JPH03502075A - フルオロ重合体材料をレーザー穿孔する方法 - Google Patents
フルオロ重合体材料をレーザー穿孔する方法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
フルオロ重合体材料をレーザー穿孔する方法背景技術
本発明は一般にフルオロ重合体複合材料のレーザー融触(ablation )
に関する。特に本発明は紫外放射線を用いフルオロ重合体複合材料をレーザー融
触してめっき貫通孔及びめっきバイア(vi、)を製造するため回路基板に孔を
形成することに関する。
良く知られているように、回路製造中に、回路基板及び導電性層を通る孔を形成
することが要求される。これらの孔は、多層回路積層体中の異なる導電性層を相
互接続するバイアを形成するため、及び二層クラッド(diclad )積層体
中の間隔を置いて対向する回路層を相互接続するため必要なめつき貫通孔を作る
ために使用される。
しばしば一般に銅クラツド積層体を通る非常に小さい直径(代表的には25〜2
00m)を有するかかる孔を形成する要求がある。更に製造原価を低く保つため
、これらの小直径の孔は合理的な速度(例えば1秒Iこついて約1個の孔)で形
成する必要がある。小孔にしてかかる孔は機械的穿孔技術で作ることは困難もし
くは不可能である。
現在は、フルオロ重合体基板中−こバイアを穿孔するため赤外レーザー放射線(
CO,レーザーを用いる)が使用されている。CO,レーザー(10,6+y+
)の赤外波長でフルオロ重合体は吸収性であり、容易lこ融触される。しかしな
がら長波長のため、融触は純粋に熱的である。孔壁はしばしば粗く、損傷される
、これは可能な分解能(resolution)を制限する。更メこCO2レー
ザー波長では、薄い炭素質残渣が銅又は孔壁上lζ残り、そしてしばしば孔の周
囲の面に残る、これひいてはプラズマ洗浄等の如き高価な方法で更に洗浄するこ
とを必要とする。プラズマ洗浄は費用がかかり、問題の多いものである。
紫外放射線(赤外放射線に対向するものとして)による融触がポリイミド回路材
料を蝕刻するために提案された(ブランノン等の米国特許第4508749号参
照)。しかしながらフルオロ重合体回路積層体材料中に孔を形成するため紫外放
射線は一般に実施不可能であると考えられて来た、何故ならばフルオロ重合体は
紫外放射線(200〜400ガm)を吸収しないからである。例えば[0pti
calAbsorption of Some Polymers in th
a Regions 240−170 nmJの表題のPh1liT)p等の論
文(Appl、 PhyS、 Lett48(2)、1986年1月12日)に
おいて、著者はポリテトラフルオロエチレンに対し193 nmでの吸収係数は
約2×10!/αであり、これに対して例えばポリイミドは4 X 1. O’
/薗である証明を提示している。193 nm及び248 nmの波長でのレー
ザーを用いて同様の結果がHansen等による[Formation of
Polymer Films by Pu1sed La5erEvapora
tion Jの表題の論文(Appl、 Phys、 Lett、 52 (1
)。
1988年1月4日)に報告された。従って、米国特許第4508749号Iこ
記載されているものの如きポリイミド材料は紫外放射線によって融触できること
は真に明らかであるが、一般に紫外放射線はフルオロ重合体材料の融触のために
は実際的lこは使用できないと考えられている。
先行技術の前記及び他の問題及び欠点は、本発明のフルオロ重合体複合材料を融
触する方法fこより克服又は軽減される。本発明によれば、本発明者等は小孔(
3,00m未満)を紫外線レーザーを用いてフルオロ重合体複合積層体中に形成
できることを見出した。形成される孔は、孔中に残る残渣又は破片が殆んどない
か又は全くなく、重合体に対する損傷が最小である平滑な側壁を有するバイア及
びめっきした貫通孔を作るために使用できる。従ってバイア及びめっき貫通孔は
更lこ洗浄処理することなくめつきできる。更に孔は相対的に早い速度で形成さ
れる。
本発明の前述の及び他の特長及び利点は以下の詳細な説明及び図面から当業者l
こは理解されるであろう。
図面の簡単な説明
ここで図面を参照する−こ、各図面において同様の素子は同様の番号を付しであ
る。
第1図はフルオロ重合体複合材料中にバイアを作るための紫外線レーザーの側立
面略図である。
第2図は第1図の装置を用いて形成した無電解めっきバイアの立面断面図である
。
第3図は第1図の装置を用いて形成した電気めっきバイアの立面断面図である。
第4図はフルオロ重合体複合二層クラッド材料中にめつき貫通孔を作るための紫
外線レーザーの側立面略図である。
第5図は第4図の装置を用いて形成した無電解めっき貫通孔の断面図である。
本発明はフルオロ重合体複合材料の紫外線レーザー融触の方法に関する。190
nm〜400 nmの波長の紫外レーザー放射線を、容量で60%まで又はそ
れ以上の充填材を有するフルオロ重合体複合体中に小さなきれいな孔を穿孔する
ためメこ使用できることを見出した。このことは、フルオロ重合体が紫外放射線
に対して透過性であることが知られていたことから意外なそして驚くべき発見で
ある。フルオロ重合体はこれらの波長で全く透過性であるので、フルオロ重合体
Iと充填材を加えることは吸収性を増加し、従って蝕刻効率を増大することが理
論付けされる。充填材吸収能−こ加えて、フルオロ重合体複合体吸収能を増大さ
せうる他の要因には、粒形及び表面粗さ、粒子反射能、及び充填材の容量%を含
む。これらの要因の一つ以上が入射エネルギーを吸収し、充填材及びフルオロ重
合体の両者の清浄な融触を行う役割を果すよう嘉こなりうる。勿論、前述したこ
とは理論としてのみ述べたのであり、出願人は本発明の前述した機構lこ拘束さ
れない。
ひるがえて第1図を参照するに、直接的lこ収斂された紫外線レーザー放射線を
用い、又は収斂する前lこマスクを介してレーザー光を指光させることによって
フルオロ重合体複合基板lこバイアが穿孔できることが認められるであろう。
第1図において、マスク又はパターン12、収斂レンズ14を介してフルオロ重
合体積層体16上に紫外放射線を指向させる紫外線レーザーが10で示してあり
、フルオロ重合体積層体は、金属層20(例えば銅)で−側をクラッドした充填
されたフルオロ重合体基板材料18の層からなっている。或いはマスク12は既
知の形式でフルオロ重合体基板16上に直装置いてもよい。
フルオロ重合体基板材料18は好適な繊維又は粒状充填材で充填する。好適なフ
ルオロ重合体の例には、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、TgFとパ
ーフルオロビニルエーテル(PFA)の共重合体、TEFとへキサフルオロプロ
ヒレン(FEP)の共重合体、ポリクロロトリフルオロエチレン(PCTFE
)及びこれらの樹脂を含む複合体を含む。充填材−こは微小ガラス、シリカ、二
