JPH03715B2 - - Google Patents
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- JPH03715B2 JPH03715B2 JP58235475A JP23547583A JPH03715B2 JP H03715 B2 JPH03715 B2 JP H03715B2 JP 58235475 A JP58235475 A JP 58235475A JP 23547583 A JP23547583 A JP 23547583A JP H03715 B2 JPH03715 B2 JP H03715B2
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- memory
- inverter
- word
- line
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- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 60
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/16—Multiple access memory array, e.g. addressing one storage element via at least two independent addressing line groups
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、マスタースライス方式により構成
される半導体集積回路装置(以下LSIと略称す
る)に関し、特に該LSIに内蔵されるメモリ専用
領域をレジスタとして使用するに好適な同メモリ
回路構成の具現化に関する。
される半導体集積回路装置(以下LSIと略称す
る)に関し、特に該LSIに内蔵されるメモリ専用
領域をレジスタとして使用するに好適な同メモリ
回路構成の具現化に関する。
上記マスタースライス方式とは、別名ゲートア
レイとも呼ばれ、通常複数の素子(トランジスタ
等の能動素子および抵抗等の受動素子を含む)か
らなる基本セルがマトリクス状に多数集積形成さ
れてなるマスターチツプを予め半導体ウエハ上に
適宜形成した後、上記基本セル内の素子をそれぞ
れ結合して所望の論理機能を有する論理回路を実
現し、さらにこれを複数接続して最終LSIを完成
する方式である。
レイとも呼ばれ、通常複数の素子(トランジスタ
等の能動素子および抵抗等の受動素子を含む)か
らなる基本セルがマトリクス状に多数集積形成さ
れてなるマスターチツプを予め半導体ウエハ上に
適宜形成した後、上記基本セル内の素子をそれぞ
れ結合して所望の論理機能を有する論理回路を実
現し、さらにこれを複数接続して最終LSIを完成
する方式である。
第1図に、このようにしてつくられるゲートア
レイチツプに内蔵されるメモリ専用セルの回路構
成例を示す。
レイチツプに内蔵されるメモリ専用セルの回路構
成例を示す。
このメモリ回路において、インバータ1−1お
よび1−2は、それぞれ等しい大きさ、等しい電
気特性を有するインバータであつて、互いに入出
力端子が図示の如く接続されて1つのフリツプフ
ロツプを構成している。またゲート1−3および
1−4は、データの書き込み、読み出し時にそれ
ぞれ上記フリツプフロツプとビツト線1−9およ
び1−10とを接続する伝送ゲートであり、図示
しないアドレスデコーダからワード線1−5に伝
送される同メモリ回路のアクセス信号によつて開
閉のコントロールがなされるようになつている。
さらにこの回路において、1−6および1−7は
データの書き込み時に該書き込みデータを上記ビ
ツト線1−9および1−10に出力する書き込み
ドライバであり、また1−8は読み出し時におけ
る上記ビツト線1−9および1−10のわずかな
電圧変動を増幅して該読み出しに耐え得る電圧と
なるよう波形整形するセンスアンプである。
よび1−2は、それぞれ等しい大きさ、等しい電
気特性を有するインバータであつて、互いに入出
力端子が図示の如く接続されて1つのフリツプフ
ロツプを構成している。またゲート1−3および
1−4は、データの書き込み、読み出し時にそれ
ぞれ上記フリツプフロツプとビツト線1−9およ
び1−10とを接続する伝送ゲートであり、図示
しないアドレスデコーダからワード線1−5に伝
送される同メモリ回路のアクセス信号によつて開
閉のコントロールがなされるようになつている。
さらにこの回路において、1−6および1−7は
データの書き込み時に該書き込みデータを上記ビ
ツト線1−9および1−10に出力する書き込み
ドライバであり、また1−8は読み出し時におけ
る上記ビツト線1−9および1−10のわずかな
電圧変動を増幅して該読み出しに耐え得る電圧と
なるよう波形整形するセンスアンプである。
このようなセル構造を有するメモリ回路は、一
般にメモリセル面積を小さくすることができるこ
とから大容量メモリには適しているが、ゲートア
レイの内蔵メモリとしては以下に示すような不都
合もあつた。
般にメモリセル面積を小さくすることができるこ
とから大容量メモリには適しているが、ゲートア
