JPH0428657B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0428657B2
JPH0428657B2 JP61032264A JP3226486A JPH0428657B2 JP H0428657 B2 JPH0428657 B2 JP H0428657B2 JP 61032264 A JP61032264 A JP 61032264A JP 3226486 A JP3226486 A JP 3226486A JP H0428657 B2 JPH0428657 B2 JP H0428657B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
powder
melting point
low
low melting
sealing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP61032264A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62191442A (ja
Inventor
Toshiro Yamanaka
Ichiro Matsura
Fumio Yamaguchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Electric Glass Co Ltd
Original Assignee
Nippon Electric Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Glass Co Ltd filed Critical Nippon Electric Glass Co Ltd
Priority to JP61032264A priority Critical patent/JPS62191442A/ja
Priority to US07/014,289 priority patent/US4774208A/en
Priority to KR1019870001279A priority patent/KR910001103B1/ko
Priority to DE19873705038 priority patent/DE3705038A1/de
Publication of JPS62191442A publication Critical patent/JPS62191442A/ja
Publication of JPH0428657B2 publication Critical patent/JPH0428657B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/12Silica-free oxide glass compositions
    • C03C3/14Silica-free oxide glass compositions containing boron
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/10Containers; Seals characterised by the material or arrangement of seals between parts, e.g. between cap and base of the container or between leads and walls of the container
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01GCOMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F
    • C01G25/00Compounds of zirconium
    • C01G25/02Oxides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/24Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/24Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders
    • C03C8/245Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions, i.e. for use as seals between dissimilar materials, e.g. glass and metal; Glass solders containing more than 50% lead oxide, by weight
