JPH0329474B2 - - Google Patents

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JPH0329474B2
JPH0329474B2 JP9099885A JP9099885A JPH0329474B2 JP H0329474 B2 JPH0329474 B2 JP H0329474B2 JP 9099885 A JP9099885 A JP 9099885A JP 9099885 A JP9099885 A JP 9099885A JP H0329474 B2 JPH0329474 B2 JP H0329474B2
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cleaning
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ガラス、セラミツクス、石英ガラス
等の硬脆材料からなる被洗浄物、特に半導体産業
において使用されるフオトマスク用ガラス基板等
の洗浄に用いて好適な洗浄装置に関する。
〔従来の技術〕
従来から半導体産業に使用されるフオトマスク
ブランク等の基板製造において、フオトマスク用
ガラス基板(以下ガラス基板と称す)の主表面
(表裏面)を、平面加工装置により水にCeO2等の
研摩剤を加えた研摩液で研摩して高い平面精度に
仕上げ、後工程として研摩剤等の異物を除去する
ためにブラシ等の摩擦材料を用いたスクラブ洗浄
機でガラス基板の主表面を洗浄している。この洗
浄機による洗浄方法としては第7図a〜dに示す
ように4つの方法が広く採用されている。すなわ
ち同図aは被洗浄物としてのガラス基板1とカツ
プ型ブラシ2を互いに逆方向に移動させ、ブラシ
2でガラス基板1の主表面を洗浄するようにした
もの、同図bは皿形の回転ステージ4上に配置し
たガラス基板1を円筒型ブラシ5で洗浄するよう
にしたもの、同図C,Cはガラス基板1を挾
んで左右2対づつ合計4個のカツプ型ブラシ2
と、左右一対の円筒型ブラシ5を有し、ガラス基
板1を回転させながらその主表面を同時に洗浄す
るようにしたもの、そして同図dは回転ステージ
6上に配設したガラス基板1を円筒型ブラシ5と
洗浄液噴射ノズル7とで洗浄するようにしたもの
である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、前述した従来の洗浄方法ではいずれも
ガラス基板1の主表面をもつばら洗浄するだけ
で、ガラス基板1の側面に付着した研摩剤等の異
物に対しては十分除去することができないという
不都合があつた。特にガラス基板1の板厚が厚く
なると、異物の残存が著しく、またガラス基板1
はガイドに接して搬送されるため、該ガイドと接
する側面に付着した異物を除去することは不可能
であつた。
その結果、フオトマスク用ガラス基板の製造工
程では、前述した異物が後工程のフオトリングラ
フイ工程に持ち込まれピンホールやパターン欠け
などの不良を誘発させる欠点があつた。
しかも、このような欠点はIC,LSI,VLSIへ
と集積度が増し、パターンの綿密度が細密化して
いくにしたがい顕著に現われるものである。
そのため、ガラス基板等の被洗浄物の側面に付
着した異物に対しても主表面と同様、確実に除去
できる洗浄装置が要視されている。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明に係る洗浄装置は上述したような点に鑑
みてなされたもので、フオトマスク用ガラス基板
等の被洗浄物を洗浄位置に搬送する搬送装置と、
被洗浄物の搬送方向と平行に相対向する2つの側
面を洗浄する第1の側面洗浄機と、前記被洗浄物
の相対向する2つの側面と隣り合う他の2つの側
面を移動方向と平行にする変換部と、前記隣り合
う他の2つの側面を洗浄する第2の側面洗浄機
と、前記相対向する側面及び隣り合う他の2つの
側面を洗浄された前記被洗浄物の表裏面を洗浄す
る主表面洗浄機と、前記洗浄物の移動方向に配設
され、洗浄液を前記洗浄物に噴射するノズルとで
構成したものである。
〔作用〕
本発明においては主表面洗浄機と側面洗浄機と
を備えているので、被洗浄物の6面すべてを洗浄
することができる。
