JPH0332882A - 光情報記録媒体の製造装置 - Google Patents

光情報記録媒体の製造装置

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JPH0332882A
JPH0332882A JP1211463A JP21146389A JPH0332882A JP H0332882 A JPH0332882 A JP H0332882A JP 1211463 A JP1211463 A JP 1211463A JP 21146389 A JP21146389 A JP 21146389A JP H0332882 A JPH0332882 A JP H0332882A
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久光 亀崎
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治 斎藤
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、有機色素系の記録材料にて形成された記録層
を備える光情報記録媒体の製造装置ならびにその製造方
法に関する。
〔従来の技術■〕
最近、底膜に回転塗布法いわゆるスピンコード法を用い
ることにより、生産性の向上が図れる有機色素を記録材
料とした光ディスクが開発されている。
〔発明が解決しようとする課題I〕
このスピンコードに関する従来技術としては、特開昭6
1−129747号公報がある。これは、記録層の平均
膜厚が0.035〜0.14μmの範囲においての製造
技術であり、膜厚のコントロールをスピンコードの回転
数と塗布溶液の濃度のみで行っている。
しかし、スピンコードの回転数と塗布溶液の濃度のみで
膜厚や均一性をコントロールするのは非常に困難である
。つまり、沸点の低い溶媒を選択した場合などスピンコ
ード中に溶媒の蒸発が急速に進行し、不均一な膜となっ
てしまう。そして光ディスクの内外周の膜厚の違いが、
反射率や透過率のばらつきとなり、トラッキングエラー
などが発生する。
本発明の第1の目的は、このような従来技術の欠点を解
消し、均一な厚さの記録層が得られる光情報記録媒体の
製造装置を提供することにある。
〔従来技術■〕
従来より、有機色素系のヒートモード記録材料をもって
記録層が形成された光情報記録ディスクが知られている
。この光情報記録ディスクは、記録層をスピンコード法
によって形成することができるので、真空成膜装置を用
いる場合に比べて生産設備を簡略化することができ、し
かも生産性が高いという利点がある。
第47図は、この種の光情報記録ディスクの製造に適用
されるスピンコード装置の一例を示す斜視図である。
垂直に配設された回転スピンドル101に基板102が
水平に取り付けられており、この基板102に向けて先
端部103が垂直に折り曲げられたノズル104が配設
されている。このノズル104は、その先端部103が
前記基板102の内周部から外周部に至る範囲に亘って
自由に移動できるように保持されており、ノズル104
の先端部103を基板102の内周部から外周部に移送
しつつ所定流量の成膜材料を噴射することによって、基
板102上に成膜材料を均一に置くことができるように
なっている。
〔発明が解決しようとする課題■〕
ところで、光情報記録ディスクの記録層には、2〜3n
mのオーダの均厚性が要求される。、然るに、前記した
従来のスピンコード装置によると、例えば基板の回転数
、基板の回転モード、記録層材料の種類、記録層材料塗
布液の粘性、周囲の雰囲気条件などのスピンコード条件
を最適に設定したとしても、少なくとも8〜lQnmに
厚さむらを生じる。これは以下の理由によるものと推定
される。
すなわち、回転している基板102に例えば記録層材料
の塗布液を滴下すると、まず、重力および表面張力、そ
れに基板表面のぬれ性のバランスのもとに溶液が基板1
02上を拡がり、その後、遠心力によって基板102の
外周に溶液が移動する。前記のスピンコード装置は、ノ
ズル104の先端部 103が基板102に対して垂直
に配置されているので、まず、滴下位置を中心としてそ
の周囲に溶液が均等に拡がり、その後、遠心力によって
基板102の外周に溶液が移動する。従って、溶液の滴
下時、遠心力と反対の方向に流動する溶液の量が比較的
多く、溶液の流れが複雑になるため、成膜された記録層
の均厚性が悪くなる。
なお、前述の例では記録層のスピンコードを例にとって
説明したが、記録層の下地層や基板表面のハードコート
層など他の薄膜層をスピンコードする際にも同様の問題
を生じる。
本発明の第2の目的は、このような従来技術の欠点を解
消し、前記第1の目的と同様に均一な厚さを有する薄層
が容易に得られる光情報記録媒体の製造装置を提供する
ことにある。
〔従来の技術■] 現在、音楽再生用としてCD(コンパクトディスク)が
広く普及しているが、これは再生専用であり、所謂DR
AW (ダイレクトリードアフターライト)機能をもた
ないので、ユーザが記録9編集を行なうことが出来ない
。そこで、DRAW機能を有するCDの出現が望まれて
いる。また、CD以外の用途の光ディスクにおいても、
DRAW機能をもつ安価な光ディスクの実現が期待され
ている。
ところで、DRAW機能をもつ光記録材料としては、穴
あけ型のTe系等の金属材料、或いは、結晶−非結晶転
位を行なう所謂相変化型のIn系等の金属材料が有望視
されているが、これらの金属系の記録材料による記録層
の成膜は、何れも蒸着法、スパッタ法等の薄膜形成技術
を用いるため、量産性並びにコストの点で問題が残る。
そこで、成膜にスピンコーティング法を用いる方法が、
生産性の点でより有力視されている。
〔発明が解決しようとする課題■〕
ススピンコーティング法は、中心部滴下法と、ダウンフ
ロー法と、中間分にドーナツ状に滴下し、その後、高速
回転で振り切る方法(特公昭61−5794号公報)と
がある。
中心部滴下法というのは、第49図、第50図に示すよ
うに、まずディスク状光記録媒体の基板102の中心部
付近に溶液105を滴下しく第49図)、直ちに高速回
転させて余分な溶液105を遠心力で振り切りながら膜
を形成する方法である(第50図)。
しかしこの中心部滴下法では、溶液105が基板102
の中心部付近に滴下し、その後に遠心力で溶液105を
基板102上で延伸しながら膜を形成する方法であるか
ら、基板102の内周部側では溶液105が不足気味に
なり、そのために均一に拡散されず、基板102の内周
部側と外周部側とでは、膜厚にむらが発生するという欠
点を有している。
また、ダウンフロー法は、基板102を回転させながら
、それの外周から内周(または内周から外周)に向けて
ノズルを直進移動させ溶液105を滴下し、余分な溶液
105を振り切って被膜を形成する方法である。
この他第51図、第52図、第53図に示すように、基
板102を低速回転あるいは静止させた状態で、それの
クランプエリアAの外周位置に溶液105をドーナツ状
に滴下する。しかる後、高速で基板102を回転させ、
余分な溶液105を振り切って被膜を形成する方法であ
る。
この2つの方法は前記中心部滴下法の欠点を解消するこ
とはできるが、問題がない訳ではない。
すなわち、基板102の表面に形成されているプリピッ
トや案内溝の信号パターンの大きさ(幅。
深さ)が実際極めて微細であり、また溶液105はある
程度の粘性を有しており、さらに基板102に対する溶
液105(特に水溶液の場合)のなじみが悪いことなど
から、基板表面の微小な凹部(プリピットや案内溝)に
溶液105が良好に充填されない。そのために膜厚が不
均一になったり、ピンホールを生じたりして、記録、再
生特性に悪影響をおよぼす。
本発明の第3の目的は、このような従来技術の欠点を解
消し、ピンホールがなく均一な膜厚を有し、記録、再生
特性に優れた光情報記録媒体の製造方法を提供すること
にある。
〔従来の技術■〕
基板102の表面に転写されたプリピット〔幅λ 064〜0.5μm、深さ約   (λ:光の波長)〕
やプリグループ(幅約0.4〜0.5μm、深さ約λ の案内溝)のレプリカ面(転写層)にスピフコ−ティン
グ法によって記録層材料の塗布液層を形成した場合、あ
るいは該塗布液を乾燥して成膜化した記録層面にスピン
コーティング法によって保護層材料の塗布液を塗布した
場合には、該スピンコーティングによって形成された塗
布液層も、あるいは該塗布液層を乾燥した後の塗布層が
第53図なh+U第5第54図うな形になることは一般
によく知られている。
すなわちプリピットやプリグループの凹部110は記録
N3によってうめられ、記録層3および保護層8aの両
層に凹部のできない第53図のような形状の場合、ある
いは記録層3に凹部はできるが保護層8aに凹部ができ
ないような場合などがよく知られている。
〔発明が解決しようとする課題■〕
しかるに第53図および第54図のようなプリピットか
らなる光ディスクにおいては、再生レーザビームを該プ
リピットに照射することによって得られる、該プリピッ
トからの情報再生信号の変調度が一般に極めて低く、例
えば記録層3がインドールシアニン形の色素を用い、保
護層8aにポリビニルアルコールを用いた有機色素系記
録膜からなる光ディスクでは実、用に供することができ
なかった。すなわち、該プリピットからの再生信号はエ
ラーの発生が多く、最悪の場合には信号がまったく読み
とれなくなるなどの問題があった。
本発明の第4の目的は上記のような従来技術の欠点を解
消し、記録情報の再生用レーザビームの照射によって変
調度の高い、エラーの極めて少ない、プリピットおよび
プリグループからの再生信号が得られるような、スピン
コーテイング膜から形成されるプリピットとプリグルー
