JPS6180156A - 洗浄装置 - Google Patents

洗浄装置

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Publication number
JPS6180156A
JPS6180156A JP59201461A JP20146184A JPS6180156A JP S6180156 A JPS6180156 A JP S6180156A JP 59201461 A JP59201461 A JP 59201461A JP 20146184 A JP20146184 A JP 20146184A JP S6180156 A JPS6180156 A JP S6180156A
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JP
Japan
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cleaning
glass substrate
cleaned
main surface
cleaning machine
Prior art date
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Pending
Application number
JP59201461A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Takahashi
浩二 高橋
Shunji Komiyama
小宮山 俊司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Hoya Corp filed Critical Hoya Corp
Priority to JP59201461A priority Critical patent/JPS6180156A/ja
Publication of JPS6180156A publication Critical patent/JPS6180156A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/68Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
    • G03F1/82Auxiliary processes, e.g. cleaning or inspecting

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はガラス、セラミツ221石英ガラス等の硬脆材
料からなる被洗浄物、特に半導体産業に使用されるフォ
トマスク用ガラス基板の洗浄に用いて好適な洗浄装置に
関する。
〔従来の技術〕
従来から半導体産業に使用されるフォトマスクブランク
等の基板製造において、フォトマスク用ガラス基板(以
下ガラス基板と称す)の主表面(表裏面)を、平面加工
装置により水にc@02等の研摩剤を加えた研摩液で研
摩して高い平面精度に仕上げ、後工程として研摩剤等の
異物を除去するためにブラシ等の摩擦材料を用いたスク
ラブ洗浄機でガラス基板の主表面を洗浄している。この
洗浄機による洗浄方法としては第2図(A)〜(d)に
示すように4つの方法が広く採用されている。すなわち
同図(−)は被洗浄物としてのガラス基板1とカップ型
ブラシ2を互いに逆方向に移動させ、ブラシ2でガラス
基板1の主表面を洗浄するようにしたもの、同図(ト)
)は皿形の回転ステージ4上に配置したガラス基板1を
円筒型ブラシ5で洗浄するようにしたもの、同図(CI
) (Cll)はガラス基板1を挾んで左右2対づつ合
計4個のカップ型ブラシ2と、左右一対の円筒型ブラシ
5を有し、ガラス基板1を回転させながらその主表面を
同時に洗浄するようにしたもの、そして同図(d)は回
転ステージ6上に配置したガラス基板1を円筒型ブラシ
5と洗浄剤噴射ノズル7で洗浄するようにしたものであ
