JPH04339399A - メモリテスタの救済アドレス解析回路 - Google Patents

メモリテスタの救済アドレス解析回路

Info

Publication number
JPH04339399A
JPH04339399A JP3138586A JP13858691A JPH04339399A JP H04339399 A JPH04339399 A JP H04339399A JP 3138586 A JP3138586 A JP 3138586A JP 13858691 A JP13858691 A JP 13858691A JP H04339399 A JPH04339399 A JP H04339399A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fail
address
search
column
relief
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3138586A
Other languages
English (en)
Inventor
Susumu Nagai
長井 進
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP3138586A priority Critical patent/JPH04339399A/ja
Publication of JPH04339399A publication Critical patent/JPH04339399A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】冗長セルを持ったメモリデバイス
のテストでは、メモリテスタはメモリデバイス内の不良
セルを検出し、これを予備行または予備列に置換するた
めに、その不良セルのアドレスを求める解析回路をもつ
【0002】この発明は、冗長セルを持ったメモリデバ
イスのテストにおいて、同一行または同一列上に一定数
以上のフェイルが存在した場合に、このフェイル信号を
マスクすることにより、解析に不要なフェイル信号を送
らないようにしたメモリテスタの救済アドレス解析回路
についてのものである。
【0003】
【従来の技術】次に、従来技術によるメモリテスタの救
済アドレス解析回路の構成を図2により説明する。図2
の1はテスト制御回路、2はアドレス選択回路、3はフ
ェイルメモリ、4は救済解析制御回路、5はサーチアド
レス発生回路、9は測定されるデバイスである。テスト
制御回路1はデバイス9に接続され、デバイス9のフェ
イルを検出して、テスト行アドレス1A、テスト列アド
レス1Bおよびデバイスフェイル信号1Cを出力する。
【0004】アドレス選択回路2は、テスト制御回路1
の出力と、サーチアドレス発生回路5の出力を選択し、
フェイルメモリ3に選択した信号を出力する。フェイル
メモリ3はアドレス選択回路2の出力とテスト制御回路
1の出力を入力とし、フェイルメモリ読みだし信号3A
を出力する。救済解析制御回路4は、フェイルメモリ読
み出し信号3Aと、サーチアドレス発生回路5の出力を
入力として、サーチアドレス発生回路5にサーチスター
トストップ信号4Aを出力する。サーチアドレス発生回
路5は、救済解析制御回路4の出力を入力とすることに
より、アドレス選択回路2に信号を出力する。
【0005】テスト制御回路1がデバイス9をテストし
ているときは、アドレス選択回路2はテスト行アドレス
1Aとテスト列アドレス1Bを選択し、フェイルメモリ
3にデバイスフェイル信号1Cによりデバイス9のフェ
イル信号を書き込む。フェイルメモリ3は、デバイス9
と同じアドレス空間及びビット幅を持ち、フェイルセル
のアドレスにだけ「1」(信号あり)を書くことにより
、デバイス9のフェイルセルの分布状態を記憶している
【0006】デバイス9のテスト後、救済解析をする場
合は、アドレス選択回路2はサーチアドレス発生回路5
のサーチ行アドレス5A、サーチ列アドレス5Bを選択
し、救済解析制御回路4のサーチスタート・ストップ信
号4Aにより、サーチアドレス発生回路5はサーチアド
レスを発生し、このアドレスによりフェイルメモリ3の
フェイル信号を読み出す。
【0007】次に、図2のフローチャート図4により説
明する。図4は、救済解析制御回路4内の動作を説明し
ているものであり、ステップ31でフェイルサーチを開
始し、ステップ32、ステップ33でフェイル検出か、
またはサーチエンドかを繰り返し調べる。フェイルが検
出されると、ステップ35で行アドレスRA及び列アド