プを備えた光記録媒体を提供することにある。
本発明の第5の目的は上記該プリピットと該プリグルー
プを形成することのできるスピンコーティングの操作条
件およびスピンコーティング装置の制御方法を提供する
ことにある。
〔課題を解決するための手段!〕
前記第1の目的を達成するため、本発明は、基板を支持
するターンテーブルと、その基板上に塗布液を滴下する
ノズルとを備え、基板上に滴下した塗布液をターンテー
ブルの回転力により基板上に拡げて塗膜を形成するスピ
ンナー塗布による光情報記録媒体の製造装置において、 前記ターン、テーブルの回転によって一般に基板上の気
流の流れが基板のほぼ中央部に向けて流れ、さらにそれ
から基板の表面に沿って基板外周部に向けて流れる対流
となるが、この流れを抑制する気流抑制手段を設けたこ
とを特徴とするものである。
〔作用■〕
このように気流抑制手段を設けることにより、ターンテ
ーブルの回転によって発生するターンテーブル上方の気
流の悪影響を防止することによって、均一な厚さの膜を
形成することができる。
〔課題を解決するための手段■〕
前記第2の目的を達成するため、本発明は、基板上に薄
膜形成用塗布材料を供給するノズルを基板の内周部と対
向する位置に配置し、基板の平面方向から見てノズルの
先端部を基板の外周方向に向けると共に、ノズルの側面
方向から見て基板とのなす角度が90度よりも小さい角
度になるようにノズルの先端部を傾斜したことを特徴と
するものである。
〔作用■〕
前記のようにすると、ノズルの先端部が遠心力の方向に
向けて配置されているので、溶液を滴下したとき遠心力
の方向に多くの溶液が拡がり、遠心力と反対の方向に拡
がる溶液の量が相対的に少なくなる。よって、基板の外
周方向に向かう溶液の流れが円滑になり、均厚性の高い
薄膜が形成される。
また、ノズルを基板の半径方向に移動する必要がないの
で、ノズル設定部をコンパクトに形成することができる
。よって、小容積の密封ケース内に基板およびノズルを
内装することができ、この点からも均厚性の高い薄膜を
形成することができる。
〔課題を解決するための手段■〕
前記第3の目的を達成するため、本発明は、基板の記録
エリア全域にわたって例えばポリビニルアルコール水溶
液などの塗布液膜を形成して、その基板上に凹凸として
形成したプリピットからなる記録エリアの信号パターン
凹部内に塗布液を充填した後、基板を高速回転させ基板
上の余分な塗布液を振り切って被膜を形成することを特
徴とするものである。
〔作用■〕
基板の記録エリア全域にわたって塗布液膜を形成して、
その状態で静止または極低速回転することにより、記録
エリアの信号パターン(案内溝。
プリピット等)の凹部内に塗布液を充分に充填すること
ができ、結果的にはピンホールのない均一な膜厚を有す
る被膜を形成することができる。
〔課題を解決するための手段■〕
前記第4の目的を達成するため、本発明は前記〔課題を
解決するための手段I〕に記載したスピンナー塗布によ
る光情報記録媒体の製造装置において、後述する第16
図、第16b図、第16c図、第16d図、第30図、
第35図など、に示すようにモータ9の回転軸に接続し
たターンテーブル11、ディスク基板1、塗布液射出ノ
ズル10が内部に設置され、外気から遮断された気密状
態に保持されるハウジング15を備えたスピンナー塗布
装置を用いることが特徴である。
さらに本発明においては、外気から遮断された該ハウジ
ング15内でターンテーブル11上にプリピット、プリ
グループが片面に転写形成された基板を該プリピット、
プリグループ形成面を上向にして固定し、該基板の回転
が停止されているか、又はゆるやかな回転の状態にて塗
布液を該基板のプリピット、プリグループ形成面の塗布
の必要な領域全面にまんべんなく塗布し、該基板のプリ
ピット、プリグループの凹部内に塗布液が充填するまで
放置し、その後、該基板を高速回転させ基板上の余分な
塗布液を振り切って被膜を形成する。
塗布液が有機色素材などの記録層材である場合は第20
図に示すモードにてスピン塗布を行うことによって、第
57図に示す断面凹部層を形成する。記録層上にさらに
保護層を重ねて塗布する場合は、まず第57図の形状の
塗布層を乾燥する。
つぎに第43図、第44図、第45図などのモードにて
保護層用の塗布液を塗布し、第56図に示すような断面
凹部層を形成する。
保護層のスピン塗布は、ディスク基板の塗布面を内側か
ら外側へ拡張する工程と、塗布層の放置浸透工程と、余
分な塗布液のふり切り工程の順序によって保護層が形成
される。上記ディスク基板の塗布面を内側から外側へ拡
張する時間t、と塗布層の放置浸透時間tEは保護層塗
布液の成分によって異なる。例えば■非水溶性、阻水性
のシアニン色素記録膜層にポリビニルアルコール(PV
A)水溶液を塗布する場合の時間11は1〜10秒程度
あれば記録層中のシアニン色素が塗布液中へ分散するの
を防止できる。■ポリビニルアルコールの水溶液に重ク
ロム酸アンモニウムなどの添加物を添加した塗布液を用
いて、シアニン色素の記録膜層上に塗布する場合におい
ては、t1時間は1秒〜30分程の時間にわたって記録
膜成分の分散。
溶出の悪い問題は発生しなくなる。
〔作用■〕
本発明のスピンコード法を用いることにより、第56図
、第57図に示すピットを形成することができる。
その作用を第58を用いて説明する。同図は、エネルギ
ー反射率Rの説明図である。
光が媒質1から媒質2に進むときの振幅反射率をrl!
+振幅透過率を1.□とすると、垂直入射の場合の振幅
反射率rI!+振幅透過率t+zは、媒質1.2の屈折
率nl、n!を使って、下記の式で表わされる。
nt+nz またエネルギー反射率Rは、振幅反射率rを用いて下式
で表わされる。
R=  r  ” すなわち、入射波をa。cosθとして、反射した波の
合成波をa ’ cos(θ+Δ)とするとき、エネル
ギー反射率Rは下式によって表わされる。
このことを利用して、第58図に示す各界面での反射光
AI 、AI 、Az 、As 、As 、A6を下式
によって表わすことができる。図中ならびに式中の各記
号の内容は下記の通りである。
no :空気の屈折率(no=1) nl :ポリカーボネート製基板の屈折率(nt=1.
6) n2 :有機色素製記録層の屈折率 (nz=2.7) nz:PVA製薄層の屈折率(n、、=1.5d1 :
ピット部底における記録層の厚さd2 :ビット部底に
おける薄層の厚さds :ピットの深さ d4 二ランド部における記録層の厚さds :ランド
部における薄層の厚さ λ :830nm As  5r、 2 cosθ A。
=tI2 2j 30 ffZ h+ cos(θ+ λ 従って各界面の反射光As +AZ +A3 +A4十
As +Ab =a ’ cos(θ+Δ)と表わすこ
とができ、このa′を求めることによりエネルギー反射
率Rを算出することができる(ao=1)。
その−例を以下に示す。プリピット部を例に考えると、
ランド部での層の厚さd4.dsはそれぞれ最適値(最
も反射率が高く、記録感度が高い値)になるようにd4
=40 nm、  ds =25 nm、プリピット部
の深さds=200nmとしである。この条件でのピッ
ト部底の厚さd、、d2のエネルギー反射率Rに与える
影響を考える。
本発明のスピンコード法を用いた場合でも、プリピット
都度の厚さdl、dzの方がランド部の厚さd4.ds
よりも多少厚くなる(dl>cL 。
di>ds)。
これらのことを考慮して、d、とRの関係を第59図に
示す。この図から明らかなように、dl−200nm付
近で反射が高くなり、コントラストが悪くなる(これは
従来例に相当する)。
これに対してd+ =100nmで最もコントラストが
良くなるが、実際にはコントラストの比が相対値で60
%以上程度あればよく、ピット部の底部から12%程度
の反射があってもよい。従ってd+ =60nm付近が
最適となる。
またd2についても、Rとの関係を第60図に示す。こ
のときのd、を60nmとして、d、>75nmで良好
なコントラストが得られることが分かる。
言うまでもないが、ピットの深さd、=200nmと設
定したため、d、+d、>200 nmとなることはな
い。
以上第59図、第60図について説明したが、これらは
−例であり、導入するファクターn6〜n= l  d
 l ”’ds r  λによって変化する。しかし第
59図、第60図に示す例が最も好適で、ピット形状は
第56図、第57図に示す形状が好適である。
〔実施例〕
次に本発明の実施例を図面とともに説明する。
(第1実施例) 第1図は第1実施例に係るエアサンドイッチ型光ディス
クの縦断面図、第2図はその光ディスクの要部拡大断面
図である。
図中の1は円板状のディスク基板、2(第2図参照)は
下地層、3は記録層、4は中心孔、5は通気孔で、第1
図に示すように2枚の光ディスクを貼り合わせることに
よって内側に空隙6が形成されている。なお、7はディ
スク基板1上に形成されたプリグループやプリピットな
どの信号パターンである。
前記ディスク基板lには、例えばポリカーボネート、ポ
リメチルメタクリレート、ポリメチルペンテン、エポキ
シ樹脂、ガラスなどの透明材料が用いられる。
前記下地層2には、例えばポリビニルナイトレートなど
の自己酸化性物質が用いられている。
記録層3の有機色素系ヒートモード記録材料としては、
例えばポリメチン系色素、アントラキノン系色素、シア
ニン系色素、フタロシアニン系色素、キサンチン系色素
、トリフェニルメタン系色素、ピリリウム系色素、アズ
レン系色素、含金属アゾ染料、また、フォトクロミック
材料としては、フルギド、スピロピラン、テトラベンゾ
ペンタセン、チオインジゴなどの色素を用いることがで
きる。
また、必要に応じてこれらの色素に、例えばニトロセル
ロース等の自己酸化性の樹脂や、ポリスチレン、ポリア