る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、前述した従来の洗浄方法はいずれもガラス基板
1の主表面をもっばら洗浄するだけで、ガラス基板1の
側面に付着した研摩剤等の異物に対しては十分除去でき
ないという不都合があった。
特に、ガラス基板1の板厚が厚くなると、異物の残存が
著しく、また搬送装置のガイド等と接するガラス基板の
側面においても同様に除去できないという不都合があっ
た。
その結果、フォトマスク用ガラス基板の製造工程では、
前述した異物が後工程のフォトリゾダラフイ工程に持ち
込まれピンホールやパターン欠けなどの不良を誘発埒せ
る欠点があった。しかもこのような欠点はIC,LSI
、VLSI へと集積度か増え、パターンの線幅が細密
化していくにしたがい顕著に現われる。
本発明はこのような点に鑑みてなされたもので、ガラス
基板等の被洗浄物の側面に付着した異物に対しても主表
面と同様、確実に除去できるように洗浄装置を提供する
ものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明に係る洗浄装置は、被洗浄物を洗浄位置に搬送す
る搬送装置と、相対向して設けられ被洗浄物の主表面を
洗浄する主表面洗浄機と、相対向して設けられ被洗浄物
の移動方向と平行な2つの側面を洗浄する第1の側面洗
浄機と、相対向して設けられ被洗浄物の移動方向と直交
する2つの側面を洗浄する第2の側面洗浄機とを設けた
ものである。
〔作用〕
本発明においては主表面洗浄機と、第1および第2の側
面洗浄機とを備えているので、被洗浄物の6面すべてを
洗浄することができる。
〔実施例〕
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
第1図(a) 、 (b)は本発明に係る洗浄装置の第
1実施例で、洗浄前の状態を示す正面図および平面図で
ある同図において、30は被洗浄物としてのガラス基板
、40はガラス基板30の主表面を洗浄する主表面洗浄
機、50はガラス基板30の移動方向(矢印X方向)と
平行な両側面を洗浄する第1の側面洗浄機、60はガラ
ス基板30の移動方向と直交する両側面を洗浄する第2
の側面洗浄機、70.71は洗浄液としての中性洗剤を
噴射するノズル、Bは前記洗浄機40,50.60およ
びノズル70.71が配役ちれた洗浄位置である。
ガラス基板30はソーダライムガラス、アルミノシリケ
ートガラス、石英ガラス等を素材として、例えば127
 X 127 X 2.3 rmの太き埒に形成でれる
ことにより、第3図に示すように6つの面、すなわち2
つの主表面31A、31Bと、4つの側面32A、32
B。
32C,32Dとを有し、主表面31Aと側面32Aに
研摩剤等の異物33.34がそれぞれ付着しているもの
とする。異物33.34の大きさは大略10μ以下であ
る。そしてガラス基板30はベルト等の適宜な搬送装置
(図示せず)によってほぼ垂値な状態で洗浄位置B(第
1図参照)に搬送でれる。
前記主表面洗浄機40は、ガラス基板30の搬送路を挾
んで前後(矢印Y方向)にそれぞれ4個ずつ互いに対向
して配設されたカップ型ブラシ41.42を有するスク
ラブ洗浄装置からなり、各カップ型ブラシ41.42は
前後移動され、洗浄時には第1図(a)矢印方向にそれ
ぞれ回転されるように構成されている。
前記第1の側面洗浄機50は、主表面洗浄機40の手前
側にガラス基板30を挾んで上下方向(矢印2方向)に
対向して配設された一対のカップ型ブラシ51.52を
有するスクラブ洗浄装置からなり、各ブラシ51.52
は上下方向に移動自在で、洗浄時にはガラス基板30の
送り方向に回転てれるように構成されている。なお、カ
ップ型ブラシ51.52は直径0.2鴎程度のナイロン
を多数プレートに植毛して形成されている。また、主表
面洗浄装置40のカップ型ブラシ41.42も同様であ
る。
前記第2の側面洗浄機60は、主表面洗浄機40の両側
にそれぞれガラス基板30の移動方向と直交する方向(
2方向)に長く延在して配設された左右一対の円筒型ブ
ラシ61.62を有するスクラブ洗浄装置からなり、各