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/20Powder free flowing behaviour
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/32Thermal properties
    • C01P2006/33Phase transition temperatures
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01PINDEXING SCHEME RELATING TO STRUCTURAL AND PHYSICAL ASPECTS OF SOLID INORGANIC COMPOUNDS
    • C01P2006/00Physical properties of inorganic compounds
    • C01P2006/80Compositional purity
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野 本発明は、低融点封着用組成物、より具体的に
はアルミナを使用したICパツケージの気密封着
に特に適した低融点封着用組成物に関するもので
ある。 従来技術 近年、ICパツケージ用封着材としては、封着
温度が低く、且つ短時間で気密封着でき、高強度
のものが要望され、従来から非晶質の低融点ガラ
ス粉末にチタン酸鉛、ベータユークリプタイト、
コージエライト、ウイレマイト等の低膨張セラミ
ツク粉末をフイラーとして加えた封着材が多くみ
られる。しかしながら低融点ガラス粉末に低膨張
セラミツク粉末を混合するだけでは、機械的強度
がなお不十分であり、より機械的強度の大きい封
着材を得るためにさらに硅酸ジルコニウム
(ZrO2・SiO2)、いわゆるジルコンを共存させた
封着材が提案され、例えば特公昭56−49861号に
は、低融点ガラス粉末とチタン酸鉛粉末とジルコ
ン粉末とからなる低融点封着用組成物が示されて
いる。しかしながらこれによつて得られる封着材
は、機械的強度や熱衝撃強度は大きいが、α線放
出量が多く、しかも誘電率が大きいためメモリー
のような高密度のシリコン素子を搭載するパツケ
ージの封着には適していない。 ジルコン粉末は、機械的強度の増大に効果があ
ると共に、化学的耐久性に優れ、電気抵抗も大き
くフイラーとして優れた特性を有するが、天然産
のジルコン粉末は、不純物としてU、Thを含み、
そのため放射性崩壊によりα線を放出するため高
密度のICに使用した場合、ソフトエラーを起こ
しやすくなる。このためU、Thを極力取り除き、
α線放出量を非常に少なくしたジルコン粉末を用
いた合成ジルコン粉末を不活性亜鉛物質粉末と共
に低融点ガラス粉末に混合する封着用組成物が、
特開昭60−204637号に開示されている。しかしな
がらこの封着用組成物も合成ジルコンを多量含有
させた場合流動性が悪く、熱膨張係数が大きくな
るという問題があつた。これはZrO2とSiO2を反
応させて合成する際に未反応のZrO2が残存し、
これを低融点ガラス粉末と混合すると低融点ガラ
スの結晶化傾向を促進し、封着材の流動性を低下
させるためである。また従来より未反応のZrO2
を含有しない合成ジルコン粉末を製造する場合、
ZrO2とSiO2との反応促進剤としてNaF、NaCl、
Na2SO4が用いられているが、NaF、NaCl、
Na2SO4を含有する合成ジルコンは、本発明のよ
うな電子部品の封着材に使用する合成ジルコンに
望まれる本質的にアルカリを含有しないこと、
低融点ガラス粉末と混合した場合流動性を低下
させない等の条件を満足するものではない。 発明の目的 本発明の目的は、450℃以下の低温度で短時間
に封着でき、機械的強度が大きくかつ熱膨張係数
が低くまたα線放出量が少ない新規な封着用組成
物を提供することである。 発明の構成 本発明の低融点封着用組成物は、非晶質の低融
点ガラス粉末、具体的には重量%でPbO 40〜90
%、B2O3 8〜15%、SiO2+Al2O3 0.5〜3%、
ZnO 0.5〜5%、Tl2O 0〜40%からなる低融点
ガラス粉末50〜80%に合成ジルコン粉末 2〜40
%と低膨張セラミツク粉末 0〜45%を混合して
なり、該合成ジルコン粉末は、Fe2O3、MnO、
ZnOのいずれか1種又は2種以上を0.5〜7%含
有していることを特徴とする。 本発明において用いられる合成ジルコン粉末
は、α線放出量の小さいZrO2粉末とSiO2粉末と
からジルコンを合成する場合、ZrO2とSiO2のみ
では反応が十分に進まないので反応促進剤として
Fe2O3、MnO、ZnOのいずれか1種又は2種以上
を含有させる。しかしながら、反応促進剤が0.5
%より少ない場合は、上記効果が得られず、また
7%より多い場合は、フイラーとしての特性、す