ミド等の熱可塑性樹脂を含有したものなどの色素組成物
を用いることができる。記録材料の組成物を、例えばケ
トン系、エステル系、エーテル系、芳香族系、ハロゲン
化物系、アルコール系、脂肪族系、脂環式系、石油系、
水等の溶媒に溶解し、前記基板上にスピンコードする。
前記有機色素のうち、特にメチン鎖を有するインドール
系シアニンは、光、熱に対して安定しているため好適で
ある。この有機色素は下記のような一般構造式を有して
いる。
一般構造式 式中の■は、メチン鎖を構成するための炭素鎖で、C1
〜C1ffの直鎖あるいは多員環からなり、炭素原子に
ついた水素原子は、ハロゲン元素、るいは芳香環)で置
換されてもよい。
AおよびAoは同じかまたは異なってもよく、それぞれ
芳香環を表し、炭素原子についた水素原子は、  I 
、   B r 、   Cf 、   Cf1Ht+
s+1鎖または芳香環)で置換されてもよい。
BおよびB′は同じかまたは異なってもよく、−O−−
3−−3e −−CH=CH−アルキル基)を表す。
RおよびRoは同しかまたは異なってもよく、C3〜C
2□のアルキル基を表し、スルホニル基もしくはカルボ
キシル基で置換されてもよい。
Xeは、P Fb−、C120a−9I−、CFsS 
Os−。
5CN−などの陰イオンを表す。
mおよびnは、それぞれOまたは1〜3の整数で、m十
n≦3の関係を有している。
第5図は前記−殻構造式中のΦの代表例を示した図で、
この例示以外のものも使用可能である。
また第6図は前記−殻構造式中のA、 A’−の代表例
を示した図で、この例示以外のものも使用可能である。
第7図、第8図ならびに第9図に示す各種有機色素を1
.2−ジクロロエタンに1重量%溶解し、この溶液をポ
リメチルメタクリレートからなるディスク基板上にスピ
ンナー法によって塗布して記録層を形威し、後は常法に
従って光ディスクを組み立てた。なおこれらの図面中、
第7図と第8図(・化合物No、1〜29)は本発明の
各具体例に係る有機色素、第9図(化合物No、30〜
35)は比較例の有機色素をそれぞれ示している。
このようにして製作した各光ディスクに対して記録・再
生試験、記録層の熱安定性試験ならびに耐す−ド光試験
を行い、それらの結果を第10図。
第11図ならびに第12図に示す。
なお、記録・再生試験の条件として、信号の書込は83
0nmのレーザ光を用い、パワー8mW、パルス幅10
0nS、線速度6.0m/secで行った。また信号の
書き込みは、830nmのレーザ光を用い、パワー1m
Wで測定し、C/N値を求めた。
記録層の熱安定性は、日本分光社製UV I DEC−
430Bスペクトロメータを用い、試験前の830nm
における光吸収強度を求めてそれを100としたときの
、80°C11500時間加熱後の830 nmにおけ
る残存光吸収強度の割合を、図中の残存光吸収率(%)
の欄に示す。
また耐す−ド光試験として、830nm、パワーO,5
m Wのレーザ光によって信号の読み出しを行い、反射
率が10%低下するまでの読み出し回数を測定した。
諸種の実験結果から第7図ならびに第8図において、前
記−殻構造式中の■が=CH(=CH−CH=または であると、記録層の耐熱性ならびに記録感度を向上する
ことができる。
また、 前記−殻構造式中のAならびにA゛ が とができる。
さらに、前記−殻構造式中のBならびにB“がであると
、有機色素の熔解性を増すことができる。
さらにまた、前記−殻構造式中のRならびにRoが、C
5〜C3のアルキル基であると、記録層の反射率を高め
ることができる。
特に第7図の化合物No、6またはNo、 10に示さ
れているように、−殻構造式中のΦが一〇H冨CH=C
H=で、Aならびにへ゛がRならびにR゛がCzHsま
たはC,H,で、かつX−がP F b−であるシアニ
ン色素は、耐熱性、記録感度、反射率ならびに溶解性に
優れているため賞月できる。
次にl−メチル−2−(7−(1−メチル−3゜3−ジ
プロピル−2−インドリウムン)−1,3゜5−ヘプタ
トリエニル)−3,3−ジプロピル−インドリウムから
なるインドール系シアニン色素を合威し、陰イオンとし
てヨウ素イオン「、過塩素酸イオンCf!04−ならび
に六フッ化リン酸イオンPF6−をそれぞれ配置する。
これら各種有機色素の熱重量分析を行い、その結果を第
13図に示した。同図において「を用いたものは点線で
、Cl0a−を用いたものは一点鎖線で、PF、−を用
いたものは実線で、それぞれ重量変化の状態を示した。
なお、測定機器は理学電気社製TAS−looの示差走
査熱量計を用い、100m11分の流速を有する窒素気
流中で毎分20°Cの昇温速度で加熱し、試料の重量が
減少し始める温度を測定した。
(第2実施例、第3実施例) 第3図ならびに第4図は第2実施例ならびに第3実施例
を示す要部拡大断面図である。第3図に示す第2実施例
の場合は、記録層3の上に保護層8aが設けられており
、第4図に示す第3実施例の場合はディスク基板1の表
面側にも保護層8bが設けられている。
前記保護層8aとしては、例えばポリビニルアルコール
、ポリエチレンオキサイド、ポリスチレンスルホン酸ナ
トリウム、ポリビニルピロリドン、ポリメタクリル酸、
ポリプロピレングリコール、メチルセルロースなどの水
溶性高分子化合物、あるいは紫外線硬化性樹脂、アクリ
ル樹脂、ポリカーボネート、エポキシ樹脂のごとき合成
樹脂などが用いられる。
記録層が有機溶剤に可溶性であるから、特に保護層とし
て前記水溶性高分子化合物あるいは前記合成樹脂のディ
スバージョンを用いれば、記録層に対する悪影響がない
ため好適である。
前記保護N8bには、例えば、紫外線硬化性樹脂、アク
リル樹脂、エポキシ樹脂などが用いられる。次に記録層
をスピンナー法で形成する場合の条件等について説明す
る。
第16図は、スピンナー塗布装置の概略断面図である。
図中の9はモータ、10は塗布ノズル、11はディスク
基板1を載置、固定するターンテーブル、12はスピン
ナー本体、13は色素溶液、14は加圧ポンプ、15は
ハウジングであり、これには前記ノズルIOが貫通して
いるが、ターンテーブル11の周囲がハウジング15に
よって外気と遮断されて、内部がほぼ完全に気密状態に
保持されている。
スピン塗布装置の外気遮断気密室15は、例えば、塗布
液ノズル10と気密室15外壁と接触部分のガス洩れ程
度の通気性は許容されうる。
第16図、第16b図に示すスピンナー塗布装置の気密
室15における塗布基板1と気密室工5の天井との間隔
dの値が、ディスク基板1の直径りの値に比較してd≦
1.5 X Dの範囲であれば、すなわち、該基板lの
スピン塗布液層の外表面が均質平滑な面で、かつ該塗布
液層の厚みおよび乾燥後の厚みが内周、中周、外周のい
ずれにおいても均一なものが得られる。
しかし第16c図のようにd > 1.5 Dの場合に
は、塗布基板1の外面からd2≦1.5Dの位置に、該
塗布基板1の上部空間で塗布基板1の中央上部から下方
への気流、さらに塗布基板1の塗布面近接部を内周から
外周に向う気流を抑制するための、気流抑制板24を設
けることによって第16図。
第16b図でスピン塗布したものと同等の塗布層が得ら
れる。
ターンテーブル11上のスピンナー塗布を行う基′Fi
1の外径りが小さなものを用いる場合は、第16d図に
示す気密室15のdの値は、d3≦1.5Dになるよう
に気密室内容積調整可能な上蓋24bによって調節すれ
ば、第16図および第16b図によって得られる塗布層
と同等の良好な基板塗布層が得られる。
基板lの回転数、すなわち余剰の色素、または色素組成
物、および溶媒を振り切るための基板1の回転数は35
0〜6500rpmに調整される350rpm以下では
、遠心力不足であり、記録層の内周と外周の間で乾燥速
度の差が生じて膜厚が不均一になる。反対に6500r
pm以上になると膜厚が薄くなり過ぎて所望の膜厚を得
ることができない。
さらに、ターンテーブル11の周囲を密封状態または実
際にはターンテーブル11を回転させながら色素または
、その組成物を滴下するため完全に密封することはでき
ないが、密封に非常に近い状態にする必要がある。これ
により、ターンテーブル11を回転させたことにより起
こる対流Gを小さくすることができる。この対流Gは第
16図において点線で示されており、気流の発生状態は
基板1と密封状態の最高部16との長さに大きく影響さ
れることを解明し、本発明者らの諸種の実験結果からこ
の長さdを基板1の直径りの1.5倍以下とした。
このスピンナー塗布装置17は、第17図に示されてい
るようにドラフト18内に入れられて、前述のようなス
ピンナー塗布が行われる。このドラフト18は図に示さ
れているようにスピンナー塗布装置f17の上方から常
時清浄な空気19が降下し、塗布装置17から濡れる有
機溶媒蒸気などを同伴して、排気筒20から排出される
ようになっている。
色素または色素組成物濃度は0.4重量%〜5.0重量
%とする。濃度が5.0重量%を超えると色素膜の膜厚
が厚くなり過ぎ、記録の際の反応、ヒートモードの場合
は穴あけ、フォトソモードの場合はスペクトルの変化が
体積が律速になりうまく進行しない。
また、濃度が0.4重量%より低いと形成した膜にピン
ホールなどの欠陥が生じる。
前述のように、密封または密封に近い状態にすることに
より、気相中の溶媒の分圧を上げることができ、溶媒の
基Filへのぬれ性を向上させることができる。これに
より、膜の均一性は著しく向上する。密封状態にした場
合と、従来技術のようにオープンにして成膜した場合の
光学特性(反射率、透過率)の半径方向のばらつき状態
を第14図に示す。
第14図からも分かるように、従来技術では、光学特性
のばらつきが平均値に対して相対値で±10%以上見ら
れたが、本発明により平均値に対して相対値で±5%以