レイの内蔵メモリとしては以下に示すような不都
合もあつた。
すなわち、ゲートアレイ内では、上記メモリは
いわばレジスタ群として用いられることが多く、
したがつてこのメモリとしても、該レジスタ群と
して有効に機能するものが必要とされているのに
対し、上述した従来のメモリ回路では、その動作
に際してデータの読み出しあるいは書き込みのい
ずれか一方ずつしか行なうことができず、該レジ
スタ群として用いるには非常に効率の悪いものと
なつていた。このことを第2図を参照して説明す
る。
いわばレジスタ群として用いられることが多く、
したがつてこのメモリとしても、該レジスタ群と
して有効に機能するものが必要とされているのに
対し、上述した従来のメモリ回路では、その動作
に際してデータの読み出しあるいは書き込みのい
ずれか一方ずつしか行なうことができず、該レジ
スタ群として用いるには非常に効率の悪いものと
なつていた。このことを第2図を参照して説明す
る。
第2図においが、2−1は先の第1図に示した
メモリセルを使用したレジスタ群であり、この中
には同図に示すような3つのアドレスA,B,C
が存在している。また2−2および2−4はそれ
ぞれ単独のレジスタであり、2−3は演算Zを実
行する演算回路である。
メモリセルを使用したレジスタ群であり、この中
には同図に示すような3つのアドレスA,B,C
が存在している。また2−2および2−4はそれ
ぞれ単独のレジスタであり、2−3は演算Zを実
行する演算回路である。
このように上記メモリをレジスタとして使用す
る場合、一般には「上記レジスタ群2−1のアド
レスAの内容とアドレスBの内容とに演算Z(記
号で表わす)を施してこの結果をレジスタCに
格納する」といつた使い方がなされる。ここで、
第1図に示した従来のメモリ回路では、データの
書き込みであれ、また読み出しであれ、1クロツ
ク内に1回のアクセスしか実行できないため、こ
のようなレジスタとしての使用に際しては次に示
す3段階の操作が必要となる。
る場合、一般には「上記レジスタ群2−1のアド
レスAの内容とアドレスBの内容とに演算Z(記
号で表わす)を施してこの結果をレジスタCに
格納する」といつた使い方がなされる。ここで、
第1図に示した従来のメモリ回路では、データの
書き込みであれ、また読み出しであれ、1クロツ
ク内に1回のアクセスしか実行できないため、こ
のようなレジスタとしての使用に際しては次に示
す3段階の操作が必要となる。
同レジスタ群2−1のアドレスAの内容を読
み出し、これを他のレジスタ2−2(このレジ
スト内容を記号R1で表わす)ストアする。す
なわち、 (R1)←(アドレスAの内容) 同じくレジスタ群2−1のアドレスBの内容
を読み出すとともに、この内容と上記レジスタ
2−2の内容(R1)とに演算回路2−3にて
演算Zを施し、この結果をさらに他のレジスタ
2−4(このレジスト内容を記号R2で表わ
す)にストアする。すなわち、 (R2)←(R1)(アドレスBの内容) 上記レジスタ2−4の内容(R2)を読み出
し、これをレジスタ群2−1のアドレスCに書
き込む。すなわち、 (アドレスCの内容)←(R2) このように、従来のメモリをレジスタ群として
使用した場合には、上述した一般的な処理(現実
に最も多く用いられる処理方法である)に3クロ
ツク分の処理時間を必要とする。このことはLSI
全体の処理能力を向上する上でも大きな妨げとな
つていた。
み出し、これを他のレジスタ2−2(このレジ
スト内容を記号R1で表わす)ストアする。す
なわち、 (R1)←(アドレスAの内容) 同じくレジスタ群2−1のアドレスBの内容
を読み出すとともに、この内容と上記レジスタ
2−2の内容(R1)とに演算回路2−3にて
演算Zを施し、この結果をさらに他のレジスタ
2−4(このレジスト内容を記号R2で表わ
す)にストアする。すなわち、 (R2)←(R1)(アドレスBの内容) 上記レジスタ2−4の内容(R2)を読み出
し、これをレジスタ群2−1のアドレスCに書
き込む。すなわち、 (アドレスCの内容)←(R2) このように、従来のメモリをレジスタ群として
使用した場合には、上述した一般的な処理(現実
に最も多く用いられる処理方法である)に3クロ
ツク分の処理時間を必要とする。このことはLSI
全体の処理能力を向上する上でも大きな妨げとな
つていた。
さらに、第1図に示した従来のメモリ回路には
次のような不都合もある。
次のような不都合もある。
すなわち、ゲートアレイを使つての論理設計
は、一般に半導体装置については左程詳細な知識
を有さないゲートアレイユーザーが行なうことが
多いため、同ゲートアレイを構成する種々回路と
しても、適宜な動作マージンを有していてタイミ
ングコントロール等が容易であることが望まれて
いるが、上述したメモリ回路は、動作が複雑でタ
イミングコントロールが難しい上に動作マージン
の少ないセンスアンプ1−8を具えて構成される
ことから、同ユーザーによる上記論理設計を非常
に困難なものとしていた。
は、一般に半導体装置については左程詳細な知識
を有さないゲートアレイユーザーが行なうことが
多いため、同ゲートアレイを構成する種々回路と
しても、適宜な動作マージンを有していてタイミ
