JPS61249582A - 洗浄装置 - Google Patents

洗浄装置

Info

Publication number
JPS61249582A
JPS61249582A JP60090998A JP9099885A JPS61249582A JP S61249582 A JPS61249582 A JP S61249582A JP 60090998 A JP60090998 A JP 60090998A JP 9099885 A JP9099885 A JP 9099885A JP S61249582 A JPS61249582 A JP S61249582A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
glass substrate
cleaned
cleaning
main surface
cassette
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP60090998A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0329474B2 (ja
Inventor
浩二 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoya Corp filed Critical Hoya Corp
Priority to JP60090998A priority Critical patent/JPS61249582A/ja
Publication of JPS61249582A publication Critical patent/JPS61249582A/ja
Publication of JPH0329474B2 publication Critical patent/JPH0329474B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)
  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ガラス、セラミックス、石英ガラス等の硬脆
材料からなる被洗浄物、特に半導体産業において使用さ
れるフォトマスク用ガラス基板等の洗浄に用いて好適な
洗浄装置に関する。
〔従来の技術〕
従来から半導体産業に使用されるフォトマスクブランク
等の基板製造において、フォトマスク用ガラス基板(以
下ガラス基板と称す)の主表面(表裏面)を、平面加工
装置によシ水にC602等の研摩剤を加えた研摩液で研
摩して高い平面精度に仕上げ、後工程として研摩剤等の
異物を除去するためにブラシ等の摩擦材料を用いたスク
ラブ洗浄機でガラス基板の主表面を洗浄している。この
洗浄機による洗浄方法としては第7図(&)〜(d)に
示すように4つの方法が広く採用されている。すなわち
同図(&)は被洗浄物としてのガラス基板1とカップ型
ブラシ2を互いに逆方向に移動させ、ブラシ2でガラス
基板1の主表面を洗浄するようにしたもの、同図(b)
は皿形の回転ステージ4上に配置したガラス基板1を円
筒型ブラシ5で洗浄するようにしたもの、同図(CI)
 、 (Cn)はガラス基板1を挾んで左右2対づつ合
計4個のカップ型ブラシ2と、左右一対の円筒型ブラシ
5を有し、ガラス基板1を回転させながらその主表面を
同時に洗浄するようにしたもの、そして同図(d)は回
転ステージ6上に配設したガラス基板1を円筒型ブラシ
5と洗浄液噴射ノズル7とで洗浄するようにしたもので
ある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、前述した従来の洗浄方法ではいずれもガラス基
板1の主表面をもっばら洗浄するだけで、ガラス基板1
の側面に付着した研摩剤等の異物に対しては十分除去す
ることができないという不都合があった。特にガラス基
板1の板厚が厚くなると、異物の残存が著しく、またガ
ラス基板1はガイドに接って搬送されるため、該ガイド
と接する側面に付着した異物を除去することは不可能で
あった。
その結果、フォトマスク用ガラス基板の製造工程では、
前述した異物が後工程のフォトリングラフィ工程に持ち
込まれピンホールやパターン欠けなどの不良を誘発させ
る欠点があった。
しかも、このような欠点はIC、LSI 、 VLSI
へと集積度が増し、パターンの線密度が細密化していく
にしたがい顕著に現われるものである。
