JPH0936522A - プリント配線板における回路形成方法 - Google Patents

プリント配線板における回路形成方法

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JPH0936522A
JPH0936522A JP20172195A JP20172195A JPH0936522A JP H0936522 A JPH0936522 A JP H0936522A JP 20172195 A JP20172195 A JP 20172195A JP 20172195 A JP20172195 A JP 20172195A JP H0936522 A JPH0936522 A JP H0936522A
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circuit
insulating layer
forming
wiring board
groove
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JP20172195A
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Inventor
Tadashi Hirakawa
董 平川
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Jtekt Column Systems Corp
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Fuji Kiko Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】プリント配線板の回路形成方法において、超微
細回路を確実かつ簡便に得ることができ、信頼性の高い
プリント配線板が製造できるようにする。 【構成】プリント配線板の回路形成方法において、触媒
を含む第1の絶縁層1上に触媒を含まぬ第2の絶縁層2
を形成し、該第2の絶縁層2を貫通しかつ第1の絶縁層
1を貫通しない回路用の溝5を形成した後、無電解銅メ
ッキにて少なくとも第1の絶縁層1の溝5内に回路6を
形成する。必要ならば上記を繰り返すことで、基板と回
路を多層化する。第1の絶縁層1または第2の絶縁層2
は、アラミド繊維の如き有機繊維補強材を含むようにし
てもよい。回路用の溝5の形成はレーザーで行う。回路
用の溝5の形成と同時に、ヴィアホールとスルーホール
の少なくとも一方を形成する。回路6の形成と同時にメ
ッキ付ヴィアホール9とメッキ付スルホールの少なくと
も一方を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板に
おける回路の形成方法に関し、さらに詳しくは、アディ
ティブ法により回路を形成する方法の改良に係るもので
ある。
【0002】
【従来の技術】プリント配線板における回路の形成方法
は、従来より大別してサブトラクティブ法(エッチドフ
ォイル法)とアディティブ法とがある。前者は予め絶縁
層の上に銅箔を貼り合わせ、この銅箔をエッチングして
所望の回路を残す方法である。後者は絶縁層の上に選択
的に銅をメッキして回路を形成する方法である。
【0003】アディティブ法では、図6ないし図8で示
す如く、予めパラジウム等の触媒を含ませた第1の絶縁
層1上に、触媒を含まぬ樹脂の第2の絶縁層2をコーテ
ィング等によって基板を形成し(図6参照)、後者2の
一部を開口して回路用の溝5を形成し(図7参照)、そ
の後に無電解銅メッキを施すことで、第1の絶縁層1に
選択的に回路6を形成(図8参照)する方法である。上
記で、触媒を含まぬ第2の絶縁層2の樹脂の多くは感光
性樹脂であり、この感光性樹脂をパターニングすること
により開口して回路用の溝5を形成している。
【0004】この感光性樹脂は後に除去されるか、また
は永久レジストとして残留する。いずれの場合も、回路
用の溝5の開口は触媒を含まぬ第2の樹脂層2のみに行
われており、触媒を含む第1の絶縁層1はエッチング等
の処理は行われないのが通常である(なお、感光性樹脂
が除去される場合の技術については、例えば米国特許第
4,144,118号に詳しい。)
【0005】他面、プリント配線板の回路を形成する場
合において、レーザー技術が利用されているが、それは
主としてヴィアホール(ブラインド孔)やスルホール等
の孔あけに用いられるものであり、レーザーの内でエキ
シマ・レーザー、YAG(イットリウム・アルミニウム
・ガーネット)レーザー、または炭酸ガスレーザーを改
良したインパクト・レーザーが用いられている。
【0006】エキシマ・レーザーのプリント配線板への
応用については、例えば特開平5−136650号公
報、特開平5−152744公報、特開平5−1527
48公報に開示されている。またインパクト・レーザー
のプリント配線板への応用については、例えばJ.M.