ングコントロール等が容易であることが望まれて
いるが、上述したメモリ回路は、動作が複雑でタ
イミングコントロールが難しい上に動作マージン
の少ないセンスアンプ1−8を具えて構成される
ことから、同ユーザーによる上記論理設計を非常
に困難なものとしていた。
この発明は、メモリ専用領域を前述のようにレ
ジスタ群として使用した際にその動作効率を大幅
に向上せしめるとともに、タイミングコントロー
ル等をも容易とするメモリ専用セルを有するLSI
を提供することを目的とする。
ジスタ群として使用した際にその動作効率を大幅
に向上せしめるとともに、タイミングコントロー
ル等をも容易とするメモリ専用セルを有するLSI
を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、この発明では、前記
フリツプフロツプに対し各別の伝送ゲートを介し
て接続されるようになる2つの読み出しデータ出
力線と1つの書き込みデータ入力線との計3つの
ビツト線を設けるとともに、各別のワード信号が
伝送されるようになる3つのワード線を設け、こ
れらワード線に伝送される上記各別のワード信号
をもつて上記3つの伝送ゲートを各別に開閉する
ようにする。すなわち、同メモリ回路を同時アク
セスの可能な3ポートメモリとして構成する。こ
れにより、前述したような同メモリをレジスタと
して使用する際のデータ処理を1クロツク分の時
間で実行することができるようになる。そしてこ
の発明ではさらに、同メモリ回路のこうした動作
を安定ならしめるため、上記フリツプフロツプを
構成する2つのインバータについて、データの読
み出しにかかる一方を大電流駆動できるインバー
タとし、またデータの書き込みにかかる他方を外
部からの信号電圧で簡単にデータ反転できるよう
な電流駆動力の小さいインバータとするようにす
る。これにより、前述したようにタイミングコン
トロールが難しくて動作 −ジンの少ないセンス
アンプ等のゲートアレイユーザにとつて理解し難
い回路を用いることなく、メモリ回路としての安
定した読み出しおよび書き込み動作を実現するこ
とができるようになる。
フリツプフロツプに対し各別の伝送ゲートを介し
て接続されるようになる2つの読み出しデータ出
力線と1つの書き込みデータ入力線との計3つの
ビツト線を設けるとともに、各別のワード信号が
伝送されるようになる3つのワード線を設け、こ
れらワード線に伝送される上記各別のワード信号
をもつて上記3つの伝送ゲートを各別に開閉する
ようにする。すなわち、同メモリ回路を同時アク
セスの可能な3ポートメモリとして構成する。こ
れにより、前述したような同メモリをレジスタと
して使用する際のデータ処理を1クロツク分の時
間で実行することができるようになる。そしてこ
の発明ではさらに、同メモリ回路のこうした動作
を安定ならしめるため、上記フリツプフロツプを
構成する2つのインバータについて、データの読
み出しにかかる一方を大電流駆動できるインバー
タとし、またデータの書き込みにかかる他方を外
部からの信号電圧で簡単にデータ反転できるよう
な電流駆動力の小さいインバータとするようにす
る。これにより、前述したようにタイミングコン
トロールが難しくて動作 −ジンの少ないセンス
アンプ等のゲートアレイユーザにとつて理解し難
い回路を用いることなく、メモリ回路としての安
定した読み出しおよび書き込み動作を実現するこ
とができるようになる。
このように、この発明にかかるLSIによれば、
上記メモリ専用領域のレジスタとして使用した際
のデータ処理能率が大幅に向上されるとともに、
この論理設計に際しての煩わしさも良好に解消さ
れることとなり、ひいては同LSI全体としてのデ
ータ処理能力および汎用性も一段と高められるこ
ととなる。
上記メモリ専用領域のレジスタとして使用した際
のデータ処理能率が大幅に向上されるとともに、
この論理設計に際しての煩わしさも良好に解消さ
れることとなり、ひいては同LSI全体としてのデ
ータ処理能力および汎用性も一段と高められるこ
ととなる。
第3図に、この発明にかかるLSIの一実施例を
示す。ただし、ここでもこの発明の主要部となる
メモリ専用セルについてのみその回路構成を示
し、他の部分については図示を割 している。
示す。ただし、ここでもこの発明の主要部となる
メモリ専用セルについてのみその回路構成を示
し、他の部分については図示を割 している。
さてこのメモリ回路において、インバータ3−
1および3−2は前記同様フリツプフロツプを構
成するインバータであつて、その入出力端子は互
いに同第3図に示す態様で接続されている。ただ
しこれらインバータのうち、インバータ3−1は
電流駆動力の十分大きなインバータであり、逆に
インバータ3−2は下述するゲート3−3を通つ
て流れる電流によつて簡単に該フリツプフロツプ
が反転できる程度に電流駆動力の小さいインバー
タである。また、ゲート3−3は上記フリツプフ
ロツプと書き込みデータ入力線3−9とを接続す
る伝送ゲート、ゲート3−4は上記フリツプフロ
ツプと第1の読み出しデータ出力線3−10とを
接続する伝送ゲート、そしてゲート3−5は上記
フリツプフロツプと第2の読み出しデータ出力線
3−11とを接続する伝送ゲートであつて、これ