下にすることができる。このことは均一な記録、読み出
し特性が得られることを意味する。
スピンコード時間、すなわち色素またはその組成物の溶
液を滴下したのちの基板の回転時間はl0秒以上とする
。スピンコード時間が10秒より短いと信号パターン形
成面に色素またはその組成物を十分に拡散することがで
きない。
また必要に応してスピンコードは、数段階に回転数を変
えて設定することもできる。これは、均一な成膜に適し
た回転数と、はぼ成膜が充放した段階で乾燥を目的とし
た回転数が必要となるためであり、低速の1段階と、そ
の後、前記1段階より高速で回転させる2段階の回転法
を用いる。
スピンコードの後の乾燥条件は、乾燥温度が10℃〜1
15’Cで乾燥時間は30秒以上とする。
乾燥温度×乾燥時間の積がこの値よりも小さすぎると乾
燥が不充分になり、反対にこれが大きすぎると基板に熱
変形などの不具合を発生することになる。
なお、色素または、その組tc物の溶液を滴下する工程
で、基板の回転モードなどは任意に調整することができ
る。例えば、静止している基板に色素またはその組成物
の溶液をほぼ均一にコーティングしたのち、基板を一気
に最高回転速度まで加速するモードと、または既に適当
な回転数で回転している基板上にクランピングエリアよ
り外周部に、色素または、その組成物の溶液を滴下する
モード、その他を取ることができる。
また必要に応じて、色素記録層の上に水溶性ポリマー分
子よりなる薄層を設けることができる。
この水溶性ポリマーとしては、公知に属する任意のもの
を用いることができるが、以下にその数例を挙げる。
■ポリビニルアルコール ■ポリエチレンオキシド ■ポリアクリル酸 ■ポリスチレンスルホン酸ナトリウム ■ポリビニルピロリドン ■ポリメタクリル酸 ■ポリプロピレングリコール ■メチルセルロース この薄層もスピンコーティング法により底膜する。
スピンコード条件は以下の通りである。
水溶性ポリマーの濃度は0.5重量%〜5.0重量%に
調整される。濃度が5.0重量%を超えると、膜厚が厚
くなり過ぎる。反対に、濃度が0.5重量%より低いと
、ピンホールなどの欠陥が生じ易くなる。
基板の最高回転数、すなわち余剰の水溶性ポリマーを振
り切るための基板の回転数は、300rpm 〜500
0rpmに調整される。300rpm以下では薄層の内
周と外周の間で乾燥速度の差が生じて膜厚が不均一にな
る。反対に5000rpm以上になると膜厚が薄くなり
過ぎて、所望の膜厚を得ることができない。
前記した水溶性ポリマーの濃度と、基板の回転速度と、
基板上に形成される薄層の厚さとの関係を第15図に基
づいて説明する。この第15図に示すように、回転速度
が高いほど、また水溶性ポリマーの濃度が低いはどBI
J厚が薄くなる。
ただし、濃度を一定とした場合には、回転速度がある一
定の値以上になると膜厚がサチレートする。
第15図より、水溶性ポリマーの濃度を0,5重量%〜
5.0重量%に、また、基板の回転数を30Orpm〜
5000rpmに調整することによって所望の膜厚が得
られることが判る。
スピンコード時間、すなわち水溶性ポリマーを滴下した
のちの基板の回転時間は、10秒以上とする。
スピンコード後の乾燥条件は、乾燥温度が10”C−1
15°Cで、乾燥時間が約1分以上とする。
乾燥温度×乾燥時間の積がこの値よりも小さ過ぎると薄
層の乾燥が不充分になり、反対にこれが大き過ぎると基
板の熱変形などの不具合を発生することになる。
なお、薄層をスピンコードする際の基板の回転モードは
、水溶性ポリマーを滴下する工程との関係で任意に調整
することができる。例えば、静止している基板に水溶性
ポリマーをほぼ均一にコーティングしたのち、基板を一
気に最高回転速度まで加速して余剰の水溶性ポリマーを
振り切っても良い。また、基板を低速で回転しつつ水溶
性ポリマーをほぼ均一にコーティングし、その後基板を
最高回転速度まで加速して余剰の水溶性ポリマーを振り
切るようにすることもできる。
また、乾燥工程後に、例えば水溶性ポリマーの架橋処理
など、膜の耐湿性や透湿性を改善する処理を行うことも
できる。具体的には、光照射による架橋反応や、加熱に
よる架橋反応、それに熱処理などの手段を採ることがで
きるが、基板に熱変形等の悪影響を与えることがなく、
作業性にも優れることから、光照射による架橋反応が最
適である。
以下、ポリビニルアルコールを例に採って、架橋手段の
具体例を示す。
■無機系架橋剤の添加。
無機系架橋剤としては、銅、ホウ素、アル〔ニウム、チ
タン、ジルコニウム、スズ、バナジウム、クロムなどが
ある。
■アルデヒドを用いたアセタール化。
■水酸基のアルデヒド化。
■活性化ビニル化合物の添加。
■エポキシ化合物を添加してのエーテル化。
■酸触媒のもとでジカルボン酸を反応。
■コハク酸および硫酸の添加。
■トリエチレングリコールおよびアクリル酸メチルの添
加。
■ポリアクリル酸およびメチルビニルエーテル−マレイ
ン酸共重合体のブレンド。
第18図は、本発明の実施例に係る光ディスクの製造工
程を説明するための図である。次に、この図を用いて光
ディスクの製造順序を説明する。
S1ニガラス円盤を研磨、洗浄する。
Slガラス円盤上にフォトレジスタをスピンコードし、
所定の膜厚を有するレジスト層を形成する。
S3ニレジスト層に集光レンズを介してレーザ光を照射
する(カッティング)。
S4:この露光済みのガラス円盤を現像処理する。
S5ニガラス円盤の凹凸面に電鋳によって金属層を形成
し、それを剥離することでスタンパを得る。
S6:スタンパの表面にレプリカ剤をスピンコートシ、
所定の膜厚を有するレプリカ層を形成する。
S7:透明基板の片面にスピンコード法により下地層を
形成する。
S8:下地層の上面にスピンコード法により記録層を形
成する。
S9:記録層の上面にスピンコード法により薄層を形成
する。
SXO:光ディスクとして各種の試験を行い、良否の評
価を行う。
この一連の製造工程において、S2のレジスト層を形成
する工程、S6のレプリカ層を形成する工程、S7の下
地層を形成する工程、ならびにS9の薄層を形成する工
程においても、第16図に示した気密式スピンコード装
置を用いることができる。この装置を使用することによ
り、溶剤の発散が伸性でき、さらに気泡の発生を抑え、
膜厚のむらのない均一なレジスト層、レプリカ層、下地
層ならびに薄層が形成され、信頼性の高い光ディスクが
製造できる。
第19図は、第18図のフローチャートにおける記録層
形成(S8)と保護層形成(S9)の詳細を示すフロー
チャートである。
S21:レプリカ層、下地層(省略する場合もある)な
どを形成した基板(円盤)を準備する。
S22ニジアニン色素と安定剤としての赤外線吸収剤を
溶解したメタノールを基板上にスピンコードして、記録
層を形成する。
323:60〜80″Cの温度で50〜70秒記録層を
アニールする。
S24:ポリビニルアルコール(PVA)と重クロム酸
アンモニウム(架橋剤)の水溶液を記録層上にスピンコ
ードする。
S25:PVAの塗布膜上に紫外線を50〜70秒照射
して、PVAの架橋を行う。
526:架橋後、少量の水を架橋PVA塗膜上にスピン
コードし、架橋反応に関与しなかった架橋剤(重クロム
酸アンモニウム)。
PVAを洗い流して、記録層上に薄層を形成する。
記録層の材料ならびにスピンコードの回転モードなどの
具体例を示せば次の通りである。
〈具体例1〉 まず1.射出成形法によって直径130mmのポリカー
ボネート製基板を作成した。色素溶液の調整法では以下
の通りである。
下記のシアニン色素をメタノールに溶解し、濃度0.5
重量%の溶液を調整した。
スピンコード条件は以下の通りである。
基板を50Orpmで回転させながら、その中心部に上
記調整した溶液を滴下し、その後、5秒回転させた後、
さらに3000rpmで100秒回転せた。ターンテー
ブルの雰囲気は、基板lから密封状態の最高部16(第
16図参照)における長さdは12cmとした。体積は
5000cm’で、密封状態とした。乾燥は常温で1分
以上とした。これにより得られた記録膜の均一性は、光
学特性、反射率、透過率が平均値に対して相対値でばら
つき、0.1%以内となった。
〈具体例2〉 具体例1と同様の基板を作製した。上記のシアニン色素
を1.2−ジクロロエタンに溶解し、濃度1.2重量%
の溶液を調整した。
また、下地膜材料としてポリビニルナイトレート2.5
重量%の水溶液を用いて基板を550゜rpmで回転し
て成膜し、その後、重クロム酸アンモニウムを添加し、
UV照射を行って架橋処理をした。膜厚は60nmであ
る。この下地膜上に上記色素1.2−ジクロロエタン溶
液を基板を50゜rpmで回転させながら滴下、その後
3000fpmに変更した。ターンテーブルの雰囲気お
よび得られた特性は具体例1と同様である。
第20図は記録層にシアニン色素の溶液を用いた前記具
体例のコーティングモードを説明するための図、第21
図はそのコーティングモードにおける記録層の形成順序
を説明するための図である。
前記具体例1で説明したように、基板1を50Orpm
で回転させながら色素溶液を基板1の内周部に滴下する
ことにより、溶液は遠心力の作用で外周部に向けて拡が
り均一な液膜21(第21図参照)を形成し、この回転
を5秒間続行する。この第1の段階(T)で記録N3の
膜厚がほぼ決まるが、まだほとんど未乾燥の状態で液膜
21を指で触れると液が指に付着する状態である。
この第1の段階(1)の終りごろになると、第21図に
示すように液膜21の外周部に液の盛上がり部22が形
成されるとともに、液膜21の内周部23が今までより
も高粘度の状態となる。この状態になると0.1秒間で
回転数を300Orpmまでに急上昇させる。この回転
数の急変により前記盛上がり部22がとれて、破線で示
すようにフラットになる。このように回転数を急変して