Morrison等著の“A Large Forma
t Modified TEA CO2 Laser
Based Process for Cost Ef
fective Via Generation”(1
994 Inernational Conferec
ne on Multichip Modules,1
994年4月13〜15日,p.369)に記載されて
いる。またYAGレーザーのプリント配線板への応用に
ついては、例えばM.Owen著“New Laser
Technology forDrilling T
hrough− and Blind− vias i
nCopper Clad Reinforced C
ircuit Boards”(Proc.IPC T
echnical Conference,1995年
4月30〜5月4日、P.19−1−1〜19−1−1
0)に開示されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、このアディ
ティブ法は、サブトラクティブ法に比べると大量の銅箔
をエッチング除去する必要がなく、また回路形成方法が
簡略化されるので、無公害、省資源、省エネルギーな工
法であり、かつ技術的に高密度回路に向いているが、従
来のアディティブ法には以下の如き問題点があった。
【0008】即ち、上記のような従来のアディティブ法
では、回路形成の精度は触媒を含まぬ第2の絶縁層2へ
の回路用の溝5の開口によって規定されるが、この開口
は感光性樹脂のパターニングで行われており、感光性樹
脂の厚みが大きい場合(通常は均一に塗布しようとすれ
ば数10μmになる)には、開口の幅を小さくすること
ができない。そのため、メッキ回路の幅を100μm程
度以下にすることはきわめて困難であり、実際上はあま
り高密度にすることができない、という問題点があっ
た。
【0009】また、メッキされた回路6は触媒を含む第
1の絶縁層1の上に形成され、この回路6の側面は触媒
を含まぬ第2の絶縁層2の樹脂に接触しているため、回
路導体のピール強度(銅箔の引き剥し強度)が小さい。
この第2の絶縁層2と回路との密着性を上げるため、界
面に接着剤12を用いる必要があった。そしてこの接着
剤12にも通常、触媒は含まれる。この接着剤12は、
天然ゴム等の柔らかい成分を用いるために、耐熱性、イ
オン純度に劣り、高温における回路の硬さが必要なワイ
ヤーボンディングに問題が生じたり、不純物イオンから
生じるマイグレーションの問題もあった。
【0010】本発明は、従来のアディティブ法によるプ
リント配線板の回路形成方法がもつ上記問題点を解決す
ることを課題とするものである。即ち本発明の目的の第
1は、従来のアディティブ法で限界があった回路の高密
度化を達成するため、基板の絶縁層に回路用の溝を開口
するのに、感光性樹脂のパターンニングを用いず、さら
に精度のよい方法を得ることである。第2の目的は、高
密度化のもう一つの障害であった接着剤をなくし、マイ
グレーションのおそれのない回路形成方法を得ることで
ある。さらに第3の目的として、高密度回路をさらに有
効にするため、順次に樹脂層をコーティングして基板を
多層化し、回路を多層化していくビルドアップ工法にも
適用できる手段を得ることにある。
【0011】
【発明を解決するための手段】本発明に係るプリント配
線板の回路形成方法の主要部は、触媒を含む第1の絶縁
層1上に触媒を含まぬ第2の絶縁層2を形成し、該第2
の絶縁層2を貫通するが第1の絶縁層1を貫通しない回
路用の溝5を形成した後に、無電解銅メッキにて少なく
とも第1の絶縁層1の回路用の溝5の中に回路6を形成
するようにしたものである(図1ないし図3参照)。
【0012】上記構成において、上記第1の絶縁層1や
第2の絶縁層2の樹脂成分は、エポキシ樹脂、ポリイミ
ド樹脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、ポリシラン樹