酸化チタン、炭素繊維、微小気球、ケブラー(Kevlar )及び他のセラミ
ック又は重合体充填材を含みつる。又充填材含有率は60%以上であることがで
き、充填材粒子は種々の大きさくサブミクロンから10100n及び形(繊維、
球又は不規則粒子)であることができる。銅に加えて、使用するクラツディング
は他の金属例えば金、銀、クロム及びニッケルであることができる。本発明の方
法は、商標名RT/DUROID及びDURCHDでロジャース・コーポレイシ
ョン(本願の譲受人)によって市販されているマイクロ波積層体で使用するのに
特に良く適している。更−こ他の特に有利な材料には、商標名RO2500及び
RO2800でロジャース・コーポレイシヨン−こよって市販され、米国特許第
4647508号及び第4634631号及び1987年2月17日付出願の米
国特許出願第015191号(これらの全てが本譲受人に譲渡された)に記載さ
れたフルオロ重合体積層体がある。
PTFEの吸収係数が無視しうると考えられる程小さいので(100σ−1未満
)、充填材が融触の効率を改良すると信ぜられる。従って充填材は蝕刻効率を改
良するための吸収能を増大できる。
第2図及び第3図に示す如く、フルオロ重合体材料を通して形成される孔は、1
0〜6.0J/mの範囲のエネルギー密度及び193 nm、 (ArF )、
248 nm (KrF )、308nm(XeC1)及び351 nm (X
eF)で紫外線エキシマ−レーザー(exeimer 1aser )を用いて
ブラインドバイアを作るためIこ作ることができる。
25〜5.0μm //パルスのフルオロ重合体融触速度がこのエネルギー範囲
を生ぜしめる、これは150Hzで037〜075顛/秒−こ相当する。4J/
−でRO2800tこ穿孔したブラインドバイアの例を第2図及び第3図1こ示
す。穿孔に続いて、無電解めっき及びスパッタリング又は蒸発の如き蒸着法を含
む任意の既知の方法を用いて金属化してブラインドバイア24を形成できる(第
2図):又は孔は更にレーザー洗浄することなく電気めっきして電気めっきブラ
インドバイア26を形成できる(第3図)。
バイrの製造に関して、本発明の紫外線レーザー穿孔法は、従来の赤外線レーザ
ー(Co、及びNd−YAG L’−ザー)法よりもすぐれた多くの利点を示す
。その第一は、ブラインドバイアを紫外線で穿孔するとき、更に洗浄(例えば高
価プラズマ洗浄)することなく底部は清浄であり、めっきできる。CO2レーザ
ーを用いて作ったバイアは、銅面上に残渣が残ることにより、めっき前に後レー
ザー洗浄を必要とする。又赤外線に対して紫外線の短波長の結果として分解能が
改良され、融触は熱的のみならず光化学的であり得、より清浄で良く規定された
バイアを生せしめる。更にフルオロ重合体のレーザー融触が急速であり、5μm
/パルスの代表的な除去速度を有する、これは150 Hzのレブ速度で0.7
5m/秒に相当する。
ひるがえて第4図を参照するlζ、第1図に示したのと実質的lこ同じ紫外線レ
ーザーアセンブリを、めっき貫通孔の形成のため二層クラッド積層体28を用い
て使用するために示しである。二層クラッド積層体28は、金属層(一般に銅)
32及び34で対向側をクラッドした前述した種類のフルオロ重合体複合基板3
0を含む。貫通孔(第5図)は、193 nm (ArF )、248 nm
(KrF )、308 nm(XeCe )及び351 nm (XeF )で
、4.0−8.0j/cIIIの範囲のエネルギー密度で紫外線エキシマ−レー
ザーを用いて作ることができる。これらの条件で、フルオロ重合体は25〜50
μm/パルスの速度で融触される、これは150Hzで0.37〜0.75 m
、/秒の速度lこ相当する。銅は0.070〜0.10μm //’ルスの速度
で融触し、これは150 Hzで10〜15μm/秒の蝕刻速度に相当する。こ
の方法で作られる貫通孔の例を第5図に示す。重合体の低吸収能及び銅の高吸収
能により、最小の重合体損傷が見出された。バイア穿孔lこ続いて貫通孔を無電
解めっき(又は蒸着)し、次いで電気めっきしてめっき貫通孔36を形成する。
前述した如く、本発明の紫外線レーザー穿孔法は従来の赤外線レーザー(co!
及びNd −YAC)レーザー)法よりもすぐれた多くの利点を示す。紫外線波
長での一定の金属(即ち銅)の低反射能により、線外線レーザー波長の場合に比
較して低エネルギー密度で二層クラッド基板を通ってバイアを穿孔できる。更に
フルオロ重合体の低吸収能により、融触限値は殆んどの重合体に関し犬である。
従って孔は、孔壁近くのフルオロ重合体中に見出される損傷の殆んどなく銅/フ
ルオロ重合体複積層体中に穿孔できる。最後に、赤外線lこ対して紫外線の短波
長の結果として、分解が改良され、融触が光化学的及び熱的であることができ、
洗浄で良く規定されたバイアを生ぜしめることができる。かかる清浄Iこして良
く規定された貫通孔は一般に赤外線レーザーを用いては得られない、何故なら赤
外線レーザーは要求される高エネルギーのため貫通孔領域中の金属/it界面で
層剥離をもたらす(例えば孔で誘電体の蝕刻戻りをもたらす)からである。本発
明は又比較的小さい貫通孔(例えば50〜100未満)の形成を可能にする、し
かしより犬なる貫通孔及びブラインドバイア(例えば100より大)もこの方法
で作りうることは認められることは勿論である。
好ましい実施態を示し、説明したが、本発明の範囲を逸脱することなく種々の改
変及び置換をすることができる。
従って本発明は例によって示したのであって、限定するためではない。
平成3年ノ 月Qθ日
Claims (16)
- 1.充填したフルオロ重合体複合体上に、前記複合体を融蝕し、孔を形成するに 充分な時間紫外放射線を送出する工程を含む充填フルオロ重合体複合体を通して 孔を形成する方法。
- 2.紫外放射線源と前記充填フルオロ重合体複合体の間にマスクを置き、前記マ スクには予め選択したパターンを有せしめ: 前記紫外放射線を前記マスク中の前記パターンを介して指向させ、前記紫外放射 線を前記複合体上で像映せしめる工程を含む請求の範囲第1項記載の方法。
- 3.前記マスク及び前記複合体の間に光学装置を置き、前記紫外放射線を前記光 学装置を通して指向させる工程を含む請求の範囲第2項記載の方法。
- 4.前記フルオロ重合体複合体が対向面を有する基板を有し、前記基板の前記対 向面の一つに少くとも第一金属層を含む請求の範囲第1項記載の方法。
- 5.前記基板の前記対向面の他の側に第二金属層を含む請求の範囲第4項記載の 方法。
- 6.電気めつきしたブラインドバイを規定するため前記孔を電気めつきすること を含む請求の範囲第4項記載の方法。
- 7.ブラインドバイアを規定するため前記孔を金属化することを含む請求の範囲 第4項記載の方法。
- 8.前記金属化工程が、前記孔中に金属を無電解めつきするか又は蒸着すること を含む請求の範囲第7項記載の方法。
- 9.前記孔が貫通孔を規定し、前記貫通孔を金属化することを含む請求の範囲第 5項記載の方法。
- 10.前記金属化工程が、前記貫通孔中に金属を無電解めつきするか又は蒸着す ることを含む請求の範囲第9項記載の方法。