レスCAを読み込む。
【0008】読み込んだアドレスについて、ステップ3
6で行アドレスRAについて救済確定済みかを調べる。 ステップ36で救済確定済みでない場合、ステップ37
で列アドレスCAについて救済確定済みかを調べる。ス
テップ37で救済確定済みでない場合、ステップ38で
行アドレス救済条件かどうか調べる。救済条件とは、例
えば1つの行アドレス上の異なった列アドレスにフェイ
ルが多数あり、その数がメモリデバイスが持っている予
備行の本数より多いかどうかという条件であり、これが
満たされると、この例では行アドレスでの救済が確定と
なる。
【0009】ステップ38で救済条件と判断すると、ス
テップ39で救済確定行数と予備行数の本数を比較し、
予備行数に余裕があると、ステップ40で救済確定行の
アドレス登録をし、予備行数がない場合には、ステップ
44で救済不可能が確定したとして、ステップ45でサ
ーチを終了する。ステップ38で救済条件と判断されな
かった場合、ステップ41で列アドレスについて救済条
件かどうか判断する。
【0010】ステップ41で救済条件と判断すると、ス
テップ42で救済確定列数と予備列数の本数を比較し、
予備列数に余裕があると、ステップ43で救済確定列の
アドレス登録をし、予備列数がない場合には、ステップ
44で救済不可能が確定したとして、ステップ45でサ
ーチを終了する。
【0011】救済解析制御回路4は、フェイルサーチを
再び開始し、サーチエンドまで繰り返してステップ34
でサーチを終了する。この後、登録されたフェイルアド
レステーブルから救済アドレスを演算する。サーチアド
レス発生回路5では、救済解析制御回路4からのサーチ
スタート信号4Aにより行アドレス、列アドレスとも「
0」にしてからアドレス出力を開始し、「1」づつ加算
しながらフェイルメモリ3の最終アドレスまでアドレス
出力をくり返す。
【0012】このアドレス加算の繰り返しの中で、フェ
イルメモリ3から「1」が読み出されると、救済解析制
御回路4に伝えられ、救済解析制御回路4よりサーチス
トップ信号4Aが出力され、サーチアドレス発生回路5
はアドレス加算を中止する。救済解析制御回路4は、サ
ーチアドレス発生回路5から行アドレス5A、列アドレ
ス5Bを読み取り、フェイル検出アドレスとして内部の
フェイルアドレステーブルに格納する。
【0013】救済解析制御回路4は、初期アドレスをサ
ーチアドレス発生回路5内のカウンタにセットし、カウ
ンタをスタートさせる。カウンタは初期アドレスからア
ドレスを加算していき、このアドレスがフェイルメモリ
3に加えられる。救済解析制御回路4は、フェイルメモ
リ3からフェイル検出信号がくるか、カウンタからサー
チエンド信号がきたらカウンタを停止させ、停止要因を
調べる。
【0014】停止要因がサーチエンドならサーチ終了と
して次の演算へ進む。停止要因がフェイル検出であれば
、検出されたアドレスを取り込み、救済解析制御回路4
の内部のフェイルアドレステーブルに格納する。フェイ
ルアドレスを取り込むときは、図4のように判定し、無
駄なフェイルアドレスを取り込まないようにする。
【0015】例として、図5のようなフェイルの分布の
場合について説明する。図5のように、予備行の本数以
上のフェイルセルが同一列上に並んでいると、このフェ
イルセルを予備行で救済することができないので、予備
列で救済しなければならないと判定できる。図5では、
F3、F4、F5のフェイル位置がこの場合に相当する
【0016】救済解析制御回路4は、フェイルメモリ3
上の全アドレスのフェイルをサーチした後、フェイルア
ドレステーブル上のアドレス組合せから、残った予備行
、列で救済ができるか、またどの行アドレス、列アドレ
スの組合せで救済するかを判定し、再びサーチスタート
信号4Aを送ってフェイルサーチをフェイルが検出され
た次のアドレスから開始させる。全アドレスのサーチが
終了すると、サーチアドレス発生回路5はサーチエンド
信号を救済解析制御回路4に出力する。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】図2では、1つの行ま
たは列上に多数のフェイルセルが並んでいた場合に、図
4のステップ31からステップ37の判断の部分をフェ
イルの個数分くり返す必要があるので、同一行に多数の
フェイルセルが並んでいる配置の場合には、全体の解析
時間が長くなる。例えば、6番目のフェイルF6以降に
も同じCA3にフェイルが並んでいると、サーチに時間
がかかる。
【0018】この発明は、たとえば予備列での救済が確