らはそれぞれ図示しないアドレスデコーダから3
つのワード線3−6および3−7および3−8に
各別に伝送されるワード信号(同メモリ回路のア
クセス信号)に基づいて各別に開閉のコントロー
ルがなされるようになつている。なお、同図にお
けるドライバ3−12は、データの書き込み時に
該書き込みデータを上記書き込みデータ入力線3
−9に出力する書き込みドライバである。
1および3−2は前記同様フリツプフロツプを構
成するインバータであつて、その入出力端子は互
いに同第3図に示す態様で接続されている。ただ
しこれらインバータのうち、インバータ3−1は
電流駆動力の十分大きなインバータであり、逆に
インバータ3−2は下述するゲート3−3を通つ
て流れる電流によつて簡単に該フリツプフロツプ
が反転できる程度に電流駆動力の小さいインバー
タである。また、ゲート3−3は上記フリツプフ
ロツプと書き込みデータ入力線3−9とを接続す
る伝送ゲート、ゲート3−4は上記フリツプフロ
ツプと第1の読み出しデータ出力線3−10とを
接続する伝送ゲート、そしてゲート3−5は上記
フリツプフロツプと第2の読み出しデータ出力線
3−11とを接続する伝送ゲートであつて、これ
らはそれぞれ図示しないアドレスデコーダから3
つのワード線3−6および3−7および3−8に
各別に伝送されるワード信号(同メモリ回路のア
クセス信号)に基づいて各別に開閉のコントロー
ルがなされるようになつている。なお、同図にお
けるドライバ3−12は、データの書き込み時に
該書き込みデータを上記書き込みデータ入力線3
−9に出力する書き込みドライバである。
したがつてこのメモリ回路の駆動に際し、上記
ワード線3−6にワード信号が伝送されてこの線
レベルが論理〓H″になると、書き込み用の伝送
ゲート3−3が開いて書き込みデータ入力線3−
9にセツトされたデータが上記フリツプフロツプ
に取り込まれ、また上記ワード線3−7あるいは
3−8にワード信号が伝送されてこれらの線レベ
ルが論理〓H″になると、上記伝送ゲート3−
4、3−5が開いて上記フリツプフロツプに記憶
されたデータが読み出しデータ出力線3−10,
3−11に出力されることになる。なお、上述し
たように、フリツプフロツプを構成するインバー
タ3−1は十分大きな電流駆動力をもつており、
この出力ノードが上記読み出しデータ出力線3−
10および3−11のいずれか一方、または両方
と導通されたとしても、これらビツト線容量の和
と該インバータ3−1の出力ノードの容量とのチ
ヤージシエアによつて起る該インバータ3−1の
出力ノード変化は十分に小さく、この読み出しデ
ータのレベルが他方のインバータ3−2のスレシ
ユホールド電圧を超えることはない。
ワード線3−6にワード信号が伝送されてこの線
レベルが論理〓H″になると、書き込み用の伝送
ゲート3−3が開いて書き込みデータ入力線3−
9にセツトされたデータが上記フリツプフロツプ
に取り込まれ、また上記ワード線3−7あるいは
3−8にワード信号が伝送されてこれらの線レベ
ルが論理〓H″になると、上記伝送ゲート3−
4、3−5が開いて上記フリツプフロツプに記憶
されたデータが読み出しデータ出力線3−10,
3−11に出力されることになる。なお、上述し
たように、フリツプフロツプを構成するインバー
タ3−1は十分大きな電流駆動力をもつており、
この出力ノードが上記読み出しデータ出力線3−
10および3−11のいずれか一方、または両方
と導通されたとしても、これらビツト線容量の和
と該インバータ3−1の出力ノードの容量とのチ
ヤージシエアによつて起る該インバータ3−1の
出力ノード変化は十分に小さく、この読み出しデ
ータのレベルが他方のインバータ3−2のスレシ
ユホールド電圧を超えることはない。
このように、このメモリ回路によれば、1つの
書き込みデータ入力線3−9と2つの読み出しデ
ータ出力線3−10および3−11との合計3つ
のビツト線を全く独立して動作させることができ
る。すなわち、このメモリ回路は同時アクセスの
可能な3ポートメモリとなつている。
書き込みデータ入力線3−9と2つの読み出しデ
ータ出力線3−10および3−11との合計3つ
のビツト線を全く独立して動作させることができ
る。すなわち、このメモリ回路は同時アクセスの
可能な3ポートメモリとなつている。
次に、上述したメモリ専用セルを用いてレジス
タ群を構成した場合のデータ処理態様を第4図を
参照して説明する。
タ群を構成した場合のデータ処理態様を第4図を
参照して説明する。
第4図は、先の第2図に示した従来のメモリ専
用セルによつてレジスタ群を構成した場合のデー
タ処理態様に対比させて同実施例によるデータ処
理態様を示した機能ブロツク図であり、この第4
図において、4−1は第3図に示したような回路
構成を有するメモリ専用セルを使用したレジスタ
群を、また4−2は前記同様演算Zを実行する演
算回路をそれぞれ示す。
用セルによつてレジスタ群を構成した場合のデー
タ処理態様に対比させて同実施例によるデータ処
理態様を示した機能ブロツク図であり、この第4
図において、4−1は第3図に示したような回路
構成を有するメモリ専用セルを使用したレジスタ
群を、また4−2は前記同様演算Zを実行する演
算回路をそれぞれ示す。