そのため、ガラス基板等の被洗浄物の側面に付着した異
物に対しても主表面と同様、確実に除去できる洗浄装置
が要視されている。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明に係る洗浄装置は上述したような点に鑑みてなさ
れたもので、フォトマスク用ガラス基板等の被洗浄物を
洗浄位置に搬送する搬送手段と、被洗浄物の相対向する
側面を搬送方向と平行にする変換部と、前記被洗浄物の
表裏面を洗浄する主表面洗浄機と、前記被洗浄物の移動
方向と平行な側面を洗浄する側面洗浄機とを備え、前記
主表面洗浄機と前記側面洗浄機によって前記被洗浄物の
6面すべてを洗浄するようにしたものである。
〔作用〕
本発明においては主表面洗浄機と側面洗浄機とを備えて
いるので、被洗浄物の6面すべてを洗浄することができ
る。
〔実施例〕
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
第1図は本発明に係る洗浄装置の一実施例を示す一部破
断正面図、第2図は第1図A矢視図、第3図は第1図■
−■線断面図、第4図は第1図■−IV線断面図である
。これらの図において、全体を符号10で示す洗浄装置
は、純水等の洗浄液14゜15を収容し装置本体11の
両側にそれぞれ配設された2つの水槽12.13を備え
、その一方の水槽12には洗浄前のガラス基板(被洗浄
物)1が浸漬され、他方の水槽13には後述する洗浄機
によって6面すべてを洗浄されたガラス基板1が浸漬さ
れる。
ガラス基板1は、ソーダライムガラス、アルミノシリケ
ートガラス、石英ガラス等を素材として、例えば127
 X 127 X 2.3mの大きさに形成されること
によシ第5図に示すように6つの面、すなわち2つの主
表面20A 、 20Bと、4つの側面21A、21B
21C、21Dとを有し、主表面20Aと側面21Aに
研摩剤等の異物22.23がそれぞれ付着しているもの
とする。異物22.23の大きさは大略10μ以下であ
る。そして、ガラス基板1はカセット25内に板厚方向
(矢印Y方向)に所定の間隔をおいて複数枚はぼ垂直に
収納されている。カセット25は上下面が開放する箱形
に形成され、前記ガラス基板1の板厚方向と平行な2つ
の内壁面には各ガラス基板1の側端部が挿入される溝2
6が所定の間隔をおいて多数形成されている。そして、
カセット25は水槽12内に配設された台座27上にセ
ットされることによシ、前記ガラス基板1と共に洗浄液
14中に浸漬される。これは研摩後のガラス基板1を大
気中に放置し、研摩液を乾燥させると、研摩剤、研摩後
付着したダスト等の異物を除去しずらくなるのを防止す
るためである。
前記台座27はカセット25の下端が挿入されることに
よシ該カセット25を位置決め固定する溝28(第1図
参照)を有し、駆動モータ36によって一定時間毎に隣
シ合うガラス基板1の間隔だけ矢印Y方向に向って間欠
的に移動されるように構成されている。前記水槽12の
内部にはさらにエアシリンダ等の駆動装置(図示せず)
によって昇降される搬送装置30が配設されておシ、こ
の搬送装置30によって前記カセット25内のガラス基
板1が下から押し上げられ水槽12の上方に設けられた
2方向(垂直方向)に延在する第1搬送路31に順次導
かれるように構成されている。
前記第1搬送路31は、相対向する垂直なガイド32A
 、 32Bで構成され、との第1搬送路31をガラス
基板1が通過する際、該ガラス基板1の搬送方向と平行
な2つの側面、すなわち21C、21Dが第1の側面洗
浄機35によって洗浄される。第1の側面洗浄機35は
、前記各ガイド32A 、 32Bにそれぞれ配設され
ることによシガラス基板1を挾んで対向する一対の円筒
型ブラシssa 、 35bを有するスクラブ洗浄機か
らカシ、洗浄時には各円筒型ブラシ35& 、 35b
が第1図矢印方向に回転されるように構成されている。
なお、一方のガイド32Aはガラス基板1の寸法サイズ
に応じて第1図左右方向に移動調整されるように構成さ
れている。
また、円筒型ブラシ35m 、 35bは直径0.2M
程度のナイロンをプレートに多数植毛して形成されてい
る。
前記搬送装置30によって押し上げられ前記第1搬送路
31を通過したガラス基板1は、該搬送路31の上方に
続いて設けられた方向変換部37にて停止し、該変換部
37に設けられた洗浄液噴射ノズル41から噴射される
中性洗剤によって洗浄された後、別の搬送装置38によ