も、前述のように内周部23は高粘度になっているため
、回転にともなう遠心力により内周部23の膜厚が変化
する(薄くなる)ことはない。この第2の段階(If)
において主に乾燥が起こり、液膜21中の有機溶媒が揮
散するが膜厚の変化はほとんど認められない。300G
rpmで10秒回転すると、基板1の回転を一気に停止
する。
このようにスピンナー塗布方法によって、溶液が基板上
に拡がって液膜を形成し〔第1の段階(2))、その後
この液膜が乾燥して〔第20段階(2)〕所定の記録層
が形成される訳であるが、この一連の工程中、特に前記
第1の段階(1)において、基板lの上方に形成される
対流G(第16図参照)の影響が大きく現われる。この
対流Gは、ターンテーブル11の回転により、基板lの
ほぼ中央部に向って流れ、それから基板1の表面に沿っ
て基板1の外周部に向けて流れ、それが循環流となって
いる。前記液膜21を乾燥(高粘度化)するためにはあ
る程度の対流Gは必要であるが、対流Gが大きく生しる
と記録層の膜厚が不均一になるから好ましくない。その
ため第16図の例ではハウジング15を用いて、対流G
の流れを抑制した訳であるが、この対流抑制手段の他の
例を第22図ないし第29図に示す。
第22図に示す例の場合、基板1よりも広い面積を有す
る平板状の対流抑制部材24が、基板lの上方に接近し
て配置されており、塗布ノズル10がこの抑制部材24
を貫通して基板1側に延びている。
第23図に示す例の場合、前記第22図の例と相異する
点は、塗布ノズル10が抑制部材24を貫通しないで、
横側から水平方向に基板1と抑制部材24の間に挿入さ
れている点で、塗布ノズル10は抜き差し可能にするこ
とができる。
第24図に示す例の場合、傘状の抑制部材24が用いら
れている。
第25図に示す例の場合、断面路■字状の抑制部材24
が用いられている。
第26図に示す例の場合、第25図の例と相異する点は
、抑制部材24の中央部にフラット部25が設けられて
いる点である。
第27図に示す例の場合、略皿状の抑制部材24が用い
られている。
第28図に示す例の場合、基板1と対向する下面に環状
の突壁26が1つまたは2つ以上同心円状に付設した抑
制部材24が用いられている。
(第4実施例) 第30図は第4実施例に係る光情報記録ディスクの製造
装置の縦断面図であり、第31図はその製造装置の一部
を断面した平面図である。
これらの図に示すように、この光情報記録ディスクの製
造装置は、主として、基板31を回転駆動する回転装置
32と、所定量の成膜材料を供給するデイスペンサ33
と、基vi31上に成膜材料を噴射するノズル34と、
これらの各装置を収納する密封ケース35とから威る。
回転装置32は、密封ケース35の下部を構成する底板
35aの下面に取り付けられたモータ36と、底板35
aに垂直に貫通され、回転自在に保持されたモータ軸3
6aと、底板35aの上方に突出したモータ軸36aの
先端部に水平に取り付けられたターンテーブル37とか
ら成る。
ターンテーブル37の上面中央部には、基板31に開設
されたセンタ孔り1a内に嵌挿可能な直径を有する位置
決め突起38が突設されており、基板31を同心状に取
り付けられるようになっている。ター、ンテーブル37
上に配置された基板31は、前記位置決め突起38に嵌
着されたディスクホルダ39によって固着される。
ノズル34は、デイスペンサ33より延出されており、
基板31の内周部と対向する位置に設定されている。前
記ノズル34の先端部34aは、第31図に示すように
、基板31の内周部から外周部に向かう半径方向X−X
に向けられており、また、第30図に示すようにノズル
34の側面方、向から見たとき、基板31に対して90
度よりも小さい角度θをなして傾斜するように向けられ
ている。基板31に対するノズル先端部34aの最適設
定角度θは、基板31の回転数や成膜材料の粘度等によ
って定まる。
第32図は、厚さむらが5%以内の薄膜層を成膜するに
好適な基板31に対するノズル先端部34aの設定角度
θと基板31の回転数との関係を示す特性図である。縦
軸に基板31に対するノズル先端部34aの設定角度θ
が、横軸に基板31の回転数が目盛られている。図中の
棒線は、回転数以外のファクタによるばらつきの範囲を
示しており、黒丸はそれらの平均値を示している。
この図から明らかなように、基板31の回転数が高いほ
ど基板31に対するノズル先端部34aの設定角度θを
小さく設定する。また、最適設定角度は最大±IO度程
度のばらつきがあり、成膜に際して適宜調整する必要が
ある。
前記ノズル34の先端部34aは、第33図ならびに第
34図に詳細に示すように、基板31との対向側が長く
その反対側が短かい斜面形に形成されており、前記基板
31との対向側の先端近傍に液だれ防止用の小孔40が
開設されている。なおこの小孔40は、貫通していても
〔第33図参照〕、貫通してなくてもよい〔第34図参
照〕。
密封ケース35は、前記底板35aとデイスペンサ33
およびノズル34の上方を包被するカバー35bとから
成る。密封ケース35は、当該ケース35内の空気流を
安定に保持するためのものであって、可能な限り小容量
に形成することが好ましい。
この実施例に係る製造装置は、ノズル34の先端部34
aを基板の半径方向、すなわち成膜材料の溶液に作用す
る遠心力の方向に向けて配置したので、溶液を滴下した
とき遠心力の方向に多くの溶液が拡がり、遠心力と反対
の方向に拡がる溶液の量が相対的に少なくなる。よって
、基板31の外周方向に向かう溶液の流れが円滑になり
、均厚性の高い薄膜層が形成される。
また、デイスペンサ33およびノズル34を一定位置に
定置したので、これらの部材の設定スペースをコンパク
トに設定することができる。よって、密封ケース35を
小容積化することができ、この点からも薄膜層の均厚性
を高めることができる。
さらに、ノズル34の先端部34aを基板31側が長く
その反対側が短かい斜面形に形成すると共に、基板31
例の先端近傍に液だれ防止用の小孔40を開設したので
、薄膜形成後に液だれを起して不良品を生じるといった
ことがなく、良品の歩留りが高い。
この光情報記録ディスクの製造装置は、基板31を所定
の回転数で回転駆動したのち、デイスペンサ33を駆動
してノズル34より成膜材料を供給するようにすること
ができる。
(第5実施例) 次に、本発明の第5実施例を第35図および第36図に
基づいて説明する。
本実施例の製造装置は、ノズル34の先端部34aを第
35図に示すように、基板31に対して90度よりも小
さい角度θ1をなして傾斜すると共に、第36図に示す
ように、基板31の半径方向線X−Xに対しても、基板
31の回転方向Aの方向に、90度よりも小さい角度θ
2をなして傾斜しである。
このようにすると、ノズル34より成膜材料の溶液を滴
下したとき、遠心力および基板31の回転力が作用する
方向に多くの溶液が拡がり、基板31の外周方向および
円周方向に向かう溶液の流れが円滑になって、より均厚
性の高い薄膜層が形成される。
(第6実施例) 次に、本発明の第6実施例を第37図に基づいて説明す
る。
本実施例の製造装置は、前記デイスペンサ33が前記密
封ケース35のカバー35bに回動可能に取り付けられ
た回転軸42に固着されており、カバー35bの外面に
設定されたモータなどの動力源43を駆動することによ
って、ノズル34の先端部34aを基Fi31の内周部
から外周部に向けて適宜揺動できるようになっている。
このようにすると、基板31の表面全体に成膜材料を速
やかに塗布することができ、薄膜層の均厚性を一層向上
することができる0本実施例の装置は、大径の光情報記
録ディスクに薄膜層をスピンコードするに特に好適であ
る。なお、デイスペンサ33およびノズル34自体は一
定位置に保持されるので、これらの部材の設定スペース
が大きくなることはなく、密封ケース35の大容積化、
およびこれに伴う薄膜層の均厚性の劣化を生じることが
ない。
この光情報記録ディスクの製造装置は、基板31を所定
の回転数で回転駆動したのち、デイスペンサ33を駆動
してノズル34より成膜材料を供給しつつ、動力源43
を駆動してノズル34の先端部34aを基板31の内周
部から外周部に向けて揺動するようにすることができる
以下、本発明に係る装置のより具体的な実施例と、これ
を用いた光情報記録ディスクの製造方法の一例を説明し
、本発明の効果に言及する。
本実施例の装置では、孔径が1mmで先端部が60度に
カットされたノズルを基板の半径方向に向け、その先端
部を基板に対して45度に傾斜した。また、ターンテー
ブルには直径が120mmのポリカーボネート製基板を
装着し、容積が5000cm3の密封ケースで被着した
記録層の成膜に際しては、前記基板を50Orpmで回
転駆動したのち、前記ノズルより前記基板の中心から半
径27mmの位置に、以下の分子構造式で表わされるシ
アニン色素の0.5重量%メタノール溶液を0.5kg
/cm”の圧力で噴射した。
なお、溶媒であるメタノールの粘度は0.006k g
 / s mである。シアニン色素の溶媒としては、メ
タノールのほか、メチルエチルケトン(粘度0.004
41 k g/sm)、1.2−ジクooエタン(粘度
0.008kg/sm)、ニトロヘンゼン(粘度0.0
201kg/sm)などを用いることができる。
前記の装置および方法で成膜されたシアニン色素系のヒ
ートモード記録層は、第38図に黒丸で示すように、記
録エリア(基板の中心から半径27mm以上のエリア)
に関してはほとんど厚さ′むらがない。
比較例として、第47図に示した従来のスピンコード装
置を用いて成膜された記録層の厚さ分布を、第38図に
白丸で示す。スピンコード装置以外の諸条件については
、前記実施例と全て同しである。
