JPH1131674A - ウェーハ洗浄装置 - Google Patents

ウェーハ洗浄装置

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JPH1131674A
JPH1131674A JP18507397A JP18507397A JPH1131674A JP H1131674 A JPH1131674 A JP H1131674A JP 18507397 A JP18507397 A JP 18507397A JP 18507397 A JP18507397 A JP 18507397A JP H1131674 A JPH1131674 A JP H1131674A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
cleaning
sponge
sponge roller
polishing
Prior art date
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Pending
Application number
JP18507397A
Other languages
English (en)
Inventor
Kichizo Sato
吉三 佐藤
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Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 研磨前にウェーハの裏面に付着しているゴミ
等を取り除けるようにした、ウェーハ洗浄装置を提供す
る。 【解決手段】 ウェーハの研磨装置に洗浄手段を組み込
む。洗浄手段は、スポンジローラ5,6を平行に配設
し、ウェーハの面に洗浄水を供給するウェーハ洗浄ノズ
ル10と、スポンジローラを洗浄するスポンジローラ洗
浄ノズル11を設ける。スポンジローラ5,6の回転は
互いに逆方向とする。スポンジローラの回転軸7,8に
洗浄水供給孔を複数形成し、回転軸から供給された洗浄
水がスポンジロールの表面まで適度に浸透するようにす
る。ウェーハを保持した搬送手段は、スポンジローラに
対して接近又は離反する方向に相対的に移動し、ウェー
ハを洗浄する際は、ウェーハをスポンジローラに接触さ
せて揺動すると共に、ウェーハを回転させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ウェーハ洗浄装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体製造のウェーハ研磨工程において
は、通常ターンテーブル上に複数のチャックテーブルが
円周方向に配設され、カセット内から搬出した半導体ウ
ェーハを搬送手段により吸着し、チャックテーブル上に
搬送すると共に吸引保持させ、ターンテーブルを回転さ
せてチャックテーブルを研磨機の下に位置付け、ウェー
ハの表面を研磨する。その後、ターンテーブルを回転さ
せて後続のウェーハを順次研磨し、研磨済みのウェーハ
は所定位置に至るとチャックテーブルからカセット内に
戻される。このようにして、ターンテーブルを断続的に
回転させ、搬送装置及び研磨機等とタイミングをとりな
がらウェーハの研磨を連続的に行うのである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】前記従来のウェーハ研
磨において、研磨前にウェーハの裏面にゴミ等が付着し
ていると、チャックテーブルの上面に吸引保持される際
にゴミ等が挟み込まれ、研磨時の負荷によりウェーハに
マイクロクラックが発生したり、面内厚さのバラツキが
大きくなったりする等の問題がある。
【0004】本発明は、このような従来の問題を解決す
るためになされ、研磨前にウェーハの裏面に付着してい
るゴミ等を取り除けるようにした、ウェーハ洗浄装置を
提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
の具体的手段として、本発明は、半導体ウェーハを吸引
保持するチャックテーブルと、このチャックテーブルに
対峙して配設された研磨手段と、ウェーハを保持し前記
チャックテーブルまで搬送する搬送手段と、この搬送手
段の搬送経路に配設されウェーハのチャックテーブルと
接触する面を洗浄する洗浄手段と、を少なくとも含むウ
ェーハ洗浄装置であって、前記洗浄手段は、回転軸を有
し平行に配設された第1、第2のスポンジローラと、ウ
ェーハの面に洗浄水を供給するウェーハ洗浄ノズルと、
前記スポンジローラを洗浄するスポンジローラ洗浄ノズ
ルとを含むウェーハ洗浄装置を要旨とする。又、第1の
スポンジローラの回転方向と、第2のスポンジローラの
回転方向とは逆であること、第1、第2のスポンジロー
ラの回転軸には、洗浄水供給孔が複数形成されていて、
スポンジローラの回転軸から供給された洗浄水が各スポ
ンジローラの表面に至ること、半導体ウェーハを保持し
た搬送手段は、第1、第2のスポンジローラに対して接
近又は離反する方向に相対的に移動し、ウェーハを洗浄