定となった場合、これ以後この列アドレスのフェイルが
あっても、これを無視してサーチを続けることができる
ようにする事により、サーチ時間を短縮することを目的
とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、この発明では、デバイス9を試験するテスト制御回
路1と、テスト制御回路1の出力とサーチアドレス発生
回路5の出力を選択して出力するアドレス選択回路2と
、テスト制御回路1の出力とアドレス選択回路2の出力
を入力とし、デバイス9のフェイル信号の書き込み、読
み出しをするフェイルメモリ3と、サーチアドレス発生
回路5の行アドレスをマスクする行マスクメモリ6と、
サーチアドレス発生回路5の列アドレスをマスクする列
マスクメモリ7と、行マスクメモリ6の出力と列マスク
メモリ7の出力とフェイルメモリ3の出力を入力とし、
マスク後フェイル検出信号を出力するフェイルマスク回
路8と、サーチアドレス発生回路5の出力とフェイルマ
スク回路8の出力を入力とし、サーチアドレス発生回路
5にサーチスタート・ストップ信号を出力する救済解析
制御回路4を備える。
【0020】
【作用】次に、この発明による実施例の構成図を図1に
より説明する。図1の6は行マスクメモリ、7は列マス
クメモリ、8はフェイルマスク回路であり、その他は図
2と同じものである。すなわち、図1は図2に6〜8を
追加したものである。
【0021】図1の救済解析制御回路4から、サーチア
ドレス発生回路5にサーチスタート信号が与えられると
、サーチアドレス発生回路5はサーチ行アドレス信号お
よびサーチ列アドレス信号を発生する。アドレス選択回
路2では、サーチアドレス信号を選択し、すでにデバイ
ス9のフェイルを書き込まれたフェイルメモリ3から、
アドレス信号ごとにフェイルデータを読み出す。このと
き、サーチ行アドレス信号を行マスクメモリ6でマスク
し、サーチ列アドレス信号を列マスクメモリ7によりマ
スクする。行マスクメモリ6はフェイルメモリ3の行単
位のマスク情報を記憶し、列マスクメモリ7は列単位の
マスク情報を記憶する。
【0022】これらをフェイルマスク回路8で処理する
ことにより、フェイルマスク回路8の出力のマスク後フ
ェイル検出信号8Aは、行または列の救済が確定となっ
た場合に、それ以後発生した同一行または列アドレスの
フェイルは、フェイルとして認識しない。
【0023】
【実施例】次に、図1の動作を図3のフローチャートに
より説明する。図3は、救済解析制御回路4内の動作を
説明したものであり、ステップ11でフェイルサーチを
開始し、ステップ12、ステップ13でフェイル検出か
、またはサーチエンドかを繰り返し調べる。フェイルが
検出されると、ステップ15で行アドレスRA及び列ア
ドレスCAを読み込む。
【0024】次に、読み込んだアドレスについて、ステ
ップ18で行アドレスについて救済条件になったかを調
べる。救済条件とは、例えば1つの列アドレス上の異な
った行アドレスにフェイルが多数あり、その数がメモリ
デバイスが持っている予備行の本数より多いかどうかと
いう条件である。これが満たされると、ステップ19で
救済確定の行数が予備行数を越えていないか調べ、越え
ていれば救済不可が確定となり、ステップ23、24で
サーチ終了となり、越えていないときはステップ18で
救済確定行アドレスを登録し、ステップ19で行マスク
を書き込み、ステップ20に進む。
【0025】行マスクとは、図1の行マスクメモリ6で
あり、救済確定となった行アドレスにマスク信号の「1
」を書き込む。この行マスク書き込みにより、以後同じ
行アドレスでフェイルがあってもフェイルマスク回路8
によりフェイル検出信号がマスクされ、救済解析制御回
路4には、フェイルとして認識されなくなる。
【0026】次に、ステップ16で救済条件が満たされ
なかったとき、ステップ20で列アドレスについて救済
条件になったかを調べる。ステップ20で、これが満た
されると、ステップ21で救済確定の列数が予備列数を
越えていないか調べ、越えていれば救済不可が確定とな
り、ステップ23、24でサーチ終了となり、越えてい
なければステップ22で救済確定列アドレスを登録し、
ステップ25で列マスクを書き込む。
【0027】列マスクとは、図1の列マスクメモリ7で
あり、救済確定となった列アドレスにマスク信号の「1
」を書き込む。この列マスク書き込みにより、以後同じ
列アドレスでフェイルがあってもフェイルマスク回路8
によりフェイル検出信号がマスクされ、救済解析制御回
路4には、フェイルとして認識されなくなる。行アドレ