って矢印2方向と直交する方向、すなわち矢印X方向(
水平方向)に長く延在する第2搬送路40に導かれる。
前記搬送装置38は第1図左右方向に移動自在で、モー
タ(図示せず)等によって第1搬送路31方向(矢印X
方向)K移動されることによシ押圧板43が前記方向変
換部37に停止しているガラス基板1を押圧し、前記第
2搬送路40に導くように構成されているガラス基板1
が前記第2搬送路40に導かれると、該基板1を保持し
ていた搬送装置30はカセット25の下方まで下降し、
前記台座27が駆動装置30の駆動によシ矢印Y方向に
所定距離移動されることで前記カセット25内に収納さ
れている次のガラス基板1を押し上げる。
なお、搬送装置30はガラス基板1を上昇させる度にカ
セット25を挿通するが、該カセット25は前述した通
シ上下面が開放していることにょシ、前記搬送装置30
の挿通を可能にしておシ、また、該搬送装置30は十分
薄く形成されているため押し上げるべきガラス基板に続
く他のガラス基板と接触することはない。
前記第2搬送路40は、その一端が前記方向変換部3T
に臨み、他端が前記装置本体11の右側に配設された水
槽13の上方Ktで延在する上下に対向した一対の水平
なガイド46A 、 46Bとで構成され、この第2搬
送路40をガラス基板1が通過する際、該ガラス基板1
の搬送方向と平行な2つの側面21A 、 21Bと主
表面20A 、 20Bの洗浄が第2の側面洗浄機4T
と主表面洗浄機48によって行われ、前記異物22.2
3が除去される。
前記第2の側面洗浄機47は、前記第1の側面洗浄機3
5と同様、前記各ガイド46A 、 46Bの方向変換
部37側端部にそれぞれ配設され、ガラス基板1を挾ん
で2方向(上下方向)に対向する一対の円筒型ブラシ4
7& 、 47bを有するスクラブ洗浄機からなシ、洗
浄時には各円筒型ブラシ4ra 。
4Tbが第1図矢印方向にそれぞれ回転されるように構
成されている。上側のガイド48Aも前記ガイド32A
と同様、ガラス基板1の寸法サイズに応じて下側のガイ
ド46Bに対して接近離間する方向に移動調整されるよ
うに構成されている。また、この上側のガイド46Aの
長手方向中央部には第2搬送路40内を移動するガラス
基板IK中性洗剤を噴射して該ガラス基板1を洗浄する
洗浄液噴射ノズル50が搬送方向に適宜間隔をおいて複
数個配設されている。
前記主表面洗浄機48は、搬送方向(矢印X方向)に適
宜間隔をおいて並設された、例えば3組のスクラブ洗浄
機48A 、 48B 、 48Cからなシ、各スクラ
ブ洗浄機48A 、 48B 、 48Cは第4図に示
すようにそれぞれ4個ずつ第2搬送路4oを挾んでガラ
ス基板1の板厚方向に対向する合計8個のカップ型ブラ
シ51&〜51hを備え、各カップ型ブラシ51a〜5
1hは第1図矢印方向にそれぞれ回転されるように構成
されている。また、カップ型ブラシ51 h 〜51 
d (51e 〜51 hも同様)はガラス基板1に対
して一体的もしくは個々独立に接近離間する方向に移動
調整されるように構成されている。
前記第2搬送路40には該搬送路40内に導かれた前記
ガラス基板1を保持して矢印X方向に搬送する搬送装置
55が配設されている。この搬送装置55は前記第2搬
送路40を挾んで前記各ガイド46A 、 48Bにそ
れぞれ配設された搬送用ベル)コyへ755A、 55
Bカラ:&?、各ベルトコンベア55A 、 55Bは
第4図に示すように断面形状が略Y字形に形成されてそ
のV字状に分岐された分岐部にてガラス基板1の上下端
を保持し、搬送方向に一定速度で走行されている。なお
、前記搬送用ベルトコンベア55A 、 55Bは、断
面形状が略Y字形のものではあるが、例えばタイミング
ベルト等のベルトであってもよく、要はガラス基板1の
上下方向で押圧する形状を有したベルトであれば何でも
よい。前記主表面洗浄装置48の後方で前記搬送装置5
5の終端位置にはガラス基板1を第2搬送路40から搬
出し、搬出用カセット60に収納する搬出装置59が配
設されている。この搬出装置59は前記搬送装置38と
同様、第1図左右方向に移動自在で図示しないモータ等
によシ矢印X方向に移動されることによシ、押圧板61
でガラス基板1を押し出し、前記搬出用カセット60に
挿入するように構成されている。前記搬出用カセット6
0は前述したカセット25と同一に形成され、台座65
上に載置固定されている。前記台座65は略り字状に形
成されてその上端が前記装置本体11に支軸66を介し