円筒型ブラシ61 、62は前後動され、通常は洗浄位
置Bより前方に位置し、洗浄時に第1図(b)反時計方
向に回転され、かつ洗浄位置Bの位置まで移動嘔れるよ
うに構成されている。なお、円筒型ブラシ61.62も
ナイロンによって形成されている。
次に、このような構成からなる洗浄装置によるガラス基
板の洗浄動作について説明する。
ガラス基板30を搬送装置によって矢印X方向に移動さ
せ洗浄位置Bに搬送する。すると、第1の側面洗浄機5
0が駆動し、上下一対のカップ型ブラシ51.52でガ
ラス基板30の移動方向と平行な両側面、すなわち上下
に対向する側面32A。
32Bを同時に洗浄する。この結果、側面32Aに付着
している異物34(第3図参照)は除去される。
この際、ノズル70から中性洗剤を噴射し、洗浄効果を
高めている。
ガラス基板30は第1の側面洗浄機50によって洗浄さ
れている間も移動し続け、主表面洗浄機40の位置に運
ばれる。すると、主表面洗浄機40が駆動して前後のカ
ップ型ブラシ41.42が互いに接近する如く動作して
ガラス基板30の主表面31A、31Bをそれぞれ洗浄
する。この時、ノズルT1は中性洗剤を噴射供給する。
したがって、主表面31Aに付着していた異物33は前
方のカップ型ブラシ41によって除去される。この異物
33の除去は、前述した第1の側面洗浄機50による異
物除去と同様、物理的な力による除去である。
この洗浄過程の間、ガラス基板30は第1図X方向、に
移動し続け、主表面全体を洗浄される。そして、ガラス
基板30の後端、すなわち側面32C側が主表面洗浄機
40に近づくと、第2の側面洗浄機60の右側の円筒型
ブラシ62が回転しながらガラス基板30の位置まで後
退し、第4図(、)に示すようにガラス基板30の側面
32Dを洗浄する。
この状態において、ガラス基板30はその位置で停止さ
れ、一定時間前記円筒型プラン62による洗浄を受ける
なお、2生麦面洗浄機、40と前記円筒型ブラシ62に
よる洗浄時においては、洗浄効果を高めるだめノズル7
1から中性洗剤が噴射供給されている。
また、この時、主表面洗浄機40は、第1図(、)矢印
X方向とは逆の方向、すなわち第1の側面洗浄機50方
向に向って移動を開始し、ガラス基板30から外れる。
これはガラス基板30が前述した通り一時停止した状態
になるため、主表面洗浄機40による同一箇所だけの洗
浄により発生する洗浄欠陥(洗浄ムラ等)を防止するた
めである。
一定時間経過すると、ガラス基板30は第4図(b)に
示すように矢印C方向に移動を開始する。すると、第2
の側面洗浄機60の右側の円筒型プラノ62は元の前方
位置に移動し、左側の円筒型ブラシ61はガラス基板3
0の位置まで後退して残っている最後の側面32Cの洗
浄を行い、載面に付着している異物の除去を行う。この
時ガラス基板30は前述したと同様、一定時間停止して
前記円筒型ブラシ61による洗浄を受け、一定時間経過
すると、該ブラシ61の元の前方位置への移動と共に矢
印C方向への移動を再開し、初期位置に戻されて洗浄を
終了する。
かくしてこのような洗浄装置によれば、ガラス基板30
の6面全てを洗浄するので、いずれの面に異物が付着し
ていても確実に除去でき、後工程において異物によるピ
ンホールやパターン欠けなどの発生を未然に防止する。
第5図(a) 、 (b)は本発明の第2実施例を示す
正面図および平面図でらる。図中第1図と同一構成部材
のものに対しては同一符号を以って示す。本実施例は、
主表面洗浄機40の手前に第1および第2の側面洗浄機
so、soを、ガラス基板30の移動方向(矢印X方向
)に所定の間隔をおいて配置したもので、各側面洗浄機
50.60は、上下に対向してそれぞれ配設された一対
の円筒型ブラシ53A、 53B、 63A、 63B
を有し、またこれら側面洗浄機50と60との間にはガ
ラス基板30を垂直面内において90回転させる回転機
構90が配設されている。ガラス基板30は、第1の側
面洗浄機50を通過する際上下に対向する2つの側面3
2A。
32Bが該洗浄機50によって洗浄され、通過後回転機
構90によって90回転てれることにより、第2の側面