脂とするのがよい。第1の絶縁層1および第2の絶縁層
2は、補強材を含む場合と含まぬ場合とがある。補強材
を含む場合には、ガラス繊維等の無機繊維でもよいが、
有機繊維、中でもアラミド繊維やテフロン繊維は、上記
レーザー加工が容易になり、また優れた電気特性を有し
ているので、これを用いるのが望ましい。
【0013】上記で回路用の溝5の形成は、この加工方
法としては、レーザー加工によることが望ましい。レー
ザーには、エキシマ・レーザーであることが好ましい
が、インパクトレーザーによってもよい。
【0014】この回路用の溝5の形成と同時に、ヴィア
ホールまたはスルホールも形成しておき、後の無電解銅
メッキで、回路6の形成と同時にメッキ付ヴィアホール
9またはメッキ付スルホールを形成してもよい(図4参
照)。
【0015】本発明に係る回路形成方法は、回路が二層
以上に多層化したものを含む。即ち上記の如く第1およ
び第2の絶縁層1,2からなる基板に、単層の回路6だ
けを形成するもの(図3参照)、或いは同時に単層のメ
ッキ付ヴィアホール9等を形成するもの(図4参照)で
も良い。しかしそれに限らず、更に上記第2の絶縁層2
上に、触媒を含む第3の絶縁層3と触媒を含まぬ第4の
絶縁層4を形成し、第4の絶縁層4を貫通するが第3の
絶縁層3を貫通しない回路用の溝7、或いは同時にヴィ
アホールを形成しておき、その後の無電解銅メッキにて
少なくとも第3の絶縁層3の溝7内に回路8を形成する
もの、或いは同時にメッキ付ヴィアホール10等も形成
し、多層回路にするもの(図5参照)をも含む。
【0016】多層回路を形成する場合には、第3の絶縁
層3は上記第1の絶縁層1と、また第4の絶縁層4は第
2の絶縁層2と同様の樹脂成分・補強材の構成とし、回
路用の溝7の形成もレーザー加工で行うものとする。必
要なら更にこれを繰り返して一層の多層化を図ってもよ
い。
【0017】
【発明の実態の形態】本発明では、プリント配線板は第
1の絶縁層1上に第2の絶縁層2を形成した基板がまず
形成される(図1参照)。第1の絶縁層1および第2の
絶縁層2の樹脂は、熱硬化性樹脂、熱可塑性樹脂のいず
れも用いることができる。熱硬化性樹脂の中では、エポ
キシ樹脂、ポリイミド樹脂、ポリシアヌレート樹脂、ポ
リシラン樹脂、ポリベンツイミダゾール樹脂等を用いれ
ばよい。
【0018】上記第1の絶縁層1の樹脂中には、無電解
メッキの触媒が含まれる。この触媒としては、元素周期
率表の第VIII族および第1B族に属する金属、例え
ばニッケル、金、銀、プラチナ、パラジウム、ロジウ
ム、銅、イリジウム等、またはこれらの酸化物、塩化
物、臭化物、弗化物、エチルアセテート、フルオロボレ
ート、硝酸塩、アセテート等を挙げることができる。特
に有用なのはパラジウム、金、プラチナ、銅、塩化パラ
ジウム、塩化金、塩化プラチナ、酸化銅、またはこれら
と塩化第1錫を組み合わせたものである。これらの触媒
をAl2 3 −SiO2 系の担体に吸着させ、樹脂に混
合したものを使用すればよい。
【0019】上記第1の絶縁層1は補強材を含んでもよ
く、含まなくてもよいが、補強材の有無は回路形成方法
に影響する。第1の絶縁層1が補強材を含む場合は、補
強材に樹脂を含浸し、必要なプリプレグ枚数を重ねたの
ち真空プレスで積層する。積層はプリプレグのみを用い
てもよく、また他の基材、例えば金属、セラミック、有
機基板等、さらには既に回路形成した基板とプリプレグ
を同時に積層してもよい。なおプリプレグには必要に応
じて片面または両面に銅箔を付けることができる。
【0020】第1の絶縁層1が補強材を含む場合の材質
は、ガラス繊維等の無機繊維、あるいはアラミド繊維、
テフロン繊維、ポリエーテルエーテルケトン繊維、ポリ
ベンツイミダゾール繊維等の有機繊維であることができ
る。中でも有機繊維中のアラミド繊維やテフロン繊維
は、優れた加工性、電気特性を有しており、これを用い