て上下方向に回動自在に枢支され、通常は第1図鎖線で
示すように水槽13内に位置して前記搬出用カセット6
0を洗浄液15中に浸漬しておシ、前記搬出装置59に
よるガラス基板1の搬出動作に連動して略90°上昇回
動されることによシ前記第2搬送路40の高さまで上夛
、ガラス基板1を搬出用カセット60が受は取った後再
び回動下降して水槽13内に没するように構成されてい
る。とこで、水槽13を設け、洗浄装置10による洗浄
後のガラス基板1を洗浄液15中に浸漬する理由は、洗
浄後大気中に放置するとガラス表面に付着している洗浄
液によシ所謂ヤケが生じたシあるいは該洗浄液が乾燥す
る際ダスト等が付着し、ガラス表面が汚染するのを防止
するためである。
かくしてこのような構成からなる洗浄装置10によれば
、第1および第2の側面洗浄機35.47と主表面洗浄
機48を備え、ガラス基板1の6面全てを洗浄するので
、いずれの面に異物が付着していても確実に除去でき、
後工程において異物によるピンホールやパターン欠は表
どの発生を未然に防止する。また、本装置においては2
つの水槽12と13間を第1および第2搬送路31.4
0で接続し、ガラス基板1を連続的に搬送しているので
、洗浄工程の自動化が可能で、省力化でき、しかも洗浄
途中で洗浄液噴出ノズル41.50から中性洗剤を噴射
しガラス基板1を洗浄しているので、一層洗浄効果を高
めることがきる。
第6図(a) 、 (b)は本発明の他の実施例を示す
正面図および平面図である。図中第1図〜第5図と同一
構成部材のものに対しては同一符号を以って示し、その
説明を省略する。本実施例は、主表面洗浄機48の手前
に第1および第2の側面洗浄機35゜4Tを、ガラス基
板1の搬送方向(矢印X方向)K所定の間隔をおいて配
設したもので、各側面洗浄機35.47は、ガラス基板
1を挾んで矢印2方向(上下方向)に対向してそれぞれ
配設された一対の円筒型ブラシ35mと35b 、 4
7mと47bを有し、またこれら両側面洗浄機35と4
7との間にはガラス基板1を垂直面において略90°回
転させる回転機構80が配設されておシ、これによって
第2の側面洗浄機47によるガラス基板1の2つの側面
21C、21Dの洗浄を可能にしている。
なお、主表面洗浄機48は、合計8個のカップ型ブラシ
51a〜51h (51g 、 51h は図示せず)
を有し、4個ずつガラス基板1の板厚方向に対向させた
1つのスクラブ洗浄機で構成されている。
ガラス基板1は、第1の側面洗浄機35を通過する際、
上下に対向する2つの側面21A 、 21Bが該洗浄
機35によって洗浄され、通過後回転機構80によって
90°回動されることによシ第2の側面洗浄機47を通
過する際残り2つの側面21C221Dが該洗浄機4T
によって洗浄され、最後に主表面20A 、 20Bが
主表面洗浄機48によって洗浄される。
このような構成においても上記実施例と同様の効果が得
られることは明らかであろう。
なお、上記実施例はいずれも主表面洗浄機48としてカ
ップ型ブラシを備えたスクラブ洗浄機を使用したが、カ
ップ型に限らず側面洗浄機35゜47と同様円筒型ブラ
シを用いてもよ、いととは勿論である。また、上記実施
例では主表面洗浄機48および側面洗浄機35.47は
何れも相対向して配置されていたが、とれに限られるも
のではない。
また、ブラシの材料としてはナイロンに限らず馬毛、フ
ェルト、発泡ポリウレタン等の適宜な材料を使用するこ
とが可能である。
また、上記実施例はいずれも第1および第2の側面洗浄
機35.47を用いたが、例えば第6図に示す実施例に
おいて第2の側面洗浄機4Tを省略し、ガラス基板1の
往工程において側面洗浄機35で側面21A 、 21
Bを、また主表面洗浄機48で主表面20A 、 20
Bを洗浄し、復工程において回転機構80によシガラス
基板1を90’回転させ、側面洗浄機35で残シ2つの
側面21C、21Dを洗浄するようにしてもよい。
また、各洗浄機35.47.48のブラシやカップに圧
力センサを付設し、とれによってガラス基板1に対する
接触圧を検出し、最適表接触圧を得るように構成すると
、僅かな接触圧では取シ除きにくい付着物まで確実に除
去することができ、洗浄性能が向上する。
さらに、上記実施例は研摩工程後のガラス基板の洗浄に
ついて述べたが、研摩工程前の洗浄工程にもそのまま使
用できるととは勿論である。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明に係る洗浄装置はフォトマスク