〔実施例〕
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳
細に説明する。
第1図は本発明に係る洗浄装置の一実施例を示
す一部破断正面図、第2図は第1図A矢視図、第
3図は第1図−線断面図、第4図は第1図
−線拡大断面図である。これらの図において、
全体を符号10で示す洗浄装置は、純水等の洗浄
液14,15を収容し装置本体11の両側にそれ
ぞれ配設された2つの水槽12,13を備え、そ
の一方の水槽12には洗浄前のガラス基板(被洗
浄物)1が浸漬され、他方の水槽13には後述す
る洗浄機によつて6面すべてを洗浄されたガラス
基板1が浸漬される。
ガラス基板1は、ソーダライムガラス、アルミ
ノシリケートガラス、石英ガラス等を基材とし
て、例えば127×127×2.3mmの大きさに形成され
ることにより第5図に示すように6つの面、すな
わち2つの主表面20A,20Bと、4つの側面
21A,21B,21C,21Dとを有し、主表
面20Aと側面21Aに研摩剤等の異物22,2
3がそれぞれ付着しているものとする。異物2
2,23の大きさは大略10μ以下である。そし
て、ガラス基板1はカセツト25内に板厚方向
(矢印Y方向)に所定の間隔をおいて複数枚ほぼ
垂直に収納されている。カセツト25は上下面が
開放する箱形に形成され、前記ガラス基板1の板
厚方向と平行な2つの内壁面には各ガラス基板1
の側端部が挿入される溝26が所定の間隔をおい
て多数形成されている。そして、カセツト25は
水槽12内に配設された台座27上にセツトされ
ることにより、前記ガラス基板1と共に洗浄液1
4中に浸漬される。これは研摩後のガラス基板1
を大気中に放置し、研摩液を乾燥させると、研摩
剤、研摩後付着したダスト等の異物を除去しずら
くなるのを防止するためである。
前記台座27はカセツト25の下端が挿入され
ることにより該カセツト25を位置決め固定する
溝28(第1図参照)を有し、駆動モータ36に
よつて一定時間毎に隣り合うガラス基板1の間隔
だけ矢印Y方向に向つて間欠的に移動されるよう
に構成されている。前記水槽12の内部にはさら
にエアシリンダ等の駆動装置(図示せず)によつ
て昇降される搬送装置30が配設されており、こ
の搬送装置30によつて前記カセツト25内のガ
ラス基板1が下から押し上げられ水槽12の上方
に設けられたZ方向(垂直方向)に延在する第1
搬送路31に順次導かれるように構成されてい
る。
前記第1搬送路31は、相対向する垂直なガイ
ド32A,32Bで構成され、この第1搬送路3
1をガラス基板1が通過する際、該ガラス基板1
の搬送方向と平行な2つの側面、すなわち21
C,21Dが第1の側面洗浄機35によつて洗浄
される。第1の側面洗浄機35は、前記各ガイド
32A,32Bにそれぞれ配設されることにより
ガラス基板1を挾んで対向する一対の円筒型ブラ
シ35a,35bを有するスクラブ洗浄機からな
り、洗浄時には各円筒型ブラシ35a,35bが
第1図矢印方向に回転されるように構成されてい
る。なお、一方のガイド32Aはガラス基板1の
寸法サイズに応じて第1図左右方向に移動調整さ
れるように構成されている。また、円筒型ブラシ
35a,35bは直径0.2mm程度のナイロンをプ
レートに多数植毛して形成されている。
前記搬送装置30によつて押し上げられ前記第
1搬送路31を通過したガラス基板1は、該搬送
路31の上方に続いて設けられた方向変換部37
にて停止し、該変換部37に設けられた洗浄液噴
射ノズル41から噴射される中性洗剤によつて洗
浄された後、別の搬送装置38によつて矢印Z方
向と直交する方向、すなわち矢印X方向(水平方
向)に長く延在する第2搬送路40に導かれる。
前記搬送装置38は第1図左右方向に移動自在
で、モータ(図示せず)等によつて第1搬送路4
0方向(矢印X方向)に移動されることにより押
圧板43が前記方向変換部37に停止しているガ
ラス基板1を押圧し、前記第2搬送路40に導く
ように構成されている。ガラス基板1が前記第2
搬送路40に導かれると、該基板1を保持してい
た搬送装置30はカセツト25の下方まで下降
し、前記台座27が駆動モータ36の駆動により
矢印Y方向に所定距離移動されることで前記カセ
ツト25内に収納されている次のガラス基板1を