この図に示すように、従来のスピンコード装置によると
、最内周部において膜厚が最も厚くなり中間エリアから
外周エリアにかけては膜厚がほぼ均一になっている。最
厚部と最薄部の膜厚め差は約8nmもある。
このように本発明の装置によると、基板上の均厚性の高
い記録層を形成できることが判る。
なお、前記実施例においては、基板上に記録層を形成す
る場合を例にとって説明したが、その他記t(Hの下地
層を形成する場合、あるいは基板の表面に薄層を形成す
る場合など、あらゆる種類の薄膜のスピンコードに応用
することができる。
また、ノズルの形状や直径、ターンテーブルの形状や回
転数、それに成膜材料の種類や噴射圧力なと°について
は前記実施例に限定されるものではなく、必要に応じて
適宜設計することができる。
(第7実施例) 第39図は第7実施例に係るエアサンドイッチ型光ディ
スクの縦断面図、第40図はその光ディスクの要部拡大
断面図である。
これらの図において、51は、透光性材料よりなる円板
状の基板で、ポリカーボネイト、ポリメチルメタクリレ
ート、ポリメチルペンテン、エポキシ等の透明樹脂材料
、或いはガラス等の透明セラよツクス等を用いることが
出来るが、該実施例においてはポリカーボネイト基板が
用いられている。なお、51aは、基板51の中心孔で
ある。
この基板510片面には、それぞれトラッキング信号に
対応する案内トラックやアドレス信号に対応するプリピ
ットなどの信号パターン52が形成される(第41図参
照)。
信号パターン52の形成手段としては、前記基板5Iの
材質によって適宜の方法が適用される。
例えば、基板51がポリカーボネイトやポリメチルメタ
クリレート、ポリメチルペンテンなどの熱可塑性樹脂に
て形成される場合には、射出成形用金型内に溶融した基
板材料を射出して、基板51と信号パターン52とを一
体に成形する所謂インジェクション法が適する。また、
この基板材料に関しては、射出成形用金型内に溶融した
基板材料を射出したのちに圧力を加える、所謂コンプレ
ッション法あるいはインジェクション−コンプレッショ
ン法といった形成手段を適用することもできる。さらに
、基′jIi51がエポキシなどの熱硬化性樹脂にて形
成される場合には、所望の信号パターンノ反転パターン
が形成されたスタンパ(金型)と基Fi51との間で光
硬化性樹脂を展伸し、スタンパの反転パターンを基板5
1に転写する所謂2P法(P hotopoly−me
rization ;光硬化性樹脂)が適する。また、
この樹脂材料に関しては、金型内に溶融状態にある基板
材料を静注して、基板51と信号パターン52とを一体
に成形する所謂注型法を適用することもできる。
53は、例えば前記2P法によって表面上に成膜された
記録層であり、第39図ならびに第40図では図示して
いないが、表面に微細な凹凸を有する信号パターン52
が形成されている。
記録層53の材質としては、例えばポリメチン系色素、
アントラキノン系色素、シアニン系色素、フタロシアニ
ン系色素、キサンチン系色素、トリフェニルメタン系色
素、ビリリウム系色素、アズレン系色素、含金属アゾ染
料等を用いることができる。該本実施例ではシアニン系
色素材料を用い、このシアニン系色素のメタノール溶液
を、基板51上にスピンコードして、記録層53を成膜
した。
シアニン系有機色素のうち特に下記のような一般構造式
を有しているインドール系シアニンが好適である。
一般構造式 式中の■は、メチン鎖を構成するための炭素鎖で、C3
〜Catの直鎖あるいは多員環がらなり、炭素原子に付
いた水素原子は、ハロゲン原子、るいは芳香環)で置換
されてもよい。
AおよびA”は、同じかまたは異なってもよく、それぞ
れは芳香環を表わし、炭素原子に付いて水素原子は、 
 I 、   B r 、   C41!、  Cl1
Hzn+を鎖または芳香環)で置換されてもよい。
BおよびB′は、同じかまたは異なってもよく、−〇−
、−3−、−3e−、−CH=CH−または (R−は、CH3、C* Hs 、  C3H? 、 
 Ca H9などのC2〜C4のアルキル基)を表わす
RおよびR゛は、同じかまたは異なってもよく、C1〜
C1Zのアルキル基を表わし、スルホニル基もしくはカ
ルボキシル基で置換されてもよい。
Xeは、例エバP F b−、I −、CI 0a−C
F3SO3−,5CN−などの陰イオンを表わす。
mおよびnは、それぞれ0または1〜3の整数であり、
n+n≦3の関係を有している。
ディスク基板上に下地層を介しであるいは介さずに記録
層を形成する方法は、溶液スピンコード法、蒸着法ある
いはラングミニア・プロゼットによる積層法を用いても
よく、これらの方法を適宜組み合わせてもよい。
このシアニン系有機色素の好適な具体例を示せば次の通
りである。
54は、前記記録層53上にスピンコーティング法によ
って成膜した水溶性樹脂(親水性高分子材料)よりなる
薄層で、例えば以下に示すような水溶性樹脂を用いるこ
とができる。
■ポリビニルアルコール ■ポリエチレンオキシド ■ポリアクリル酸 ■ポリスチレンスルホン酸ナトリウム ■ポリビニルピロリドン ■ポリメタクリル酸 ■ポリプロピレングリコール ■メチルセルロース ■ポリビニルナイトレート また薄層54として、下記のような熱可塑性合成樹脂も
使用できる。
■ ポリテトラフルオロエチレン、ポリクロロトリフロ
オロエチレン、フッ化ビニリデン、テトラフニオロエチ
レンーヘキサフルオロプロピレン共重合体、フッ化ビニ
リデン−へキサフルオロプロピレン共重合体、フッ化ビ
ニリデン−クロロトリフロオロエチレン共重合体、テト
ラフルオロエチレン−ペロフルオロアルキルビニールエ
ーテル共重合体、テトラフルオロエチレン−エチレン共
重合体などのフッ素樹脂。
■ ボリイξド、ボリアくトイミド、ポリエステルイミ
ドなどのイミドなどの樹脂 ■ 6−ナイロン、11−ナイロン、12−1−イロン
、6ローナイロン、610−ナイロン、610−ナイロ
ンと6ナイロンと6ローナイロンの混合物などのアミド
樹脂 ■ ポリエチレン、架橋ポリエチレン、エチレン−アク
リル酸エステル共重合、マイオノマーなとのエチレン樹
脂 ■ ボワプロピレン ■ ポリスチレン、スチレンーアクリ口ニトリル共重合
体、スチレン−アクリロニトリル−ブタジェン共重合体
などのスチレン樹脂 ■ ポリ塩化ビニル ■ ポリ塩化ビニリデン ■ ポリ酢酸ビニル [相] ポリビニルアセタール ■ ポリカーボネート ■ ポリアセクール ■ ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフ
タレートなどの飽和ポリエステル樹脂[相] ポリフェ
ニレンオキシド ■ ポリスルホン さらに薄層54として、下記のようなゴム質のものも使
用できる。
■ スチレン−ブタジェンゴム、ブタジェンゴム、イソ
プレンゴム、アクリロニトリル−ブタジェンゴム、クロ
ロプレンゴムなどのジエン系ゴム■ ブチルゴム、エチ
レン−プロピレンゴム、アクリルゴム、クロロスルホン
化ポリエチレンゴム、フッ素ゴムなどのオレフィン系ゴ
ム ■ シリコーンゴム ■ ウレタンゴム ■ 多硫化ゴム 本実施例においては、薄N54の材料としてポリビニル
アルコール(PVA)を用いており、該PVAの水溶液
をスピンコードし、膜厚60nm薄層54を成膜してい
る。
この薄層54の形成も第16図に示したスピンナー塗布
装置17を用いて行なう。
第4!図および第42図は、スピンナー塗布途中の状態
を示す断面図および平面図である。同図に示すように薄
層54を形成するための塗布液55を基板51上の記録
エリアB全域にむらなく滴下する。
ここで記録エリアBの全域に塗布液55を滴下する方法
について、以下4つの方法について第43図ないし第4
5図を用いて説明するが、本発明の方法はこれらに限定
されるものではない。
第■方法(第43図参照〉 まず、光記録媒体の中間部分(但し、クランピングエリ
アAの外側)にドーナツ状に塗布液55を滴下し、その
後、lrpm以下の低速で回転させ塗布液16が記録エ
リアB全域に広がった後、高速(maχ4000rpm
)で光記録媒体を回転させ余分な塗布液55を振り切っ
て成膜を行う。
第■方法(第44図参照) まず、光記録媒体の中間部分(但し、クランピングエリ
アAの外側)にドーナツ状に塗布液55を滴下し、その
後、lrpm以下の低速で回転させ塗布液55が記録エ
リアB全域に広がった後、5秒間以上光記録媒体を静止
させ、その後高速(max4000rpm)で光記録媒
体を回転させ余分な塗布液55を振り切って成膜を行う
第■方法(第45図参照) 光記録媒体を静止させた状態で、ノズルを回転させ記録
エリアB全域に塗布液55を滴下し、その後、光記録媒
体を高速で回転させ、余分な塗布液55を振り切って成
膜を行う。
第■方法(第45図参照) 光記録媒体を静止させた状態で記録エリアB全域にスプ
レ一方式で塗布液55を吹きつけ、その後、光記録媒体
を高速で回転させ余分な塗布液55を振り切って成膜を
行う。
ところで、前記薄1i54はPVA等の水溶性樹脂から
なっているため、耐湿性が劣化する。このため、薄層5
4を架橋処理等して耐水性(耐湿性、透湿)、並びに耐
熱性をもたせている。具体的には、水溶性樹脂の水溶液
に架橋剤等を添加しておき薄層54を成膜後、例えば紫
外線などの光照射による架橋反応や加熱による架橋反応
を起こさせたり、或いは、架橋剤の添加のない薄fi1
54を熱処理して結晶化(例えば該実施例ではPVAを
用いているので、変性PVA化)することによって、耐
水・耐熱性をもたせることが出来る。
しかしながら、基+&51、記録1i53への熱的悪影
響を考慮しなくても済む、上述した光照射による架橋反
応が、作業性の点でも優れているので、該実施例におい
ては、架橋剤として重クロム酸アンモニウムを添加し、