用ガラス基板等の被洗浄物の主表面を洗浄する主表面洗
浄機と、相対向する2つの側面を夫々洗浄する側面洗浄
機とを備え、前記被洗浄物の6面すべてを洗浄するよう
に構成したので、従来装置では困難とされていた側面に
付着している異物を完全に除去でき、主表面にクロム膜
等を蒸着する工程や、前記クロム膜にパターンを形成す
る工程において異物によるピンホール、パターン欠は等
の欠陥を未然に防止し、半導体産業に使用されるフォト
マスクブランク等の基板製造に用いて好適である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る洗浄装置の一実施例を示す一部破
断正面図、第2図は第1図人矢視図、第3図は第1図■
−■線断面図、第4図は第1図■−IV線拡大断面図、
第5図はガラス基板の斜視図、第6図(a) 、 (b
)は本発明の他の実施例を示す正面図および平面図、第
7図(a)〜(d)はそれぞれ従来の洗浄方法を示す図
である。 1・・・・ガラス基板、10・・・・洗浄装置、12.
13・・・・水槽、20A 、 20B・・・・主表面
、21A〜21D・・・・側面、25・・・・カセット
、27・・・・台座、3011・Φ・搬送装置、31・
・・・第1搬送路、35・・・・第1の側面洗浄機、3
T・・・・方向変換部、40・・・・第2搬送路、43
・・・・搬送装置、4T・・・・第2の側面洗浄機、4
8・・・・主表面洗浄機、5511・・拳搬送装置、5
9・・・・搬出装置、60・・・・搬出用カセット、6
5・・・・台座、80・・・・回転機構。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. フォトマスク用ガラス基板等の被洗浄物を洗浄位置に搬
    送する搬送装置と、被洗浄物の相対向する側面を搬送方
    向と平行にする変換部と、前記被洗浄物の表裏面を洗浄
    する主表面洗浄機と、前記被洗浄物の移動方向と平行な
    側面を洗浄する側面洗浄機とを備え、前記主表面洗浄機
    と前記側面洗浄機によつて前記被洗浄物の6面すべてを
    洗浄することを特徴とする洗浄装置。
JP60090998A 1985-04-30 1985-04-30 洗浄装置 Granted JPS61249582A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60090998A JPS61249582A (ja) 1985-04-30 1985-04-30 洗浄装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60090998A JPS61249582A (ja) 1985-04-30 1985-04-30 洗浄装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS61249582A true JPS61249582A (ja) 1986-11-06
JPH0329474B2 JPH0329474B2 (ja) 1991-04-24

Family

ID=14014164

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60090998A Granted JPS61249582A (ja) 1985-04-30 1985-04-30 洗浄装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS61249582A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6428990U (ja) * 1987-08-10 1989-02-21
JPH0744595U (ja) * 1995-01-11 1995-11-21 株式会社エンヤシステム 貼付板洗浄装置
US5518552A (en) * 1992-05-28 1996-05-21 Tokyo Electron Limited Method for scrubbing and cleaning substrate
JPH08188249A (ja) * 1995-01-05 1996-07-23 Murata Mach Ltd パレットへの物品の段積装置
JP2014042873A (ja) * 2012-08-27 2014-03-13 Hoya Corp 基板の製造方法及び基板洗浄装置
