JPH036408Y2 - - Google Patents

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JPH036408Y2
JPH036408Y2 JP6884282U JP6884282U JPH036408Y2 JP H036408 Y2 JPH036408 Y2 JP H036408Y2 JP 6884282 U JP6884282 U JP 6884282U JP 6884282 U JP6884282 U JP 6884282U JP H036408 Y2 JPH036408 Y2 JP H036408Y2
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heat sink
mold
cavity
resin
pipe
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JP6884282U
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JPS58171315U (ja
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  • Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
  • Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本案は半導体装置用の樹脂モールド装置に関
し、特に放熱板の裏面への樹脂バリの形成を抑制
することを目的とするものである。
一般に半導体装置は例えば第1図〜第2図に示
すように、放熱板Aに半導体素子Bを固定すると
共に、半導体素子Bの電極と一端がそれの近傍に
位置するように配設されたリードCとを金属細線
Dにて接続し、かつ半導体素子Bを含む主要部分
を樹脂材Eにてモールド被覆して構成されてい
る。
ところで、この半導体装置の樹脂材Eによるモ
ールド被覆は例えば第3図に示すように、半導体
装置構成体を上部金型F1、下部金型F2内に、リ
ードCが上部金型F1及び下部金型F2にて挾持さ
れ、かつ放熱板Aの裏面と上部金型F1のキヤビ
テイ内壁面との間にエヤベントGが形成されるよ
うにセツトした上で、キヤビテイに溶融状態の樹
脂材を注入することによつて行われている。
しかし乍ら、リードCの放熱板Aに対する平行
度が良好に保たれている場合には樹脂モールド時
にエヤベント部分への樹脂材Eの流入は実用上殆
んど支障のない程度に抑えることができるもので
あるが、それぞれの平行度が不充分の場合にはリ
ードCの上部金型F1と下部金型F2とによる型締
め時に、エヤベントGの間隔が不所望に広くなつ
たり、狭くなつたりする。そして、特にその間隔
が例えば0.03mm程度と広くなつた場合には樹脂材
の注入時に、溶融樹脂材がエヤベント部分に流入
してしまい。第4図に示すように放熱板Aの裏面
に薄膜状の樹脂バリHが形成される。
この樹脂バリHは形態が一定化せず、外観が著
しく損なわれるのみならず、放熱板Aをシヤーシ
に固定する場合、取付面が密着しないために、放
熱効果が著しく阻害される。
従つて、従来においてはブラツシ法、サンドブ
ラスト法などを用いて樹脂バリHを除去すること
が試みられているが、除去の際に放熱板Aと樹脂
材Eとの境界部分にクラツクが生じたりして耐湿
性が損なわれるという問題がある。
本案はこのような点に鑑み、リードと放熱板と
に若干の不平行状態が存在しても、放熱板への樹
脂バリの形成を効果的に抑えることのできる樹脂
モールド装置を提供するもので、以下実施例につ
いて説明する。
第5図〜第6図において、1は上部金型であつ
て、それの下面にはキヤビテイ2が形成されてい
る。そして、キヤビテイ2の上部内壁面2aの所
望部分には弾性部材例えば耐熱シリコンゴムより
なるパイプ3が、その下端面3aが上部内壁面2
aより若干突出するように植設されている。この
パイプ3は真空系に接続されており、下端部には
適宜にスリツト4が形成されている。一方、上部
金型1の下方には下部金型5が上下動自在なるよ
うに配設されている。そして、下部金型5の上部
金型1のキヤビテイ2に対向する部分にはキヤビ
テイ6が形成されている。
次にこの装置による半導体装置の樹脂モールド
方法について第7図〜第8図を参照して説明す
る。まず、第7図に示すように、放熱板7に半導
体素子8を固定すると共に、半導体素子8の電極
と一端がそれの近傍に位置するように配設された
リード9とを金属細線10にて接続して半導体装
置構成体を得る。次にこの半導体装置構成体を第
8図に示すように上部金型1、下部金型5内に、
リード9が上部金型1及び下部金型5にて挾持さ
れ、かつ放熱板7の裏面が上部金型1の上部内壁
面2aより突出するパイプ3の下端面3aにて真
空吸着されるようにセツトする。そして、キヤビ
テイ2,6内に溶融状態の樹脂材11を注入する
と、キヤビテイ内の空気は上部内壁面2aと放熱
板7の裏面との間に形成されたエヤベント12、
スリツト4を介してパイプ3に排出される。樹脂
材11の硬化後、上部金型1、下部金型5より取
出し、不要なタイバーを切除することによつて半
導体装置の樹脂モールドを完了する。
このように上部金型1の上部内壁面2aにはパ
イプ3が、その下端面3aが上部内壁面2aより
若干例えば0.01mm程度突出するように植設されて
いるので、仮にリード9の放熱板7に対する平行
度が不充分であることに原因してエヤベント12
の間隔が不所望に広くなつても、放熱板7の裏面
がパイプ3の下端面3aに強制的に真空吸引さ
れ、エヤベント12の間隔はパイプ3の突出量に
よつて定まる所望値に修正される。このために、
樹脂モールド時に、溶融状態の樹脂材のエヤベン
ト部分への流入を抑制でき、樹脂バリの発生を効
果的に防止できる。
又、パイプ3の上部内壁面2aから突出する下
端部には放熱板7の真空吸引に支障のない程度の
スリツト4が形成されているので、キヤビテイ
2,6内の空気をエヤベント12、スリツト4を
介してパイプ3に強制的に排出できる。このため
に、キヤビテイ2,6に注入された樹脂材11へ
のボイドの形成を効果的に減少できる。
尚、本案において、パイプは放熱板の裏面が下
部金型側となるように配置される場合には下部金
型に植設しなければなららい。又、パイプのキヤ
ビテイ内壁面への突出量は0.01mmに限定されるこ
となく、適宜に変更できる。
以上のように本案によれば、リードと放熱板と
に若干の不平行状態が存在しても、放熱板への樹
脂バリの形成を効果的に抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の半導体装置の横断面図、第2図
は第1図の側断面図、第3図は樹脂モールド方法
を説明するための側断面図、第4図は第1図の下
面図、第5図は本案の一実施例を示す側断面図、
第6図は上部金型の下面図、第7図〜第8図は樹
脂モールド方法の説明図であつて、第7図は半導
体装置構成体の平面図、第8図は上部金型、下部
金型へのセツト状態を示す側断面図である。 図中、1は上部金型、2,6はキヤビテイ、3
はパイプ、3aは下端、5は下部金型、12はエ
ヤベントである。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 上下一対の金型衝合面に形成したキヤビテイ内
    に放熱板の一つの面を近接させて収容しキヤビテ
    イ内に樹脂を注入して放熱板の主要部分を樹脂モ
    ールドする装置において、 上記放熱板が近接するキヤビテイ内壁に、真空
    系に接続されかつ端面にスリツトを形成した弾性
    部材よりなるパイプを、上記端面が若干突出する
    ように植設したことを特徴とする樹脂モールド装
    置。
JP6884282U 1982-05-11 1982-05-11 樹脂モ−ルド装置 Granted JPS58171315U (ja)

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JP6884282U JPS58171315U (ja) 1982-05-11 1982-05-11 樹脂モ−ルド装置

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JPS58171315U JPS58171315U (ja) 1983-11-16
JPH036408Y2 true JPH036408Y2 (ja) 1991-02-19

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ID=30078593

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