光照射により薄層、54を架橋反応させる手法が採られ
ている。
以下に示すのは架橋手段の具体例で、必要に応じ任意の
手段が採用可能である。
■ 無機系架橋剤としての、例えば銅、ホウ素、アルミ
ニウム、チタン、ジルコニウム、スズ、バナジウム、ク
ロム等の添加。
■ アルデヒドを用いたアセタール化。
■ 水酸基のアルデヒド化。
■ 活性化ビニル化合物の添加。
■ エポキシ化合物を添加してのエーテル化。
■ 酸触媒のものとジカルボン酸を反応。
■ コハク酸および硫酸の添加。
■ トリエチレングリコールおよびアクリル酸メチルの
添加。
■ ポリアクリル酸およびメチルビニルエーテルマレイ
ン酸共重合体のブレンド。
第46図は、本発明の実施例において薄層形成からその
後のプロセスを示すフローチャートである。同図におい
て、 S31:架橋剤として所定濃度の重クロム酸アン−1−
−ムラ((NHn)zcrzOt )を添加したポリビ
ニルアルコール水溶液を調整する。
S32ニスピンコーテイング法によって薄層を形成する
S33:薄層に紫外線を照射することにより架橋反応を
行なわせて、薄層に耐水性を付与する。
S34:基板を回転させなから薄層の上から洗浄剤を滴
下して、薄層中の架橋剤ならびに未架橋化部分を洗浄、
除去する。
なお洗浄剤としては、水、温水、アル コール類などの有機液体の単独あるいは混合物が用いら
れる。
S35:80’Cで1時間30分ベータ処理して完成品
とする。
前記334の洗浄処理を行なった場合と行なわない場合
の反射率の劣化を次の表に示す。なおこの試験は、60
°C190%RHの雰囲気で行なったものである。
〔単位二%〕
この表から明らかなように、洗浄処理して架橋剤あるい
は未架橋化部分を薄層から除去することにより、高温多
湿下においても高い反射率を維持することができる。洗
浄処理しない場合に高温多湿下で反射率が低下する原因
としては、薄層中に架橋剤や未架橋部分が残存すると、
吸湿によって’iilWMが膨潤し、そのため記録層と
の密着が悪くなるためであると考えられる。
前記実施例ではエアサンドイッチ構造の光ディスクにつ
いて説明したが、本発明はこれに限定されるものではな
く、例えば1枚の光ディスクからなる単板状のもの、あ
るいは2枚の光ディスクを密着するように接合した密着
構造のものなど、他の構造のものにも適用可能である。
〔発明の効果〕
本発明は前述したように気流抑制手段を設けることによ
り、記録層の反射率、透過率のばらつきが少なく、均一
な性能を有する光情報記録媒体が得られる製造装置を提
供することができる。
また前述のようノズルの先端を遠心力の方向に向けて配
置したので、溶液を滴下したとき遠心力の方向に多くの
溶液が拡がり、遠心力と反対の方向に拡がる溶液の量が
相対的に少なくすることができる。よって、基板の外周
方向に向かう溶液の流が円滑になり、均厚性の高い薄膜
層を形成することができる。
さらに前述のように、基板の記録エリア全域にわたって
液膜を形成し、その状態で静止または極低速回転するこ
とにより、記録エリアの信号パターンの凹部内に塗布液
を充分に充填することができ、結果的にはピンホールの
ない均一な膜厚を有する薄層を形成することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の第1実施例に係るエアサンドイッチ
型光ディスクの縦断面図、 第2図は、その光ディスクの要部拡大断面図、第3図は
、本発明の第2実施例に係る光ディスクの要部拡大断面
図、 第4図は、本発明の第3実施例に係る光ディスクの要部
拡大断面図、 第5図は、実施例で用いられる有機色素の一般構造式中
での■の代表例を示す図、 第6図は、同じく一般構造式中でのA、A’の代表例を
示す図、 第7図ならびに第8図は、実施例で用いられる有機色素
の具体例を示す図、 第9図は、有機色素の比較例を示す図、第10図、第1
1図、第12図ならびに第413図は、各種特性を示す
特性図、 第14図は、反射率、透過率の特性図、第15図は、各
有機色素濃度における回転数と膜厚との関係を示す特性
図、 第16a図、第16b図、第16c図、第16d図は、
スピンナー塗布装置の概略断面図、第17図は、その塗
布装置を収納するドラフトの概略構成図、 第18図は、光ディスクの製造順序を説明するためのフ
ローチャート、 第19図は、記録層形成と保護層形成の詳細を示すフロ
ーチャート、 第20図は、具体例のコーティングモードを説明するた
めのモード説明図、 第21図は、そのコーティングモードにおける記録層の
形成順序を説明するための図、第22図ないし第28図
は、対流抑制手段の変形例を示す概略断面図、 第29図は、第28図に示す変形例の概略平面図である
。 第30図は、本発明の第4実施例に係るスピンナー塗布
装置の縦断面図、 第31図は、そのスピンナー塗布装置の一部を断面した
平面図、 第32図は、ノズルと基板のなす角と基板の回転数との
関係を示す特性図、 第33図ならびに第34図は、その塗布装置に用いられ
るノズル先端部の拡大断面図である。 第35図は、本発明の第5実施例に係るスピンナー塗布
装置の縦断面図、 第36図は、そのスピンナー塗布装置の一部を断面した
平面図である。 第37図は、本発明の第6実施例に係るスピンナー塗布
装置の要部斜視図、 第38図は、本発明の実施例と従来のものとの膜厚の特
性図である。 第39図は、本発明の第7実施例に係るエアサンドイッ
チ型光ディスクの断面図、 第40図は、その光ディスクの要部拡大断面図、第41
図および第42図は、スピンナー塗布途中の状態を示す
断面図および平面図、 第43図、第44図ならびに第45図は、スピンコーテ
ィングの各コーティングモードを説明するためのモード
説明図、 第46図は、薄層形成後からその後のプロセスを説明す
るためのフローチャートである。 第47図は、従来のスピンナー塗布装置の斜視図、 第48図ならびに第49図は、中心部滴下法の説明図、 第50図は、基板の断面図、 第51図および第52図は、従来の塗布方法をす拡大断
面図、 第56図、第57図は、本発明の実施例に係るビット形
状を示す拡大断面図、 第58図は、反射光の説明図、 第59図、第60図は、本発明の実施例において、膜厚
dI、dtと反射率Rとの関係を示す特性図である。 1・・・・・・・・・ディスク基板、3・・・・・・・
・・記録層、7・・・・・・・・・信号パターン、10
・・・・・・・・・塗布ノズル、11・・・・・・・・
・ターンテーブル、12・・・・・・・・・スピンナー
本体、13・・・・・・・・・色素溶液、15・・・・
・・・・・ハウジング、16・・・・・・・・・最高部
、17・・・・・・・・・スピンナー塗布装置、24・
・・・・・・・・対流抑制部材、25・・・・・・・・
・フラツト部、26・・・・・・・・・突壁、31・・
・・・・・・・基板、32・・・・・・・・・回転装置
、33・・・・・・・・・デイスペンサ、34・・・・
・・・・・ノズル、35・・・・・・・・・密封ケース
、37・・・・・・・・・ターンテーブル、40・・・
・・・・・・小孔、51・・・・・・・・・基板、52
・・・・・・・・・信号パターン、53・・・・・・・
・・記録層、54・・・・・・・・・薄層、55・・・
・・・・・・塗布液。 第 ! 図 第3図 第4図 − 用馴 第14図 円板;佳(rnm) 第15図 日傘2:蓄ズ(rpm) 7 (12 第16o図 第tec図 第16d図 d3<1.5XD 第17図 8 第18図 第19図 第20図 第2I図 第n図 第27図 第28図 第29図 第30図 第32図 困耘叔 (rρm) 第33図 0 第34図 第35図 第36図 第38図 暴悪″9径 (mm) 第39図 第40図 第47図 第43図 時 間 (1) 第44図 第45図 第46図 第48図 第49図 第50図 第53図 第54図 第55図 第56図 0ニ

Claims (27)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板を支持するターンテーブルと、その基板上に
    塗布液を滴下するノズルとを備え、基板上に滴下した塗
    布液をターンテーブルの回転力により基板上に拡げて塗
    膜を形成するスピンナー塗布による光情報記録媒体の製
    造装置において、前記ターンテーブルの回転により、基
    板のほぼ中央部に向けて流れ、さらにそれから基板の表
    面に沿つて基板外周部に向けて流れる対流の流れを抑制
    する気流抑制手段を設けたことを特徴とする光情報記録
    媒体の製造装置。
  2. (2)請求項(1)記載において、前記基板が水平状態
    に配置され、前記ノズルならびに気流抑制手段が基板の
    上方に配置されていることを特徴とする光情報記録媒体
    の製造装置。
  3. (3)請求項(1)記載において、前記気流抑制手段が
    基板の平面と対向するように配置された板状部を有して
    いることを特徴とする光情報記録媒体の製造装置。
  4. (4)請求項(1)〜(3)記載において、前記気流抑
    制手段が、前記ターンテーブルを内装したハウジングか
    らなり、そのハウジングによつてハウジング内が外気と
    実質的に遮断されていることを特徴とする光情報記録媒
    体の製造装置。
  5. (5)請求項(1)〜(4)記載において、前記ノズル
    が気流抑制手段のほぼ中央部を貫通して基板の中央部表
    面付近まで延びていることを特徴とする光情報記録媒体
    の製造装置。
  6. (6)請求項(1)記載において、前記基板上に形成さ
    れる塗膜が記録層であつて、それの塗布液が0.4〜5
    重量%の範囲に規制された有機色素を含有していること
    を特徴とする光情報記録媒体の製造装置。