洗浄機60を通過する際残り2つの側面32C,32D
が該洗浄機60によって洗浄される。
そして、最後にガラス基板30の主表面31A、31B
が主表面洗浄機40によって洗浄される。
このような構成においても、上述した第1実施例と同様
の効果が得られることは明らかであろう。
第6図(a) 、 (b)は本発明の第3実権例を示す
正面図および平面図である。本実施例は上下端がそれぞ
れ大径に形成され上下方向に延在する3個の段付き円筒
型ブラシ100,101.102を、主表面洗浄機40
0手前に所定の間隔をおいて配置し、これらによって第
1および第2の側面洗浄機を構成したものである。左端
に位置する段付き円筒型ブラシ100は前後動てれ、ガ
ラス基板30の往工程にてその小径部で該基板30の右
側面32Dを、両端の大径部内側面にてガラス基板30
の上下に対向する側面32A、32Bをそれぞれ洗浄す
る。中央に位置・する段付き円筒型ブラシ101は左側
の段付き円筒型ブラシ100より所定寸法だけ前方に固
定的に配置され、その小径部にてガラス基板30の前方
側主表面31Aを洗浄し、両端の大径部内側面にて前記
側面32A、32Bをそれぞれ洗浄する。一方、右端の
段付き円筒型ブラシ102は、左端のブラシ100と同
様、前後動され、ガラス基板30の復工程にてその小径
部でガラス基板30の左側ff132cを洗浄し、両端
の大径部内側面で前記側面32A、32Bをそれぞれ洗
浄する。
なお、第2および第3実施例においてはノズルを省略し
たが、第1実施例と同様ノズルによって中性洗剤が噴射
供給されるものとする。
また、上記実施例はいずれも主表面洗浄機40としてカ
ップ壓ブラシ41.42を使用したが、これに限らず円
筒型ブラシを用いてもよいことは勿論である。また、摩
擦材料としてナイロンからなるブラシを用いたが、馬毛
等の他の材質のブラシを用いてもよく、またブラシに限
らずフェルト。
発泡ポリワレタン等を用いてもよい。
また、上記実施例はいずれも研摩工程後のガラス基板の
洗浄について述べたが、研摩工程前の洗浄工程にもその
まま使用できることは勿論である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明に係る洗浄装置は、フォトマ
スク用ガラス基板等の被洗浄物の主表面を洗浄する主表
面洗浄機と、相対向する2つの側面を洗浄する第1の側
面洗浄機と、相対向する他の2つの側面を洗浄する第2
の側面洗浄機とを備え、被加工物の6面全てを洗浄する
ように構成したので、従来装置では困難であった側面に
付着している異物を完全に除去でき、主表面にクロム膜
等を蒸着する工程や、前記クロム膜にパターンを形成す
る工程において異物によるピンホール、パターン欠は等
の欠陥を未然に防止し、半導体産業に使用されるフォト
マスクブランク等の基板製造に用いて好適である。
【図面の簡単な説明】
第1図(、) 、 (b)は本発明に係る洗浄装置の第
一実施例を示す洗浄前の正面図および平面図、第2図(
、)〜(d)はそれぞれ従来の洗浄方法を示す図、第3
図はガラス基板の斜視図、第4図(a) 、 (b)は
第1図実施例装置による洗浄状態を説明するだめの図、
第5図(jL) 、 (b)は本発明の第2実施例を示
す正面図および平面図、第6図(a) 、 (b)は本
発明の第3実殉例を示す正面図および平面図である。 30・・・・ガラス基板、31A、31B・・・・主表
面、32A〜32D・・・・側面、33.34・・・・
異物、40・・・・主表面洗浄機、41.42・・・・
カップ型ブラシ、50・・・・第1の側面洗浄機、51
.52・・・・円筒型ブラシ、6゜・・・・第2の側面
洗浄機、61.62・・・・円筒型ブラシ、90・・・
・回転機構、B・・・・洗浄位置。 特許出願人  株式会社保谷硝子 代理人 山川政情(Iジ・2名) 第2図 (Q)         (b) (cI)(。■) (d) 手続補正書(0幻 昭和   年   月   日 特許庁長官殿           5Q、4.301
、事件の表示 昭和59年 特 許 願第201461号2、発明の名