押し上げる。なお、搬送装置30はガラス基板1
を上昇させる度にカセツト25を挿通するが、該
カセツト25は前述した通り上下面が開放してい
ることにより、前記搬送装置30の挿通を可能に
しており、また、該搬送装置30は十分薄く形成
されているため押し上げるべきガラス基板に続く
他のガラス基板と接触することはない。
前記第2搬送路40は、その一端が前記方向変
換部37に臨み、他端が前記装置本体11の右側
に配設された水槽13の上方にまで延在する上下
に対向した一対の水平なガイド46A,46Bと
で構成され、この第2搬送路40をガラス基板1
が通過する際、該ガラス基板1の搬送方向と平行
な2つの側面21A,21Bと主表面20A,2
0Bの洗浄が第2の側面洗浄機47と主表面洗浄
機48によつて行われ、前記異物22,23が除
去される。
前記第2の側面洗浄機47は、前記第1の側面
洗浄機35と同様、前記各ガイド46A,46B
の方向変換部37側端部にそれぞれ配設され、ガ
ラス基板1を挾んでZ方向(上下方向)に対向す
る一対の円筒型ブラシ47a,47bを有するス
クラブ洗浄機からなり、洗浄時には各円筒型ブラ
シ47a,47bが第1図矢印方向にそれぞれ回
転されるように構成されている。上側のガイド4
6Aも前記ガイド32Aと同様、ガラス基板1の
寸法サイズに応じて下側のガイド46Bに対して
接近離間する方向に移動調整されるように構成さ
れている。また、この上側のガイド46Aの長手
方向中央部には第2搬送路40内を移動するガラ
ス基板1に中性洗剤を噴射して該ガラス基板1を
洗浄する洗浄液噴射ノズル50が移動方向に適宜
間隔をおいて複数個配設されている。
前記主表面洗浄機48は、搬送方向(矢印X方
向)に適宜間隔をおいて並設された、例えば3組
のスクラブ洗浄機48A,48B,48Cからな
り、各スクラブ洗浄機48A,48B,48Cは
第4図に示すようにそれぞれ4個ずつ第2搬送路
40を挾んでガラス基板1の板厚方向に対向する
合計8個のカツプ型ブラシ51a〜51hを備
え、各カツプ型ブラシ51a〜51hは第1図矢
印方向にそれぞれ回転されるように構成されてい
る。また、カツプ型ブラシ51a〜51d(51
e〜51hも同様)はガラス基板1に対して一体
的もしくは個々独立に接近離間する方向に移動調
整されるように構成されている。
前記第2搬送路40には該搬送路40内に導か
れた前記ガラス基板1を保持して矢印X方向に搬
送する搬送装置55が配設されている。この搬送
装置55は前記第2搬送路40を挾んで前記各ガ
イド46A,46Bにそれぞれ配設された搬送用
ベルトコンベア55A,55Bからなり、各ベル
トコンベア55A,55Bは第4図に示すように
断面形状が略Y字形に形成されてそのV字状に分
岐された分岐部にてガラス基板1の上下端を保持
し、搬送方向に一定速度で走行されている。な
お、前記搬送用ベルトコンベア55A,55B
は、断面形状が略Y字形のものではあるが、例え
ばタイミングベルト等のベルトであつてもよく、
要はガラス基板1の上下方向で押圧する形状を有
したベルトであれば何でもよい。前記主表面洗浄
装置48の後方で前記搬送装置55の終端位置に
はガラス基板1を第2搬送路40から搬出し、搬
送用カセツト60に収納する搬出装置59が配設
されている。この搬出装置59は前記搬送装置3
8と同様、第1図左右方向に移動自在で図示しな
いモータ等により矢印X方向に移動されることに
より、押圧板61でガラス基板1を押し出し、前
記搬出用カセツト60に挿入するように構成され
ている。前記搬出用カセツト60は前述したカセ
ツト25と同一に形成され、台座65上に裁置固
定されている。前記台座65は略L字状に形成さ
れてその上端が前記装置本体11に支軸66を介
して上下方向に回動自在に枢支され、通常は第1
図鎖線で示すように水槽13内に位置して前記搬
出用カセツト60を洗浄液15中に浸漬してお
り、前記搬出装置59によるガラス基板1の搬出
動作に連動して略90゜上昇回動されることにより
前記第2搬送路40の高さまで上り、ガラス基板
1を搬出用カセツト60が受け取つた後再び回動
下降して水槽13内に没するように構成されてい
る。ここで、水槽13を設け、洗浄装置10によ
る洗浄後のガラス基板1を洗浄液15中に浸漬す