ることが望ましい。アラミド繊維の中でも特に、コポリ
パラフェニレン3、4’オキシジフェニルテレフタラミ
ド繊維は、低いイオン不純物と低い吸湿率のため一層望
ましい。
【0021】第1の絶縁層1が補強材を含まぬ場合に
は、基材(金属、セラミック、有機基板、すでに回路加
工した基板等)に樹脂をコーティングすればよい。第1
の絶縁層1の厚みは、後でレーザー加工で回路の溝5を
形成するに十分な厚み、即ち数10μm以上とするのが
よい。
【0022】他方、第2の絶縁層2も補強材を含んでも
よいが、含まなくともよく、含まないのが一般的であ
る。この第2の絶縁層2の場合も補強材を含む場合は、
補強材に樹脂を含浸し、必要なプリプレグ枚数を重ねた
後に真空プレスで積層すればよい。そして必要に応じて
片面または両面に銅箔を付ける。
【0023】第2の絶縁層2に補強材を含む場合の材質
は、第1の絶縁層1の場合と同様に無機繊維、有機繊維
が用いられるが、第2の絶縁層2は貫通した回路用の溝
5を設ける必要があるため有機繊維の方が好ましい。
【0024】第2の絶縁層2が補強材を含まぬ場合は、
第1の絶縁層1の上に樹脂をコーティングする。コーテ
ィングの方法は、ディッピング、グラビア、オフセッ
ト、リバースコート等によればよい。
【0025】第2の絶縁層2の厚みは、あとでレーザー
加工で貫通した回路用の溝3を形成するに十分な厚み、
すなわち数10μm以下、さらに好ましくは20μm以
下にすることが望ましい。
【0026】次に、上記の如き基板に回路用の溝5を形
成するが、それには上記基板の表面側即ち第2の絶縁層
2の側からレーザー光を照射して行うのがよい。該溝3
の深さは、第2の絶縁層2を貫通するが、第1の絶縁層
1を貫通しない程度に形成するが(図2参照)、それに
はレーザーの強度や照射時間などを調整して行う。例え
ば、第1の絶縁層1の厚みが60μm、第2の絶縁層2
の厚みが10μmのとき、レーザーにて回路用の溝5を
30μmの深さで切れば、第1の絶縁層1には20μm
の溝5ができる。
【0027】上記のレーザーとしては、炭酸ガスレーザ
ー、YAGレーザー、エキシマ・レーザーその他のいず
れも用いることができるが、回路用の溝5の中の壁を滑
らかにし、荒らさずに加工するために、炭酸ガスレーザ
ーの一種であるインパクト・レーザー、YAGレーザ
ー、エキシマレーザーを用いることが望ましい。
【0028】いずれの場合も、レーザー光は一定の面積
に絞られ第2の絶縁層2の上から照射される。照射部分
を限定するには、マスク・イメージ法、コンタクト・マ
スク法、コンフォーマル・マスク法などのマスキングを
使えばよい。照射の方法としては、広い面積を一度に照
射してマスクでパターンを形成する方法、小さく絞り込
んだレーザー光を予定されたパターンに沿って移動する
方法、或いは小さく絞りこんだレーザー光をスキャニン
グする方法などが採用できる。
【0029】レーザーを予定されたパターンに沿って移
動する場合、回路用の溝5の形成と同時に、例えば予定
されたヴィアホールの部分でレーザー光の強度を高めた
り、移動速度を遅くしたりすることにより、ヴィアの部
分を下部に設けたパッド11まで深く堀ってもよい。
【0030】後は、この回路用の溝5の中に無電解銅メ
ッキを施し、回路4を形成すればよい(図3参照)。上
記の如くヴィアホールも形成してある場合には、回路6
の形成と同時に、パッド11の上にメッキ付ヴィアホー
ル9が形成されることになるので(図4参照)、プリン
ト配線板の形成方法として大幅なコスト合理化が可能と
なる。
【0031】上記の無電解メッキは、通常の方法により
行うことができる。即ち、被メッキ物を無電解メッキ液
に浸漬する。無電解メッキ液は、例えば銅イオン0.0
04〜0.2モル/l、銅イオンの錯化剤0.004〜
1モル/l、還元剤0.01〜0.25モル/lおよび
pHを11.8〜13.5にするに必要な量のpH調整