- 11.前記紫外放射線を、1.0〜6.0J/cm2の範囲のエネルギー密度を 有する紫外線エキシマーレーザーで送出する請求の範囲第4項記載の方法。
- 12.前記紫外放射線を、4.0〜8.0J/cm2の範囲のエネルギー密度を 有する紫外線エキシマーレーザーで送出する請求の範囲第5項記載の方法。
- 13.前記フルオロ重合体複合体が、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE) 、PTFEとパーフルオロビニルエーテル(PFA)の共重合体、PTFEとヘ キサフルオロプロピレン(FEP)の共重合体及びポリクロロトリフルオロエチ レン(PCTFE)からなる群から選択したフルオロ重合体の少なくとも1種を 含有する請求の範囲第1項記載の方法。
- 14.前記充填フルオロ重合体複合体が、微小ガラス、シリカ、二酸化炭素、微 小気球及びXevlarからなる群から選択した充填材の少なくとも1種を含有 する請求の範囲第1項記載の方法。
- 15.前記充填フルオロ重合体がセラミツク及び重合体充填材からなる群から選 択した充填材の少なくとも1種を含有する請求の範囲第1項記載の方法。
- 16.前記紫外放射線が約190nm〜400nmの波長を有する請求の範囲第 1項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
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US07/231,693 US4915981A (en) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | Method of laser drilling fluoropolymer materials |
US231,693 | 1988-08-12 |
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---|---|
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---|---|---|---|
JP1508138A Pending JPH03502075A (ja) | 1988-08-12 | 1989-07-24 | フルオロ重合体材料をレーザー穿孔する方法 |
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---|---|
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WO (1) | WO1990001374A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024005103A1 (ja) * | 2022-06-30 | 2024-01-04 | 太陽ホールディングス株式会社 | 回路基板の製造方法 |
Families Citing this family (102)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5708252A (en) * | 1986-09-26 | 1998-01-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Excimer laser scanning system |
US6149988A (en) * | 1986-09-26 | 2000-11-21 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method and system of laser processing |
US5179262A (en) * | 1986-10-14 | 1993-01-12 | Allergan, Inc. | Manufacture of ophthalmic lenses by excimer laser |
US6261856B1 (en) | 1987-09-16 | 2001-07-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method and system of laser processing |
WO1989007337A1 (en) * | 1988-02-05 | 1989-08-10 | Raychem Limited | Laser-machining polymers |
US5066565A (en) * | 1989-03-29 | 1991-11-19 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Selective protection of poly(tetra-fluoroethylene) from effects of chemical etching |
US5169678A (en) * | 1989-12-26 | 1992-12-08 | General Electric Company | Laser ablatable polymer dielectrics and methods |
FR2656734B1 (fr) * | 1990-01-03 | 1992-03-20 | Filotex Sa | Cable electrique ou a fibres optiques marquable par plusieurs types de lasers. |
US5066357A (en) * | 1990-01-11 | 1991-11-19 | Hewlett-Packard Company | Method for making flexible circuit card with laser-contoured vias and machined capacitors |
JP2862637B2 (ja) * | 1990-06-01 | 1999-03-03 | 株式会社東芝 | サーマルヘッドの製造方法 |
US5291226A (en) * | 1990-08-16 | 1994-03-01 | Hewlett-Packard Company | Nozzle member including ink flow channels |
US5469199A (en) * | 1990-08-16 | 1995-11-21 | Hewlett-Packard Company | Wide inkjet printhead |
US5305015A (en) * | 1990-08-16 | 1994-04-19 | Hewlett-Packard Company | Laser ablated nozzle member for inkjet printhead |