ス救済条件でも列アドレス救済条件でもないときは、ス
テップ26でフェイルアドレステーブルにそのフェイル
の行アドレスと列アドレスを登録する。
【0028】救済解析制御回路4は、フェイルサーチを
再び開始し、サーチエンドまで繰り返してステップ14
でサーチを終了する。この後、登録されたフェイルアド
レステーブルから救済アドレスを演算する。図5のよう
なフェイルの分布のときに、図3のフローチャートのよ
うに判定した場合、デバイス9のフェイルセルを予備列
で救済するとともに、救済の確定した列アドレスをマス
クするので、その列アドレスにさらに図5のF6のよう
なフェイルがあっても、フェイルとしては認識せず、フ
ェイルとして救済解析回路4内のフェイルアドレステー
ブルにも書き込まない。
【0029】
【発明の効果】この発明によれば、冗長セルをもったメ
モリデバイスのテストで、例えば予備列での救済が確定
となった場合、これ以後はその列アドレスのフェイルは
フェイルとしては認識せず、、フェイルアドレステーブ
ルにも書き込まないので、フェイルの分布状態に依存せ
ず、常にほぼ一定時間でフェイルサーチを実行すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明による救済解析回路の構成図である。
【図2】従来技術による救済解析回路の構成図である。
【図3】図1のフローチャートである。
【図4】図2のフローチャートである。
【図5】冗長セルをもつメモリデバイスのフェイル解析
状態の説明図である。
【符号の説明】
1  テスト制御回路 2  アドレス選択回路 3  フェイルメモリ 4  救済解析制御回路 5  サーチアドレス発生回路 6  行マスクメモリ 7  列マスクメモリ 8  フェイルマスク回路 9  デバイス

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  デバイス(9)を試験するテスト制御
    回路(1) と、テスト制御回路(1) の出力とサー
    チアドレス発生回路(5) の出力を選択して出力する
    アドレス選択回路(2)と、テスト制御回路(1)の出
    力とアドレス選択回路(2) の出力を入力とし、デバ
    イス(9) のフェイル信号を書き込み、読み出しをす
    るフェイルメモリ(3) と、サーチアドレス発生回路
    (5) の行アドレスをマスクする行マスクメモリ(6
    ) と、サーチアドレス発生回路(5) の列アドレス
    をマスクする列マスクメモリ(7) と、行マスクメモ
    リ(6) の出力と列マスクメモリ(7) の出力とフ
    ェイルメモリ(3)の出力を入力とし、マスク後フェイ
    ル検出信号を出力するフェイルマスク回路(8)と、サ
    ーチアドレス発生回路(5) の出力とフェイルマスク
    回路(8) の出力を入力とし、サーチアドレス発生回
    路(5) にサーチスタート・ストップ信号を出力する
    救済解析制御回路(4) とを備えることを特徴とする
    メモリテスタの救済アドレス解析回路。
JP3138586A 1991-05-15 1991-05-15 メモリテスタの救済アドレス解析回路 Pending JPH04339399A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3138586A JPH04339399A (ja) 1991-05-15 1991-05-15 メモリテスタの救済アドレス解析回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3138586A JPH04339399A (ja) 1991-05-15 1991-05-15 メモリテスタの救済アドレス解析回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04339399A true JPH04339399A (ja) 1992-11-26

Family

ID=15225579