称 洗浄装置 3、補正をする者 事件との関係       特 許 出願人名称(氏名
) ホーヤ株式会社 (2)第3図を別紙の通り未配訂正する。 明  細  書 (全文補正) 1、発明の名称 洗浄装置 2、特許請求の範囲 フォトマスク用ガラス基板等の被洗浄物を洗浄位置に搬
送する搬送装置と、被洗浄物の表裏面をた第2の側面洗
浄機とを備え、前記主表面洗浄機および第1.第2の側
面洗浄機によって被測定物の6面すべてを洗浄するよう
にしたことを特徴とする洗浄装置。 λ 発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明はガラス、セラミックス、石英ガラス等の硬脆材
料からなる被洗浄物、特に半導体産業に使用されるフォ
トマスク用ガラス基板の洗浄に用いて好適な洗浄装置に
関する。 〔従来の技術〕 従来から半導体産業に使用されるフォトマスクブランク
等の基板製造において、フォトマスク用ガラス基板(以
下ガラス基板と称す)の主表面(表裏面)を、平面加工
装置により水にce os等の研摩剤を加えた研摩液で
研摩して高い平面精度に仕上げ、後工程として研摩剤等
の異物を除去するためにブラシ等の摩擦材料を用いたス
クラブ洗浄機でガラス基板の主表面を洗浄している。こ
の洗浄機による洗浄方法としては第2図(a)〜@)に
示すように4つの方法が広く採用されている。すなわち
同図(a)は被洗浄物としてのガラス基板1とカップ型
ブラシ2を互いに逆方向に移動させ、ブラシ2でガラス
基板1の主表面を洗浄するようにしたもの、同図(b)
は皿形の回転ステージ4上に配置したガラス基板1を円
筒型ブラシ5で洗浄するようにしたもの、同図(CI 
) (Cm)はガラス基板1t−挾んで左右2対づつ合
計4個のカップ型ブラシ2と、左右一対の円筒型ブラシ
5を有し、ガラス基板1を回転させながらその主表面を
同時に洗浄するようにしたもの、そして同図@)は回転
ステージ6上に配置したガラス基板1を円筒型ブラシ5
と洗浄剤噴射ノズル7で洗浄するようにしたものである
。 〔発明が解決しようとする問題点〕 しかし、前述した従来の洗浄方法はいずれもガラス基板
1の主表面をもっばら洗浄するだけで、ガラス基板1の
側面に付着した研摩剤等の異物に対しては十分除去でき
ないという不都合があった。 特に、ガラス基板1の板厚が厚くなると、異物の残存が
著しく、また搬送装置のガイド等と接するガラス基板の
側面においては、その搬送中、常時前記ガイドに接して
いるため、その側面に付着し九異物も同様に除去できな
いという不都合があった。 その結果、フォトマスク用ガラス基板の製造工程では、
前述した異物が後工程のフオ) IJソゲラフイエ程に
持ち込まれピンホールやパターン欠けなどの不良を誘発
させる欠点があった。しかもこのような欠点はIC,L
SI、VLSIへと集積度が増し、パターンの線幅が細
密化していくにしたがい顕著に現われる。 本発明はこのような点に鑑みてなされたもので、ガラス
基板等の被洗浄物の側面に付着した異物に対しても主表
面と同様、確実に除去できるようにした洗浄装置を提供
するものである。 〔問題点を解決するための手段〕 本発明に係る洗浄装置は、被洗浄物を洗浄位置に搬送す
る搬送装置と、被洗浄物の表裏面を洗浄するために設け
られた主表面洗浄機と、被洗浄物の2対の相対向する側
面のうち、一対の側面を洗浄するために設けられた第1
の側面洗浄機と、もう一方の一対の側面を洗浄するため
に設けられた第2の」11面洗浄機とを設けたものであ
る。 〔作 用〕 本発明においては主表面洗浄機と、第1および第2の側
面洗浄機とを備えているので、被洗浄物の6面すべてを
洗浄することができる。 〔実施例〕 以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。 第1図kL(b)は本発明に係る洗浄装置の第1実施例
で、それぞれ洗浄前の状態を示す正面図および平面図で
ある。同図において、3Gは被洗浄物としてのガラス基
板、40はガラス基板30の主表面を洗浄する主表面洗
浄機、50はガラス基板30の移動方向(矢印X方向)