る理由は、洗浄後大気中に放置するとガラス表面
に付着している洗浄液により所謂ヤケが生じたり
あるいは該洗浄液が乾燥する際ダスト等が付着
し、ガラス表面が汚染するのを防止するためであ
る。
かくしてこのような構成からなる洗浄装置10
によれば、第1および第2の側面洗浄機35,4
7と主表面洗浄機48を備え、ガラス基板1の6
面全てを洗浄するので、いずれの面に異物が付着
していても確実に除去でき、後工程において異物
によるピンホールやパターン欠けなどの発生を未
然に防止する。また、本装置においては2つの水
槽12と13間を第1および第2搬送路31,4
0で接続し、ガラス基板1を連続的に搬送してい
るので、洗浄工程の自動化が可能で、省力化で
き、しかも洗浄途中で洗浄液噴出ノズル41,5
0から中性洗剤を噴射しガラス基板1を洗浄して
いるので、一層洗浄効果を高めることができる。
第6図a,bは本発明の他の実施例を示す正面
図および平面図である。図中第1図〜第5図と同
一構成部材のものに対しては同一符号を以つて示
し、その説明を省略する。本実施例は、主表面洗
浄機48の手前に第1および第2の側面洗浄機3
5,47を、ガラス基板1の搬送方向(矢印X方
向)に所定の間隔をおいて配設したもので、各側
面洗浄機35,47は、ガラス基板1を挾んで矢
印Z方向(上下方向)に対向してそれぞれ配設さ
れた一対の円筒型ブラシ35aと35b,47a
と47bを有し、またこれら両側面洗浄機35と
47との間にはガラス基板1を垂直面において略
90゜回転させる回転機構80が配設されており、
これによつて第2の側面洗浄機47によるガラス
基板1の2つの側面21C,21Dの洗浄を可能
にしている。
なお、主表面洗浄機48は、合計8個のカツプ
型ブラシ51a〜51h(51g,51hは図示
せず)を有し、4個ずつガラス基板1の板厚方向
に対向させた1つのスクラブ洗浄機で構成されて
いる。
ガラス基板1は、第1の側面洗浄機35を通過
する際、上下に対向する2つの側面21A,21
Bが該洗浄機35によつて洗浄され、通過後回転
機構80によつて90゜回転されることにより第2
の側面洗浄機47を通過する際残り2つの側面2
1C,21Dが該洗浄機47によつて洗浄され、
最後に主表面20A,20Bが主表面洗浄機48
によつて洗浄される。
このような構成においても上記実施例と同様の
効果が得られることは明らかであろう。
なお、上記実施例はいずれも主表面洗浄機48
としてカツプ型ブラシを備えたスクラブ洗浄機を
使用したが、カツプ型に限らず側面洗浄機35,
47と同様円筒型ブラシを用いてもよいことは勿
論である。また、上記実施例では主表面洗浄機4
8および側面洗浄機35,47は何れも相対向し
て配置されていたが、これに限られるものではな
い。
また、ブラシの材料としてはナイロンに限らず
馬毛、フエルト、発泡ポリウレタン等の適宜な材
料を使用することが可能である。
また、上記実施例はいずれも第1および第2の
側面洗浄機35,47を用いたが、例えば第6図
に示す実施例において第2の側面洗浄機47を省
略し、ガラス基板1の往工程において側面洗浄機
35で側面21A,21Bを洗浄し、復工程にお
いて回転機構80によりガラス基板1を90゜回転
させ、側面洗浄機35で残り2つの側面21C,
21Dを洗浄し、その後、往工程と同方向にガラ
ス基板を移動し主表面洗浄機48で主表面20
A,20Bを洗浄するようにしてもよい。
また、各洗浄機35,47,48のブラシやカ
ツプに圧力センサを付設し、これによつてガラス
基板1に対する接触圧を検出し、最適な接触圧を
得るように構成すると、僅かな接触圧では取り除
きにくい付着物まで確実に除去することができ、
洗浄性能が向上する。
さらに、上記実施例は研摩工程後のガラス基板
の洗浄について述べたが、研摩工程前の洗浄工程
にもそのまま使用できることは勿論である。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明に係る洗浄装置はフオ
トマスク用ガラス基板等の被洗浄物の主表面を洗
浄する主表面洗浄機と、相対向する2つの側面を
夫々洗浄する側面洗浄機とを備え、前記被洗浄物
の6面すべてを洗浄するように構成したので、従
来装置では困難とされていた側面に付着している
