JPH0366031A - 光情報処理装置 - Google Patents

光情報処理装置

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JPH0366031A
JPH0366031A JP1203069A JP20306989A JPH0366031A JP H0366031 A JPH0366031 A JP H0366031A JP 1203069 A JP1203069 A JP 1203069A JP 20306989 A JP20306989 A JP 20306989A JP H0366031 A JPH0366031 A JP H0366031A
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Tadashi Kato
正 加藤
Masayuki Usui
臼井 正幸
Yoshihiko Watanabe
渡辺 良彦
Hisatoshi Baba
久年 馬場
Hirotake Andou
浩武 安藤
Hideo Nakajima
英雄 中嶋
Shinji Sakai
堺 信二
Kenji Tamaki
賢二 玉木
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野] 本発明は、光ディスク等に情報を記録・再生する光情報
処理装置に関するものである。 [従来の技術] 近年、従来アナログで行なっていた信号処理をディジタ
ルで行なう「ディジタル信号処理法」が盛んとなってお
り、コンパクトディスク(CD)やディジタル・オーデ
ィオ・テープ(DAT) 、通信回線などの広い分野で
実用化されている。これは、「ディジタル信号処理法」
が、複雑な信号処理アルゴリズムをソフトウェアで実現
できるので、ハードウェアの簡略化とシステムの低廉化
がはかれること、フィルタ定数やアルゴリズムの選択な
ど仕様の変更にフレキシブルに対応できること、などの
メリットをもっためである。それに加えて、IC技術の
進歩により、高速の演算処理速度をもつディジタル信号
処理用のIC,DSP (ディジタル・シグナル・プロ
セサ)が低価格で入手できるようになったからである。 一方、光ディスク等の光情報処理装置は、再生専用型の
CDから追記型(DRAW)を経て、書き換え可能型の
光磁気ディスクまで、高密度大容量メモリとして急速な
進歩を遂げている。特に、光磁気ディスクは、コンピュ
ータの外部メモリとして、前述の高密度大容量に加え、
高信頼性、高速アクセス等が必要とされている。 このため、電気サーボ系も、多種のセンサからの出力を
複雑に組み合わせた制御が必要となってきている。従来
の光磁気ディスク装置の一例を、第16図を用いて説明
する。 第16図において、半導体レーザ1から出射された光束
は、コリメータレンズ2により平行光束とされ、ビーム
整形機能付偏光ビームスプリッタ3でほぼ円形の断面を
もつ光束とされる。平行光束は、プリズム4で反射され
、対物レンズ5に入射する。対物レンズ5は、アクチュ
エータ(図示しない)により、フォーカス方向6、及び
トラッキング方向7に可動であり、ディスク9上に微小
な光スポットを集光する。ディスク9は、光磁気記録層
が成膜されており、矢印10の方向がトラック方向で、
矢印11がディスクの回転中心である。なお、プリズム
4、対物レンズ5、アクチュエータ等は、キャリジ13
に固定されており、リニアモータ(図示しない)等を用
いて、ディスク9の半径方向に移動する。 ディスク9からの反射光は、再び対物レンズ5で平行光
束とされ、プリズム4で折り曲げられて、偏光ビームス
プリッタ3に向かう。偏光ビームスプリッタ−3で、検
出光学系方向に反射された光束は、集光レンズ15を経
てビームスプリッタ16でサーボセンサー18方向に反
射される光束と、RFセンサー19.20方向に透過さ
れる光束に分割される。 集光レンズ15には、例えば非点収差を発生する素子が
含まれていて、光束はサーボセンサ18上に集光される
。サーボセンサ18は、4分割センサ18−1−18−
4からなる。そして、ディスク9上で光スポットが所定
のトラック上にフォーカスしていることを歓察しながら
、3軸方向にこのサーボセンサ18を位置決めし、4つ
のセンサから等しい出力が発生するように調整されてい
る。 ビームスプリッタ16を透過した光束は、偏光ビームス
プリッタ17で2分割され、ラジオ・フレキュエンシー
(RF)センサ19、RFセンサ20に各々集光される
。半導体レーザ1、コリメータレンズ2及びRFセンサ
等は、全てヘッド固定部14に固定されている。 第16図の光デイスク装置の例は、キャリジ13とヘッ
ド固定部14に分離されたいわゆる分離光学系であり、
高速アクセスを可能としている。 従来の光磁気ディスク装置のアクチュエータ部を、第1
7図を用いて説明する。 第17図において、5は対物レンズであり、ボビン21
に固定されている。22.23は各々トラッキング用コ
イル、フォーカス用コイルであり、ヨーク26に固定さ
れたトラッキング用マグネット24、フォーカス用マグ
ネット25と協同して、ボビン21をトラッキング方向
7、フォーカス方向6に駆動する。27は、ボビン21
の支持軸であり、28は、ボビンの最下端を決めるため
のアンダー・リミッタである。29は、対物レンズ5の
カウンタウェイトでボビンに固定されている。 30は、発光ダイオードであり、31は、この発光ダイ
オード30用のフレキである。発光ダイオード30から
出射された光束は、スリット32を通過して整形され、
2分割センサ34上に光束33として投影される0発光
ダイオード30は、21に固定されていて、アクチュエ
ータがトラッキング方向にずれた場合には、光束33の
2分割センサの各々の受光面34−1.34−2に入射
する光量が変化するので、これらの出力を演算すれば、
対物レンズ5の位置を検出することができる。35は、
2分割センサ34用のフレキである。 従来の光磁気ディスク装置のりニアモータ部を、第18
図を用いて説明する。 第18図において、5は対物レンズ、21はボビン、2
4はマグネット、26はヨーク、27はボビン支持軸で
あり、これらがアクチュエータとしてキャリジ13に固
定されている。 キャリジ13は、ベアリング37−1.37−2等でレ
ール36−1.36−2に支持されており、ディスク半
径方向12に可動である。リニアモータ部は、コイル3
8、ヨーク39、マグネット40−1.40−2などか
らなり、キャリジ13をディスク半径方向に駆動する。 この例では、リニアモータをキャリジの両側につけ、高
速アクセスを可能としている。41は、ディスクを回転
させるためのスピンドルモータである。 第16図〜第18図にて説明してきた光磁気ディスク装