EP0471157B1 (en) * | 1990-08-16 | 1995-08-09 | Hewlett-Packard Company | Photo-ablated components for inkjet printhead |
US5442384A (en) * | 1990-08-16 | 1995-08-15 | Hewlett-Packard Company | Integrated nozzle member and tab circuit for inkjet printhead |
US5639391A (en) * | 1990-09-24 | 1997-06-17 | Dale Electronics, Inc. | Laser formed electrical component and method for making the same |
US5147680A (en) * | 1990-11-13 | 1992-09-15 | Paul Slysh | Laser assisted masking process |
JPH0613495A (ja) * | 1990-12-13 | 1994-01-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 電子回路パッケージのためのレーザー加工性で、低熱膨張率、低誘電率のコア材料、そのコア材料および電子回路パッケージの製造方法 |
US5312576B1 (en) | 1991-05-24 | 2000-04-18 | World Properties Inc | Method for making particulate filled composite film |
US5539609A (en) * | 1992-12-02 | 1996-07-23 | Applied Materials, Inc. | Electrostatic chuck usable in high density plasma |
DE69306600T2 (de) * | 1992-01-17 | 1997-04-17 | Fujitsu Ltd | Verfahren zur Herstellung eines mehrschichtigen Leitersubstrats |
US5297331A (en) * | 1992-04-03 | 1994-03-29 | Hewlett-Packard Company | Method for aligning a substrate with respect to orifices in an inkjet printhead |
US5278584A (en) * | 1992-04-02 | 1994-01-11 | Hewlett-Packard Company | Ink delivery system for an inkjet printhead |
US5300959A (en) * | 1992-04-02 | 1994-04-05 | Hewlett-Packard Company | Efficient conductor routing for inkjet printhead |
US5420627A (en) * | 1992-04-02 | 1995-05-30 | Hewlett-Packard Company | Inkjet printhead |
US5450113A (en) * | 1992-04-02 | 1995-09-12 | Hewlett-Packard Company | Inkjet printhead with improved seal arrangement |
US5322986A (en) * | 1992-04-06 | 1994-06-21 | Eastman Kodak Company | Methods for preparing polymer stripe waveguides and polymer stripe waveguides prepared thereby |
US5276955A (en) * | 1992-04-14 | 1994-01-11 | Supercomputer Systems Limited Partnership | Multilayer interconnect system for an area array interconnection using solid state diffusion |
US5192580A (en) * | 1992-04-16 | 1993-03-09 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process for making thin polymer film by pulsed laser evaporation |
US5483100A (en) * | 1992-06-02 | 1996-01-09 | Amkor Electronics, Inc. | Integrated circuit package with via interconnections formed in a substrate |
US5584956A (en) * | 1992-12-09 | 1996-12-17 | University Of Iowa Research Foundation | Method for producing conductive or insulating feedthroughs in a substrate |
US5316803A (en) * | 1992-12-10 | 1994-05-31 | International Business Machines Corporation | Method for forming electrical interconnections in laminated vias |
JP3118103B2 (ja) * | 1992-12-21 | 2000-12-18 | 矢崎総業株式会社 | 電気回路用導電部材、電気回路体及びその製造方法 |
US5367143A (en) * | 1992-12-30 | 1994-11-22 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for multi-beam drilling |
GB9300545D0 (en) * | 1993-01-13 | 1993-03-10 | Hurel Dubois Uk Ltd | Carbon fibre panels |
US5288528A (en) * | 1993-02-02 | 1994-02-22 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process for producing thin polymer film by pulsed laser evaporation |