異物を完全に除去でき、主表面にクロム膜等を蒸
着する工程や、前記クロム膜にパターンを形成す
る工程において異物によるピンホール、パターン
欠け等の欠陥を未然に防止し、半導体産業に使用
されるフオトマスクブランク等の基板製造に用い
て好適である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る洗浄装置の一実施例を示
す一部破断正面図、第2図は第1図A矢視図、第
3図は第1図−線断面図、第4図は第1図
−線拡大断面図、第5図はガラス基板の斜視
図、第6図a,bは本発明の他の実施例を示す正
面図および平面図、第7図a〜dはそれぞれ従来
の洗浄方法を示す図である。 1……ガラス基板、10……洗浄装置、12,
13……水槽、20A,20B……主表面、21
A〜21D……側面、25……カセツト、27…
…台座、30……搬送装置、31……第1搬送
路、35……第1の側面洗浄機、37……方向変
換部、38……搬送装置、40……第2搬送路、
43……押圧板、47……第2の側面洗浄機、4
8……主表面洗浄機、55……搬送装置、59…
…搬出装置、60……搬出用カセツト、65……
台座、80……回転機構。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 フオトマスク用ガラス基板等の被洗浄物を洗
    浄位置に搬送する搬送装置と、被洗浄物の搬送方
    向と平行に相対向する2つの側面を洗浄する第1
    の側面洗浄機と、前記被洗浄物の相対向する2つ
    の側面と隣り合う他の2つの側面を移動方向と平
    行にする変換部と、前記隣り合う他の2つの側面
    を洗浄する第2の側面洗浄機と、前記相対向する
    側面及び隣り合う他の2つの側面を洗浄された前
    記被洗浄物の表裏面を洗浄する主表面洗浄機と、
    前記被洗浄物の移動方向に配設され、洗浄液を前
    記被洗浄物に噴射するノズルとを備えたことを特
    徴とする洗浄装置。
JP60090998A 1985-04-30 1985-04-30 洗浄装置 Granted JPS61249582A (ja)

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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6428990U (ja) * 1987-08-10 1989-02-21
US5345639A (en) * 1992-05-28 1994-09-13 Tokyo Electron Limited Device and method for scrubbing and cleaning substrate
JPH08188249A (ja) * 1995-01-05 1996-07-23 Murata Mach Ltd パレットへの物品の段積装置
JP2564661Y2 (ja) * 1995-01-11 1998-03-09 株式会社エンヤシステム 貼付板洗浄装置
JP5950759B2 (ja) * 2012-08-27 2016-07-13 Hoya株式会社 基板の製造方法及び基板洗浄装置
JP6492473B2 (ja) * 2014-09-12 2019-04-03 大日本印刷株式会社 カード洗浄装置およびカード作成システム

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS583683A (ja) * 1981-06-30 1983-01-10 富士通株式会社 デイスク連続洗浄装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59153923U (ja) * 1983-03-30 1984-10-16 コニカ株式会社 板状体の搬送装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS583683A (ja) * 1981-06-30 1983-01-10 富士通株式会社 デイスク連続洗浄装置

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