置のサーボ系について、第19図を用いて説明する。 サーボセンサ18は、対物レンズ5が半導体レーザlか
らの光束の中心にあり、かつ、光束が対物レンズ5によ
りディスク9のトラック上に1ミクロン程度の微小なス
ポットとして集光された場合、4つのセンサ18−1〜
18−4から各々等しい出力が発生するように調整され
ている。この例では、フォーカス誤差検出方式に非点収
差法を用いているので、18−1〜18−4の各センサ
からの出力を各々SI〜S4とすると、ディスクとスポ
ットのフォーカスずれに応じて、対角和の出力の差が観
測され、以下のフォーカスエラー信号S arが得られ
る。 5Ar=  (S+  +Sx  )−(Sx  +S
4  )例えば、光スポットがディスク上に合焦では上
記出力はO、ディスクが近い場合には負、遠い場合には
正の出力を得る。 また、トラッキング誤差検出方式には、ブツシュ・プル
法を用いている。ブツシュ・プル法は、ディスクの案内
みぞからの回折光のバランスをファー・フィールドで観
測する方法であり、ディスク上の所定のトラックと光ス
ポットのラジアル方向の位置ずれに応じて、回折光の分
布にアンバランスが生じ、センサ18のタンジエンシャ
ル方向の分割線で分割されたセンサの出力の差が観測さ
れ、以下のトラッキングエラー信号Satが得られる。 5AT=  (Ss  +S3  )    (Sl 
 +S−)例えば、光スポットがトラック上にあれば上
記出力はO、ディスク内周方向にずれた場合は負、ディ
スク外周方向にずれた場合は正の出力を得る。 ブツシュ・プル法では、対物レンズ5がマルチ・トラッ
ク・ジャンプ等でラジアル方向(トラッキング方向)に
大きくずれると、サーボセンサ18上に集光された光束
がラジアル方向に移動するので、前述したトラックずれ
に応じた回折光の分布のアンバランス以外に、オート・
トラッキング(以下、ATと記す)出力にオフセットが
生じてしまう、高速アクセスを行なうためには、対物レ
ンズをlOO〜150)ラック程度、半導体レーザlか
らの光束の中心より移動させて使用できると有利である
。このオフセットは、はぼ対物レンズの光束中心からの
ずれ量に比例するので、対物レンズ位置が検出できれば
、容易に補正しつる。 そこで、この例では、第17図で説明したよつな対物レ
ンズ位置検出手段(以後レンズ位置センサと呼ぶ)を設
けている。ラジアル方向に並べられた2つのセンサ34
−l、34−2からの出力を、各々S LPI * S
 LP□として、対物レンズが光束中心にある場合に以
下のレンズ位置(以下、LPと記す)出力SLPがOと
なるように調整される。 S LP= S L、PI −S Lpx例えば、対物
レンズ5が、光束中心にあれば上記出力はO、ディスク
内周方向にずれた場合には正、ディスク外周方向にずれ
た場合には負の出力を得る。 また、レンズ位置センサ出力は、キャリジ13と対物レ
ンズ5の位置ずれを表わすので、これを用いてリニアモ
ータを駆動すれば、常に対物レンズ位置を光束の中心に
保つことができる。 以上、サーボセンサ等について述べてきたが、これらは
メカ的に完全に位置合せなすることは不可能なので、従
来のアナログ的なサーボ信号処理を行なう場合には、メ
カ調整後にセンサ出力に調整ボリウム(図示しない)等
を設けて、電気的な調整を行なうのが普通である。 次に、サーボ信号処理について簡単に説明する。 サーボセンサ18からの出力S、〜S4は、プリアンプ
43で増幅されたあと、演算回路44でAT、オート・
フォーカス(以下、AFと記す)出力として前述のよう
に取り出される。レンズ位置センサ34からの出力S 
LPI、S LPIは、プリアンプ45で増幅されたあ
と演算回路46でレンズ位置出力として取り出される。 このうち、AT出力とLP出力は加算回路47で加算さ
れ、対物レンズ位置がずれてもトラッキング誤差信号に
オフセットが発生しないように補正される(補正後AT
出力)、AF出力、補正後AT出力、L、P出力は、各
々サーボ信号処理回路48に取り込まれ、適当なタイミ
ングでAFドライバ49、ATドライバ50゜リニアモ
ータドライバ51に出力される。各ドライバからは、駆
動信号が各々AFコイル23、ATコイル22、リニア
モータコイル38に出力され、フォーカス制御、トラッ
キング制御が行なわれる。 次に、第20図を用いて、RF系について説明する。 第20図において、19.20は、各々前述のRFセン
サ、RFセンサである。52.53は、各々RFセンサ
19.20からの出力を増幅するプリアンプである。5
4.55は、おのおのRFセンサ19.20の出力な差
動、加算するアンプである。光磁気信号出力56は、光
磁気効果による光束の偏光面の回転が偏光ビームスプリ
ッタ17で検光されて、RFセンサ19.20の出力の
差として検出される。また、セクター・マークやアドレ
スなどのプリフォーマット信号57は、RFセンサA、
Bに入射する光量の−様な増減となるので、RFセンサ
19.20の出力の和として検出される。 第21図を用いて、従来の光磁気ディスクについて説明
する。 第21図において、11は、ディスク中心であり、らせ
ん状にトラック58及び案内みぞ(グループ)59が設
けられている。トラックは、セクターマークやアドレス
などのプリフォーマット信号がビット60の形で予め成
形されているヘッダ一部と、光磁気信号を光磁気ビット
61の形でユーザーが情報として記録するデータ部に分
けられている。 [発明が解決しようとする問題点] さて、以上説明してきた構成の光磁気ディスク装置では
、サーボセンサ等をメカ的に完全に位置合せすることは
不可能なので、メカ調整後にセンサ出力に調整ボリウム
等を設けて、いちいち電気的な調整を行なうため、コス
トダウンが困難であった。 また、前述のフォーカス、或はトラッキング誤差検出方
式は、ディスク上の光スポットの集光状態を直接に検出
するものではないので、サーボセンサとサーボセンサ上
の光スポットの相対位置、或は、半導体レーザの位置等
が、調整後に何らかの外力によって位置ずれした場合に
は、ディスク上の所定のトラックに光スポットが正しく
集光されなくなってしまう。これらの状態の変化は、温
度変化や輸送時の振動等により、しばしば起こりつるも
のでありサーボ精度を低下させる。或は、サーボセンサ
自体に位置ずれが生じなくても、温度変化により半導体
レーザの波長が変化し、ビーム整形機能付の偏光ビーム
スプリッタでの光束のふれ角が変化して、サーボセンサ
上での光スポツト位置が移動してしまう場合もある。 また、マルチ・トラック・ジャンプ等で、対物レンズを
ラジアル方向にずらした位置で使用する場合に生ずるA
Tオフセットは、ディスクの案内みぞの深さのばらつき
等によって変化するので、ディスク毎にオフセット値を
調整しなければトラッキング精度の低下を招く。 本発明は、上記問題点に鑑み為されたもので、複雑な調
整工程を不要とし、光学部品等の位置ずれを自動的に補
正する光情報処理装置を提供することを目的とする。ま
た、本発明は、ディジタル制御に好適であり、かつ、従
来のアナログ制御では困難であったコストダウンとサー
ボ精度向上を同時に達成できるものである。
【問題点を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明のサーボ系の自動調
整法を用いた光情報処理装置は、与えられた光記録媒体
に、情報の記録及び/又は再生を行なう場合に、フォー
カス制御手段及び、トラッキング制御手段の自動的な校
正を、その光ディスクにあらかじめフォーマットされた
信号を用いて行なう。 ディスク面ブレを補正するフォーカス制御手段は、光デ
イスク上に光スポットが、フォーカスするために最適な
オフセットを、フォーカスエラー信号に印加されるよう
校正され、かつ最適なサーボ安定性を得るため、フォー
カスゲインを校正される。比較的高周波で小さなディス
ク偏心を補正する、第1のトラッキング制御手段は、光
ディスクの所定のトラック上を、正確に光スポットがト
ラッキングするた゛めに、最適なオフセットをトラッキ
ングエラー信号に印加されるよう校正され、かつ最適な
サーボ安定性を得るため、トラッキングゲインを校正さ
れる。さらに光スポットを集光する対物レンズが、光軸
よりトラッキング方向にずれた場合に、対物レンズの位
置を検出する手段の校正を、与えられたディスクのトラ
ック本数を、カウントすることにより行なう、また、対
物レンズが、光軸よりトラッキング方向にずれた場合に
生じるトラッキングエラーを補正するため、対物レンズ
位置とトラッキングエラー信号のオフセット値の関係の
校正を、与えられたディスクのトラック本数を、カウン
トすることにより行なう、そして低周波で大きなディス
ク偏心の補正、または、ディスク半径方向に対物レンズ
位置を移動させる、第2のトラッキング制御手段は、与
えられたディスクと対物レンズ位置の検知手段を用いて
、最適なサーボ安定性を得るようにゲインを校正される
。 本発明のサーボ系の自動調整装置を用いた光情報処理装
置は、光ディスクのローディング検知手段を備え、新た
にディスクがローディングされるたびに、上記のごとく
校正を行なう。また、本発明のサーボの自動調整法を用
いた光情報処理装置は、温度検知手段を備え、所定値以
上の温度変化が起こり、サーボ精度に疑義を生じた場合
には、既に与えられている光ディスクを、上記のごとく
用いて、新たに校正を行なう。以上は、ディジタル処理
回路を用いて、簡便に行なうことができる。 [実施例] 第1図は、本発明の光情報処理装置に用いる制御回路の
一実施例を示すブロック図である。 ここで、サーボセンサ18、プリアンプ43、演算回路
44、は図示のように接続され、入力切換回路62、ア
ナログ/ディジタルA/D)変換器63を経てディジタ
ル信号処理回路48に接続される。演算回路44はトラ
ックカウント回路64にも接続されている。この出力は
ディジタル信号処理回路48に接続されている。レンズ
位置センサ34はプリアンプ45を介して入力切換回路
62に接続されている。ホームポジションセンサ65の
出力はディジタル信号処理回路48に接続され、また、
中央処理装置(CPU)66はディジタル信号処理回路
48および外部インターフェイス回路67に双方向接続
されている。ディスクを回転させるためのスピンドルモ
ーター42はモータードライバー68を介してディジタ
ル信号処理回路48に接続されている。二個のRFセン
サ19.20はプリアンプ52.53を介してRF信号
処理回路69に接続され、この出力は一つは検波回路7
0を介して入力切換回路62に接続され、もう一つはデ
ィジタル信号処理回路48へ入力される。各種データを
保管するメモリ71はディジタル信号処理回路48に接
続されている。ディジタル信号処理回路48からはD/
A変換器72、出力切換回路73を介して4つのサンプ
ルホールド(S/H)回路74.75.76.77、さ
らにドライバ78.49.50.51を介してそれぞれ
レーザーダイオードl、フォーカスコイル(AFコイル
)23、トラッキングコイル(ATコイル)22、リニ
アモーターコイル38に接続されている。レーザーダイ
オードの出射光をモニタするモニタフォトダイオード7
9はプリアンプ80を介して入力切換回路62に接続さ
れてる。また、機内の温度を検出する温度センサ81は
入力切換回路62に接続されている。 次に、第1図図示の回路の基本動作について説明する。 サーボセンサ18に入射した光束はプリアンプ43で電
圧信号に変換されたあと演算回路44にてフォーカスエ
ラー信号、トラッキングエラー信号、フォーカストラッ
キング和信号に演算処理される。これらの信号は人力切
換回路62で一つを選択されたあとA/D変換器63で
ディジタル信号に変換されディジタル信号処理回路48
に入力される。ディジタル信号処理回路48は、トラッ
キングエラーレベル、フォーカスエラーレベルが零とな
るようにATコイル、AFコイルを制御すべくディジタ
ルコントロール値をD/A変換器72へ出力する。 アナログ化されたコントロール信号は、出力切換回路7
3で選択され、S/H回路75.76でそれぞれホール
ドされたあとドライブ回路49.50に出力される。ド
ライバーはそれぞれAFコイル23、ATコイル22を
ドライブする。 一方、光磁気信号の読み書きにはディスクへレーザー光
を照射することが必要であるが、ディジタル信号処理回
路48はレーザー光コントロール値をD/A変換器72
に出力する。アナログ化された信号は、出力切換器73
で選択されたあとS/H回路74を通り、レーザードラ
イバ78に入力される。レーザードライバは読み書きに
必要な光量が得られるようにレーザーダイオードlを制
御する。レーザーダイオードにはその出射光をモニタす
るモニタフォトダイオード79が取付けてありその出力
はプリアンプ80を介して入力切換回路62に入力され
る。モニタフォトダイオード79で光量をモニタするこ
とによりディジタル信号処理回路48は正確にレーザー
出射光量を制御できる。 ディジタル信号処理回路48からレーザードライバ78
へ直接接続されている信号線は、書き込み時の高速レー
ザーON10 F F信号線である。    ( レンズ位置センサ34は二分割フォトダイオードで構成
されており、レンズ位置センサ用発光ダイオード(LE
D)30によって照射されでいる。対物レンズ位置の変
化によりフォトダイオードの出力には変化が生じるが、
この出力はプリアンプ45で増幅された後、入力切換回
路62に入力され、A/D変換器63を通りディジタル
信号処理回路48に入力される。 外周側にあるホームポジションにアクチ、ユエータが移
動したことを検出するホームポジションセンサ65の出
力はディジタル信号処理回路48に入力されている。 本発明における全体的なシーケンス動作を管理するCP
U66はディジタル信号処理回路48に接続され、その
動作をコントロールするとともに、外部インターフェイ
ス回路67に接続され、外部機器とのデータのやりとり
を管理している・。 メモリ71はディジタル信号処理回路48またはそれを
介してCPU66から送られる各種データの保管を行な
う。 スピンドルモータ42はモータードライバ68によって
回転を制御されるが、そのスタート及びストップはCP
U66からディジタル信号処理回路48を介して制御さ
れる。 リニアモーターコイル38は、ディジタル信号処理回路
48からの速度指令によりドライバ51を介して駆動さ
れる。リニアモーターが起動すると、演算回路44のト
ラッキングエラー信号はトラック横断信号となって現れ
る。リニアモーター移動中のトラッキング信号をトラッ
クカウント回路64でカウントすることにより移動トラ
ック数を検出できる。ディジタル信号処理回路48は目
標トラック数と現在トラック数とから目標移動速度等を
算出する。 2個のRFセンサ19.20は光磁気信号およびプリフ
ォーマット信号を電気信号に変換する。この信号はプリ
アンプ52.53で増幅されたあとRF信号処理回路6
9にて差動検出、同相検出およびピーク検知処理をなさ
れる。この出力はディジタルデータとしてディジクル信
号処理回路48を経由し、CPU66で処理後外部イン
ターフェイス回路67を通り外部機器へディジタル情報
として出力される。一方、RF信号処理された信号はア
ナログ信号のまま検波回路70によってエンベロープを
検出され、その大きさレベルの信号として入力切換回路
62、A/D変換器63を経由してディジタル信号処理
回路48に入力される。これはRF信号レベルの大きさ
を判断してフォーカス、トラッキングが正しく動作して
いるか否かの検出をする時に使用される。 第2図に、本発明の装置における、サーボ系の自動調整
の手順を示す。 まず、最初に対物レンズを半導体レーザからの光束の中
心に置き、AFサーボのみをかけてトラッキングエラー
信号のオフセット値を計測し、これを補正する。(ステ
ップl)この時に補正されるオフセットとしては、サー
ボセンサ等の調整時の位置合わせ誤差、調整後の位置ず
れ、ディスクのそり等があげられる。 次に、対物レンズ位置センサの校正と対物レンズが光束
の中心からずれた場合のトラッキングエラー信号のオフ
セット補正を行なう、(ステップ2)これら2つは、同
時に行うことも出来るし、個別に行なうことも出来る。 対物レンズ位置センサの校正は、ディスクのトラックの
本数をカウントして光束中心からの絶対的な対物レンズ
の位置を知り、それを用いて対物レンズ位置センサ出力
を校正するものである。これにより、対物レンズ位置セ
ンサのリニアリティが補正される。 対物レンズが光束の中心からずれた場合のトラッキング
エラー信号のオフセット補正は、ステップlで述べた原
因で生ずる対物レンズ位置とトラッキングエラー信号の
オフセット値のリニアリティを補正するためのものであ
り、同時にディスクによるの案内みぞの深さ等のばらつ
きによるオフセットの大小も補正する。 次に、フォーカスエラー信号のオフセット補正を行なう
。(ステップ3)これは、ステップ2の工程と入れ替え
て行なっても良い、AF、ATサーボをかけて、ディス
クにあらかじめフォーマットされた信号(セクターマー
クやアドレス信号など)の再生振幅が最大となるように
オフセット値を定める。これにより、サーボセンサ等の
調整時の位置合わせ誤差、調整後の位置ずれ、ディスク
基板の厚み、屈折率のばらつき、ディスクの案内みぞの
ばらつきなどに起因するAFオフセットを補正すること
ができる。 次に、AFゲイン調整を行なう。(ステップ4)AF%
ATサーボをかけ、ディジタル信号処理回路から適当な
フォーカスの外乱を加えてやり、それに対する応答を計
測して所定の適当なゲインに調整する。アクチュエータ
の初期および経時後のばらつきやディスクのばらつきな
どを同時に補正できる。 ステップ4と同様にして、ATゲインの調整を行う。(
ステップ5) 次に、リニアモータのゲイン調整を行なう。 (ステップ6)所定のトラックにAF、ATサーボをか
け、ディジタル信号処理回路より適当な外乱をリニアモ
ータに加えてやり、リニアモータの応答を、ステップ2
で校正された対物レンズ位置センサ出力を用いて行なう
。リニアモータの初期および経時後のばらつきを補正す
ることができる。 最後に、レーザパワーモニタのりニアリティの補正を、
半導体レーザ内に組み込まれているモニタ・フォト・ダ
イオードについて行なう。 (ステップ7)光磁気ディスク装置では、データ再生時
と消去および書き込み時で、10倍程度レーザパワーを
変化させて使用するので、ディスクからの戻り光により
モニタのリニアリティが悪い。そこで、サーボセンサの
出力を用いて、これを補正してやればよい。これにより
、最適なレーザパワーでの記録/再生が可能となる。 以下、上記各ステップにおける補正方法に関し、詳細に
説明する。 まず、補正時にすでに記録されているデータを消さない
ようにするため、キャリッジをホームポジションへ移動
させる。ホームポジションへ移動したことはフォトイン
タラプタやメカニカルスイッチで構成されるホームポジ
ションセンサ65で検出される。次に対物レンズを半導
体レーザーからの光束の中心位置(以後、レンズ基準位
置と記す)に持ってい(、方法としては、フォーカスア
クチュエータを最下点まで下げた時にアクチュエータの
メカニカルビンが中点で嵌合するようにしてもよいし、
レンズ位置センサ34のプリアンプ45の出力が前記レ
ンズ基準位置であらかじめ決められた値になるように製
造時に調整を行なっておき、補正時にまずレンズ位置セ
ンサ出力が前記のあらかじめ決められた値になるように
レンズ位置を電気的に動かしてもよい。 この状態でフォーカス引き込み動作を行ない、フォーカ
スをおおむねフォーカスポイントになるようにする。次
に、以下の方法でトラック横断時のトラッキングエラー
信号を発生させる。その方法の1つとしては、レンズを
基準点に固定したままで、リニアモーターコイル38に
通電し、リニアモーターを振動させる方法がある。リニ
アモーターを正弦波的に振動させれば、対物レンズはト
ラックをクロスするように振動するので、演算回路44
からはトラッキングエラー信号((St +Ss )−
(St +s、))を得ることができる。第2の方法と
しては、リニアモーターは動かないようにホームポジシ
ョンに固定したままにして対物レンズを前記基準位置で
トラッキング方向に微小に振動させる方法を用いてもよ
い。このようにして、レンズ基準位置近傍でオフセット
を含んだトラッキングエラー信号を得ることができる。 第3図に示すように、トラッキングエラー信号はオフセ
ット分を有している。この信号は前述のように演算回路
44から出力されるトラッキング信号であるが、入力切
換回路62を経由して第3図に示すサンプリングパルス
でA/D変換され、ディジタル化された信号がディジタ
ル信号処理回路48に入力される。ディジタル信号処理
回路48ではディジタル化されたトラッキング信号から
波形のピーク値およびボトム値を求め、さらにこの値の
中点を求めることによって、それをオフセット値として
認識するようになっている。ピーク値、ボトム値をより
正確に求めるために、トラッキングエラー信号は数回分
以上取り込むことが望ましい。このようにして求めたオ
フセット値はメモリ71に格納されるが、補正完了後の
トラッキング動作においては演算回路44よりA/D変
換器63を経由して得られるオフセット補正前のディジ
タルトラッキングエラー信号からここで求めたトラッキ
ングオフセット値を引き算し、オフセット補正後のトラ
ッキングエラー信号をつくり、このオフセット補正後の
トラッキングエラー値を用いてトラッキングループの制
御を行なう。 レンズ  センサの レンズ位置センサ34の出力は第4図のごとく2個のセ
ンサ出力5LPlsSL□が対物レンズ位置ずれにたい
して互いに逆方向に変化する特性を有する。基本的には
、 (SL、、−SL、、)/ (SL□+SL、、)の演
算をおこなうことにより、センサ出力の温度変動等の同
相性の変動を除去し、対物レンズ位置を検出することが
できる。しかしながら、5LP1.5LP2は対物レン
ズ位置に対してリニアな変化はしていないため、以下の
方法によりセンサ出力と対物レンズ位置の関係を知る必
要がある。 (第1の方法) 対物レンズ位置を半導体レーザの光束の中心にしてフォ
ーカス、トラッキングともに引き込み状態としディスク
を回転させる。ディスクには偏心があるので、トラッキ
ングアクチュエータは偏心に追従してトラッキング方向
に揺れ、これにしたがって2個のレンズ位置センサ34
の出力SL□、SLp*も変動する。第5図に示すよう
に、この揺らいでいるS LPI 、S Lptをディ
スクの回転に同期している回転同期サンプリングパルス
でサンプルし、A/D変換器63でディジタル化しディ
ジタル信号処理回路48を経由し、メモリ71に一回転
中の偏心データを格納する。このデータは以下に述べる
対物レンズ位置のデータとりにて偏心成分の除去に使用
する。 次にトラッキングサーボループをオーブンにして、トラ
ッキングアクチュエータを対物レンズ可動範囲(例えば
、±250250ミフロン=±1フ0トラツクトラック
ジャンプさせ、その最中にレンズ位置センサ出力S L
PI、S LPIと対物レンズ位置変位の関係のデータ
とりを行なう、対物レンズ位置を一170トラックから
+170トラツクまで移動させながら、10トラツクお
きにSL□、LP2の出力をサンプリングし、A/D変
換を行なう@5LPI、SLP、の出力は第6図に示す
ように偏心の影響を受は揺らいでいる。ここで前述の偏
心データを利用して偏心針をさし引き偏心除去したデー
タをメモリ71に格納する。 (第2の方法) 第1の方法では、対物レンズ位置を一170トラックか
ら+170トラツクまで連続的に移動させ移動中にデー
タどりを行なったが、本方法ではたとえば数lOトラッ
ク分ずつジャンプしトラッキングループを閉じデータと
りを行なう。まず対物レンズ位置を光学的中心点にもっ
てきてトラッキングループをオンするまでは第1の方法
と同一であるが、第2の方法においては偏心データとり
は実施しない。ここではディスク1回転ないし数回転の
間、対物レンズ位置出力SL□、SLp*を読み込み、
その間のSL□+5LPKの出力をデイタル信号処理回
路48にて平均値を求め偏心成分の除去された対物レン
ズ位置出力を得る。ここで第7図に示すように予め決め
られたトラック数だけトラックジャンプを実行し、移動
後の対物レンズ位置でトラッキングループを閉じ1回転
ないし数回転の間、対物レンズ位置出力を読み込み平均
値を求めそのポイントでの対物レンズ位置出力を得る。 このようにトラックジャンプとデータとり平均値算出を
くりかえし対物レンズ可動範囲全域における偏心成分の
除去された対物レンズ位置出力値がメモリ71に格納さ
れる。 (第3の方法) 第1、第2の方法では対物レンズ位置を連続的に動かし
またはトラックジャンプを行ないながらデータとりを行
なっていたが、本方式ではトレーシングを行ないデータ
どりをする。まず対物レンズ位置を内側へ170トラツ
クジヤンプさせトラッキングループを閉じる。ディスク
は内周から外周へスパイラル状の溝がきざんであるので
、この状態のままにしておくと対物レンズ位置は内周か
ら外周にむかってトレースする。ここではトレースしな
がら1回転ごとに対物レンズ位置出力のデータとりを行
なう、このようにすると、1回転ごとにデータどっが行
なわれるため偏心成分は捕捉されず、自動的に偏心成分
の除去されたデータどりが行なわれる。 上記第1〜第3のいずれかの方法にて、対物レンズ位置
とレンズ位置センサ出力の関係のデータとりが完了した
が実際にこのデータを使用する場合、対物レンズ位置出
力から対物レンズ位置を求めねばならない、一つの方法
としてメモリ71内に変換テーブルを持つ方法もあるが
、ここでは高速演算可能なディジタル信号処理回路(D
SP等)をもちいた数値演算方式について述べる。 基本的にはレンズ位置を5次式で近似する方法である。 位置=A−(X+B−X” +c−x’+D−X’ +
E−X’ ) ここで、Xは正規化された対物レンズ位置出力値、A、
B、C,D、E、は定数である。すなわも、 ここで、G、には定数である。Gは、前述の5LPI 
* 5Lptの値を代入したときに、Xの範囲が+−1
,0となるように選定する。A。 B、C,D、Eは5LpH5Lpaの値から位置の誤差
が最小となるよう、例えば、最小二乗法で決定すれば良
い、にはSL□、SL□の出力レベルの差を補正するた
めのものであるが、対物レンズがレンズ基準位置にある
ときに、S(、p 1 = S Lpmとなるように、
あらかじめ調整されていれば、に=1としてよい。 トラッキングエラーのオフセット量と対物レンズ位置変
位にはある程度リニアな関係があるためこの関係を用い
てトラッキングオフセットの補正をすることは十分可能
である。この場合オフセット補正はデジタル信号処理回
路内で実行される。 しかしながら、ここではより厳密にオフセット補正をす
る方法について述べる。前述の対物レンズ位置とレンズ
位置センサ出力の関係のデータをとる際に同時に対物レ
ンズが基準位置からラジアル方向にずれた場合のトラッ
キング信号を観測し、対物レンズ位置とトラッキングエ
ラー信号のオフセット量との関係を求めるのである。第
8図に示すようにトラッキングエラー信号にはトラック
横断時の信号が混入する。そこでトラッキングエラー信
号のピーク値とボトム値を読み取ったあとその中心値を
トラッキングエラー信号として算出する。この値は、メ
モリ71内に変換テーブルとして格納する方法もあるし
、レンズ位置センサの補正の説明で述べたよ・うな近似
式を求め、高速で演算可能なディジタル信号処理回路(
DSP等)を用いて数値演算する方法もある。 この場合のトラッキングエラー信号は偏心よりずっと高
域の信号であるからサンプリングパルスはトラッキング
エラー信号のピークとボトムを十分捕捉できるような高
い周波数であることが必要である。例えば偏心のみであ
れば偏心成分50Hzの10倍の約500Hzで可能で
あるが、トラック横断時の信号を読み取るためには、ト
ラック横断時のトラッキングエラー信号約1 kHzの
10倍10kHz位のサンプリングパルスが必要である
。 フォーカスエラー  のオフセット フォーカスエラー信号のオフセット補正では、第1の方
法として、ディスクにあらかじめフォーマットされた信
号(セクターマークやアドレス信号)の再生振幅が最大
となるようにオフセット値を定める方法がある。 まず、AF、ATサーボをかけ、強制的にフォーカスエ
ラー信号にオフセットを加えたときのプリフォーマット
部にある信号の振幅値をモニタする。これを、第9図を
用いて説明する。第9図において、横軸はAPオフセッ
ト量、縦軸は信号の振幅値である。初期のAFオフセッ
ト位置(第9図点P1)を中心として、プラス側に所定
のオフセット量を加えたとき(第9図点Ps)のプリフ
ォーマット信号の振幅が、第10図の(a)、マイナス
側にオフセット量を加えたとき(第9図点P2)のプリ
フォーマット信号の振幅が第10図の(b)に示す値で
あったとする。それぞれの振幅x、 yの2値をメモリ
ーしてこれらを比較した場合、x>yであるためプリフ
ォーマット信号振幅値の最大点、すなわちジャストフォ
ーカス点は現在の位置よりプラス側にあることになる。 次に、第9図において、点Psのプラス側に所定のオフ
セット値を加えた点を新たな中心点をP4とする。さら
に、点P4のプラス側に所定のオフセット値を加えた点
Psでのプリフォーマット信号の振幅値を新たにメモリ
し。 点Psでのプリフォーマット信号の振幅のメモリ値と比
較する0点P、での振幅値は点Psより大きいため、さ
らにプラス側にジャストフォーカス点があることになる
。このようにして、この動作を繰り返し、点P4と点P
sの間にジャストフォーカス点があることをサーチする
。 次に、所定のオフセット量を最初の1/2として検索の
範囲を狭めていき、点P4、点Psの中間の点Psを中
心として同じ動作を繰り返してジャストフォーカス点で
のオフセット量を追い込んでいく、そして、比較される
プリフォーマット信号振幅の差がなくなるまでこの動作
を続ける。これにより決まったフォーカスオフセット量
は記憶され、フォーカスエラー信号に常に印加され続け
る。なお、プリフォーマット信号は、微分回路(図示し
ない)を用いて微分した後の信号を用いたほうがジャス
トフォーカス点の検出感度が向上する。 プリフォーマット信号の振幅値の検出方法として、次の
様な方法がある。 a、RFセンサ19.20からの光電流を、プリアンプ
52.53で増幅し、その出力を直接モニターして、こ
の時のピーク値をホールドしてDC分を検出する方法。 b、RFセンサプリアンプ52.53からの出力を微分
回路(図示しない)で微分することにより信号のピーク
を知る手段としているが、この微分後の信号のp−p値
をモニターすることで検出する方法。 C1微分後の信号出力を片波整流もしくは両波整流を行
ない、このピーク値をモニタして検出する方法。 d、AFオフセット量の変動が、顕著に振幅値の変動に
表われるある種の帯域だけを抜き取るためのフィルター
を用い、このフィルターの出力をモニターする方法。 これらの振幅値の情報はすべてA/D変換して取り込ま
れ、デジタル信号処理回路48内で処理される。 第2の方法としては、ディスクのデータ部にある光磁気
信号情報を直接取り込みその振幅値をモニタする方法が
ある。その手順は、第一の方法と同じである。 または、フォーカスエラー信号に第11図(b)のよう
なオフセット量を変化させるための信号を加え、第11
図(a)のような光磁気信号の微分回路後の出力をモニ
タしてもよい。 このとき、光磁気信号の振幅値が最大となる所でのAF
オフセット印加信号の電圧値を読み取り(第11図(b
)では点Pにあたる)、この値をフォーカスエラー信号
に常に加えるごとにより、ジャストフォーカスとするこ
とができる。 オートフォーカスゲイン オートフォーカスゲイン調整の第1の方法について、第
12図を用いて説明する。第12図は、ディジタル信号
処理回路48内の処理手順の擬似ブロック図である。ま
ず、AF、ATサーボをかけ、対物レンズを基準位置と
し、1つのトラックに追従させるか、またはトラックト
レースの状態とする。第12図において、フォーカスエ
ラー値(前述の過程でオフセットを除去されている)、
和信号値は、各々A/D変換された後のディジタルデー
タであり、出力値、評価値もすべてディジタルデータで
ある。 ここで、オートフォーカスループゲインのOdB交さ周
波数と同じ周波数でエラーとならない程度の外乱値を与
える。その外乱値の振幅は、ディジタル信号処理回路内
でデータの増減により与えられ、その周期も(1/交さ
周波数)秒で与えることができる。外乱値印加後のBで
の振幅値データと、印加前のAでの振幅値データを除算
回路90で比較し、(B<A)または(B>A)の場合
は乗算回路91でのKの値を(A=B)となるような操
作を行ないゲイン調整を行なう。 第2の方法では、第13図においてディジタル信号処理
回路48をゲートアレイに限定した場合でも行なえる方
法で、発振器82より外乱を印加した後のBの振幅値と
、ゲートアレイ出力後のAの振幅値を比較し、A=Bと
なるようにゲイン調整を行う、この時、Bの代わりに出
力切換回路73後のCを用いてもかまわない。 また、Aでの読み値とBでの読み値は位相が異なり同じ
タイミングでは読み込めないので、外乱の1周期分をサ
ンプリングしてAとBそれぞれの振幅値を検出し、それ
らを比較するための比較器85とゲイン調整をゲートア
レイに行なわせるためのゲイン設定回路85を別途要す
る。 また、ゲートアレイ入力側において、A/D変換器63
後に外乱を印加し、その印加後の振幅値と入力切換回路
62後での振幅値を比較する事でもゲイン調整は行なえ
る。 オートトラッキングゲイン オートトラッキングゲイン調整は、オートフォーカスゲ
イン調整と同様に行なう。 1ニアモーターゲイン リニアモーターのゲイン調整は第1図に示すように、リ
ニアモーターコイル38にリニアモーターループゲイン
におけるOdB交さ周波数と同じ周波数の外乱を与え、
これにより発生するリニアモーターの変位をレンズ位置
センサの出力により検出して行なうものである。 (第1の方法) リニアモーターはホームポジションで固定されるようサ
ーボをかける0次に、対物レンズが基準位置となるよう
にしてフォーカス及びトラッキングサーボをかける。こ
こで、ディジタル信号処理回路48はディジタル外乱信
号を発生しD/A変換器72等を経由してリニアモータ
ーコイルに外乱を印加する。外乱によりリニアモーター
は振動するが、トラッキングサーボがかかっているため
、対物レンズはトラッキングを維持するよう、リニアモ
ーターの動きにあわせてディスク半径方向に振動する。 したがって、レンズ位置センサも振動に同期した出力を
発生する。リニアモーターオープンループゲインはリニ
アモーターのメカニカルな感度を除けば一定であるから
、ある一定の外乱振幅を加えた時にリニアモーターの変
位が所定の値(OdB交さ周波数で0dB)となるよう
に、演算ゲイン設定すれば良い、ディジタル信号処理回
路48はレンズ位置センサの出力値を読み込み、この振
幅値が所定の値となるようにリニアモーターサーボルー
プゲインを設定する。 (第2の方法) こめ方法は、第13図に示すようにディジタル信号処理
回路48の外に設けた発振器82より外乱を発生するも
のである。第1の方法と同様に、ホームポジションにて
フォーカス、トラッキング、リニアモーターの各サーボ
をかける、また対物レンズ位置は基準位置であり、外乱
周波数はOdB交さ周波数である。ここでは出力した外
乱信号をA/D変換器86で取り込み振幅値検出器92
でその振幅を検出しディジタル信号処理回路48で評価
する。リニアモーターの変位は、第1の方法と同様にレ
ンズ位置センサ出力を検出して行なう、一定の外乱振幅
を加えた時にリニアモーターの変位が所定の値(OdB
交さ周波数で0dB)となるように、ディジタル信号処
理回路48は、演算ゲインを決定する0本方法では、ア
ナログ発振器を用いているためディジタル信号処理回路
で発振波形を発生させる必要がないため、ソフトウェア
負担が少なくなるのみならず、容易に高い周波数まで発
生させることができる。 (第3の方法) この方法では、対物レンズを基準位置に固定し、トラッ
キングサーボをオーブンとして、リニアモーターに外乱
を加え振動させることにより、対物レンズをディスク半
径方向に振動させ、トラック横断時のトラッキングエラ
ー信号をカウントすることによって、リニアモーターの
変位量を検出する。ホームポジションにてフォーカス、
リニアモーターの各サーボをかけること、外乱周波数が
OdB交さ周波数であることは、第1の方法と同様であ
る。この場合、偏心成分をカウントすると、変位量の検
出に誤差を生じるので、あらかじめ、外乱をかけな゛い
状態で、偏心成分のみをカウントしておき、外乱をかけ
た状態でのカウント値から差し引くことが、必要である
。しかしながら、この方法では最大1トラック程度の誤
差が生じることがあるが、変位量を大きく設定しておけ
ば、問題ない量である。 レーザーパワーモニ の1ニアIテ 本発明におけるレーザーパワーのコントロールはモニタ
フォトダイオード79からの出力信号を検出することで
行なっているが、これのみではモニタがディスクからの
戻り光の影響をうけるためディスクに照射されるレーザ
ー光のパワーを完全な精度でコントロールすることはで
きない。 そこで、本発明では、ディスクからの反射光を用いてリ
ニアリティを補正する。ディスクからの反射光はサーボ
センサ18で受光され電流電圧変換後、演算回路44.
で和信号(S、+S* +Ss +S4 )に変換され
る。和信号はA/D変換後、デジタル信号処理回路48
に入力される、一方、モニタフォトダイオード79の出
力はプリアンプ80、A/D変換器63を経由してディ
ジタル信号処理回路48に入力される。第14図に示す
ように、ディジタル信号処理回路48は比較的モニタリ
ニアリティの良好な10mWのレーザー光を発光するよ
うにレーザードライバー78を制御する。この時、和信
号がIOVであったとすれば、レーザー出力は和信号/
1000(W)である、和信号出力が例えば0.IVず
つ下がるようにレーザー出力を下げながらモニタ出力と
の関係をデータどすすれば和信号出力をもとにしてモニ
タ出力を補正することができる。補正データはメモリ7
1に格納されており、このデータでモニタ出力を補正し
レーザーパワーを制御することによリ、正確なレーザー
照射が可能となる。 第15図に、本発明のサーボ系の自動調整法を実施する
ためのアルゴリズムについて示す。 本発明の自動調整は、光磁気ディスクがロードされ、光
磁気ディスク装置が立ち上げられる度に行なっても良い
し、使用中に装置内に設けた温度センサが所定値以上の
温度変化を示し、前述したような光学部品等の位置ずれ
が懸念されるたびごとに行なっても良い。 光磁気ディ
スクが新しくロードされる度に自動調整を行えば、サー
ボセンサ等の調整時の位置合わせ誤差や調整後に生じた
位置ずれを、その度に簡単に補正しつる。そればかりか
、ディスクの案内みぞのばらつきに起因する対物レンズ
をラジアル方向にずらした場合に生ずるATオフセット
のばらつきやAFゲイン、ATゲインのばらつきなども
すべて補正することができる。また、ディスク基板の厚
みや屈折率のばらつきに起因するAFオフセット、ディ
スク基板のそり等に起因するATオフセットなども同時
に補正することができる。 また、温度センサが所定値以上の温度変化を示す度に、
自動調整を行えば、温度変化に起因する光学部品の位置
ずれや、半導体レーザの波長変化によるサーボセンサ上
の光スポットの位置ずれ等を補正することができる。例
えば、第16図に示した光磁気ディスク装置において、
ビーム整形プリズム3のビーム整形比を2、ガラスをB
K7とすると、光束のふれ角は、波長がlnm変化する
当たりに3秒程度である。集光レンズ15の焦点距離を
40mmとすれば、サーボセンサ上での光スポットずれ
は、おおよそ、波長がlnm変化する当たりに0.6ミ
クロン程度となる。半導体レーザは、温度が1度変化す
る当たりに0.3nm波長が変化するので、30度の温
度変化では、光スポットのずれは、はぼ6ミクロンとな
りトラッキングサーボ精度に影響を与える。しかし、温
度変化が、5度ごとに自動調整を行えば、上記はほぼ問
題のない値に収まる。これにより、ビーム整形プリズム
に複数の種類のガラスを組み合わせた高価なものを使用
して色消プリズムとする必要がなくなる。 以上、サーボ系の自動調整について述べてきたが、本発
明は、実施例で述べたフォーカス誤差検出方式、トラッ
キング誤差検出方式、対物レンズ位置検出方式以外のも
のでも全く構わない。フォーカス誤差とトラッキング誤
差は、別個の検出器を用いても構わない。 また、前述の実施例では、媒体の反射光を検出するよう
に構成したが、媒体が透過型の場合には、その透過光を
検出することによって、制御手段の校正を行なうように
しても良い。 [発明の効果] 以上説明してきたように、本発明の装置のサーボ系の自
動調整は、ディジタル信号処理回路を用いたディジタル
制御に好適であり、これを用いれば、複雑な調整工程を
簡略化でき、コストダウンが可能である。また、調整後
に、多少光学部高専が位置ずれしても、これを補正して
サーボ精度の向上がはかれる。また、使用するディスク
ごとに自動調整を行えば、ディスクの製造誤差等を補正
することができるので、サーボ精度の向上とディスクの
コストダウンが可能である。さらに、装置内の温度変化
を検知して自動調整を行えば、サーボ精度の向上と光ヘ
ッドの構成部品のコストダウンが同時にできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光情報処理装置に用いる制御回路の一
実施例を示すブロック図、第2図は本発明の装置におけ
る自動調整の手順を示す流れ図、第3図は本発明で用い
るトラッキングエラー信号オフセット値の補正法を説明
するための図、第4図は本発明で用いる対物レンズ位置
センサの出力を示す図、第5図は対物レンズ位置センサ
を用いてディスクの偏心を検知する方法を説明するため
の図、第6図は本発明の対物レンズ位置センサの校正法
の第1の実施例を説明するための図、第7図は本発明の
対物レンズ位置センサの校正法の第2の実施例を説明す
るための図、第8図は本発明の対物レンズが基準位置か
らずれたときのトラッキングエラー信号のオフセット値
の校正法を説明するための図、第9図および第1O図は
夫々本発明のフォーカスエラー信号のオフセット補正の
第1の実施例を説明するための図、第11図は本発明の
フォーカスエラー信号のオフセット補正の第2の実施例
を説明するための図、第12図は本発明のAFゲイン調
整法の第1の実施例を説明するための図、第13図は本
発明のAFゲイン調整法の第2の実施例を説明するため
の図、第14図は本発明のレーザ・パワー・モニターの
リニアリティ補正を説明するための図、第15図は本発
明を実施するためのアルゴリズムを説明するための図、
第16図は従来の光磁気ディスク装置の光学系を説明す
るための図、%17図は従来の光磁気ディ−スフ装置の
アクチュエータを説明するための図、第18図は従来の
光磁気ディスク装置のりニアモータを説明するための図
、第19図は従来の光磁気ディスクのサーボ系を説明す
るための図、第20図は従来の光磁気ディスクのRF系
を説明するための図、第21図は従来の光磁気ディスク
を説明するための図である。 半導体レーザ、 サーボセンサ、 ・・・ RFセンサ、 2分割センサ、 モニタフォトダイオード。 1   ・・・ l 8  ・・・ 19.20 34  ・・・ 79  ・・・ 第2図 第5図 レンス゛イ正裏山刀 プン7°ソンワ°;\9レヌ、 嘴問 第6図 第3図 トラ1.A)り′ヱラー信号 埼唱 第4図 第7図 第8図 図面の浄書(内容に変更なし) 第9図 第 0図 (α) χンソ 第12図 第 1 4図 第 5図 第16図 第 7図 第20図 第2 図 5δ 9

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光記録媒体に形成されたトラック上を光ビームで
    走査する手段と、この光ビームの照射位置と前記トラッ
    クとの位置ずれを補正するトラッキング制御手段と、前
    記光ビームの媒体による反射光又は透過光を検出する光
    検出器とを有し、前記媒体に情報の記録及び/又は再生
    を行なう光情報処理装置において、 前記光検出器の出力信号を用いて、前記ト ラッキング制御手段のオフセットを自動的に調整する手
    段を設けたことを特徴とする光情報処理装置。
  2. (2)トラックが形成された光記録媒体に光ビームを照
    射する光ヘッドと、該光ヘッドに搭載され前記光ビーム
    を媒体上に集光する対物レンズと、該対物レンズをその
    光軸及び前記トラックを横切る方向に移動させる手段と
    、前記方向における光ヘッドと対物レンズとの相対位置
    を検知する手段と、前記光ビームの媒体による反射光又
    は透過光を検出する光検出器とを有し、前記媒体に情報
    の記録及び/又は再生を行なう光情報処理装置において
    、 前記光検出器の出力信号を用いて、前記位置検知手段の
    オフセットを自動的に調整する手段を設けたことを特徴
    とする光情報処理装置。
  3. (3)光記録媒体に光ビームを照射する光源と、該光源
    から発した光ビームの一部を受光する第1の光検出器と
    、該第1の光検出器の出力を用いて前記光源の出射光量
    を制御する手段と、前記光ビームの媒体による反射光又
    は透過光を検出する第2の光検出器とを有し、前記媒体
    に情報の記録及び/又は再生を行なう光情報処理装置に
    おいて、 前記第2の光検出器の出力を用いて、前記第1の光検出
    器の出力の線形性の補正を自動的に行なう手段を設けた
    ことを特徴とする光情報処理装置。
  4. (4)光記録媒体に形成されたトラック上を集光した光
    ビームで走査する手段と、この光ビームの照射位置と前
    記トラックとの位置ずれを補正するトラッキング制御手
    段と、前記光ビームを媒体上に合焦させるフォーカス制
    御手段とを有し、前記媒体に情報の記録及び/又は再生
    を行なう光情報処理装置において、 前記装置内の温度変化を検知する手段と、 検知された温度変化が所定値以上となる度に、前記トラ
    ッキング制御手段及びフォーカス制御手段の少なくとも
    一方の校正を自動的に行なう手段とを設けたことを特徴
    とする光情報処理装置。
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