剤、を基本組成とするものが使用される。無電解メッキ
の厚みは10〜50μm程度に形成される。上記の如く
形成した回路6,8の表面は、第2および第4の絶縁層
2,4の表面よりレベルが低いのが通常であるため、こ
れらの第2および第4の絶縁層2,4は通常、永久レジ
ストとして残しておけばよい。
【0032】なお、上記は単層の回路の場合であるが、
本発明の回路形成方法は多層回路の形成にも応用でき
る。即ち、上記の方法で単層回路を形成後、図5で示す
如くその上に更に第3の触媒を含む絶縁層3、第4の触
媒を含まぬ絶縁層4を形成して、上記と同様の方法で回
路8を形成し、あるいはそれと同時に、多層間の回路を
結合するメッキ付ヴィアホール9、またはメッキ付スル
ーホール(図示略)を形成することにより、多層回路を
形成することができる。
【0033】上記本発明に係る回路形成方法によれば、
回路用の溝5の形成をレーザー加工により行っている。
従来のアディティブ法が回路用の溝の形成を感光性樹脂
のパターンニングで行っているのと異なる。そのためこ
の回路形成方法によれば、回路用の溝5の幅を例えば後
記実施例の如く25μm程度に微細に形成することがで
き、また深さの設定も容易に行えるので、きわめて高精
度・高密度な回路を形成できるようになる。
【0034】また、本発明による回路形成方法で形成さ
れる回路6は、上記の如くレーザーにて第1の絶縁層1
内にまで形成した回路用の溝5内に形成されている。従
来のアディティブ法が、第2の絶縁層2に形成した回路
用の溝5内に回路5を形成しており、その回路導体と第
1の絶縁層1との密着性を上げるため接着剤を必要とし
たのと異なる。そのため本回路形成方法によれば、ピー
ル強度が大きく、回路導体と第1の絶縁層1間の接着剤
が不要となり、不純物イオンから生じるマイグレーショ
ン発生の心配や、耐熱性・イオン純度の低下によるワイ
ヤーボンディング不良の問題も無くなり、この面でもき
わめて高精度・高密度な回路の形成ができるようにな
る。
【0035】さらに、本発明によれば、第1の絶縁層1
の上に第2の絶縁層をコーティング等で基板を形成し、
そこに回路6等を形成すればよいが、必要ならば更に第
3の絶縁層3、第4の絶縁層4と順次に樹脂層をコーテ
ンィグ等で多層化した基板を形成して、それに伴い回路
6を多層化していくことが容易に行える。そのため、ビ
ルドアップ工法にも適用できて、回路の高密度化を一層
容易に達成することができるようになる。
【0036】
【実施例1】図1ないし図3で示すものであって、厚み
0.5mmのガラス/エポキシ積層板(銅箔なし)の上
に、触媒(パラジウムとAl2 3 −SiO2 )を含む
多官能エポキシ(フェノールノボラック型硬化剤を含
む)を塗布し、乾燥、キュアして厚み80μmの第1の
絶縁層1を形成した。更にこの上に、触媒を含まない多
官能エポキシを塗布し、乾燥、キュアして厚み30μm
の第2の絶縁層2を形成して、第1および第2の絶縁層
1,2からなる基板を形成した。
【0037】次に、波長266nm、周波数2kHzの
YAGレーザーを直径25μmの円形ビームに絞り込
み、上記基板の上を1000mm/秒の速度でスキャニ
ングすることにより直線状に基板をエッチングして、回
路用の溝5を形成した。スキャニングはピッチ50μm
の互いに入り組んだくし型平行線を形成するように基板
上を往復させた。(これは後ほどマイグレーションの試
験を行うためである。)
【0038】続いて、この基板に無電解銅メッキを行っ
て回路用の溝5内に回路6を形成した。このときの無電
解銅メッキ液組成は次のようにした。メッキ温度は72
℃であった。 CuSO4 5H2 O 10g エチレンジアミン四酢酸=ナトリウム 30g ホルマリン 3ml 水酸化ナトリウム 12g 2、2’−ビピルジル 30mg ポリエチレングリコール(平均分子量600) 10g V2 5 2mg 水 全体で1lになる量