する際は、ウェーハを第1、第2のスポンジローラに接
触させ揺動すると共にウェーハを回転させること、洗浄
手段には、各スポンジローラに接触しない位置でウェー
ハを一時的に受ける仮受け手段が配設されていること、
を要旨とするものである。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づいて詳説する。図1は、本発明に係るウェー
ハ洗浄装置を示すもので、カセットC内に収容された半
導体ウェーハWを出し入れする搬出入手段1と、ウェー
ハWを吸着保持して所定の箇所に搬送する搬送手段2
と、この搬送手段2の搬送経路に配設された洗浄手段3
と、ウェーハの表面を研磨する研磨手段4等を備えてい
る。
【0007】このウェーハ洗浄装置においては、先ずカ
セットC内に収容されたウェーハWが、搬出入手段1に
よって搬出されると共に、搬送手段2により吸着されて
洗浄手段3に位置付けられ、ここでウェーハWの裏面が
洗浄される。
【0008】洗浄手段3は、図2に示すように第1のス
ポンジローラ5と、第2のスポンジローラ6とが平行に
配設され、それらの回転軸7、8には、図3に示すよう
に多数の洗浄水供給孔7a、8aがそれぞれ形成されて
いる。回転軸7、8は、それぞれモータMにより逆方向
(回転軸7は時計方向、回転軸8は反時計方向)に回転
される。又、第1のスポンジローラ5と、第2のスポン
ジローラ6の表面には、多数の小突起5a、6aがそれ
ぞれ形成されている。
【0009】前記回転軸7、8の突出端部には、第1の
洗浄水供給手段9が接続され、この第1の洗浄水供給手
段9から供給される洗浄水は、前記回転軸7、8の洗浄
水供給孔7a、8aから流出して第1のスポンジローラ
5及び第2のスポンジローラ6の表面にまで至る。即ち
第1、第2のスポンジローラ5、6全体を適度に濡らす
ようにしてある。
【0010】更に、第1のスポンジローラ5と第2のス
ポンジローラ6との間には、ウェーハ洗浄ノズル10
と、スポンジローラ洗浄ノズル11とが上下に配設さ
れ、これらのノズルは第2の洗浄水供給手段12に接続
されている。従って、ウェーハ洗浄ノズル10の供給孔
10a及びスポンジローラ洗浄ノズル11の供給孔11
aからそれぞれ洗浄水が噴射される。
【0011】13は仮受け手段であり、図3に示すよう
に第1のスポンジローラ5と第2のスポンジローラ6と
を両側から挾むようにして配設され、シリンダ13a
と、このシリンダ13aのロッドの先端に枢支されたア
ーム13bと、このアーム13bの先端部に取り付けら
れた回転軸13cと、この回転軸13cに所定の間隔を
あけて固定された2つの把持片13d(図2参照)がそ
れぞれ対設された構成になっている。
【0012】この仮受け手段13は、スポンジローラに
接触しない位置でウェーハW′を一時的に仮受けするも
のであり、前記シリンダ13aのロッドを上昇させる
と、アーム13bを介して回転軸13cが回転し、この
回転により図3に仮想線で示すように両側の挟持片13
dが互いに内向きに回転してウェーハW′の外周部を4
箇所で把持する。
【0013】前記のように洗浄手段3に位置付けられた
ウェーハWは、第1のスポンジローラ5と第2のスポン
ジローラ6の上に適宜の力で押し付けられて裏面が洗浄
される。即ち、第1のスポンジローラ5と第2のスポン
ジローラ6とを前記のように逆方向に回転させ、第1の
洗浄水供給手段9から洗浄水を供給して第1、第2のス
ポンジローラ5、6を適度に濡らし、第2の洗浄水供給
手段12から供給した洗浄水をウェーハ洗浄ノズル10
から噴射させてウェーハWの裏面に供給しながら洗浄す
る。この時、前記スポンジローラ洗浄ノズル11からも
洗浄水を噴射させて第1、第2のスポンジローラ5、6
を洗浄する。
【0014】ウェーハ裏面及び第1、第2のスポンジロ
ーラ5、6に洗浄水が充分掛かるようにしたので綺麗に
洗浄でき、洗浄時に前記搬送手段2を小刻みに揺動させ
ることにより満遍無く洗浄でき、洗浄効率を更に向上さ
せることができる。又、搬送手段2の吸着部2aを介し
てウェーハWを回転させるようにしても良い。
【0015】洗浄後に、ウェーハWは搬送手段2によっ
てチャックテーブル14上に搬送され、吸引保持され
る。この際、ウェーハWの裏面は既に洗浄済みであるか
ら、ウェーハの裏面とチャックテーブル14の上面との
間にゴミ等が挾み込まれることはない。従って、研磨時
でのマイクロクラックの発生や面内厚さのバラツキ等を
未然に防止することができる。
【0016】チャックテーブル14に保持されたウェー
ハWは、ターンテーブル15を回転することで研磨手段
4の研磨機4aに位置付けられ、表面が研磨される。研
磨機は2台配設されており、一方の研磨機4aを粗研磨
用、他方の研磨機4bを仕上げ研磨用とした場合には、
研磨機4aで粗研磨した後、ターンテーブル15を回転
させて研磨機4bに位置付け、仕上げ研磨される。
【0017】研磨後に、ターンテーブル15を回転させ
てチャックテーブル14を前記搬送手段2に位置付け、
この搬送手段2でウェーハWを吸着してスピンナー装置
16に搬送する。このスピンナー装置16は、ウェーハ