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3138586A Pending JPH04339399A (ja) 1991-05-15 1991-05-15 メモリテスタの救済アドレス解析回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04339399A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6243307B1 (en) 1999-06-18 2001-06-05 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device including tester circuit suppressible of circuit scale increase and testing device of semiconductor device
JP2002541611A (ja) * 1999-04-02 2002-12-03 テラダイン・インコーポレーテッド 自動テスト機器の故障捕捉装置および方法
JP2012104174A (ja) * 2010-11-08 2012-05-31 Advantest Corp 試験装置
US10636509B2 (en) 2017-02-20 2020-04-28 Toshiba Memory Corporation Memory test apparatus

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002541611A (ja) * 1999-04-02 2002-12-03 テラダイン・インコーポレーテッド 自動テスト機器の故障捕捉装置および方法
JP4758005B2 (ja) * 1999-04-02 2011-08-24 テラダイン・インコーポレーテッド 自動テスト機器の故障捕捉装置および方法
US6243307B1 (en) 1999-06-18 2001-06-05 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device including tester circuit suppressible of circuit scale increase and testing device of semiconductor device
JP2012104174A (ja) * 2010-11-08 2012-05-31 Advantest Corp 試験装置
US10636509B2 (en) 2017-02-20 2020-04-28 Toshiba Memory Corporation Memory test apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7506226B2 (en) System and method for more efficiently using error correction codes to facilitate memory device testing
JPH10170607A (ja) 半導体デバイスのテスト装置
JPH04339399A (ja) メモリテスタの救済アドレス解析回路
JP2002312252A (ja) メモリ診断装置及び診断方法
JP2006285913A (ja) メモリチェック装置及び画像形成装置
KR20160005988A (ko) 반도체 장치의 어레이 퓨즈 테스트 방법
JP2002244934A (ja) メモリ監視装置および方法
JPH10148658A (ja) メモリ試験装置
JP3004886B2 (ja) 内容アドレス式メモリ
JPS585681A (ja) 半導体メモリ試験装置
JPS6141080B2 (ja)
JP2010097330A (ja) アドレス線の試験方法及び試験装置
JPH0342747A (ja) メモリ試験方式
JPH04212800A (ja) Ramのデータ線試験方法
JPH11328044A (ja) 連想メモリ監視方法及び装置
JPS5938679B2 (ja) Ic試験装置
KR0121094B1 (ko) 메모리 테스트 방법
JPH1186595A (ja) 半導体メモリ試験装置
JP3173461B2 (ja) メモリパトロール機能の擬正常試験回路および擬正常試験方法
JPH01162300A (ja) Romチェック回路試験方式
JP2003007090A (ja) メモリの不良救済解析方法・メモリ試験装置
JPH06349299A (ja) メモリテスト結果回収方法、及びメモリテスト装置
SU656109A1 (ru) Устройство дл контрол блоков пам ти
KR0161126B1 (ko) 컴퓨터시스템에 있어서 시스템버스상의 신호선 상태 검색장치 및 방법
KR19990032660A (ko) 시스템 메모리 제어장치