【0039】上記の条件下で得られたプリント配線板の
回路6のライン幅は約25μm、スペースは約25μm
で、オープン/ショートのない回路が得られた。回路6
のピール強度は50g(2000g/cm)であった。
くし型回路の両端(1本おきの平行線に接続している)
に25V(100V/100μm)の直流電圧を印加し
ながら120℃、2気圧の不飽和型プレッシャークッカ
ーで電気抵抗値を連続的に測定したところ、初期値(1
12Ω以上)が100時間以上維持された。
【0040】
【実施例2】図4で示すものであり、ガラス/エポキシ
積層板を回路加工した後、実施例1と同じ手順で第1の
絶縁層1上に第2の絶縁層2をコーティングして基板を
形成し、YAGレーザーで加工した。YAGレーザーの
加工は回路用の所望の線に従って行い回路用の溝5を形
成するとともに、ヴィアホール用の部分は螺旋状に20
0mm/秒の速度でビームを回転させ、穴が下部ガラス
/エポキシの回路(銅箔を残しておく)に至るまで穿孔
した。このようにして、回路用の溝5とヴィアホールを
YAGレーザーの操作のみで得た後、基板全体を実施例
1と同様の方法で無電解メッキすることにより、回路6
とメッキ付ヴィアホール9をもつ多層基板が得られた。
【0041】
【実施例3】図5で示すものであり、これは基板および
回路の多層化を図ったものである。実施例2と同様の方
法で第1の絶縁板1および第2の絶縁板2とからなる基
板に回路6やメッキ付ヴィアホール9を形成した後、更
に触媒を含む第3の絶縁層3と触媒を含まない第4の絶
縁層4をコーティングして基板を形成し、YAGレーザ
ーで回路用の溝7とヴィアホールを形成した後、無電解
メッキを施すことにより、二層の基板構成をもち多層回
路を有するプリント配線板が形成される。
【0042】
【比較例1】これは従来のサブトラクティブ法による例
であり、第1の絶縁層と第2に絶縁層とからなる基板を
形成し、該第2の絶縁層には感光性エポキシ(粘度20
0cps)をコーティングした。コーティング後、露光
機によるパターニング、エッチングを行い、感光性エポ
キシ層に回路用の溝を付けた。該回路用の溝の幅は75
μm、深さは30μm(感光性エポキシの厚みであり、
第2の絶縁層には至らない)であった。なおこの場合
に、該溝の幅を50μm以下にしようとすると、断線等
の欠点が目立ったため、実施例1のような超微細パター
ンは得られなかった。実施例1と同じく無電解メッキを
施した。形成された回路のライン幅は約75μm、ピー
ル強度は50g(667g/cm)でしかなかった。
【0043】
【比較例2】従来のアディティブ法による例であり、第
1の絶縁層と第2に絶縁層とからなる基板を形成した
が、第1の絶縁層上に第2の絶縁層をコーティングする
前に、ゴム成分を含む接着剤を20μmの厚みにコーテ
ィングした。比較例1と同様の方法で溝を切り、無電解
メッキを施した。この場合も、形成された回路のライン
溝の幅は約75μmで、スペース幅が約75μmのくし
状の電極を得た。このラインのピール強度は120g
(1600g/cm)であった。
【0044】これを、実施例1と同様の方法でマイグレ
ーション試験を行った。印加電圧は75V(100V/
100μm)とした。実施例1と同様の方法でプレッシ
ャー・クッカーテストを行ったところ、約50時間でシ
ョートが発生してしまい、マイグレーションが発生して
いることが判明した。
【0045】
【発明の効果】以上で明かな如く、本発明に係るプリン
ト配線板における回路形成方法は、従来のアディティブ
法の欠点を解消して、超微細回路を確実かつ簡便に得る
ことができ、信頼性の高いプリント配線板を製造するこ
とができる。
【0046】即ち、従来のアディティブ法では、回路形
成の精度は第2の絶縁層に形成する回路用溝の開口によ
り規定され、感光性樹脂の厚みが大きい場合には溝の幅
を小さくできず、メッキ回路の幅を100μm程度以下