と平行な両側面を洗浄する第1の側面洗浄機、60けガ
ラス基板工0の移動方向と直交する両側面を洗浄する第
2の側面洗浄機、70.71は洗浄液としての中性洗剤
を噴射するノズル、Bは前記洗浄機40.50,60お
よびノズル70.71が配設された洗浄位置である。 ガラス基板30はソーダライムガラス、アルミノシリケ
ートガラス、石英ガラス等を素材と【7て、例えば12
7 X 127X 2.、:3mの大きさに形成される
ことにより、第3図に示すように6つの面、す彦わち2
つの主表面31A、3111と、4つの側面32A、3
2B。 32C,32Dとを有し、主表面31Aと側面32Aに
研摩剤等の異物33.34がそれぞれ付着しているもの
とする。異物33.34の大きさは大略10μ以下であ
る。そしてガラス基板30はベルト等の適宜な搬送装置
(図示せず)によってはは垂直な状態で洗浄位置B(第
1図参照)K搬送される。 前記主表面洗浄機40は、ガラス基板30の搬送路を挾
んで前後(矢印Y方向)Kそれぞれ4個ずつ互いに対向
して配設されたカップ型ブラシ41.42を有するスク
ラブ洗浄装置からなり、各カップ型ブラシ41.42は
前後移動され、すなわち搬送路に対して接近、離間する
ように移動され、洗浄時には第1回船矢印方向にそれぞ
れ回転されるように構成されている。なお、カップ型ブ
ラシ41.42は、直径0.2−程度のナイロンをプレ
ートに多数植毛して形成されている。 前記第1の側面洗浄機5Gは、主表面洗浄機40の手前
側にガラス基板30を挾んで上下方向(矢印2方向)に
対向して配設された一対の円筒型ブラシ51.52を有
するスクラブ洗浄装置がらなり、各ブラシ51.52は
上下方向に移動自在で、洗浄時にはガラス基板30の送
り方向に回転されるように構成されている。 前記第2の側面洗浄機60は、主表面洗浄機4゜の両側
にそれぞれガラス基板30の移動方向と直交する方向(
2方向)に長く延在して配設された左右一対の円筒型ブ
ラシ61.62を有するスクラブ洗浄装置からなり、各
円筒型ブラシ61.62は前後動され、通常はガラス基
板3oの搬送路外に配置され(第1図(b)参照)、洗
浄時に第1図←)に示すように時計方向に回転され、か
つ洗浄位iBの位置である搬送路上まで移動されるよう
に構成されている。なお、円筒型ブラシ61.62およ
び前述した第1の側面洗浄機500円筒型ブラシ51 
、52 もナイロンによって形成されている。 次に、このような構成からなる洗浄装置によるガラス基
板の洗浄動作について説明する。 ガラス基板30を搬送装置によって矢印X方向に移動さ
せ洗浄位置Bに搬送する。すると、第1の側面洗浄機5
0が駆動し、上下一対の円筒型ブラシ51.52でガラ
ス基板3oの移動方向と平行な同側面、すなわち上下に
対向する側面32A、32Bを同時に洗浄する。この結
果、側面32Aに付着している異物34(第3図参照)
は除去される。この際、ノズルTOから中性洗剤を噴射
し、洗浄効果を高めている。 ガラス基板30は第1の側面洗浄機50によって洗浄さ
れている間も移動し続け、主表面洗浄機40の位置に運
ばれる。すると、主表面洗浄機40が駆動して前後のカ
ップ型ブラシ41.42が互いに接近する如く動作して
ガラス基板30の主表面31A、31Bをそれぞれ洗浄
する。この時、ノズル71は中性洗剤を噴射供給する。 したがって、主表面31Aに付着していた異物33は前
方のカップ型ブラシ41によって除去される。この異物
33の除去は、前述した菜1の側面洗浄機50による異
物除去と同様、物理的な力による除去である。この洗浄
過程の間、ガラス基板30は第1図X方向に移動し続け
、主表面全体全洗浄される。そして、ガラス基板30の
後端、すなわち側ffi+32(4Mgが主表面洗浄機
40に近づくと、第2の側面洗浄機60の右側の円筒型
ブラシ62が回転しながらガラス基板30の位置である
搬送路上に移動し、ガラス基板30の側面32DK接し
、第4図(a)に示すようにガラス基板30の側面32
Dを洗浄する。なお、第4図←)において、便宜上側面
1Wと円筒型ブラシ62とを離間させたが、実際には前