Wの表裏面を洗浄し、且つ乾燥するようにしてある。
【0018】この後、前記搬出入段1がウェーハWを把
持してカセットCに収容する。カセットC内に収容され
たウェーハWは、表裏面とも綺麗に洗浄・乾燥されてい
るため、以後の工程において支障が生じることはない。
【0019】このような一連の工程は、タイミングを取
りながら連続的且つ効率的に行われる。前記搬送手段
2、洗浄手段3及びスピンナー装置16は、図1に示す
ようにそれぞれ左右一対配設され、つまり2系列となっ
ており、研磨手段4の2台の研磨機4a、4bと関連さ
せて、ウェーハに応じた種々の作業ルートを設定するこ
とができる。
【0020】即ち、前記作業ルートでは1系列を使用し
たのみであるが、例えば2台の研磨機4a、4bをいず
れも仕上げ研磨用に設定して2系列を同時に使用すれ
ば、ウェーハの仕上げ研磨作業を2倍の効率で行うこと
ができる。又、一方の研磨機4aを粗研磨用、他方の研
磨機4bを仕上げ研磨用に設定して2系列を選択使用す
れば、一方のカセットCから搬出したウェーハを粗研磨
及び仕上げ研磨した後、他方のカセットC′に収容する
といった一連のU字型ルートで作業を効率良く行うこと
もできる。ウェーハの作業目的に合わせたルートの設定
が可能となる。
【0021】尚、前記仮受け手段13は、作業効率を向
上させるため、搬送手段2の動きに対応させて利用すれ
ば、作業能率の向上に役立つ。又、洗浄手段3での洗浄
時に、スポンジローラに対するウェーハの押し付け力、
スポンジローラの回転数、搬送手段2の揺動速度等は調
整でるように構成することが好ましい。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
半導体ウェーハの研磨前に裏面を洗浄し、ゴミ等の付着
物を取り除くようにしたので、チャックテーブルに吸着
する際にウェーハの裏面とチャックテーブルの上面との
間にゴミ等が挟み込まれることはなく、研磨時の負荷に
よりウェーハにマイクロクラックが発生したり、面内厚
さのバラツキが生じるといった従来の欠点を防止する効
果を奏する。又、一対のスポンジロールを互いに逆回転
させてウェーハの裏面を洗浄し、且つウェーハの裏面及
びスポンジロールに清浄な洗浄水を供給しながら洗浄す
るように構成したので、ウェーハの裏面に付着している
ゴミ等のみならず頑固な汚れをも綺麗に洗浄できる等の
優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るウェーハ洗浄装置の実施態様を示
す斜視図である。
【図2】洗浄手段の要部概略斜視図である。
【図3】図2のA−A線断面図である。
【符号の説明】
1…搬出入手段 2…搬送手段 3…洗浄手段 4…研磨手段 5…第1のスポンジローラ 6…第2のスポンジローラ 7、8…回転軸 9…第1の洗浄水供給手段 10…ウェーハ洗浄ノズル 11…スポンジローラ洗浄ノズル 12…第2の洗浄水供給手段 13…仮受け手段 14…チャックテーブル 15…ターンテーブル 16…スピンナー装置

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体ウェーハを吸引保持するチャックテ
    ーブルと、このチャックテーブルに対峙して配設された
    研磨手段と、ウェーハを保持し前記チャックテーブルま
    で搬送する搬送手段と、この搬送手段の搬送経路に配設
    されウェーハのチャックテーブルと接触する面を洗浄す
    る洗浄手段と、を少なくとも含むウェーハ洗浄装置であ
    って、 前記洗浄手段は、回転軸を有し平行に配設された第1、
    第2のスポンジローラと、ウェーハの面に洗浄水を供給
    するウェーハ洗浄ノズルと、前記スポンジローラを洗浄
    するスポンジローラ洗浄ノズルとを含むウェーハ洗浄装
    置。
  2. 【請求項2】第1のスポンジローラの回転方向と、第2
    のスポンジローラの回転方向とは逆である請求項1記載
    のウェーハ洗浄装置。
  3. 【請求項3】第1、第2のスポンジローラの回転軸に
    は、洗浄水供給孔が複数形成されていて、スポンジロー
    ラの回転軸から供給された洗浄水が各スポンジローラの
    表面に至る請求項1、2記載のウェーハ洗浄装置。
  4. 【請求項4】ウェーハを保持した搬送手段は、第1、第
    2のスポンジローラに対して接近又は離反する方向に相
    対的に移動し、ウェーハを洗浄する際は、ウェーハを第
    1、第2のスポンジローラに接触させ揺動すると共にウ
    ェーハを回転させる請求項1、2、3記載のウェーハ洗
    浄装置。
  5. 【請求項5】洗浄手段には、各スポンジローラに接触し
    ない位置でウェーハを一時的に受ける仮受け手段が配設
    されている請求項1、2、3、4記載のウェーハ洗浄装
    置。
JP18507397A 1997-07-10 1997-07-10 ウェーハ洗浄装置 Pending JPH1131674A (ja)

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