にすることはきわめて困難であった。またメッキされた
回路は第1の絶縁層に形成され、側面が第2の絶縁層の
樹脂に接触し、回路導体のピール強度が小さく、回路導
体と第1の絶縁層間の密着性を上げるため接着剤を用い
る必要であった。さらにこの接着剤のために、耐熱性、
イオン純度に劣り、ワイヤーボンディングに問題が生じ
たり、不純物イオンから生じるマイグレーションが生じ
たりした。しかも、高密度回路をさらに有効にするため
のビルドアップ法に対応できなかった。
【0047】これに対して、本発明に係るプリント配線
板における回路形成方法では、触媒を含む第1の絶縁層
と、触媒を含まない第2の絶縁層を有し、第2の絶縁層
を貫通し、かつ第1の絶縁層を貫通しない回路用の溝を
設けた後、無電解銅メッキを行って、少なくとも第1の
絶縁層の溝の中に回路を形成するようにしたものであ
り、必要なら回路の多層化のため上記を繰り返すように
したものである。
【0048】そのため、本発明に係る回路形成方法によ
れば、回路用の溝の形成をレーザー加工により行うこと
ができるので、従来のアディティブ法の如く感光性樹脂
のパターンニングによるものと異なり、きわめて微細な
回路を形成することができ、高精度・高密度の回路を形
成することができる。
【0049】また本発明に係る回路形成方法によれば、
上記の如くレーザーを用いて第1や第3の絶縁層内にま
で形成した回路用の溝内に、無電解銅メッキで回路を形
成しているので、従来のアディティブ法と異なり、ピー
ル強度も大きくかつ回路導体と第1や第3の絶縁層間に
接着剤を用いる必要も無くなる。そのため、マイグレー
ション等の心配の無い回路を形成することができ、この
面からも高精度・高密度の回路を形成することができ
る。
【0050】更に、本発明に係る回路形成方法によれ
ば、上記の如く第1の絶縁層の上に第2の絶縁層をコー
ティング等で形成し、レーザー等による回路用溝等の形
成と、無電解メッキで回路等を形成するが、必要なら上
記第2の絶縁層上に第3の絶縁層と第4の絶縁層をコー
ティング等で形成し、同様にレーザー等により回路用溝
等の形成と、無電解メッキで回路等を形成することを繰
り返すことにより、基板の多層化と同時に回路の多層化
を図ることできる。そのため、生産効率の良いビルドア
ップ工法にも対応することができ、プリント基板の高密
度化を一層容易に実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るプリント配線板における回路形成
方法の実施例で、第1の絶縁層上に第2の絶縁層を形成
した状態の基板の一部拡大縦断面図である。
【図2】図1で示した基板に回路用の溝を形成した状態
の一部拡大縦断面図である。
【図3】図2で示した回路用の溝に無電解銅メッキで回
路を形成した状態の一部拡大縦断面図である。
【図4】本発明に係るプリント配線板における回路形成
方法の他の実施例で、回路の形成と同時にメッキ付ヴィ
アホールを形成した状態の一部拡大縦断面図である。
【図5】本発明に係るプリント配線板における回路形成
方法の更に他の実施例で、多層に回路とメッキ付ヴィア
ホールを形成した状態の一部拡大縦断面図である。
【図6】従来のアディティブ法による回路形成方法で、
第1の絶縁層上に接着剤で第2の絶縁層を積層した状態
の基板の一部拡大縦断面図である。
【図7】図6で示した基板に回路用の溝を形成した状態
の一部拡大縦断面図である。
【図8】図7で示した回路用の溝に無電解銅メッキで回
路を形成した状態の一部拡大縦断面図である。
【符号の説明】
1−第1の絶縁層 6−回路 1
1−パッド 2−第2の絶縁層 7−回路用の溝 1
2−接着剤 3−第3の絶縁層 8−回路 4−第4の絶縁層 9−メッキ付ヴィアホール 5−回路用の溝 10−メッキ付ヴィアホール

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】触媒を含む第1の絶縁層上に、触媒を含ま