述のように接している。この状態において、ガラス基板
30はその位置で停止され、一定時間前記円筒型ブラシ
62による洗浄を受ける。 なお、主表面洗浄機40と前記円筒型ブラシ62による
洗浄時においては、洗浄効果を高めるためノズルT1か
ら中性洗剤が噴射供給されている。 また、この時、主表面洗浄機40は、第1図(a)矢印
X方向とは逆の方向、すなわち第1の側面洗浄機50方
向に向って移動を開始し、この主表面洗浄II!4Gの
カップ型ブラシ41,42のうち、第1の側面洗浄機5
0に近いブラシ41.42がガラス基板30の側面32
Cから若干外れると、第1の側面洗浄機50方向への移
動を停止し、次にカップ型フッタ41.42はガラス基
板30の搬送路から離れる方向に移動し、ガラス基板3
oがら外れる。 これはガラス基板30が前述した通り一時停止した状態
になるため、主表面洗浄機40による同一箇所だけの洗
浄により発生する洗浄欠陥(洗浄ムラ等)が防止するた
めである。 一定時間経過すると、ガラス基板30は第4図(b)K
示すように矢印C方向に移動を開始する。すると、第2
の側面洗浄機60の右側の円筒型ブラシ62は元の位置
に移動し、左側の円筒型ブラシ61はガラス基板30の
位置である搬送路上へ移動して残っている最後の側面3
2Cの洗浄を行い、載面に付着している異物の除去を行
う。この時ガラス基板30は前述したと同様、一定時間
停止して前記円筒型ブラシ61による洗浄を受け、一定
時間経過すると、該ブラシ61の元の位置への移動と共
に矢印C方向への移動を再開し、ガラス基板30の洗浄
前の初期位置に戻されて洗浄を終了する。 かくしてこのような洗浄装置によれば、ガラス基板30
の6面全てを洗浄するので、いずれの面に異物が付着し
ていても確実に除去でき、後工程において異物によるピ
ンホールやパターン欠けなどの発生を未然に防止する。 第5図IL)、←)は本発明の第2実施例を示す正面図
および平面図である。図中第1図と同一構成部材のもの
に対しては同一符号を以って示す。本実施例は、主表面
洗浄機400手前にyXlおよび第2の側面洗浄1fi
50.60を、ガラス基板30の移動方向(矢印X方向
)に所定の間隔をおいて配置したもので、各側面洗浄機
50.60は、上下に対向してそれぞれ配設された一対
の円筒型ブラシ53A、53B、63A、、63Bを有
し、またこれら側面洗浄機50と60との間にはガラス
基板30を垂直面内において90°回転させる回転機構
90が配設されている。ガラス基板30は、第1の側面
洗浄機50を通過する際上下に対向する2つの側面32
A。 32Bが該洗浄Pa5oによって洗浄され、通過後回転
機構90によって90°U転されることにより、第2の
側面洗浄機60を通過する際残り2つの側面32C,3
2Dが該洗浄機60によって洗浄される。 そして、最後にガラス基板30の主表面31 A 、 
31Bが主表面洗浄機40によって洗浄される。 このような構成においても、上述した第1実施例と同様
の効果が得られることは明らかであろう。 第6図(ロ)) 、 (b)は本発明の第3実施例を示
す正面図および平面図である。本実施例は上下端がそれ
ぞれ大径に形成され上下方向に延在する3個の段付き円
筒型ブラシ100,101 、102を、主表面洗浄機
40の手前に所定の間隔をおいて配置し、これらによっ
て第1および第2の側面洗浄機を構成したものである。 左鳩に位置する段付き円筒型ブラシ100は前後動され
、ガラス基板30の往工程にてその小径部で該基板30
の右側面32Dを、両端の大径部内側面にてガラス基板
30の上下に対向する側面32A、 32Bをそれぞれ
洗浄する。中央に位置する段付き円筒型ブラシ101は
左側の段付き円筒型ブラシ100より所定寸法だけ前方
に固定的に配置され、その小径部にてガラス基板30の
前方側主表面31A f洗浄し、両端の大径部内側面に
て前記側面32A、32Bをそれぞれ洗浄する。−万、
右端の段付き円筒型ブラシ102は、左端のブラシ10
0と同様、前後動され、ガラス基板30の復工程にてそ
の小径部でガラス基板30の左側面32C’に洗浄し、