US5364493A (en) * | 1993-05-06 | 1994-11-15 | Litel Instruments | Apparatus and process for the production of fine line metal traces |
US5378137A (en) * | 1993-05-10 | 1995-01-03 | Hewlett-Packard Company | Mask design for forming tapered inkjet nozzles |
KR100259969B1 (ko) * | 1993-09-30 | 2000-06-15 | 로버트 피. 아킨즈 | 전필드마스크 조사 강화방법 및 장치 |
US5785787A (en) * | 1994-05-23 | 1998-07-28 | General Electric Company | Processing low dielectric constant materials for high speed electronics |
US5449427A (en) * | 1994-05-23 | 1995-09-12 | General Electric Company | Processing low dielectric constant materials for high speed electronics |
US5536579A (en) * | 1994-06-02 | 1996-07-16 | International Business Machines Corporation | Design of high density structures with laser etch stop |
US5614114A (en) * | 1994-07-18 | 1997-03-25 | Electro Scientific Industries, Inc. | Laser system and method for plating vias |
US5593606A (en) * | 1994-07-18 | 1997-01-14 | Electro Scientific Industries, Inc. | Ultraviolet laser system and method for forming vias in multi-layered targets |
US5841099A (en) * | 1994-07-18 | 1998-11-24 | Electro Scientific Industries, Inc. | Method employing UV laser pulses of varied energy density to form depthwise self-limiting blind vias in multilayered targets |
US5567329A (en) * | 1995-01-27 | 1996-10-22 | Martin Marietta Corporation | Method and system for fabricating a multilayer laminate for a printed wiring board, and a printed wiring board formed thereby |
US5736998A (en) * | 1995-03-06 | 1998-04-07 | Hewlett-Packard Company | Inkjet cartridge design for facilitating the adhesive sealing of a printhead to an ink reservoir |
US5852460A (en) * | 1995-03-06 | 1998-12-22 | Hewlett-Packard Company | Inkjet print cartridge design to decrease deformation of the printhead when adhesively sealing the printhead to the print cartridge |
US5877551A (en) * | 1996-11-18 | 1999-03-02 | Olin Corporation | Semiconductor package having a ground or power ring and a metal substrate |
WO1997044203A1 (en) * | 1996-05-21 | 1997-11-27 | Empak, Inc. | Fluoropolymer marking system |
US5841102A (en) * | 1996-11-08 | 1998-11-24 | W. L. Gore & Associates, Inc. | Multiple pulse space processing to enhance via entrance formation at 355 nm |
US6103992A (en) | 1996-11-08 | 2000-08-15 | W. L. Gore & Associates, Inc. | Multiple frequency processing to minimize manufacturing variability of high aspect ratio micro through-vias |
WO1998020534A1 (en) * | 1996-11-08 | 1998-05-14 | W.L. Gore & Associates, Inc. | Method for using fiducial schemes to increase nominal registration |
US5965043A (en) * | 1996-11-08 | 1999-10-12 | W. L. Gore & Associates, Inc. | Method for using ultrasonic treatment in combination with UV-lasers to enable plating of high aspect ratio micro-vias |
US5868950A (en) * | 1996-11-08 | 1999-02-09 | W. L. Gore & Associates, Inc. | Method to correct astigmatism of fourth yag to enable formation of sub 25 micron micro-vias using masking techniques |
US6023041A (en) * | 1996-11-08 | 2000-02-08 | W.L. Gore & Associates, Inc. | Method for using photoabsorptive coatings and consumable copper to control exit via redeposit as well as diameter variance |