    ぬ第2の絶縁層を形成し、該第2の絶縁層を貫通しかつ
    第1の絶縁層を貫通しない回路用の溝を形成した後、無
    電解銅メッキにて少なくとも第1の絶縁層の回路用の溝
    の中に回路を形成するようにしたことを特徴とする、プ
    リント配線板における回路形成方法。
  2. 【請求項2】回路用の溝をレーザーで形成するようにし
    た、請求項1に記載のプリント配線板における回路形成
    方法。
  3. 【請求項3】レーザーがエキシマ・レーザーである、請
    求項1または2に記載のプリント配線板における回路形
    成方法。
  4. 【請求項4】レーザーがインパクト・レーザーである、
    請求項1または2に記載のプリント配線板における回路
    形成方法。
  5. 【請求項5】レーザーがYAGレーザーである、請求項
    1または2に記載のプリント配線板における回路形成方
    法。
  6. 【請求項6】回路用の溝の形成と同時に、ヴィアホール
    とスルーホールの少なくとも一方を形成するようにし
    た、請求項1または2に記載のプリント配線板における
    回路形成方法。
  7. 【請求項7】第1の絶縁層と第2の絶縁層の少なくとも
    一方の樹脂成分をエポキシ樹脂にした、請求項1に記載
    のプリント配線板における回路形成方法。
  8. 【請求項8】第1の絶縁層と第2の絶縁層の少なくとも
    一方の樹脂成分をポリイミド樹脂にした、請求項1に記
    載のプリント配線板における回路形成方法。
  9. 【請求項9】第1の絶縁層が補強材を含むようにした、
    請求項1に記載のプリント配線板における回路形成方
    法。
  10. 【請求項10】第1の絶縁層が有機繊維の補強材を含む
    ようにした、請求項1または9に記載のプリント配線板
    における回路形成方法。
  11. 【請求項11】第1の絶縁層がアラミド繊維を含むよう
    にした、請求項1,9または10に記載のプリント配線
    板における回路形成方法。
  12. 【請求項12】第1の絶縁層がテフロン繊維を含むよう
    にした、請求項1,9または10に記載のプリント配線
    板における回路形成方法。
  13. 【請求項13】第1の絶縁層が補強材を含まぬようにし
    た、請求項1に記載のプリント配線板の回路形成方法。
  14. 【請求項14】第2の絶縁層が補強材を含むようにし
    た、請求項1に記載のプリント配線板における回路形成
    方法。
  15. 【請求項15】第2の絶縁層が補強材を含まぬようにし
    た、請求項1に記載のプリント配線板における回路形成
    方法。
  16. 【請求項16】無電解銅メッキにより、回路の形成と同
    時に、メッキ付ヴィアホールとメッキ付スルホールの少
    なくとも一方を形成するようにした、請求項1に記載の
    プリント配線板における回路形成方法。
  17. 【請求項17】触媒を含む第1の絶縁層上に、触媒を含
    まぬ第2の絶縁層を形成し、該第2の絶縁層を貫通する
    が第1の絶縁層を貫通しない回路用の溝を形成した後、
    無電解銅メッキにて少なくとも第1の絶縁層の溝の中に
    回路を形成するとともに、更に上記第2の絶縁層上に、
    触媒を含む第3の絶縁層と触媒を含まぬ第4の絶縁層を
    形成し、第4の絶縁層を貫通するが第3の絶縁層を貫通
    しない回路用の溝を形成した後、無電解銅メッキにて少
    なくとも第3の絶縁層の溝の中に回路を形成して、多層
    回路を形成することを特徴とする、プリント配線板にお
    ける回路形成方法。
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