  7. (7)請求項(1)または請求項(6)記載において、
    前記基板上に形成される塗膜が記録層であつて、それの
    塗布液がメチン鎖を有するインドール系シアニン色素を
    含有していることを特徴とする光情報記録媒体の製造装
    置。
  8. (8)請求項(7)記載において、前記有機色素が下記
    の一般構造式を有していることを特徴とする光情報記録
    媒体の製造装置。 一般構造式 ▲数式、化学式、表等があります▼ 式中の[T]は、メチン鎖を構成するための炭素鎖で、
    C_3〜C_1_7の直鎖あるいは多員環からなり、炭
    素原子についた水素原子は、ハロゲン元素、▲数式、化
    学式、表等があります▼(R”は、C_1〜C_6の直
    鎖あ るいは芳香環)で置換されてもよい。 AおよびA’は同じかまたは異なつてもよく、それぞれ
    芳香環を表し、炭素原子についた水素原子は、−I、−
    Br、−Cl、−C_nH_2_n_+_1(n=1〜
    22)、−OCH_3、▲数式、化学式、表等がありま
    す▼、▲数式、化学式、表等があります▼(R”’は、
    直鎖炭化水素 鎖または芳香環)で置換されてもよい。 BおよびB’は同じかまたは異なつてもよく、−O−、
    −S−、−Se−、−CH=CH−、または▲数式、化
    学式、表等があります▼(R””はC_1〜C_4の アルキル基)を表す。 RおよびR’は同じかまたは異なつてもよく、C_1〜
    C_2_2のアルキル基を表し、スルホニル基もしくは
    カルボキシル基で置換されてもよい。 Xeは、PF_6^−、I^−、ClO_4^−、CF
    _3SO_3^−、SCN^−などの陰イオンを表す。 mおよびnは、それぞれ0または1〜3の整数で、m+
    n≦3の関係を有している。
  9. (9)請求項(1)、(4)、(6)、(7)、(8)
    記載において、前記塗布液の溶媒が水よりも沸点の低い
    揮発性有機液体であることを特徴とする光情報記録媒体
    の製造装置。
  10. (10)基板の回転装置と成膜材料の供給ノズルとを備
    えた光情報記録媒体の製造装置において、前記ノズルを
    前記基板の内周部と対向する位置に配置し、前記基板の
    平面方向から見て前記ノズルの先端部を前記基板の外周
    方向に向けると共に、前記ノズルの側面方向から見て前
    記基板とのなす角度が90度よりも小さい角度になるよ
    うに前記ノズルの先端部を傾斜したことを特徴とする光
    情報記録媒体の製造装置。
  11. (11)請求項(10)記載において、前記ノズルの先
    端部を前記基板の半径方向に向けて配置したことを特徴
    とする光情報記録媒体の製造装置。
  12. (12)請求項(10)記載において、前記ノズルの先
    端部を前記基板の半径方向に対して回転方向に傾斜した
    ことを特徴とする光情報記録媒体の製造装置。
  13. (13)請求項(10)記載において、前記ノズルを回
    転可能に保持し、このノズルの先端部と前記基板とのな
    す角度が適宜調整できるようにしたことを特徴とする光
    情報記録媒体の製造装置。
  14. (14)請求項(10)記載において、前記回転装置に
    て前記基板を回転駆動したのち、前記ノズルより成膜材
    料を供給するようにしたことを特徴とする光情報記録媒
    体の製造装置。
  15. (15)請求項(10)記載において、前記回転装置に
    て前記基板を回転駆動したのち、前記ノズルを前記基板
    の内周部から外周部に向けて移動しつつ、ノズルより成
    膜材料を供給するようにしたことを特徴とする光情報記
    録媒体の製造装置。
  16. (16)請求項(10)記載において、前記ノズルの先
    端部に液だれ防止手段を設けたことを特徴とする光情報
    記録媒体の製造装置。
  17. (17)請求項(16)記載において、前記液だれ防止
    手段として、前記ノズルの先端部を前記基板との対向側
    が長くその反対側が短かい斜面形に形成したことを特徴
    とする光情報記録媒体の製造装置。
  18. (18)請求項(16)記載において、前記液だれ防止
    手段として、前記ノズルの先端近傍の前記基板と対向す
    る部分に、貫通または貫通していない小孔を設けたこと
    を特徴とする光情報記録媒体の製造装置。
  19. (19)基板の記録エリア全域にわたつて塗布液膜を形
    成して、その記録エリアの信号パターン凹部内に塗布液
    を充填した後、基板を高速回転させ基板上の余分な塗布
    液を振り切つて被膜を形成することを特徴とする光情報
    記録媒体の製造方法。
  20. (20)請求項(19)記載において、前記基板を静止
    状態にして塗布液を滴下して記録エリア全域にわたつて
    塗布液膜を形成するとともに、記録エリアの信号パター
    ン凹部内に塗布液を充填することを特徴とする光情報記
    録媒体の製造方法。
  21. (21)請求項(19)記載において、前記基板を低速
    回転しながら塗布液を滴下し、その後一旦基板の回転を
    停止して記録エリアの信号パターン凹部内に塗布液を充
    填することを特徴とする光情報記録媒体の製造方法。
  22. (22)請求項(19)記載において、前記塗布液の滴
    下、塗布はスプレーによつて行うことを特徴とする光情
    報記録媒体の製造方法。
  23. (23)請求項(19)記載において、前記塗布液が水
    溶性樹脂からなることを特徴とする光情報記録媒体の製
    造方法。
  24. (24)請求項(23)記載において、前記水溶性樹脂
    がポリビニルアルコールであることを特徴とする光情報
    記録媒体の製造方法。
  25. (25)請求項(24)記載において、前記ポリビニル
    アルコールによつて薄層を形成したのちに架橋処理する
    ことを特徴とする光情報記録媒体の製造方法。
  26. (26)請求項(25)記載において、前記架橋処理後
    に薄層中の未架橋部分ならびに未反応の架橋剤を除去す
    ることを特徴とする光情報記録媒体の製造方法。
  27. (27)請求項(25)記載において、前記スピンコー
    ティングが大気と遮断された気密雰囲気中で行なわれる
    ことを特徴とする光情報記録媒体の製造方法。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08115538A (ja) * 1994-09-30 1996-05-07 Cheil Synthetics Inc 有機光記録ディスクの製造方法
US6236532B1 (en) * 1994-08-16 2001-05-22 Nec Corporation Magnetic disk drive having small clearance between magnetic disk and surface opposing thereto
JP2004095726A (ja) * 2002-08-30 2004-03-25 Ckd Corp 液膜形成方法、または液膜形成装置
US6821459B1 (en) * 1999-10-07 2004-11-23 Fuji Photo Film Co., Ltd. Information-recording medium and method for producing the same
JP2010125351A (ja) * 2008-11-25 2010-06-10 Disco Abrasive Syst Ltd 保護膜の被覆方法および保護膜被覆装置
WO2010070747A1 (ja) * 2008-12-17 2010-06-24 パイオニア株式会社 転写装置及び転写方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013251302A (ja) * 2012-05-30 2013-12-12 Disco Abrasive Syst Ltd 粘着剤塗布装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6236532B1 (en) * 1994-08-16 2001-05-22 Nec Corporation Magnetic disk drive having small clearance between magnetic disk and surface opposing thereto
JPH08115538A (ja) * 1994-09-30 1996-05-07 Cheil Synthetics Inc 有機光記録ディスクの製造方法
US6821459B1 (en) * 1999-10-07 2004-11-23 Fuji Photo Film Co., Ltd. Information-recording medium and method for producing the same
JP2004095726A (ja) * 2002-08-30 2004-03-25 Ckd Corp 液膜形成方法、または液膜形成装置
JP2010125351A (ja) * 2008-11-25 2010-06-10 Disco Abrasive Syst Ltd 保護膜の被覆方法および保護膜被覆装置
WO2010070747A1 (ja) * 2008-12-17 2010-06-24 パイオニア株式会社 転写装置及び転写方法

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