さて、このレジスタ群4−1を構成するメモリ
専用セルは、上述したように3ポートメモリとな
つていて、すべての書き込みおよび読み出し動作
を1クロツク内で行なうことができることから、
同レジスタ群4−1を用いれば、前述したような
「アドレスAの内容とアドレスBの内容とに演算
Zを施してこの結果をアドレスCに格納する」と
いつた処理も、わずか1クロツク内で実行するこ
とができるようになる。すなわち、 Γ レジスタ群4−1のアドレスAおよびアドレ
スBの内容を同時に読み出し、これに演算Zを
施して同レジスタ群4−1のアドレスCに書き
込む。
専用セルは、上述したように3ポートメモリとな
つていて、すべての書き込みおよび読み出し動作
を1クロツク内で行なうことができることから、
同レジスタ群4−1を用いれば、前述したような
「アドレスAの内容とアドレスBの内容とに演算
Zを施してこの結果をアドレスCに格納する」と
いつた処理も、わずか1クロツク内で実行するこ
とができるようになる。すなわち、 Γ レジスタ群4−1のアドレスAおよびアドレ
スBの内容を同時に読み出し、これに演算Zを
施して同レジスタ群4−1のアドレスCに書き
込む。
(アドレスCの内容)←(アドレスAの内
容)(アドレスBの内容) といつた1クロツク内の一括した処理が可能とな
る。第1図および第2図に示した従来のものに比
べて同処理速度が3倍に高速化されたことにな
る。
容)(アドレスBの内容) といつた1クロツク内の一括した処理が可能とな
る。第1図および第2図に示した従来のものに比
べて同処理速度が3倍に高速化されたことにな
る。
なお、この実施例LSIはゲートアレイであるた
め、ユーザーによつては上記以外の使い方をする
場合もあり得る。そのような場合は、同LSIがマ
スタースライス方式であることを利用して、それ
ぞれに最適と思われる配線を行なえばよい。例え
ば、第3図に示したメモリ回路を1ポートメモリ
あるいは2ポートメモリとして用いることも勿論
可能である。また、この発明では3組のアドレス
デコーダしか想定していないため、4ポート以上
のメモリには不適であるが、現実に4ポート以上
のメモリを必要とする用途はほとんどなく、実用
上の支障はない。
め、ユーザーによつては上記以外の使い方をする
場合もあり得る。そのような場合は、同LSIがマ
スタースライス方式であることを利用して、それ
ぞれに最適と思われる配線を行なえばよい。例え
ば、第3図に示したメモリ回路を1ポートメモリ
あるいは2ポートメモリとして用いることも勿論
可能である。また、この発明では3組のアドレス
デコーダしか想定していないため、4ポート以上
のメモリには不適であるが、現実に4ポート以上
のメモリを必要とする用途はほとんどなく、実用
上の支障はない。
ところで、第3図に示した回路のように、セン
スアンプ等を用いずに、電流駆動力の大きく異な
る2つのインバータ3−1および3−2の組合せ
でフリツプフロツプを構成した場合、一見第1図
に示した従来のメモリ回路に比べてセル当りの面
積が大きくなり、ゲートアレイの有効使用面積の
効率を下げるかのようにみえるが、この発明の3
ポートメモリを実際に構成すると、各メモリ専用
セルの上をワード線3本とビツト線3本との少な
くとも6本の信号線および電源線に相当する線の
配線がなされることになることから、実際のセル
の占有面積は上記能動素子自身の大きさではなく
これら配線される線の最小線幅および最小線間隔
で決まることになり、従来LSIのセル構造であ
れ、この発明にかかるLSIのセル構造であれ、実
際にメモリ専用領域の占める面積は等しいものと
なる。
スアンプ等を用いずに、電流駆動力の大きく異な
る2つのインバータ3−1および3−2の組合せ
でフリツプフロツプを構成した場合、一見第1図
に示した従来のメモリ回路に比べてセル当りの面
積が大きくなり、ゲートアレイの有効使用面積の
効率を下げるかのようにみえるが、この発明の3
ポートメモリを実際に構成すると、各メモリ専用
セルの上をワード線3本とビツト線3本との少な
くとも6本の信号線および電源線に相当する線の
配線がなされることになることから、実際のセル
の占有面積は上記能動素子自身の大きさではなく
これら配線される線の最小線幅および最小線間隔
で決まることになり、従来LSIのセル構造であ
れ、この発明にかかるLSIのセル構造であれ、実
際にメモリ専用領域の占める面積は等しいものと
なる。
また、メモリ専用セルを第3図に示したような
構成とすることで実用上は十分に安定したデータ
の書き込みおよび読み出し動作を実現することは
できるが、特に第5図に示すようなデータラツチ
を追加するようにすれば、例えばデータを書き込
んだセルから同時にデータを読み出そうとしたよ
うな場合でも、該読み出されるデータが書き込ま
れる以前のデータであるか、あるいは書き込まれ
た以後のデータであるかをより明確に識別できる
ようになる。
構成とすることで実用上は十分に安定したデータ
の書き込みおよび読み出し動作を実現することは
できるが、特に第5図に示すようなデータラツチ
を追加するようにすれば、例えばデータを書き込
んだセルから同時にデータを読み出そうとしたよ
うな場合でも、該読み出されるデータが書き込ま
れる以前のデータであるか、あるいは書き込まれ