なわちガラスの流動性を良好にし、熱膨張係数を
低下するという特性が逆に低下する。 また低膨張セラミツク粉末としては、チタン酸
鉛、ベータユークリプタイト、コージエライト、
ウイレマイト、ウイレマイト系セラミツクス、
SnO2固溶体のいずれか1種又は2種以上が用い
られる。 本発明の低融点ガラス粉末、合成ジルコン粉
末、低膨張セラミツク粉末の混合比を上記のよう
に限定した理由は以下のとおりである。 低融点ガラス粉末が50%より少ない場合は、流
動性が悪くなり450℃以下で封着できなくなり、
80%より多い場合は、熱膨張係数が大きくなり熱
衝撃強度が小さくなる。合成ジルコン粉末が2%
より少ない場合は、十分な機械的強度が得られな
くなり、40%より多い場合は、流動性が悪くな
る。低膨張セラミツク粉末は、合成ジルコン粉末
と併用すると、熱膨張係数を一定に保ちながら封
着温度を低下させる効果があるが、45%より多い
場合は、流動性が悪くなる。 また低融点ガラス粉末の各成分の割合を上記の
ように限定した理由は以下のとおりである。 PbOが40%より少ない場合は、ガラスの粘性が
増大し、90%より多い場合は、ガラスが失透し易
くなる。B2O3が8%より少ない場合は、ガラス
が失透し易くなり、15%より多い場合はガラスの
粘性が増大する。SiO2とAl2O3の含量が0.5%より
少ない場合は、ガラスが失透し易くなり、3%よ
り多い場合はガラスの粘性が増大する。ZnOは熱
膨張係数を大きくすることなく粘性を比較的低く
する効果を有するが0.5%より少ない場合は上記
効果が得られず、5%より多い場合はガラスが失
透し易くなる。Tl2Oは、PbOと置換して用いる
ことにより、PbO単独を用いる場合と比較してよ
り粘性の低いガラスを得ることができるが、40%
より多い場合はガラスの化学的耐久性が悪くな
る。さらにPbO,B2O3及びSiO2とAl2O3の合量
が上記割合をはずれた場合、いずれも十分な流動
性が得られなくなる。 尚、上記低融点ガラス粉末には、PbO,B2O3
SiO2,Al2O3,ZnO,Tl2Oの成分以外にもCuO,
Bi2O3,SnO2,BaO,F等の他成分を5%まで含
有させることができる。しかしながら5%を超え
るとガラスが失透し易くなるため好ましくない。 実施例 以下に本発明の実施例について説明する。 第1表は、本発明における低融点ガラスの実施
例を示すものである。
【表】 第1表に示した低融点ガラスは、鉛丹、硼酸、
硅石粉、アルミナ、亜鉛華、炭酸タリウム、フツ
化鉛、炭酸バリウム第1表に示す組成になるよう
に調合し、白金るつぼに入れて電気炉において
800℃で1時間溶融した後、薄板状に成形し、ア
ルミナボールミルで粉砕し、200メツシユのステ
ンレスふるいを通過したものを用いた。 第2表は、本発明の合成ジルコン、すなわち
ZrO2,SiO2,Fe2O3,MnO,ZnOの各成分を混
合した実施例である。
【表】 第2表に示した合成ジルコンの作製方法を合成
ジルコンAを例にとつて以下に示す。 まずZrO2は、天然のジルコンサンドを一旦ソ
ーダ分解し、塩酸に溶解した後、濃縮結晶化を繰
り返してU,Thの極めて少ないオキシ塩化ジル
コニウムにし、アルカリ中和後、加熱して精製
ZrO2とした。次に精製したZrO2、高純度硅石粉
(SiO2)及び酸化第2鉄(Fe2O3)を第2表に示
す組成になるように調合し、乾式混合した後、
1400℃で16時間焼成した。焼成物は粉砕し、250
メツシユのステンレスふるいを通過させた。 第3表は第1表の低融点ガラス粉末に第2表の
合成ジルコン粉末及び各種の低膨張セラミツク粉
末を混合した低融点封着用組成物の実施例であ
る。
【表】 第3表のチタン酸鉛は、リサージ及び酸化チタ
ンをPbTiO3の化学量論比になるように混合した
後、1150℃で2時間焼成し、粉砕後250メツシユ
のステンレスふるいを通過したものを用いた。 ベータユークリプタイトは、炭酸リチウム、ア
ルミナ、光学ガラス用石粉をLi2O・Al2O3
2SiO2の組成になるように調合、混合し1250℃で
5時間焼成したものを粉砕して250メツシユのス
テンレスふるいを通過したものを用いた。 コージエライトは、ガラスを結晶化させる方法
で作製したものを用いた。すなわち2MgO・
2Al2O3・5SiO2の化学量論比になるようにマグネ
シア、アルミナ及び光学ガラス用石粉を調合、混
合し、白金るつぼ中に1580℃で4時間溶融して得
たガラスを薄板状に成形した後、150メツシユの
ステンレスふるいを通過するように粉砕し、さら
に1000℃で12時間加熱し、コージエライトを結晶
させた後、350メツシユを通過するように粉砕し
た。 ウイレマイトは、亜鉛華、光学ガラス用石粉を
2 ZnO・SiO2の組成になるように調合、混合
し、1400℃で16時間焼成したものを粉砕して250