両端の大径部内側面で前記側面32A、32Bをそれぞ
れ洗浄する。 なお、第2および第3実施例においてはノズルを省略し
たが、第1実施例と同様ノズルによって中性洗剤が噴射
供給されるものとする。 また、上記実施例はいずれも主表面洗浄機40としてカ
ップ型ブラシ41.42を使用したが、これに限らず円
筒をブラシを用いてもよいことは勿論である。また、摩
擦材料としてナイロンからなるブラシを用いたが、馬毛
等の他の材質のブラシを用いてもよく、またブラシに限
らずフェルト。 発泡ポリウレタン等を用いてもよい。 また、上記実施例において主表面洗浄機4oは搬送路を
挾んで相対向して設けられたが、これに限定されるもの
ではなく、さらに第1および第2側面洗浄機50.60
も同様である。 また、上記実施例はいずれも研摩工程後のガラス基板の
洗浄について述べたが、研摩工程前の洗浄工程にその−
1ま使用できることは勿論である。 〔発明の効果〕 以上説明したように本発明に係る洗浄装置は、フォトマ
スク用ガラス基板等の被洗浄物の主表面を洗浄する主表
面洗浄機と、2対の相対向する側面のうち、一対の側面
を洗浄する第1の側面洗浄機と、もう一方の側面を洗浄
する第2の側面洗浄機とを備え、被洗浄物の6面全てを
洗浄するように構成したので、従来装置では困難であっ
た側面に付着している異物を完全に除去でき、主表面に
クロム膜等を蒸着する工程や、前記クロム膜にパターン
を形成する工程において異物によるピンホール、パター
ン欠は等の欠陥を未然に防止し、半導体産業に使用され
るフォトマスクブランク等の基板製造に用いて好適であ
る。 4、図面の簡単な説明 第19鉢) 、 (b)は本発明に係る洗浄装置の第−
実施例金示す洗浄前の正面図および平面図、第2図(a
)〜(山はそれぞれ従来の洗浄方法を示す図、第3図は
ガラス基板の斜視図、第4図鉢) 、 (b)は第1図
実施例装置による洗浄状態を説明するための図、第5図
(a) 、 (b)は本発明の第2実施例を示す正面図
および平面図、第6図@1 、 (b)は本発明の第3
実施例を示す正面図および平面図である。 30・・拳・ガラス基板、31A、31B−Φ・−主表
面、32A〜321)・・・嗜側面、33.34−晦@
9異物、40・−・1主表面洗浄機、41,42・・・
・カップ凰フリシ、50・−・φ第1の側面洗浄機、5
1,52 ・・・・円筒展ブラシ、60・嗜・・第2の
側面洗浄慢、61.62 ・・・・円筒型ブラシ、90
・・・・回転機構、B・・・・洗浄位置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  フォトマスク用ガラス基板等の被洗浄物を洗浄位置に
    搬送する搬送装置と、相対向して設けられ被洗浄物の表
    裏面を洗浄する主表面洗浄機と、相対向して設けられ被
    洗浄物の移動方向と平行な2つの側面を洗浄する第1の
    側面洗浄機と、相対向して設けられ被洗浄物の移動方向
    と直交する2つの側面を洗浄する第2の側面洗浄機とを
    備え、前記主表面洗浄機および第1、第2の側面洗浄機
    によつて被測定物の6面すべてを洗浄するようにしたこ
    とを特徴とする洗浄装置。
JP59201461A 1984-09-28 1984-09-28 洗浄装置 Pending JPS6180156A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6428990U (ja) * 1987-08-10 1989-02-21
JP2006225189A (ja) * 2005-02-16 2006-08-31 Nippon Electric Glass Co Ltd ガラス基板洗浄装置及びガラス基板洗浄方法
WO2012169536A1 (ja) * 2011-06-09 2012-12-13 住友化学株式会社 ハニカム構造体封口用マスクの洗浄方法及び洗浄装置、並びに、ハニカムフィルタの製造方法

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