た以後のデータであるかをより明確に識別できる
ようになる。
すなわち第5図に示すデータラツチにおいて、
5−1は入力端子、5−2は出力端子、5−3は
ラツチイネーブル端子、5−4はフリツプフロツ
プ、5−5は上記ラツチイネーブル端子5−3に
加えられる信号が論理“H”となつたとき開とな
る伝送ゲート、5−6は逆に上記ラツチイネーブ
ル端子5−3に加えられる信号が理“L”となつ
たとき開となる伝送ゲートであり、上記入力端子
5−1を第3図に示したメモリ回路の読み出しデ
ータ出力線3−10、3−11に接続して上記ラ
ツチイネーブル端子5−3に同メモリ回路の書き
込み用ワード信号の反転信号を加えるようにすれ
ば、当該セルへのデータ書き込み中は、たとえこ
の読み出しデータが変化しても、該書き込みデー
タが到来する以前最後に読み出されていたデータ
が上記フリツプフロツプ5−4に保持されること
になる。勿論、このようなデータラツチを追加し
ても1クロツクで同時アクセス可能という同メモ
リ回路の条件は満たされている。
5−1は入力端子、5−2は出力端子、5−3は
ラツチイネーブル端子、5−4はフリツプフロツ
プ、5−5は上記ラツチイネーブル端子5−3に
加えられる信号が論理“H”となつたとき開とな
る伝送ゲート、5−6は逆に上記ラツチイネーブ
ル端子5−3に加えられる信号が理“L”となつ
たとき開となる伝送ゲートであり、上記入力端子
5−1を第3図に示したメモリ回路の読み出しデ
ータ出力線3−10、3−11に接続して上記ラ
ツチイネーブル端子5−3に同メモリ回路の書き
込み用ワード信号の反転信号を加えるようにすれ
ば、当該セルへのデータ書き込み中は、たとえこ
の読み出しデータが変化しても、該書き込みデー
タが到来する以前最後に読み出されていたデータ
が上記フリツプフロツプ5−4に保持されること
になる。勿論、このようなデータラツチを追加し
ても1クロツクで同時アクセス可能という同メモ
リ回路の条件は満たされている。
第1図は従来のLSIにおけるメモリ専用セルの
回路構成を示す回路図、第2図は第1図に示した
構成を有するメモリ専用セルでレジスタ群を構成
した場合のデータ処理態様例を示す機能ブロツク
図、第3図はこの発明にかかるLSIにおけるメモ
リ専用セルの回路構成例を示す回路図、第4図は
第3図に示した構成を有するメモリ専用セルでレ
ジスタ群を構成した場合のデータ処理態様例を示
す機能ブロツク図、第5図はこの発明にかかる
LSIのメモリ回路に接続して好適なデータラツチ
の一例を示す回路図である。 1−1,1−2,3−1,3−2……インバー
タ、1−3,1−4,3−3,3−4,3−5,
5−5,5−6,……伝送ゲート、1−5,3−
6,3−7,3−8……ワード線、1−6,1−
7,3−12……ドライバ、1−8……センスア
ンプ、1−9,3−9……書き込みデータ入力
線、1−10,3−10,3−11……読み出し
データ出力線、2−1,4−1……レジスタ群、
2−2,2−4……レジスタ、2−3,4−2…
…演算回路、5−4……フリツプフロツプ。
回路構成を示す回路図、第2図は第1図に示した
構成を有するメモリ専用セルでレジスタ群を構成
した場合のデータ処理態様例を示す機能ブロツク
図、第3図はこの発明にかかるLSIにおけるメモ
リ専用セルの回路構成例を示す回路図、第4図は
第3図に示した構成を有するメモリ専用セルでレ
ジスタ群を構成した場合のデータ処理態様例を示
す機能ブロツク図、第5図はこの発明にかかる
LSIのメモリ回路に接続して好適なデータラツチ
の一例を示す回路図である。 1−1,1−2,3−1,3−2……インバー
タ、1−3,1−4,3−3,3−4,3−5,
5−5,5−6,……伝送ゲート、1−5,3−
6,3−7,3−8……ワード線、1−6,1−
7,3−12……ドライバ、1−8……センスア
ンプ、1−9,3−9……書き込みデータ入力
線、1−10,3−10,3−11……読み出し
データ出力線、2−1,4−1……レジスタ群、
2−2,2−4……レジスタ、2−3,4−2…
…演算回路、5−4……フリツプフロツプ。
Claims (1)
- 1 1つの半導体チツプ内にマトリクス状に集積
形成された複数の基本セルとメモリ専用領域を構
成する複数のメモリ専用セルとを具え、これら各
セル間の配線態様に基づいてそれぞれ所望の論理
機能を実現するマスタースライス型の半導体集積
回路装置において、3つの各別のワード信号が伝
送される第1および第2および第3の3つのワー
ド線と、第1および第2の2つの読み出しデータ
出力線と、1つの書き込みデータ入力線と、電流
駆動力の大きい第1のインバータと、該第1のイ
ンバータより電流駆動力の十分小さいインバータ
であつて該第1のインバータと互いに入出力端子
を接続し合つてフリツプフロツプを構成する第2
のインバータと、前記第1のワード線に伝送され
るワード信号に基づいて前記第1の読み出しデー
タ出力線および前記第1のインバータの出力端子
間を導通する第1の伝送ゲートと、前記第2のワ
ード線に伝送されるワード信号に基づいて前記第
2の読み出しデータ出力線および前記第1のイン
バータの出力端子間を導通する第2の伝送ゲート
と、前記第3のワード線に伝送されるワード信号