JP2016059831A (ja) * 2014-09-12 2016-04-25 大日本印刷株式会社 カード洗浄装置およびカード作成システム

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS583683A (ja) * 1981-06-30 1983-01-10 富士通株式会社 デイスク連続洗浄装置
JPS59153923U (ja) * 1983-03-30 1984-10-16 コニカ株式会社 板状体の搬送装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS583683A (ja) * 1981-06-30 1983-01-10 富士通株式会社 デイスク連続洗浄装置
JPS59153923U (ja) * 1983-03-30 1984-10-16 コニカ株式会社 板状体の搬送装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6428990U (ja) * 1987-08-10 1989-02-21
US5518552A (en) * 1992-05-28 1996-05-21 Tokyo Electron Limited Method for scrubbing and cleaning substrate
JPH08188249A (ja) * 1995-01-05 1996-07-23 Murata Mach Ltd パレットへの物品の段積装置
JPH0744595U (ja) * 1995-01-11 1995-11-21 株式会社エンヤシステム 貼付板洗浄装置
JP2014042873A (ja) * 2012-08-27 2014-03-13 Hoya Corp 基板の製造方法及び基板洗浄装置
JP2016059831A (ja) * 2014-09-12 2016-04-25 大日本印刷株式会社 カード洗浄装置およびカード作成システム

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0329474B2 (ja) 1991-04-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3970471A (en) Methods and apparatus for treating wafer-like articles
JP4003837B2 (ja) トレッドを備えたローラおよびそれを含むシステム
CN101930184B (zh) 显影处理装置
JP2001096245A (ja) 洗浄方法および洗浄装置
JPS61249582A (ja) 洗浄装置
JP4295878B2 (ja) 円板形ワークの洗浄装置
US20120111360A1 (en) Method and Apparatus for Cleaning a Substrate
EP1056549A1 (en) A cleaning/buffing apparatus for use in a wafer processing device
JPS6028385B2 (ja) 洗浄乾燥装置
JPH07249605A (ja) 基板洗浄装置
JPH10314684A (ja) ディスク形ワークの洗浄方法及び装置
JPS5931039A (ja) 半導体ウェファ−の洗浄方法
KR102320081B1 (ko) 처리 장치, 이것을 구비한 도금 장치, 반송 장치, 및 처리 방법
US6751824B2 (en) Cleaning apparatus for semiconductor wafer
JP2512015B2 (ja) 基板の洗浄装置
JPH07241534A (ja) 基板洗浄装置
JP3439314B2 (ja) ウェーハの研磨装置システム
JP2002126662A (ja) 液晶セルの洗浄装置
JPH11216430A (ja) 洗浄装置
JPS5846170B2 (ja) 半導体ウェファ−の搬送方法および搬送装置
JPS6043895A (ja) 基板洗浄装置
JP3537875B2 (ja) 基板洗浄装置
JP2001150336A (ja) 平板状基板の製造方法および研磨方法
JPH0710382B2 (ja) 基板洗浄装置および基板洗浄方法
JP3682121B2 (ja) 洗浄装置