US5910255A (en) * | 1996-11-08 | 1999-06-08 | W. L. Gore & Associates, Inc. | Method of sequential laser processing to efficiently manufacture modules requiring large volumetric density material removal for micro-via formation |
AU4902897A (en) * | 1996-11-08 | 1998-05-29 | W.L. Gore & Associates, Inc. | Method for improving reliability of thin circuit substrates by increasing the T of the substrate |
US5888630A (en) * | 1996-11-08 | 1999-03-30 | W. L. Gore & Associates, Inc. | Apparatus and method for unit area composition control to minimize warp in an integrated circuit chip package assembly |
US5863446A (en) * | 1996-11-08 | 1999-01-26 | W. L. Gore & Associates, Inc. | Electrical means for extracting layer to layer registration |
JP2001525120A (ja) * | 1996-11-08 | 2001-12-04 | ダブリュ.エル.ゴア アンド アソシエイツ,インコーポレイティド | ブラインドおよびスルーの両マイクロ―ヴァイアの入口の品質を向上するために吸光コーティングを用いる方法 |
US6025256A (en) * | 1997-01-06 | 2000-02-15 | Electro Scientific Industries, Inc. | Laser based method and system for integrated circuit repair or reconfiguration |
US5973290A (en) * | 1997-02-26 | 1999-10-26 | W. L. Gore & Associates, Inc. | Laser apparatus having improved via processing rate |
US6057180A (en) * | 1998-06-05 | 2000-05-02 | Electro Scientific Industries, Inc. | Method of severing electrically conductive links with ultraviolet laser output |
DE19840926B4 (de) * | 1998-09-08 | 2013-07-11 | Hell Gravure Systems Gmbh & Co. Kg | Anordnung zur Materialbearbeitung mittels Laserstrahlen und deren Verwendung |
US5997985A (en) * | 1998-09-10 | 1999-12-07 | Northrop Grumman Corporation | Method of forming acoustic attenuation chambers using laser processing of multi-layered polymer films |
US6080959A (en) * | 1999-03-12 | 2000-06-27 | Lexmark International, Inc. | System and method for feature compensation of an ablated inkjet nozzle plate |
US6361923B1 (en) | 1999-08-17 | 2002-03-26 | International Business Machines Corporation | Laser ablatable material and its use |
WO2001015819A1 (en) * | 1999-08-30 | 2001-03-08 | Board Of Regents University Of Nebraska-Lincoln | Three-dimensional electrical interconnects |
US20090168111A9 (en) * | 1999-09-01 | 2009-07-02 | Hell Gravure Systems Gmbh | Printing form processing with fine and coarse engraving tool processing tracks |
US6509546B1 (en) | 2000-03-15 | 2003-01-21 | International Business Machines Corporation | Laser excision of laminate chip carriers |
WO2001089756A1 (en) * | 2000-05-23 | 2001-11-29 | Sumitomo Heavy Industries, Ltd. | Laser drilling method |
US6631977B2 (en) | 2001-07-25 | 2003-10-14 | Xerox Corporation | Laser ablatable hydrophobic fluorine-containing graft copolymers |
US7357486B2 (en) | 2001-12-20 | 2008-04-15 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of laser machining a fluid slot |
US20030155328A1 (en) * | 2002-02-15 | 2003-08-21 | Huth Mark C. | Laser micromachining and methods and systems of same |
AU2002950855A0 (en) * | 2002-08-19 | 2002-09-12 | Swinburne University Of Technology | Materials |