メツシユのステンレスふるいを通過したものを用
いた。 ウイレマイト系セラミツクは、重量%でZnO
70.6%,SiO2 24.7%,Al2O3 4.7%になるように
亜鉛華、光学ガラス用石粉、アルミナを調合、混
合し、1440℃で15時間焼成した後、粉砕し250メ
ツシユのステンレスふるいを通過したものを用い
た。尚、ウイレマイト系セラミツクは、上記組成
に限定されるものではなく重量%でZnO 68〜75
%,SiO2 23〜28%,Al2O3 0.1〜8%の範囲内で
あれば使用可能である。 SnO2固溶体は、重量%でSnO2 93%,TiO2
%,MnO 5%になるように酸化すず、酸化チタ
ン、二酸化マンガンを調合、混合し、1400℃で16
時間焼成後、粉砕し、250メツシユのステンレス
ふるいを通過したものを用いた。 第3表の低融点封着用組成物は、低融点ガラス
粉末、合成ジルコン粉末、低膨張セラミツク粉末
を第3表に示す割合に混合し、通常行われている
ようにビークルを使用してペーストを作製した
後、アルミナセラミツク(16 SSIパツケージ)
に印刷して表記の条件で封着した。剪断強度は、
アルミナセラミツクの封着部の長手方向へ剪断力
を加えることによつて破壊させるのに必要な荷重
の値を示したもので実施例では300〜410Kgの高い
値が得られた。 尚、比較のためガラスA 65.8%とウイレマイ
ト系セラミツク17.8%とFe2O3の代わりに融剤と
して硫酸ソーダを使用した合成ジルコン16.4%と
を混合し、ペーストを作製した後、アルミナセラ
ミツクに印刷して封着したところ封着温度450℃、
封着時間10分、熱膨張係数66.9×10-7/℃、剪断
強度340Kgであり、本発明の実施品である第3表
の試料No.5と比較すると本発明の実施品の方が封
着温度が20℃、熱膨張係数が2.9×10-7/℃低く、
また剪断強度が20Kg高い。これによりFe2O3を含
有する合成ジルコンを使用する封着材の方が
Fe2O3を含有しない合成ジルコンを使用する封着
材に比べ優れた特性を有することがわかる。 発明の効果 本発明の低融点封着用組成物は、450℃以下の
温度で10分以内に封着でき、機械的強度が大きく
かつ熱膨張係数が低くまたα線放出量が少ない封
着材が得られ、特にICパツケージ用に適してい
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 重量%で非晶質の低融点ガラス粉末50〜80
    %、合成ジルコン粉末2〜40%、低膨張セラミツ
    ク粉末0〜45%を混合してなり、該合成ジルコン
    粉末は、Fe2O3、MnO、ZnOのいずれか1種又は
    2種以上を0.5〜7%含有していることを特徴と
    する低融点封着用組成物。 2 低融点ガラス粉末は、重量%でPbO 40〜90
    %、B2O3 8〜15%、SiO2+Al2O3 0.5〜3%、
    ZnO 0.5〜5%、Tl2O 0〜40%からなることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の低融点封
    着用組成物。 3 低膨張セラミツク粉末は、チタン酸鉛、ベー
    タユークリプタイト、コージエライト、ウイレマ
    イト、ウイレマイト系セラミツクス、SnO2固溶
    体のいずれか1種又は2種以上であることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の低融点封着用
    組成物。
JP61032264A 1986-02-17 1986-02-17 低融点封着用組成物 Granted JPS62191442A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61032264A JPS62191442A (ja) 1986-02-17 1986-02-17 低融点封着用組成物
US07/014,289 US4774208A (en) 1986-02-17 1987-02-13 Low temperature sealing composition with synthetic zircon
KR1019870001279A KR910001103B1 (ko) 1986-02-17 1987-02-17 저융점 밀봉용 조성물
DE19873705038 DE3705038A1 (de) 1986-02-17 1987-02-17 Niedrigtemperatur-dichtungszusammensetzung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61032264A JPS62191442A (ja) 1986-02-17 1986-02-17 低融点封着用組成物