に基づいて前記書き込みデータ入力線および前記
第2のインバータの出力端子間を導通する第3の
伝送ゲートとを具えて前記メモリ専用セルを構成
したことを特徴とする半導体集積回路装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58235475A JPS60127598A (ja) | 1983-12-14 | 1983-12-14 | 半導体集積回路装置 |
US06/681,485 US4667310A (en) | 1983-12-14 | 1984-12-13 | Large scale circuit device containing simultaneously accessible memory cells |
EP84308703A EP0145497B1 (en) | 1983-12-14 | 1984-12-13 | Semiconductor integrated circuit device |
DE8484308703T DE3485592D1 (de) | 1983-12-14 | 1984-12-13 | Integrierte halbleiterschaltungsanordnung. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58235475A JPS60127598A (ja) | 1983-12-14 | 1983-12-14 | 半導体集積回路装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60127598A JPS60127598A (ja) | 1985-07-08 |
JPH03715B2 true JPH03715B2 (ja) | 1991-01-08 |
Family
ID=16986618
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58235475A Granted JPS60127598A (ja) | 1983-12-14 | 1983-12-14 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4667310A (ja) |
EP (1) | EP0145497B1 (ja) |
JP (1) | JPS60127598A (ja) |
DE (1) | DE3485592D1 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60236187A (ja) * | 1984-05-08 | 1985-11-22 | Nec Corp | 多ポ−トレジスタセル |
FR2595859B1 (fr) * | 1986-03-14 | 1988-05-13 | Radiotechnique Compelec | Memoire avec tampon amplificateur |
JP2748562B2 (ja) * | 1988-07-13 | 1998-05-06 | セイコーエプソン株式会社 | 画像処理装置 |
US5422857A (en) * | 1989-11-21 | 1995-06-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor memory unit having overlapping addresses |
DE68922738T2 (de) * | 1989-12-23 | 1996-01-25 | Ibm | Hochintegrierter Halbleiterspeicher mit Mehrfachzugang. |
US5426610A (en) * | 1990-03-01 | 1995-06-20 | Texas Instruments Incorporated | Storage circuitry using sense amplifier with temporary pause for voltage supply isolation |
JPH0485788A (ja) * | 1990-07-27 | 1992-03-18 | Toshiba Corp | 多ポートキャッシュメモリ |
JPH04111297A (ja) * | 1990-08-30 | 1992-04-13 | Nippon Steel Corp | スタティック・ランダム・アクセス・メモリセル |
JPH05151778A (ja) * | 1991-06-05 | 1993-06-18 | Mitsubishi Electric Corp | スタテイツクランダムアクセスメモリおよびその制御方法 |
JPH052888A (ja) * | 1991-06-27 | 1993-01-08 | Kawasaki Steel Corp | ゲートアレイ用メモリセル回路 |
JP3153568B2 (ja) * | 1991-07-03 | 2001-04-09 | 株式会社東芝 | マルチポートram用メモリセル及びマルチポートram |