US6946013B2 (en) * | 2002-10-28 | 2005-09-20 | Geo2 Technologies, Inc. | Ceramic exhaust filter |
US7370655B2 (en) * | 2003-01-17 | 2008-05-13 | Cabot Safety Intermediate Corporation | Method of forming an earplug by laser ablation and an earplug formed thereby |
JP2005181958A (ja) * | 2003-12-22 | 2005-07-07 | Rohm & Haas Electronic Materials Llc | レーザーアブレーションを用いる電子部品および光学部品の形成方法 |
CN100518450C (zh) * | 2004-02-17 | 2009-07-22 | 日立比亚机械股份有限公司 | 衬底的制造方法 |
US7419912B2 (en) * | 2004-04-01 | 2008-09-02 | Cree, Inc. | Laser patterning of light emitting devices |
US20060279793A1 (en) * | 2004-07-30 | 2006-12-14 | Hell Gravure Systems Gmbh | Printing form processing with a plurality of engraving tool tracks forming lines |
US7682577B2 (en) | 2005-11-07 | 2010-03-23 | Geo2 Technologies, Inc. | Catalytic exhaust device for simplified installation or replacement |
US7211232B1 (en) | 2005-11-07 | 2007-05-01 | Geo2 Technologies, Inc. | Refractory exhaust filtering method and apparatus |
US7682578B2 (en) | 2005-11-07 | 2010-03-23 | Geo2 Technologies, Inc. | Device for catalytically reducing exhaust |
US7722828B2 (en) | 2005-12-30 | 2010-05-25 | Geo2 Technologies, Inc. | Catalytic fibrous exhaust system and method for catalyzing an exhaust gas |
US7563415B2 (en) * | 2006-03-03 | 2009-07-21 | Geo2 Technologies, Inc | Catalytic exhaust filter device |
DE102007006634B4 (de) * | 2007-02-06 | 2010-12-16 | Laser-Laboratorium Göttingen e.V. | Verfahren zur PTFE-Oberflächenmodifizierung, Verfahren zum Verkleben einer Oberfläche aus PTFE sowie Bauteil mit einer Oberfläche aus PTFE |
US8603628B2 (en) * | 2007-04-30 | 2013-12-10 | Saint-Gobain Performance Plastics Corporation | Turbine blade protective barrier |
KR101326127B1 (ko) * | 2007-09-05 | 2013-11-06 | 재단법인서울대학교산학협력재단 | 패턴 어레이 형성 방법 및 이를 사용하여 형성된 패턴어레이를 포함하는 유기 소자 |
SG183311A1 (en) * | 2010-05-07 | 2012-09-27 | Jx Nippon Mining & Metals Corp | Copper foil for printed circuit |
US9180654B2 (en) | 2012-04-26 | 2015-11-10 | Eastman Kodak Company | Reactive fluoropolymer and laser-engraveable compositions and preparatory methods |
US9566666B2 (en) | 2013-03-13 | 2017-02-14 | Abbott Cardiovascular Systems Inc. | Short pulse laser machining of polymers enhanced with light absorbers for fabricating medical devices |
US9583458B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-02-28 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Methods for bonding a hermetic module to an electrode array |
CN103921004A (zh) * | 2014-04-18 | 2014-07-16 | 安捷利(番禺)电子实业有限公司 | 一种uv激光钻孔制备多层结构通孔的方法 |
US10533249B2 (en) | 2017-05-18 | 2020-01-14 | GM Global Technology Operations LLC | Method of forming a self-cleaning film system |
US10556231B2 (en) | 2017-05-18 | 2020-02-11 | GM Global Technology Operations LLC | Self-cleaning film system and method of forming same |
US10583428B2 (en) | 2017-05-18 | 2020-03-10 | GM Global Technology Operations LLC | Self-cleaning film system and method of forming same |
US10754067B2 (en) | 2017-05-18 | 2020-08-25 | GM Global Technology Operations LLC | Textured self-cleaning film system and method of forming same |
