ja) | 2019-01-18 | 2019-01-18 | マススペクトル処理装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020115117A JP2020115117A (ja) | 2020-07-30 |
JP6943897B2 true JP6943897B2 (ja) | 2021-10-06 |
Family
ID=69172719
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019006807A Active JP6943897B2 (ja) | 2019-01-18 | 2019-01-18 | マススペクトル処理装置及び方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11506644B2 (ja) |
EP (1) | EP3683823B1 (ja) |
JP (1) | JP6943897B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112418072B (zh) * | 2020-11-20 | 2024-08-02 | 上海交通大学 | 数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质 |
WO2023058234A1 (ja) * | 2021-10-08 | 2023-04-13 | 株式会社島津製作所 | 質量分析データ解析方法及びイメージング質量分析装置 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3405263A (en) | 1966-01-14 | 1968-10-08 | Exxon Research Engineering Co | Dual mass spectrometer ion source comprising field ionization and electron bombardment sources and the method of use |
US3984692A (en) * | 1972-01-04 | 1976-10-05 | Arsenault Guy P | Ionization apparatus and method for mass spectrometry |
JPS6120856A (ja) * | 1984-07-09 | 1986-01-29 | Jeol Ltd | マス・スペクトルの開裂ピ−ク表示方式 |
US4686367A (en) * | 1985-09-06 | 1987-08-11 | Finnigan Corporation | Method of operating quadrupole ion trap chemical ionization mass spectrometry |
JPH01164285A (ja) | 1987-12-21 | 1989-06-28 | Mitsubishi Electric Corp | 工作機械主軸モータの制御装置 |
JPH10293120A (ja) * | 1997-04-17 | 1998-11-04 | Hitachi Ltd | 質量スペクトル表示方法,質量スペクトル表示装置,質量分析方法及び質量分析装置 |
WO2004097352A2 (en) * | 2003-04-25 | 2004-11-11 | Griffin Analytical Technologies, Inc. | Instrumentation, articles of manufacture, and analysis methods |
GB0609253D0 (en) | 2006-05-10 | 2006-06-21 | Micromass Ltd | Mass spectrometer |
JP4678439B2 (ja) | 2006-05-18 | 2011-04-27 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置用データ処理装置 |
JP2009162665A (ja) * | 2008-01-08 | 2009-07-23 | Rigaku Corp | ガス分析方法及びガス分析装置 |
WO2009146345A1 (en) * | 2008-05-29 | 2009-12-03 | Waters Technologies Corporation | Techniques for performing retention-time matching of precursor and product ions and for constructing precursor and product ion spectra |
GB2552615B (en) * | 2015-03-29 | 2021-07-14 | Meridion Llc | Apparatus for mass analysis of analytes by simultaneous positive and negative ionization |
CN108139357B (zh) * | 2015-10-07 | 2020-10-27 | 株式会社岛津制作所 | 串联型质谱分析装置 |
JP6595922B2 (ja) * | 2016-01-22 | 2019-10-23 | 日本電子株式会社 | マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム |
JP2018004298A (ja) * | 2016-06-28 | 2018-01-11 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP6994921B2 (ja) * | 2017-12-05 | 2022-01-14 | 日本電子株式会社 | 質量分析データ処理装置および質量分析データ処理方法 |
-
2019
- 2019-01-18 JP JP2019006807A patent/JP6943897B2/ja active Active
-
2020
- 2020-01-14 US US16/742,263 patent/US11506644B2/en active Active
- 2020-01-15 EP EP20152014.5A patent/EP3683823B1/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2020115117A (ja) | 2020-07-30 |
EP3683823B1 (en) | 2023-08-30 |
US11506644B2 (en) | 2022-11-22 |
EP3683823A1 (en) | 2020-07-22 |
US20200232955A1 (en) | 2020-07-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7763846B2 (en) | Method of analyzing mass analysis data and apparatus for the method | |
JP4849128B2 (ja) | 質量分析方法 | |
JP6595922B2 (ja) | マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、質量分析装置、およびプログラム | |
JPH10274640A (ja) | 質量分析方法及び装置 | |
JP2016524712A (ja) | 重複する取得窓の逆多重化後の改良されたデータ品質 | |
JP6943897B2 (ja) | マススペクトル処理装置及び方法 | |
JP3791455B2 (ja) | イオントラップ型質量分析装置 | |
JP2004132946A (ja) | 質量スペクトルの解析方法および装置 | |
US7529630B2 (en) | Method of analyzing mass analysis data and apparatus for the method | |
JP2015503744A (ja) | インテリジェントなバックグラウンドデータの取得および減算 | |
JPWO2007132502A1 (ja) | 質量分析装置用データ処理装置 | |
JP6571770B2 (ja) | 修飾化合物の識別の決定 | |
US11094399B2 (en) | Method, system and program for analyzing mass spectrometoric data | |
JP2005221250A (ja) | 質量スペクトルの解析方法および装置 | |
US10825668B2 (en) | Library search tolerant to isotopes | |
US11513105B2 (en) | Composition estimating apparatus and method | |
US11735405B2 (en) | Mass spectrum processing apparatus and method | |
US10416130B2 (en) | Mass spectrometry data processing apparatus, mass spectrometry system, and method for processing mass spectrometry data | |
JP7312675B2 (ja) | マススペクトル処理装置及び方法 | |
JP6718694B2 (ja) | マススペクトル解析装置、マススペクトル解析方法、および質量分析装置 | |
JP2022177442A (ja) | 質量分析方法及び情報処理装置 | |
EP4399732A1 (en) | Methods and systems for determining molecular mass | |
WO2012161696A1 (en) | Sequential low/high-resolution library search |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200131 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20201125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20201215 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210209 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210817 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210909 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6943897 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |