JP2633196B2

JP2633196B2 - 光情報処理装置

Info

Publication number: JP2633196B2
Application number: JP10849094A
Authority: JP
Inventors: 理小山; 加藤　　正; 正幸臼井; 良彦渡辺; 久年馬場; 浩武安藤; 英雄中嶋; 信二堺; 賢二玉木
Original assignee: Canon Inc; Canon Electronics Inc
Current assignee: Canon Inc; Canon Electronics Inc
Priority date: 1994-05-23
Filing date: 1994-05-23
Publication date: 1997-07-23
Anticipated expiration: 2012-07-23
Also published as: JPH0750019A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク等に情報を
記録・再生する光情報処理装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、従来アナログで行なっていた信号
処理をディジタルで行なう「ディジタル信号処理法」が
盛んとなっており、コンパクトディスク（ＣＤ）やディ
ジタル・オーディオ・テープ（ＤＡＴ）、通信回線など
の広い分野で実用化されている。これは、「ディジタル
信号処理法」が、複雑な信号処理アルゴリズムをソフト
ウェアで実現できるので、ハードウェアの簡略化とシス
テムの低廉化がはかれること、フィルタ定数やアルゴリ
ズムの選択など仕様の変更にフレキシブルに対応できる
こと、などのメリットをもつためである。それに加え
て、ＩＣ技術の進歩により、高速の演算処理速度をもつ
ディジタル信号処理用のＩＣ、ＤＳＰ（ディジタル・シ
グナル・プロセサ）が低価格で入手できるようになった
からである。

【０００３】一方、光ディスク等の光情報処理装置は、
再生専用型のＣＤから追記型（ＤＲＡＷ）を経て、書き
換え可能型の光磁気ディスクまで、高密度大容量メモリ
として急速な進歩を遂げている。特に、光磁気ディスク
は、コンピュータの外部メモリとして、前述の高密度大
容量に加え、高信頼性、高速アクセス等が必要とされて
いる。

【０００４】このため、電気サーボ系も、多種のセンサ
からの出力を複雑に組み合わせた制御が必要となってき
ている。従来の光磁気ディスク装置の一例を、図１６を
用いて説明する。

【０００５】図１６において、半導体レーザ１から出射
された光束は、コリメータレンズ２により平行光束とさ
れ、ビーム整形機能付偏光ビームスプリッタ３でほぼ円
形の断面をもつ光束とされる。平行光束は、プリズム４
で反射され、対物レンズ５に入射する。対物レンズ５
は、アクチュエータ（図示しない）により、フォーカス
方向６、及びトラッキング方向７に可動であり、ディス
ク９上に微小な光スポットを集光する。ディスク９は、
光磁気記録層が成膜されており、矢印１０の方向がトラ
ック方向で、矢印１１がディスクの回転中心である。な
お、プリズム４、対物レンズ５、アクチュエータ等は、
キャリジ１３に固定されており、リニアモータ（図示し
ない）等を用いて、ディスク９の半径方向に移動する。

【０００６】ディスク９からの反射光は、再び対物レン
ズ５で平行光束とされ、プリズム４で折り曲げられて、
偏光ビームスプリッタ３に向かう。偏光ビームスプリッ
ター３で、検出光学系方向に反射された光束は、集光レ
ンズ１５を経てビームスプリッタ１６でサーボセンサー
１８方向に反射される光束と、ＲＦセンサー１９、２０
方向に透過される光束に分割される。

【０００７】集光レンズ１５には、例えば非点収差を発
生する素子が含まれていて、光束はサーボセンサ１８上
に集光される。サーボセンサ１８は、４分割センサ１８
−１〜１８−４からなる。そして、ディスク９上で光ス
ポットが所定のトラック上にフォーカスしていることを
観察しながら、３軸方向にこのサーボセンサ１８を位置
決めし、４つのセンサから等しい出力が発生するように
調整されている。

【０００８】ビームスプリッタ１６を透過した光束は、
偏光ビームスプリッタ１７で２分割され、ラジオ・フレ
キュエンシー（ＲＦ）センサ１９、ＲＦセンサ２０に各
々集光される。半導体レーザ１、コリメータレンズ２及
びＲＦセンサ等は、全てヘッド固定部１４に固定されて
いる。

【０００９】図１６の光ディスク装置の例は、キャリジ
１３とヘッド固定部１４に分離されたいわゆる分離光学
系であり、高速アクセスを可能としている。

【００１０】従来の光磁気ディスク装置のアクチュエー
タ部を、図１７を用いて説明する。

【００１１】図１７において、５は対物レンズであり、
ボビン２１に固定されている。２２、２３は各々トラッ
キング用コイル、フォーカス用コイルであり、ヨーク２
６に固定されたトラッキング用マグネット２４、フォー
カス用マグネット２５と協同して、ボビン２１をトラッ
キング方向７、フォーカス方向６に駆動する。２７は、
ボビン２１の支持軸であり、２８は、ボビンの最下端を
決めるためのアンダー・リミッタである。２９は、対物
レンズ５のカウンタウェイトでボビンに固定されてい
る。

【００１２】３０は、発光ダイオードであり、３１は、
この発光ダイオード３０用のフレキである。発光ダイオ
ード３０から出射された光束は、スリット３２を通過し
て整形され、２分割センサ３４上に光束３３として投影
される。発光ダイオード３０は、２１に固定されてい
て、アクチュエータがトラッキング方向にずれた場合に
は、光束３３の２分割センサの各々の受光面３４−１、
３４−２に入射する光量が変化するので、これらの出力
を演算すれば、対物レンズ５の位置を検出することがで
きる。３５は、２分割センサ３４用のフレキである。

【００１３】従来の光磁気ディスク装置のリニアモータ
部を、図１８を用いて説明する。

【００１４】図１８において、５は対物レンズ、２１は
ボビン、２４はマグネット、２６はヨーク、２７はボビ
ン支持軸であり、これらがアクチュエータとしてキャリ
ジ１３に固定されている。キャリジ１３は、ベアリング
３７−１、３７−２等でレール３６−１、３６−２に支
持されており、ディスク半径方向１２に可動であり、リ
ニアモータ部は、コイル３８、ヨーク３９、マグネット
４０−１、４０−２などからなり、キャリジ１３をディ
スク半径方向に駆動する。この例では、リニアモータを
キャリジの両側につけ、高速アクセスを可能としてい
る。４１は、ディスクを回転させるためのスピンドルモ
ータである。

【００１５】図１６〜図１８にて説明してきた光磁気デ
ィスク装置のサーボ系について、図１９を用いて説明す
る。

【００１６】サーボセンサ１８は、対物レンズ５が半導
体レーザ１からの光束の中心にあり、かつ、光束が対物
レンズ５によりディスク９のトラック上に１ミクロン程
度の微小なスポットとして集光された場合、４つのセン
サ１８−１〜１８−４から各々等しい出力が発生する用
に調整されている。この例では、フォーカス誤差検出方
式に非点収差法を用いているので、１８−１〜１８−４
の各センサからの出力を各々Ｓ₁ 〜Ｓ₄ とすると、ディ
スクとスポットのフォーカスずれに応じて、対角和の出
力の差が観測され、以下のフォーカスエラー信号Ｓ_AFが
得られる。

【００１７】Ｓ_AF＝（Ｓ₁ ＋Ｓ₃ ）−（Ｓ₂ ＋Ｓ₄ ）例えば、光スポットがディスク上に合焦では上記出力は
０、ディスクが近い場合には負、遠い場合には正の出力
を得る。

【００１８】また、トラッキング誤差検出方式には、プ
ッシュ・プル法を用いている。プッシュ・プル法は、デ
ィスクの案内みぞからの回折光のバランスをファー・フ
ィールドで観測する方法であり、ディスク上の所定のト
ラックと光スポットのラジアル方向の位置ずれに応じ
て、回折光の分布にアンバランスが生じ、センサ１８の
タンジェンシャル方向の分割線で分割されたセンサの出
力の差が観測され、以下のトラッキングエラー信号Ｓ_AT
が得られる。

【００１９】Ｓ_AT＝（Ｓ₂ ＋Ｓ₃ ）−（Ｓ₁ ＋Ｓ₄ ）例えば、光スポットがトラック上にあれば上記出力は
０、ディスク内周方向にずれた場合は負、ディスク外周
方向にずれた場合は正の出力を得る。

【００２０】プッシュ・プル法では、対物レンズ５がマ
ルチ・トラック・ジャンプ等でラジアル方向（トラッキ
ング方向）に大きくずれると、サーボセンサ１８上に集
光された光束がラジアル方向に移動するので、前述した
トラックずれに応じた回折光の分布のアンバランス以外
に、オート・トラッキング（以下、ＡＴと記す）出力に
オフセットが生じてしまう。高速アクセスを行なうため
には、対物レンズを１００〜１５０トラック程度、半導
体レーザ１からの光束の中心より移動させて使用できる
と有利である。このオフセットは、ほぼ対物レンズの光
束中心からのずれ量に比例するので、対物レンズ位置が
検出できれば、容易に補正しうる。

【００２１】そこで、この例では、図１７で説明したよ
うな対物レンズ位置検出手段（以後レンズ位置センサと
呼ぶ）を設けている。ラジアル方向に並べられた２つの
センサ３４−１、３４−２からの出力を、各々Ｓ_LP1 、
Ｓ_LP2 として、対物レンズが光束中心にある場合に以下
のレンズ位置（以下、ＬＰと記す）出力Ｓ_LPが０となる
ように調整される。

【００２２】Ｓ_LP＝Ｓ_LP1 −Ｓ_LP2 例えば、対物レンズ５が、光束中心にあれば上記出力は
０、ディスク内周方向にずれた場合には正、ディスク外
周方向にずれた場合には負の出力を得る。

【００２３】また、レンズ位置センサ出力は、キャリジ
１３と対物レンズ５の位置ずれを表わすので、これを用
いてリニアモータを駆動すれば、常に対物レンズ位置を
光束の中心に保つことができる。

【００２４】以上、サーボセンサ等について述べてきた
が、これらはメカ的に完全に位置合わせをすることは不
可能なので、従来のアナログ的なサーボ信号処理を行な
う場合には、メカ調整後にセンサ出力に調整ボリウム
（図示しない）等を設けて、電気的な調整を行なうのが
普通である。

【００２５】次に、サーボ信号処理について簡単に説明
する。

【００２６】サーボセンサ１８からの出力Ｓ₁ 〜Ｓ₄
は、プリアンプ４３で増幅されたあと、演算回路４４で
ＡＴ、オート・フォーカス（以下、ＡＦと記す）出力と
して前述のように取り出される。レンズ位置センサ３４
からの出力Ｓ_LP1 、Ｓ_LP2 は、プリアンプ４５で増幅さ
れたあと演算回路４６でレンズ位置出力として取り出さ
れる。このうち、ＡＴ出力とＬＰ出力は加算回路４７で
加算され、対物レンズ位置がずれてもトラッキング誤差
信号にオフセットが発生しないように補正される（補正
後ＡＴ出力）。ＡＦ出力、補正後ＡＴ出力、ＬＰ出力
は、各々サーボ信号処理回路４８に取り込まれ、適当な
タイミングでＡＦドライバ４９、ＡＴドライバ５０、リ
ニアモータドライバ５１に出力される。各ドライバから
は、駆動信号が各々ＡＦコイル２３、ＡＴコイル２２、
リニアモータコイル３８に出力され、フォーカス制御、
トラッキング制御が行なわれる。

【００２７】次に、図２０を用いて、ＲＦ系について説
明する。

【００２８】図２０において、１９、２０は、各々前述
のＲＦセンサ、ＲＦセンサである。５２、５３は、各々
ＲＦセンサ１９、２０からの出力を増幅するプリアンプ
である。５４、５５は、おのおのＲＦセンサ１９、２０
の出力を差動、加算するアンプである。光磁気信号出力
５６は光磁気効果による光束の偏光面の回転がビームス
プリッタ１７で検光されて、ＲＦセンサ１９、２０の出
力の差として検出される。また、セクター・マークやア
ドレスなどのプリフォーマット信号５７は、ＲＦセンサ
Ａ、Ｂに入射する光量の一様な増減となるので、ＲＦセ
ンサ１９、２０の出力の和として検出される。

【００２９】図２１を用いて、従来の光磁気ディスクに
ついて説明する。

【００３０】図２１において、１１は、ディスク中心で
あり、らせん状にトラック５８及び案内みぞ（グルー
ブ）５９が設けられている。トラックは、セクターマー
クやアドレスなどのプリフォーマット信号がピット６０
の形で予め成形されているヘッダー部と、光磁気信号を
光磁気ピット６１の形でユーザーが情報として記録する
データ部に分けられている。

【００３１】

【発明が解決しようとする課題】さて、以上説明してき
た構成の光磁気ディスク装置では、サーボセンサ等をメ
カ的に完全に位置合わせすることは不可能なので、メカ
調整後にセンサ出力に調整ボリウム等を設けて、いちい
ち電気的な調整を行なうため、コストダウンが困難であ
った。

【００３２】また、前述のフォーカス、或はトラッキン
グ誤差検出方式は、ディスク上の光スポットの集光状態
を直接に検出するものではないので、サーボセンサとサ
ーボセンサ上の光スポットの相対位置、或は、半導体レ
ーザの位置等が、調整後に何らかの外力によって位置ず
れした場合には、ディスク上の所定のトラックに光スポ
ットが正しく集光されなくなってしまう。これらの状態
の変化は、温度変化や輸送時の振動等により、しばしば
起こりうるものでありサーボ精度を低下させる。或は、
サーボセンサ自体に位置ずれが生じなくても、温度変化
により半導体レーザの波長が変化し、ビーム整形機能付
の偏光ビームスプリッタでの光束のふれ角が変化して、
サーボセンサ上での光スポット位置が移動してしまう場
合もある。

【００３３】また、マルチ・トラック・ジャンプ等で、
対物レンズをラジアル方向にずらした位置で使用する場
合に生ずるＡＴオフセットは、ディスクの案内みぞの深
さのばらつき等によって変化するので、ディスク毎にオ
フセット値を調整しなければトラッキング精度の低下を
招く。

【００３４】本発明は、上記問題点に鑑み為されたもの
で、複雑な調整工程を不要とし、トラッキング誤差信号
あるいはフォーカス誤差信号のオフセットを簡易に補正
することが可能な光情報処理装置を提供することを目的
とする。

【００３５】

【課題を解決するための手段】本発明の上記目的を達成
する一実施態様の光情報処理装置は、光源と、該光源か
ら発した光ビームをトラックが形成された光記録媒体上
に照射する光学系と、前記光ビームの媒体による反射光
又は透過光を検出する光検出器と、該光検出器の出力か
ら光ビームの照射位置とトラックとの位置ずれを表すト
ラッキング誤差信号を生成する手段と、前記光学系の少
なくとも一部をトラックを横切る方向に移動させるトラ
ッキングアクチュエータと、前記トラッキング誤差信号
に応じてトラッキングアクチュエータを駆動することに
よって前記位置ずれを補正するトラッキング制御手段
と、前記装置内の温度変化を検知する温度検知手段と、
前記トラッキング誤差信号のオフセットを測定する手段
と、前記オフセットを補正する手段とを備え、前記温度
検知手段で検知された温度変化が所定値以上となる度
に、前記オフセットを自動的に補正することを特徴とす
る。

【００３６】本発明の上記目的を達成する他の実施態様
の光情報処理装置は、光源と、該光源から発した光ビー
ムを光記録媒体上に集光する集光レンズと、前記光ビー
ムの媒体による反射光又は透過光を検出する光検出器
と、該光検出器の出力から光ビームの集光位置と光記録
媒体とのデフォーカスを表すフォーカス誤差信号を生成
する手段と、前記光検出器の出力から光記録媒体上に記
録された情報信号を再生する再生手段と、前記集光レン
ズを光軸方向に移動させるフォーカスアクチュエータ
と、前記フォーカス誤差信号に応じてフォーカスアクチ
ュエータを駆動することによって前記デフォーカスを補
正するフォーカス制御手段と、前記装置内の温度変化を
検知する温度検知手段と、前記再生手段によって再生さ
れる情報信号の振幅が最大となるフォーカス位置を検知
する手段と、前記フォーカス位置に光ビームの集光位置
を一致させるべく前記フォーカス誤差信号にオフセット
を印加する手段とを備え、前記温度検知手段で検知され
た温度変化が所定値以上となる度に、前記フォーカス位
置の検知とオフセットの印加を自動的に行なうことを特
徴とする。

【００３７】

【実施例】図１は、本発明の光情報処理装置に用いる制
御回路の一実施例を示すブロック図である。ここで、サ
ーボセンサ１８、プリアンプ４３、演算回路４４は図示
のように接続され、入力切換回路６２、アナログ／ディ
ジタルＡ／Ｄ）変換器６３を経てディジタル信号処理回
路４８に接続される。演算回路４４はトラックカウント
回路６４にも接続されている。この出力はディジタル信
号処理回路４８に接続されている。レンズ位置センサ３
４はプリアンプ４５を介して入力切換回路６２に接続さ
れている。ホームポジションセンサ６５の出力はディジ
タル信号処理回路４８に接続され、また、中央処理装置
（ＣＰＵ）６６はディジタル信号処理回路４８及び外部
インターフェイス回路６７に双方向接続されている。デ
ィスクを回転させるためのスピンドルモーター４２はモ
ータードライバー６８を介してディジタル信号処理回路
４８に接続されている。２個のＲＦセンサ１９、２０は
プリアンプ５２、５３を介してＲＦ信号処理回路６９に
接続され、この出力は１つは検波回路７０を介して入力
切換回路６２に接続され、もう１つはディジタル信号処
理回路４８へ入力される。各種データを保管するメモリ
７１はディジタル信号処理回路４８に接続されている。
ディジタル信号処理回路４８からはＤ／Ａ変換器７２、
出力切換回路７３を介して４つのサンプルホールド（Ｓ
／Ｈ）回路７４、７５、７６、７７、さらにドライバ７
８、４９、５０、５１を介してそれぞれレーザーダイオ
ード１、フォーカスコイル（ＡＦコイル）２３、トラッ
キングコイル（ＡＴコイル）２２、リニアモーターコイ
ル３８に接続されている。レーザーダイオードの出射光
をモニタするモニタフォトダイオード７９はプリアンプ
８０を介して入力切換回路６２に接続されてる。また、
機内の温度を検出する温度センサ８１は入力切換回路６
２に接続されている。

【００３８】次に図１図示の回路の基本動作について説
明する。

【００３９】サーボセンサ１８に入射した光束はプリア
ンプ４３で電圧信号に変換されたあと演算回路４４にて
フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、フォ
ーカストラッキング和信号に演算処理される。これらの
信号は入力切換回路６２で１つを選択されたあとＡ／Ｄ
変換器６３でディジタル信号に変換されディジタル信号
処理回路４８に入力される。ディジタル信号処理回路４
８は、トラッキングエラーレベル、フォーカスエラーレ
ベルが零となるようにＡＴコイル、ＡＦコイルを制御す
べくディジタルコントロール値をＤ／Ａ変換器７２へ出
力する。アナログ化されたコントロール信号は、出力切
換回路７３で選択され、Ｓ／Ｈ回路７５、７６でそれぞ
れホールドされたあとドライブ回路４９、５０に出力さ
れる。ドライバーはそれぞれＡＦコイル２３、ＡＴコイ
ル２２をドライブする。

【００４０】一方、光磁気信号の読み書きにはディスク
へレーザー光を照射することが必要であるが、ディジタ
ル信号処理回路４８はレーザー光コントロール値をＤ／
Ａ変換器７２に出力する。アナログ化された信号は、出
力切換器７３で選択されたあとＳ／Ｈ回路７４を通り、
レーザードライバ７８に入力される。レーザードライバ
は読み書きに必要な光量が得られるようにレーザーダイ
オード１を制御する。レーザーダイオードにはその出射
光をモニタするモニタフォトダイオード７９が取付けて
ありその出力はプリアンプ８０を介して入力切換回路６
２に入力される。モニタフォトダイオード７９で光量を
モニタすることによりディジタル信号処理回路４８は正
確にレーザー出射光量を制御できる。ディジタル信号処
理回路４８からレーザードライバ７８へ直接接続されて
いる信号線は、書き込み時のレーザーＯＮ／ＯＦＦ信号
線である。

【００４１】レンズ位置センサ３４は２分割フォトダイ
オードで構成されており、レンズ位置センサ用発光ダイ
オード（ＬＥＤ）３０によって照射されている。対物レ
ンズ位置の変化によりフォトダイオードの出力には変化
が生じるが、この出力はプリアンプ４５で増幅された
後、入力切換回路６２に入力され、Ａ／Ｄ変換器６３を
通りディジタル信号処理回路４８に入力される。外周側
にあるホームポジションにアクチュエータが移動したこ
とを検出するホームポジションセンサ６５の出力はディ
ジタル信号処理回路４８に入力されている。

【００４２】本発明における全体的なシーケンス動作を
管理するＣＰＵ６６はディジタル信号処理回路４８に接
続され、その動作をコントロールするとともに、外部イ
ンターフェイス回路６７に接続され、外部機器とのデー
タのやりとりを管理している。

【００４３】メモリ７１がディジタル信号処理回路４８
またはそれを介してＣＰＵ６６から送られる各種データ
の保管を行なう。

【００４４】スピンドルモータ４２はモータドライバ６
８によって回転を制御されるが、そのスタート及びスト
ップはＣＰＵ６６からディジタル信号処理回路４８を介
して制御される。

【００４５】リニアモーターコイル３８は、ディジタル
信号処理回路４８からの速度指令によりドライバ５１を
介して駆動される。リニアモーターが起動すると、演算
回路４４のトラッキングエラー信号はトラック横断信号
となって現れる。リニアモーター移動中のトラッキング
信号をトラックカウント回路６４でカウントすることに
より移動トラック数を検出できる。ディジタル信号処理
回路４８は目標トラック数と現在トラック数とから目標
移動速度等を算出する。

【００４６】２個のＲＦセンサ１９、２０は光磁気信号
及びプリフォーマット信号を電気信号に変換する。この
信号はプリアンプ５２、５３で増幅されたあとＲＦ信号
処理回路６９にて差動検出、同相検出及びピーク検知処
理をなされる。この出力はディジタルデータとしてディ
ジタル信号処理回路４８を経由し、ＣＰＵ６６で処理後
外部インターフェイス回路６７を通り外部機器へディジ
タル情報として出力される。一方、ＲＦ信号処理された
信号はアナログ信号のまま検波回路７０によってエンベ
ロープを検出され、その大きさレベルの信号として入力
切換回路６２、Ａ／Ｄ変換器６３を経由してディジタル
信号処理回路４８に入力される。これはＲＦ信号レベル
の大きさを判断してフォーカス、トラッキングが正しく
動作しているか否かの検出をする時に使用される。

【００４７】図２に、本発明の装置における、サーボ系
の自動調整の手順を示す。

【００４８】まず、最初に対物レンズを半導体レーザか
らの光束の中心に置き、ＡＦサーボのみをかけてトラッ
キングエラー信号のオフセット値を計測し、これを補正
する。（ステップ１）この時に補正されるオフセットと
しては、サーボセンサ等の調整時の位置合わせ誤差、調
整後の位置ずれ、ディスクのそり等があげられる。

【００４９】次に、対物レンズ位置センサの校正と対物
レンズが光束の中心からずれた場合のトラッキングエラ
ー信号のオフセット補正を行なう。（ステップ２）これ
ら２つは、同時に行なうことも出来るし、個別に行なう
ことも出来る。対物レンズ位置センサの校正は、ディス
クのトラックの本数をカウントして光束中心からの絶対
的な対物レンズの位置を知り、それを用いて対物レンズ
位置センサ出力を校正するものである。これにより、対
物レンズ位置センサのリニアリティが補正される。

【００５０】対物レンズが光束の中心からずれた場合の
トラッキングエラー信号のオフセット補正は、ステップ
１で述べた原因で生ずる対物レンズ位置とトラッキング
エラー信号のオフセット値のリニアリティを補正するた
めのものであり、同時にディスクによるの案内みぞの深
さ等のばらつきによるオフセットの大小も補正する。

【００５１】次に、フォーカスエラー信号のオフセット
補正を行なう。（ステップ３）これは、ステップ２の工
程と入れ替えて行なっても良い。ＡＦ、ＡＴサーボをか
けて、ディスクにあらかじめフォーマットされた信号
（セクターマークやアドレス信号など）の再生振幅が最
大となるようにオフセット値を定める。これにより、サ
ーボセンサ等の調整時の位置合わせ誤差、調整後の位置
ずれ、ディスク基板の厚み、屈折率のばらつき、ディス
クの案内みぞのばらつきなどに起因するＡＦオフセット
を補正することができる。

【００５２】次に、ＡＦゲイン調整を行なう。（ステッ
プ４）ＡＦ、ＡＴサーボをかけ、ディジタル信号処理回
路から適当なフォーカスの外乱を加えてやり、それに対
する応答を計測して所定の適当なゲインに調整する。ア
クチュエータの初期および経時後のばらつきやディスク
のばらつきなどを同時に補正できる。

【００５３】ステップ４と同様にして、ＡＴゲインの調
整を行なう。（ステップ５）次に、リニアモータのゲイン調整を行なう。（ステップ
６）所定のトラックにＡＦ、ＡＴサーボをかけ、ディジ
タル信号処理回路より適当な外乱をリニアモータに加え
てやり、リニアモータの応答を、ステップ２で校正され
た対物レンズ位置センサ出力を用いて行なう。リニアモ
ータの初期及び経時後のばらつきを補正することができ
る。

【００５４】最後に、レーザパワーモニタのリニアリテ
ィの補正を、半導体レーザ内に組み込まれているモニタ
・フォト・ダイオードについて行なう。（ステップ７）
光磁気ディスク装置出は、データ再生時と消去及び書き
込み時で、１０倍程度レーザパワーを変化させて使用す
るので、ディスクからの戻り光によりモニタのリニアリ
ティが悪い。そこで、サーボセンサの出力を用いて、こ
れを補正してやればよい。これにより、最適なレーザパ
ワーでの記録／再生が可能となる。

【００５５】以下、上記各ステップにおける補正方法に
関し、詳細に説明する。

【００５６】対物レンズ基準位置（光軸上）でのトラッ
キングエラー信号のオフセット補正方法まず、補正時にすでに記録されているデータを消さない
ようにするため、キャリッジをホームポジションへ移動
させる。ホームポジションへ移動したことはフォトイン
タラプタやメカニカルスイッチで構成されるホームポジ
ションセンサ６５で検出される。次に対物レンズを半導
体レーザーからの光束の中心位置（以後、レンズ基準位
置と記す）に持っていく、方法としては、フォーカスア
クチュエータを最下点まで下げた時にアクチュエータの
メカニカルピンが中点で嵌合するようにしてもよいし、
レンズ位置センサ３４のプリアンプ４５の出力が前記レ
ンズ基準位置であらかじめ決められた値になるように製
造時に調整を行なっておき、補正時にまずレンズ位置セ
ンサ出力が前記のあらかじめ決められた値にあるように
レンズ位置を電気的に動かしてもよい。

【００５７】この状態でフォーカス引き込み動作を行な
い、フォーカスをおおむねフォーカスポイントになるよ
うにする。次に、以下の方法でトラック横断時のトラッ
キングエラー信号を発生させる。その方法の１つとして
は、レンズを基準点に固定したままで、リニアモーター
コイル３８に通電し、リニアモーターを振動させる方法
がある。リニアモーターを正弦波的に振動させれば、対
物レンズはトラックをクロスするように振動するので、
演算回路４４からはトラッキングエラー信号（（Ｓ₂ ＋
Ｓ³ ）−（Ｓ₁ ＋Ｓ₄ ））を得ることができる。第２の
方法としては、リニアモーターは動かないようにホーム
ポジションに固定したままにして対物レンズを前記基準
位置でトラッキング方向に微小に振動させる方法を用い
てもよい。このようにして、レンズ基準位置近傍でオフ
セットを含んだトラッキングエラー信号を得ることがで
きる。

【００５８】図３に示すように、トラッキングエラー信
号はオフセット分を有している。この信号は前述のよう
に演算回路４４から出力されるトラッキング信号である
が、入力切換回路６２を経由して図３に示すサンプリン
グパルスでＡ／Ｄ変換され、ディジタル化された信号が
ディジタル信号処理回路４８に入力される。ディジタル
信号処理回路４８ではディジタル化されたトラッキング
信号から波形のピーク値及びボトム値を求め、さらにこ
の値の中点を求めることによって、それをオフセット値
として認識するようになっている。ピーク値、ボトム値
をより正確に求めるために、トラッキングエラー信号は
数回分以上取り込むことが望ましい。このようにして求
めたオフセット値はメモリ７１に格納されるが、補正完
了後のトラッキング動作においては演算回路４４よりＡ
／Ｄ変換器６３を経由して得られるオフセット補正前の
ディジタルトラッキングエラー信号からここで求めたト
ラッキングオフセット値を引き算し、オフセット補正後
のトラッキングエラー信号をつくり、このオフセット補
正後のトラッキングエラー値を用いてトラッキングルー
プの制御を行なう。

【００５９】対物レンズ位置センサの校正レンズ位置センサ３４の出力は図４のごとく２個のセン
サ出力Ｓ_LP1 、Ｓ_LP2が対物レンズ位置ずれにたいして
互いに逆方向に変化する特性を有する。基本的には、（Ｓ_LP1 −Ｓ_LP2 ）／（Ｓ_LP1 ＋Ｓ_LP2 ）の演算を行なうことにより、センサ出力の温度変動等の
同相性の変動を除去し、対物レンズ位置を検出すること
ができる。しかしながら、Ｓ_LP1 、Ｓ_LP2 は対物レンズ
位置に対してリニアな変化はしていないため、以下の方
法によりセンサ出力と対物レンズ位置の関係を知る必要
がある。

【００６０】（第１の方法）対物レンズ位置を半導体レ
ーザの光束の中心にしてフォーカス、トラッキングとも
に引き込み状態としディスクを回転させる。ディスクに
は偏心があるので、トラッキングアクチュエータは偏心
に追従してトラッキング方向に揺れ、これにしたがって
２個のレンズ位置センサ３４の出力Ｓ_LP1 、Ｓ_LP2 も変
動する。図５に示すように、この揺らいでいるＳ_LP1 、
Ｓ_LP2 をディスクの回転に同期している回転同期サンプ
リングパルスでサンプルし、Ａ／Ｄ変換器６３でディジ
タル化しディジタル信号処理回路４８を経由し、メモリ
７１に一回転中の偏心データを格納する。このデータは
以下に述べる対物レンズ位置のデータどりにて偏心成分
の除去に使用する。

【００６１】次にトラッキングサーボループをオープン
にして、トラッキングアクチュエータを対物レンズ可動
範囲（例えば、±２５０ミクロン＝±１７０トラック）
だけトラックジャンプさせ、その最中にレンズ位置セン
サ出力Ｓ_LP1 、Ｓ_LP2 と対物レンズ位置変位の関係のデ
ータどりを行なう。対物レンズ位置を−１７０トラック
から＋１７０トラックまで移動させながら、１０トラッ
クおきにＳ_LP1 、ＬＰ２の出力をサンプリングし、Ａ／
Ｄ変換を行なう。Ｓ_LP1 、Ｓ_LP2 の出力は図６に示すよ
うに偏心の影響を受け揺らいでいる。ここで前述の偏心
データを利用して偏心分をさし引き偏心除去したデータ
をメモリ７１に格納する。

【００６２】（第２の方法）第１の方法では、対物レン
ズ位置を−１７０トラックから＋１７０トラックまで連
続的に移動させ移動中にデータどりを行なったが、本方
法ではたとえば数１０トラック分ずつジャンプしトラッ
キングループを閉じデータどりを行なう。まず対物レン
ズ位置を光学的中心点にもってきてトラッキングループ
をオンするまでは第１の方法と同一であるが、第２の方
法においては偏心データどりは実施しない。ここではデ
ィスク１回転ないし数回転の間、対物レンズ位置出力Ｓ
_LP1 、Ｓ_LP2 を読み込み、その間のＳ_LP1 、Ｓ_LP2 の出
力をディジタル信号処理回路４８にて平均値を求め偏心
成分の除去された対物レンズ位置出力を得る。ここで図
７に示すように予め決められたトラック数だけトラック
ジャンプを実行し、移動後の対物レンズ位置でトラッキ
ングループを閉じ１回転ないし数回転の間、対物レンズ
位置出力を読み込み平均値を求めそのポイントでの対物
レンズ位置出力を得る。このようにトラックジャンプと
データどり平均値算出をくりかえし対物レンズ可動範囲
全域における偏心成分の除去された対物レンズ位置出力
値がメモリ７１に格納される。

【００６３】（第３の方法）第１、第２の方法では対物
レンズ位置を連続的に動かしまたはトラックジャンプを
行ないながらデータどりを行なっていたが、本方式では
トレーシングを行ないデータどりをする。まず対物レン
ズ位置を内側へ１７０トラックジャンプさせトラッキン
グループを閉じる。ディスクは内周から外周へスパイラ
ル状の溝がきざんであるので、この状態のままにしてお
くと対物レンズ位置は内周から外周にむかってトレース
する。ここではトレースしながら１回転ごとに対物レン
ズ位置出力のデータどりを行なう。このようにすると、
１回転ごとにデータどりが行なわれるため偏心成分は捕
捉されず、自動的に偏心成分の除去されたデータどりが
行なわれる。

【００６４】上記第１〜第３のいずれかの方法にて、対
物レンズ位置とレンズ位置センサ出力の関係のデータど
りが完了したが実際にこのデータを使用する場合、対物
レンズ位置出力からの対物レンズ位置を求めねばならな
い。一つの方法としてメモリ７１内に変換テーブルを持
つ方法もあるが、ここでは高速演算可能なディジタル信
号処理回路（ＤＳＰ等）をもちいた数値演算方式につい
て述べる。

【００６５】基本的にはレンズ位置を５次式で近似する
方法である。

【００６６】位置＝Ａ・（Ｘ＋Ｂ・Ｘ² ＋Ｃ・Ｘ³ ＋Ｄ
・Ｘ⁴ ＋Ｅ・Ｘ⁵ ）ここで、Ｘは正規化された対物レンズ位置出力値、Ａ、
Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、は定数である。すなわち、

【００６７】

【外１】ここで、Ｇ、Ｋは定数である。Ｇは、前述のＳ_LP1 、Ｓ
_LP2 の値を代入したときに、Ｘの範囲が＋−１．０とな
るように選定する。Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、ＥはＳ_LP1、Ｓ_LP2
の値から位置の誤差が最小となるよう、例えば、最小
二乗法で決定すれば良い。ＫはＳ_LP1 、Ｓ_LP2 の出力レ
ベルの差を補正するためのものであるが、対物レンズが
レンズ基準位置にあるときに、Ｓ_LP1 ＝Ｓ_LP2 となるよ
うに、あらかじめ調整されていれば、Ｋ＝１としてよ
い。

【００６８】対物レンズが基準位置からずれた場合のト
ラッキングエラー信号のオフセット補正トラッキングエラーのオフセット量と対物レンズ位置変
位にはある程度リニアな関係があるためこの関係を用い
てトラッキングオフセットの補正をすることは十分可能
である。この場合オフセット補正はデジタル信号処理回
路内で実行される。

【００６９】しかしながら、ここではより厳密にオフセ
ット補正をする方法について述べる。前述の対物レンズ
位置とレンズ位置センサ出力の関係のデータをとる際に
同時に対物レンズが基準位置からラジアル方向にずれた
場合のトラッキング信号を観測し、対物レンズ位置とト
ラッキングエラー信号のオフセット量との関係を求める
のである。図８に示すようにトラッキングエラー信号に
はトラック横断時の信号が混入する。そこでトラッキン
グエラー信号のピーク値とボトム値を読み取ったあとそ
の中心値をトラッキングエラー信号として算出する。こ
の値は、メモリ７１内に変換テーブルとして格納する方
法もあるし、レンズ位置センサの補正の説明で述べたよ
うな近似式を求め、高速で演算可能なディジタル信号処
理回路（ＤＳＰ等）を用いて数値演算する方法もある。

【００７０】この場合のトラッキングエラー信号は偏心
よりずっと高域の信号であるからサンプリングパルスは
トラッキングエラー信号のピークとボトムを十分捕捉で
きるような高い周波数であることが必要である。例えば
偏心のみであれば偏心成分５０Ｈｚの１０倍の約５００
Ｈｚで可能であるが、トラック横断時の信号を読み取る
ためには、トラック横断時のトラッキングエラー信号約
１ｋＨｚの１０倍１０ｋＨｚ位のサンプリングパルスが
必要である。

【００７１】フォーカスエラー信号のオフセット補正フォーカスエラー信号のオフセット補正では、第１の方
法として、ディスクにあらかじめフォーマットされた信
号（セクターマークやアドレス信号）の再生振幅が最大
となるようにオフセット値を定める方法がある。

【００７２】まず、ＡＦ、ＡＴサーボをかけ、強制的に
フォーカスエラー信号にオフセットを加えたときのプリ
フォーマット部にある信号の振幅値をモニタする。これ
を、図９を用いて説明する。図９において、横軸はＡＦ
オフセット量、縦軸は信号の振幅値である。初期のＡＦ
オフセット位置（図９点Ｐ₁ ）を中心として、プラス側
に所定のオフセット量を加えたとき（図９点Ｐ₃ ）のプ
リフォーマット信号の振幅が、図１０の（ａ）、マイナ
ス側にオフセット量を加えたとき（図９点Ｐ₂）のプリ
フォーマット信号の振幅が図１０の（ｂ）に示す値であ
ったとする。それぞれの振幅ｘ、ｙの２値をメモリーし
てこれらを比較した場合、ｘ＞ｙであるためプリフォー
マット信号振幅値の最大点、すなわちジャストフォーカ
ス点は現在の位置よりプラス側にあることになる。

【００７３】次に、図９において、点Ｐ₃ のプラス側に
所定のオフセット値を加えた点を新たな中心点をＰ₄ と
する。さらに、点Ｐ₄ のプラス側に所定のオフセット値
を加えた点Ｐ₅ でのプリフォーマット信号の振幅値を新
たにメモリし、点Ｐ₃ でのプリフォーマット信号の振幅
のメモリ値と比較する。点Ｐ₅ での振幅値は点Ｐ₃ より
大きいため、さらにプラス側にジャストフォーカス点が
あることになる。このようにして、この動作を繰り返
し、点Ｐ₄ と点Ｐ₆ の間にジャストフォーカス点がある
ことをサーチする。

【００７４】次に、所定のオフセット量を最初の１／２
として検索の範囲を狭めていき、点Ｐ₄ 、点Ｐ₆ の中間
の点Ｐ₅ を中心として同じ動作を繰り返してジャストフ
ォーカス点でのオフセット量を追い込んでいく。そし
て、比較されるプリフォーマット信号振幅の差がなくな
るまでこの動作を続ける。これにより決まったフォーカ
スオフセット量は記憶され、フォーカスエラー信号に常
に印加され続ける。なお、プリフォーマット信号は、微
分回路（図示しない）を用いて微分した後の信号を用い
たほうがジャストフォーカス点の検出感度が向上する。

【００７５】プリフォーマット信号の振幅値の検出方法
として、次の様な方法がある。

【００７６】ａ．ＲＦセンサ１９、２０からの光電流
を、プリアンプ５２、５３で増幅し、その出力を直接モ
ニターして、この時のピーク値をホールドしてＤＣ分を
検出する方法。

【００７７】ｂ．ＲＦセンサプリアンプ５２、５３から
の出力を微分回路（図示しない）で微分することにより
信号のピークを知る手段としているが、この微分後の信
号のｐ−ｐ値をモニターすることで検出する方法。

【００７８】ｃ．微分後の信号出力を片波整流もしくは
両波整流を行ない、このピーク値をモニタして検出する
方法。

【００７９】ｄ．ＡＦオフセット量の変動が、顕著に振
幅値の変動に表われるある種の帯域だけを抜き取るため
のフィルターを用い、このフィルターの出力をモニター
する方法。

【００８０】これらの振幅値の情報はすべてＡ／Ｄ変換
して取り込まれ、デジタル信号処理回路４８内で処理さ
れる。

【００８１】第２の方法としては、ディスクのデータ部
にある光磁気信号情報を直接取り込みその振幅値をモニ
タする方法がある。その手順は、第一の方法と同じであ
る。

【００８２】又は、フォーカスエラー信号に図１１
（ｂ）のようなオフセット量を変化させるための信号を
加え、図１１（ａ）のような光磁気信号の微分回路後の
出力をモニタしてもよい。このとき、光磁気信号の振幅
値が最大となる所でのＡＦオフセット印加信号の電圧値
を読み取り（図１１（ｂ）では点Ｐにあたる）、この値
をフォーカスエラー信号に常に加えることにより、ジャ
ストフォーカスとすることができる。

【００８３】オートフォーカスゲイン調整オートフォーカスゲイン調整の第１の方法について、図
１２を用いて説明する。図１２は、ディジタル信号処理
回路４８内の処理手順の疑似ブロック図である。まず、
ＡＦ、ＡＴサーボをかけ、対物レンズを基準位置とし、
１つのトラックに追従させるか、またはトラックトレー
スの状態とする。図１２において、フォーカスエラー値
（前述の過程でオフセットを除去されている）、和信号
値は、各々Ａ／Ｄ変換された後のディジタルデータであ
り、出力値、評価値もすべてディジタルデータである。
ここで、オートフォーカスループゲインの０ｄＢ交さ周
波数と同じ周波数でエラーとならない程度の外乱値を与
える。その外乱値の振幅は、ディジタル信号処理回路内
でデータの増減により与えられ、その周期も（１／交さ
周波数）秒で与えることができる。外乱値印加後のＢで
の振幅値データと、印加前のＡでの振幅値データを除算
回路９０で比較し、（Ｂ＜Ａ）または（Ｂ＞Ａ）の場合
は乗算回路９１でのＫの値を（Ａ＝Ｂ）となるような操
作を行ないゲイン調整を行なう。

【００８４】第２の方法では、図１３においてディジタ
ル信号処理回路４８をゲートアレイに限定した場合でも
行なえる方法で、発振器８２より外乱を印加した後のＢ
の振幅値と、ゲートアレイ出力後のＡの振幅値を比較
し、Ａ＝Ｂとなるようにゲイン調整を行なう。この時、
Ｂの代わりに出力切換回路７３後のＣを用いてもかまわ
ない。また、Ａでの読み値とＢでの読み値は位相が異な
り同じタイミングでは読み込めないので、外乱の１周期
分をサンプリングしてＡとＢそれぞれの振幅値を検出
し、それらを比較するための比較器８５とゲイン調整を
ゲートアレイに行なわせるためのゲイン設定回路８５を
別途要する。

【００８５】また、ゲートアレイ入力側において、Ａ／
Ｄ変換器６３後に外乱を印加し、その印加後の振幅値と
入力切換回路６２後での振幅値を比較することでもゲイ
ン調整は行なえる。

【００８６】オートトラッキングゲイン調整オートトラッキングゲイン調整は、オートフォーカスゲ
イン調整と同様に行なう。

【００８７】リニアモーターゲイン調整リニアモーターのゲイン調整は図１に示すように、リニ
アモーターコイル３８にリニアモーターループゲインに
おける０ｄＢ交さ周波数と同じ周波数の外乱を与え、こ
れにより発生するリニアモーターの変位をレンズ位置セ
ンサの出力により検出して行なうものである。

【００８８】（第１の方法）リニアモーターはホームポ
ジションで固定されるようサーボをかける。次に、対物
レンズが基準位置となるようにしてフォーカス及びトラ
ッキングサーボをかける。ここで、ディジタル信号処理
回路４８はディジタル外乱信号を発生し、Ｄ／Ａ変換器
７２等を経由してリニアモーターコイルに外乱を印加す
る。外乱によりリニアモーターは振動するが、トラッキ
ングサーボがかかっているため、対物レンズはトラッキ
ングを維持するよう、リニアモーターの動きにあわせて
ディスク半径方向に振動する。したがって、レンズ位置
センサも振動に同期した出力を発生する。リニアモータ
ーオープンループゲインはリニアモーターのメカニカル
な感度を除けば一定であるから、ある一定の外乱振幅を
加えた時にリニアモーターの変位が所定の値（０ｄＢ交
さ周波数で０ｄＢ）となるように、演算ゲイン設定すれ
ば良い。ディジタル信号処理回路４８はレンズ位置セン
サの出力値を読み込み、この振幅値が所定の値となるよ
うにリニアモーターサーボループゲインを設定する。

【００８９】（第２の方法）この方法は、図１３に示す
ようにディジタル信号処理回路４８の外に設けた発振器
８２より外乱を発生するものである。第１の方法と同様
に、ホームポジションにてフォーカス、トラッキング、
リニアモーターの各サーボをかける、また対物レンズ位
置は基準位置であり、外乱周波数は０ｄＢ交さ周波数で
ある。ここでは出力した外乱信号をＡ／Ｄ変換器８６で
取り込み振幅値検出器９２でその振幅を検出しディジタ
ル信号処理回路４８で評価する。リニアモーターの変位
は、第１の方法と同様にレンズ位置センサ出力を検出し
て行なう。一定の外乱振幅を加えた時にリニアモーター
の変位が所定の値（０ｄＢ交さ周波数で０ｄＢ）となる
ように、ディジタル信号処理回路４８は、演算ゲインを
決定する。本方法では、アナログ発振器を用いているた
めディジタル信号処理回路で発振波形を発生させる必要
がないため、ソフトウェア負担が少なくなるのみなら
ず、容易に高い周波数まで発生させることができる。

【００９０】（第３の方法）この方法では、対物レンズ
を基準位置に固定し、トラッキングサーボをオープンと
して、リニアモーターに外乱を加え振動させることによ
り、対物レンズをディスク半径方向に振動させ、トラッ
ク横断時のトラッキングエラー信号をカウントすること
によって、リニアモーターの変位量を検出する。ホーム
ポジションにてフォーカス、リニアモーターの各サーボ
をかけること、外乱周波数が０ｄＢ交さ周波数であるこ
とは、第１の方法と同様である。この場合、偏心成分を
カウントすると、変位量の検出に誤差を生じるので、あ
らかじめ、外乱をかけない状態で、偏心成分のみをカウ
ントしておき、外乱をかけた状態のカウント値から差し
引くことが、必要である。しかしながら、この方法では
最大１トラック程度の誤差が生じることがあるが、変位
量を大きく設定しておけば、問題ない量である。

【００９１】レーザーパワーモニタのリニアリティ補正本発明におけるレーザーパワーのコントロールはモニタ
フォトダイオード７９からの出力信号を検出することで
行なっているが、これのみではモニタがディスクからの
戻り光の影響をうけるためディスクに照射されるレーザ
ー光のパワーを完全な精度でコントロールすることはで
きない。

【００９２】そこで、本発明では、ディスクからの反射
光を用いてリニアリティを補正する。ディスクからの反
射光はサーボセンサ１８で受光され電流電圧変換後、演
算回路４４で和信号（Ｓ₁ ＋Ｓ₂ ＋Ｓ₃ ＋Ｓ₄ ）に変換
される。和信号はＡ／Ｄ変換後、デジタル信号処理回路
４８に入力される、一方、モニタフォトダイオード７９
の出力はプリアンプ８０、Ａ／Ｄ変換器６３を経由して
ディジタル信号処理回路４８に入力される。図１４に示
すように、ディジタル信号処理回路４８は比較的モニタ
リニアリティの良好な１０ｍＷのレーザー光を発光する
ようにレーザードライバー７８を制御する。この時、和
信号が１０Ｖであったとすれば、レーザー出力は和信号
／１０００（Ｗ）である。和信号出力が例えば０．１Ｖ
ずつ下がるようにレーザー出力を下げながらモニタ出力
との関係をデータどりすれば和信号出力をもとにしてモ
ニタ出力を補正することができる。補正データはメモリ
７１に格納されており、このデータでモニタ出力を補正
しレーザーパワーを制御することにより、正確なレーザ
ー照射が可能となる。

【００９３】図１５に、本発明のサーボ系の自動調整法
を実施するためのアルゴリズムについて示す。

【００９４】本発明の自動調整は、光磁気ディスクがロ
ードされ、光磁気ディスク装置が立ち上げられる度に行
なっていも良いし、使用中に装置内に設けた温度センサ
が所定値以上の温度変化を示し、前述したような光学部
品等の位置ずれが懸念されるたびごとに行なっても良
い。光磁気ディスクが新しくロードされる度に自動調整
を行なえば、サーボセンサ等の調整時の位置合わせ誤差
や調整後に生じた位置ずれを、その度に簡単に補正しう
る。そればかりか、ディスクの案内みぞのばらつきに起
因する対物レンズをラジアル方向にずらした場合に生ず
るＡＴオフセットのばらつきやＡＦゲイン、ＡＴゲイン
のばらつきなどもすべて補正することができる。また、
ディスク基板の厚みや屈折率のばらつきに起因するＡＦ
オフセット、ディスク基板のそり等に起因するＡＴオフ
セットなども同時に補正することができる。

【００９５】また、温度センサが所定値以上の温度変化
を示す度に、自動調整を行なえば、温度変化に起因する
光学部品の位置ずれや、半導体レーザの波長変化による
サーボセンサ上の光スポットの位置ずれ等を補正するこ
とができる。例えば、図１６に示した光磁気ディスク装
置において、ビーム整形プリズム３のビーム整形比を
２、ガラスをＢＫ７とすると、光束のふれ角は、波長が
１ｎｍ変化する当たりに３秒程度である。集光レンズ１
５の焦点距離を４０ｍｍとすれば、サーボセンサ上での
光スポットずれは、おおよそ、波長が１ｎｍ変化する当
たりに０．６ミクロン程度となる。半導体レーザは、温
度が１度変化する当たりに０．３ｎｍ波長が変化するの
で、３０度の温度変化では、光スポットのずれは、ほぼ
６ミクロンとなりトラッキングサーボ精度に影響を与え
る。しかし、温度変化が、５度ごとに自動調整を行なえ
ば、上記はほぼ問題のない値に収まる。これにより、ビ
ーム整形プリズム複数の種類のガラスを組み合わせた高
価なものを使用して色消しプリズムとする必要がなくな
る。

【００９６】以上、サーボ系の自動調整について述べて
きたが、本発明は、実施例で述べたフォーカス誤差検出
方式、トラッキング誤差検出方式、対物レンズ位置検出
方式以外のものでも全く構わない。フォーカス誤差とト
ラッキング誤差は、別個の検出器を用いても構わない。

【００９７】また、前述の実施例では、媒体の反射光を
検出するように構成したが、媒体が透過型の場合には、
その透過光を検出することによって、制御手段の構成を
行なうようにしても良い。

【００９８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光情報処
理装置は、装置内の温度変化を検知する温度検知手段を
備え、この温度検知手段で検知された温度変化が所定値
以上となる度に、トラッキング誤差信号あるいはフォー
カス誤差信号のオフセットを自動的に補正するようにし
たので、複雑な調整工程を不要とし、トラッキング誤差
信号あるいはフォーカス誤差信号のオフセットを簡易に
補正することが可能となる効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光情報処理装置に用いる制御回路の一
実施例を示すブロック図である。

【図２】本発明の装置における自動調整の手順を示す流
れ図である。

【図３】本発明で用いるトラッキングエラー信号オフセ
ット値の補正法を説明するための図である。

【図４】本発明で用いる対物レンズ位置センサの出力を
示す図である。

【図５】対物レンズ位置センサを用いてディスクの偏心
を検知する方法を説明するための図である。

【図６】本発明の対物レンズ位置センサの校正法の第１
の実施例を説明するための図である。

【図７】本発明の対物レンズ位置センサの校正法の第２
の実施例を説明するための図である。

【図８】本発明の対物レンズが基準位置からずれたとき
のトラッキングエラー信号のオフセット値の校正法を説
明するための図である。

【図９】本発明のフォーカスエラー信号のオフセット補
正の第１の実施例を説明するための図である。

【図１０】本発明のフォーカスエラー信号のオフセット
補正の第１の実施例を説明するための図である。

【図１１】本発明のフォーカスエラー信号のオフセット
補正の第２の実施例を説明するための図である。

【図１２】本発明のＡＦゲイン調整法の第１の実施例を
説明するための図である。

【図１３】本発明のＡＦゲイン調整法の第２の実施例を
説明するための図である。

【図１４】本発明のレーザ・パワー・モニターのリニア
リティ補正を説明するための図である。

【図１５】本発明を実施するためのアルゴリズムを説明
するための図である。

【図１６】従来の光磁気ディスク装置の光学系を説明す
るための図である。

【図１７】従来の光磁気ディスク装置のアクチュエータ
を説明するための図である。

【図１８】従来の光磁気ディスク装置のリニアモータを
説明するための図である。

【図１９】従来の光磁気ディスクのサーボ系を説明する
ための図である。

【図２０】従来の光磁気ディスク装置のＲＦ系を説明す
るための図である。

【図２１】従来の光磁気ディスクを説明するための図で
ある。

【符号の説明】

１半導体レーザ１８サーボセンサ１９ＲＦセンサ２０ＲＦセンサ３４２分割センサ７９モニタフォトダイオード

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者臼井正幸東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (72)発明者渡辺良彦東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (72)発明者馬場久年東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (72)発明者安藤浩武東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (72)発明者中嶋英雄東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (72)発明者堺信二東京都大田区下丸子３丁目30番２号キヤノン株式会社内 (72)発明者玉木賢二埼玉県秩父市大字下影森1248番地キヤノン電子株式会社内

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】光源と、該光源から発した光ビームをト
ラックが形成された光記録媒体上に照射する光学系と、
前記光ビームの媒体による反射光又は透過光を検出する
光検出器と、該光検出器の出力から光ビームの照射位置
とトラックとの位置ずれを表すトラッキング誤差信号を
生成する手段と、前記光学系の少なくとも一部をトラッ
クを横切る方向に移動させるトラッキングアクチュエー
タと、前記トラッキング誤差信号に応じてトラッキング
アクチュエータを駆動することによって前記位置ずれを
補正するトラッキング制御手段とを有し、前記光記録媒
体に情報の記録及び／又は再生を行なう光情報処理装置
において、前記装置内の温度変化を検知する温度検知手
段と、前記トラッキング誤差信号のオフセットを測定す
る手段と、前記オフセットを補正する手段とを備え、前
記温度検知手段で検知された温度変化が所定値以上とな
る度に、前記オフセットを自動的に補正することを特徴
とする光情報処理装置。
【請求項２】光源と、該光源から発した光ビームを光
記録媒体上に集光する集光レンズと、前記光ビームの媒
体による反射光又は透過光を検出する光検出器と、該光
検出器の出力から光ビームの集光位置と光記録媒体との
デフォーカスを表すフォーカス誤差信号を生成する手段
と、前記光検出器の出力から光記録媒体上に記録された
情報信号を再生する再生手段と、前記集光レンズを光軸
方向に移動させるフォーカスアクチュエータと、前記フ
ォーカス誤差信号に応じてフォーカスアクチュエータを
駆動することによって前記デフォーカスを補正するフォ
ーカス制御手段とから成る光情報処理装置において、前
記装置内の温度変化を検知する温度検知手段と、前記再
生手段によって再生される情報信号の振幅が最大となる
フォーカス位置を検知する手段と、前記フォーカス位置
に光ビームの集光位置を一致させるべく前記フォーカス
誤差信号にオフセットを印加する手段とを備え、前記温
度検知手段で検知された温度変化が所定値以上となる度
に、前記フォーカス位置の検知とオフセットの印加を自
動的に行なうことを特徴とする光情報処理装置。