US10429641B2 (en) | 2017-05-31 | 2019-10-01 | GM Global Technology Operations LLC | Light-enhanced self-cleaning film system and method of forming same |
JP7325194B2 (ja) * | 2019-02-19 | 2023-08-14 | 三菱重工業株式会社 | 溶接物製造方法、溶接物製造システム及び溶接物 |
CN111263523B (zh) * | 2020-03-17 | 2021-06-29 | 厦门市铂联科技股份有限公司 | 一种fpc焊盘孔制作方法及fpc产品 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60261685A (ja) * | 1984-05-18 | 1985-12-24 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 多層構造に対する貫通接触孔形成装置 |
JPS61273287A (ja) * | 1985-05-28 | 1986-12-03 | Toyota Motor Corp | 合成樹脂材料の穴加工方法 |
JPS6369106A (ja) * | 1986-09-11 | 1988-03-29 | 松下電工株式会社 | 電気用積層板及びそれを用いたプリント配線基板 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4473737A (en) * | 1981-09-28 | 1984-09-25 | General Electric Company | Reverse laser drilling |
NL8300525A (nl) * | 1983-02-11 | 1984-09-03 | Metal Box Plc | Werkwijze voor het merken van polymeren met laserstralen en met deze werkwijze gemerkte houders uit polymeer materiaal. |
US4508749A (en) * | 1983-12-27 | 1985-04-02 | International Business Machines Corporation | Patterning of polyimide films with ultraviolet light |
US4598039A (en) * | 1984-07-02 | 1986-07-01 | At&T Bell Laboratories | Formation of features in optical material |
US4647508A (en) * | 1984-07-09 | 1987-03-03 | Rogers Corporation | Flexible circuit laminate |
US4634631A (en) * | 1985-07-15 | 1987-01-06 | Rogers Corporation | Flexible circuit laminate and method of making the same |
US4642160A (en) * | 1985-08-12 | 1987-02-10 | Interconnect Technology Inc. | Multilayer circuit board manufacturing |
US4849284A (en) * | 1987-02-17 | 1989-07-18 | Rogers Corporation | Electrical substrate material |
DE3809211A1 (de) * | 1988-03-18 | 1989-10-05 | Max Planck Gesellschaft | Verfahren zur ablation von polymeren kunststoffen mittels ultrakurzer laserstrahlungsimpulse |
-
1988
- 1988-08-12 US US07/231,693 patent/US4915981A/en not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-07-24 DE DE68923954T patent/DE68923954T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-07-24 WO PCT/US1989/003173 patent/WO1990001374A1/en active IP Right Grant
- 1989-07-24 JP JP1508138A patent/JPH03502075A/ja active Pending
- 1989-07-24 EP EP89908641A patent/EP0380634B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60261685A (ja) * | 1984-05-18 | 1985-12-24 | シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト | 多層構造に対する貫通接触孔形成装置 |
JPS61273287A (ja) * | 1985-05-28 | 1986-12-03 | Toyota Motor Corp | 合成樹脂材料の穴加工方法 |
JPS6369106A (ja) * | 1986-09-11 | 1988-03-29 | 松下電工株式会社 | 電気用積層板及びそれを用いたプリント配線基板 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2024005103A1 (ja) * | 2022-06-30 | 2024-01-04 | 太陽ホールディングス株式会社 | 回路基板の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0380634A1 (en) | 1990-08-08 |
EP0380634A4 (en) | 1991-12-27 |
EP0380634B1 (en) | 1995-08-23 |
DE68923954D1 (de) | 1995-09-28 |
WO1990001374A1 (en) | 1990-02-22 |
US4915981A (en) | 1990-04-10 |
DE68923954T2 (de) | 1996-03-14 |
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