JP2667941B2 (ja) * | 1992-09-17 | 1997-10-27 | 三菱電機株式会社 | メモリセル回路 |
DE19737611C2 (de) | 1997-08-28 | 2002-09-26 | Infineon Technologies Ag | Fuse-Anordnung für Halbleiterspeichervorrichtung |
US6198305B1 (en) | 1998-03-24 | 2001-03-06 | Cypress Semiconductor Corp. | Reduced area product-term array |
US6055177A (en) * | 1998-06-26 | 2000-04-25 | Cypress Semiconductor Corp. | Memory cell |
US6675187B1 (en) * | 1999-06-10 | 2004-01-06 | Agere Systems Inc. | Pipelined linear array of processor elements for performing matrix computations |
JP3520283B2 (ja) | 2002-04-16 | 2004-04-19 | 沖電気工業株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP4279620B2 (ja) * | 2003-07-11 | 2009-06-17 | Okiセミコンダクタ株式会社 | レベルシフト回路 |
JP2007172813A (ja) * | 2005-11-25 | 2007-07-05 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体記憶装置及び半導体記憶装置の動作方法 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3493786A (en) * | 1967-05-02 | 1970-02-03 | Rca Corp | Unbalanced memory cell |
US3968480A (en) * | 1974-04-25 | 1976-07-06 | Honeywell Inc. | Memory cell |
JPS5825970B2 (ja) * | 1976-10-01 | 1983-05-31 | 三菱電機株式会社 | 液温検知装置 |
US4070657A (en) * | 1977-01-03 | 1978-01-24 | Honeywell Information Systems Inc. | Current mode simultaneous dual-read/single-write memory device |
JPS5578561A (en) * | 1978-12-08 | 1980-06-13 | Fujitsu Ltd | Master-slice lsi circuit device |
JPS57113482A (en) * | 1980-12-29 | 1982-07-14 | Seiko Epson Corp | Semiconductor storage device |
US4412143A (en) * | 1981-03-26 | 1983-10-25 | Ncr Corporation | MOS Sense amplifier |
JPS58199539A (ja) * | 1982-05-17 | 1983-11-19 | Hitachi Ltd | マスタ−スライス方式の半導体集積回路装置 |
JPS5960793A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-06 | Fujitsu Ltd | 半導体メモリ |
-
1983
- 1983-12-14 JP JP58235475A patent/JPS60127598A/ja active Granted
-
1984
- 1984-12-13 US US06/681,485 patent/US4667310A/en not_active Expired - Lifetime
- 1984-12-13 DE DE8484308703T patent/DE3485592D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1984-12-13 EP EP84308703A patent/EP0145497B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0145497A3 (en) | 1988-08-31 |
EP0145497B1 (en) | 1992-03-18 |
DE3485592D1 (de) | 1992-04-23 |
US4667310A (en) | 1987-05-19 |
EP0145497A2 (en) | 1985-06-19 |
JPS60127598A (ja) | 1985-07-08 |
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