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62191442A JPS62191442A (ja) 1987-08-21
JPH0428657B2 true JPH0428657B2 (ja) 1992-05-14

Family

ID=12354148

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61032264A Granted JPS62191442A (ja) 1986-02-17 1986-02-17 低融点封着用組成物

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4774208A (ja)
JP (1) JPS62191442A (ja)
KR (1) KR910001103B1 (ja)
DE (1) DE3705038A1 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4883777A (en) * 1988-04-07 1989-11-28 Nippon Electric Glass Company, Limited Sealing glass composition with filler containing Fe and W partially substituted for Ti in PbTiO3 filler
JP2736464B2 (ja) * 1989-11-30 1998-04-02 京セラ株式会社 半導体素子収納用パッケージ
DE3934971C1 (ja) * 1989-10-20 1991-01-24 Schott Glaswerke, 6500 Mainz, De
JP2971502B2 (ja) * 1990-03-27 1999-11-08 旭硝子株式会社 コバール封着用ガラス組成物
JPH0459623U (ja) * 1990-09-28 1992-05-21
JPH0459624U (ja) * 1990-09-28 1992-05-21
JPH0459622U (ja) * 1990-09-28 1992-05-21
JPH0485819U (ja) * 1990-11-28 1992-07-27
JPH0485821U (ja) * 1990-11-28 1992-07-27
JPH0485820U (ja) * 1990-11-28 1992-07-27
JPH0485916U (ja) * 1990-11-29 1992-07-27
DE4136115C1 (ja) * 1991-11-02 1993-01-28 Schott Glaswerke, 6500 Mainz, De
US5510300A (en) * 1992-12-16 1996-04-23 Samsung Corning Co., Ltd. Sealing glass compositions using ceramic composite filler
US5545797A (en) * 1995-01-13 1996-08-13 University Of New Mexico Method of immobilizing weapons plutonium to provide a durable, disposable waste product
KR970011336B1 (ko) * 1995-03-31 1997-07-09 삼성코닝 주식회사 접착용 유리조성물
US5534469A (en) * 1995-09-12 1996-07-09 Nippon Electric Glass Co., Ltd. Low temperature non-crystallizing sealing glass
US6248679B1 (en) * 1996-11-18 2001-06-19 Techneglas, Inc. Low temperature sealing glass
US6777358B2 (en) * 2002-07-25 2004-08-17 Nortel Networks Limited Sealing glass composition
CN102698700B (zh) * 2012-06-04 2013-12-18 刘裕秋 流线形陶瓷谷峰规整波纹填料

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3329102C2 (de) * 1983-08-11 1985-08-22 Nippon Electric Glass Co., Ltd., Otsu, Shiga Niedrigtemperatur-Abdichtungszusammensetzung
JPS60204637A (ja) * 1984-03-19 1985-10-16 Nippon Electric Glass Co Ltd 低融点封着用組成物

Also Published As

Publication number Publication date
KR870007859A (ko) 1987-09-22
DE3705038C2 (ja) 1991-10-31
DE3705038A1 (de) 1987-08-20
US4774208A (en) 1988-09-27
JPS62191442A (ja) 1987-08-21
KR910001103B1 (ko) 1991-02-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0428657B2 (ja)
JP3424219B2 (ja) 低融点封着用組成物
US5346863A (en) Low temperature sealing composition
JP5033339B2 (ja) ガラス組成物
JPH11292564A (ja) ホウリン酸スズ系ガラス及び封着材料
JP2001048579A (ja) シリカリン酸スズ系ガラス及び封着材料
US4710479A (en) Sealing glass composition with lead calcium titanate filler
US4883777A (en) Sealing glass composition with filler containing Fe and W partially substituted for Ti in PbTiO3 filler
JP3748533B2 (ja) 低融点ガラス及びその製造方法
JPH03232738A (ja) 低融点封着用組成物
JPH07102982B2 (ja) 低温封着用フリット
JP2002179436A (ja) 銀リン酸系ガラス及びそれを用いた封着材料
JP2968985B2 (ja) 低融点封着用組成物
JP3402314B2 (ja) 低融点封着用組成物の製造方法及びその使用方法
JP4573204B2 (ja) 封着用ガラス及びそれを用いた封着材料
JP3151794B2 (ja) 低融点封着用組成物
JP3760455B2 (ja) 接着用組成物
JPS5945620B2 (ja) 低融点封着用組成物
JPH08231242A (ja) 低融点封着組成物
JP3149929B2 (ja) 低融点封着用組成物
JPH05319863A (ja) 低融点封着用組成物
JPH0597470A (ja) 低融点封着用組成物
JP3496687B2 (ja) 低融点封着用組成物
JPH06157071A (ja) 低融点封着用組成物
JPH08157234A (ja) 封着用組成物

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees