JPH03156492A - 電極間短絡検査方法 - Google Patents
電極間短絡検査方法Info
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- JPH03156492A JPH03156492A JP1296809A JP29680989A JPH03156492A JP H03156492 A JPH03156492 A JP H03156492A JP 1296809 A JP1296809 A JP 1296809A JP 29680989 A JP29680989 A JP 29680989A JP H03156492 A JPH03156492 A JP H03156492A
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- Japan
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- electrodes
- liquid crystal
- electrode
- short circuit
- short
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Links
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- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims abstract description 34
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 11
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 abstract description 18
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 9
- 238000013100 final test Methods 0.000 description 6
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
デイスプレィ装置として用いられる液晶パネルの検査方
法、特に隣接する電極間の短絡を検査する電極間短絡検
査方法に関し、 完成試験の前に点灯状態で電極間の短絡を検査できる電
極間短絡検査方法の提供を目的とし、透明電極を具えた
１対のガラス基板間に液晶を充填して液晶パネルを形成
し、触針を介して電極間に印加された電圧によって液晶
パネルを動作せしめることによって、隣接電極間におけ
る短絡の有無を検査するように構成する。
法、特に隣接する電極間の短絡を検査する電極間短絡検
査方法に関し、 完成試験の前に点灯状態で電極間の短絡を検査できる電
極間短絡検査方法の提供を目的とし、透明電極を具えた
１対のガラス基板間に液晶を充填して液晶パネルを形成
し、触針を介して電極間に印加された電圧によって液晶
パネルを動作せしめることによって、隣接電極間におけ
る短絡の有無を検査するように構成する。
本発明はデイスプレィ装置として用いられる液晶パネル
の検査方法に係り、特に隣接する電極間の短絡を検査す
る電極間短絡検査方法に関する。
の検査方法に係り、特に隣接する電極間の短絡を検査す
る電極間短絡検査方法に関する。
隣接する電極間の短絡を検査する手段として例えば絶縁
抵抗計等を用い、ガラス基板の状態で電極間の抵抗を測
定する方法等が用いられている。
抵抗計等を用い、ガラス基板の状態で電極間の抵抗を測
定する方法等が用いられている。
しかし液晶パネルに駆動回路まで接続した後行う完成試
験以外に、液晶パネルを動作せしめ点灯状態で隣接電極
間の短絡を検査する適切な方法は無い。そこで完成試験
の前に電極間の短絡を点灯状態で検査する方法の確立が
要望されている。
験以外に、液晶パネルを動作せしめ点灯状態で隣接電極
間の短絡を検査する適切な方法は無い。そこで完成試験
の前に電極間の短絡を点灯状態で検査する方法の確立が
要望されている。
〔従来の技術］
第３図は従来の電極間短絡検査方法を示す斜視図である
。
。
電極間の短絡を検査する従来の第一の方法は第３図（ａ
）に示す如く、ガラス基板１の透明電極２に絶縁抵抗計
３の触針４を接触せしめ、隣接する電極２間の絶縁抵抗
を計測することにより短絡の有無を検査している。
）に示す如く、ガラス基板１の透明電極２に絶縁抵抗計
３の触針４を接触せしめ、隣接する電極２間の絶縁抵抗
を計測することにより短絡の有無を検査している。
また電極間の短絡を検査する従来の第二の方法は第３図
（ａ）に示す如く、透明電極２を具えた１対のガラス基
板１間に液晶５を充填して液晶パネル６を形成し、更に
透明電極２に駆動回路７を接続した後液晶パネル６を点
灯せしめ、電圧が印加された電極と点灯する位置の対応
によって短絡の有無を検査している。
（ａ）に示す如く、透明電極２を具えた１対のガラス基
板１間に液晶５を充填して液晶パネル６を形成し、更に
透明電極２に駆動回路７を接続した後液晶パネル６を点
灯せしめ、電圧が印加された電極と点灯する位置の対応
によって短絡の有無を検査している。
（発明が解決しようとする課題）
しかし絶縁抵抗計によって短絡の有無を検査する方法は
、例えば短絡があっても触針の接触不良等から良品と判
定される場合があり、液晶パネルを点灯することによっ
て短絡の有無を確認する必要がある。また形成された液
晶パネルに駆動回路を接続し点灯状態で検査する方法は
、ガラス基板状に形成された透明電極間に短絡があった
場合、透明電極に駆動回路を接続したり液晶パネルから
駆動回路を回収する人手が無駄になる。特に近年のよう
に液晶パネルに直接駆動回路を実装する装置では、駆動
回路が使用不能になる場合も生じるという問題があった
。
、例えば短絡があっても触針の接触不良等から良品と判
定される場合があり、液晶パネルを点灯することによっ
て短絡の有無を確認する必要がある。また形成された液
晶パネルに駆動回路を接続し点灯状態で検査する方法は
、ガラス基板状に形成された透明電極間に短絡があった
場合、透明電極に駆動回路を接続したり液晶パネルから
駆動回路を回収する人手が無駄になる。特に近年のよう
に液晶パネルに直接駆動回路を実装する装置では、駆動
回路が使用不能になる場合も生じるという問題があった
。
本発明の目的は完成試験の前に点灯状態で電極間の短絡
を検査できる電極間短絡検査方法を提供することにある
。
を検査できる電極間短絡検査方法を提供することにある
。
（課題を解決するための手段〕
第１図は本発明の電極間短絡検査方法を示す斜視図であ
る。なお全図を通し同じ対象物は同一記号で表している
。
る。なお全図を通し同じ対象物は同一記号で表している
。
上記課題は透明電極２を具えた１対のガラス基板１間に
液晶５を充填して液晶パネル６を形成し、触針４を介し
て電極間に印加された電圧によって液晶パネル６を動作
せしめ、隣接電極間における短絡の有無を検査する本発
明になる電極間短絡検査方法によって達成される。
液晶５を充填して液晶パネル６を形成し、触針４を介し
て電極間に印加された電圧によって液晶パネル６を動作
せしめ、隣接電極間における短絡の有無を検査する本発
明になる電極間短絡検査方法によって達成される。
第１図において透明電極を具えた１対のガラス基板間に
液晶を充填して液晶パネルを形成し、触針を介して電極
間に印加された電圧によって液晶パネルを動作せしめ、
隣接電極間における短絡の有無を検査する本発明になる
電極間短絡検査方法は、完成試験の前に点灯状態で電極
間の短絡を検査することができる。
液晶を充填して液晶パネルを形成し、触針を介して電極
間に印加された電圧によって液晶パネルを動作せしめ、
隣接電極間における短絡の有無を検査する本発明になる
電極間短絡検査方法は、完成試験の前に点灯状態で電極
間の短絡を検査することができる。
以下添付図により本発明の実施例について説明する。な
お第２図は本発明の変形例を示す斜視図である。
お第２図は本発明の変形例を示す斜視図である。
本発明になる電極間短絡検査方法では第１図に示す如く
、透明電極２を具えた１対のガラス基板１間に液晶５を
充填して液晶パネル６を形成し、触針４を介して電極間
に数ボルトの直流電圧を印加して液晶パネル６を動作さ
せる。
、透明電極２を具えた１対のガラス基板１間に液晶５を
充填して液晶パネル６を形成し、触針４を介して電極間
に数ボルトの直流電圧を印加して液晶パネル６を動作さ
せる。
このとき対向せしめたガラス基板１上のそれぞれの電極
２に隣接電極間の短絡が無ければ、触針４を接触させた
電極２の交点、或いはその電極と内部接続されている電
極の交点のみが点灯しその他の交点は点灯しない。
２に隣接電極間の短絡が無ければ、触針４を接触させた
電極２の交点、或いはその電極と内部接続されている電
極の交点のみが点灯しその他の交点は点灯しない。
したがって触針４を介して電極間に数ボルトの直流電圧
を印加したときに、触針４を接触させていない電極２の
交点が点灯したり、或いは触針４を接触させた電極２と
内部接続されていない電極２の交点が点灯した場合は、
その電極２と触針４を接触させた電極２とが短絡してい
るといえる。
を印加したときに、触針４を接触させていない電極２の
交点が点灯したり、或いは触針４を接触させた電極２と
内部接続されていない電極２の交点が点灯した場合は、
その電極２と触針４を接触させた電極２とが短絡してい
るといえる。
また本発明になる電極間短絡検査方法の変形例では第２
図に示す如く、液晶パネル６を構成する一方の電極２を
全て導電性ゴム８で短絡し、導電性ゴム８と接地線Ｇと
の間に数ボルトの交流電圧を印加する。そして他方の電
極２に接地線Ｇに接続された触針４を接触させる。
図に示す如く、液晶パネル６を構成する一方の電極２を
全て導電性ゴム８で短絡し、導電性ゴム８と接地線Ｇと
の間に数ボルトの交流電圧を印加する。そして他方の電
極２に接地線Ｇに接続された触針４を接触させる。
このとき触針４を接触させた電極２が隣接する電極と短
絡していなければ、導電性ゴム８で短絡された電極と触
針４を接触させた電極２の交点、或いはその電極と内部
接続されている電極２の交点のみが点灯しその他の交点
は点灯しない。
絡していなければ、導電性ゴム８で短絡された電極と触
針４を接触させた電極２の交点、或いはその電極と内部
接続されている電極２の交点のみが点灯しその他の交点
は点灯しない。
したがって触針４を介して電極間に数ボルトの交流電圧
を印加したときに、触針４を接触させていない電極２の
交点が点灯したり、或いは触針４を接触させた電極２と
内部接続されていない電極２の交点が点灯した場合は、
その電極２と触針４を接触させた電極２とが短絡してい
るといえる。
を印加したときに、触針４を接触させていない電極２の
交点が点灯したり、或いは触針４を接触させた電極２と
内部接続されていない電極２の交点が点灯した場合は、
その電極２と触針４を接触させた電極２とが短絡してい
るといえる。
このように透明電極を具えた１対のガラス基板間に液晶
を充填して液晶パネルを形成し、触針を介して電極間に
印加された電圧によって液晶パネルを動作せしめ、隣接
電極間における短絡の有無を検査する本発明になる電極
間短絡検査方法は、完成試験の前に点灯状態で電極間の
短絡を検査することができる。
を充填して液晶パネルを形成し、触針を介して電極間に
印加された電圧によって液晶パネルを動作せしめ、隣接
電極間における短絡の有無を検査する本発明になる電極
間短絡検査方法は、完成試験の前に点灯状態で電極間の
短絡を検査することができる。
第１図は本発明の電極間短絡検査方法を示す斜視図、
第２図は本発明の変形例を示す斜視図、第３図は従来の
電極間短絡検査方法を示す斜視図、 である。図において ■はガラス基板、 ２は透明電極、 ４は触針、 ５は液晶、 ６は液晶パネル、 ８は導電性ゴム、をそれぞれ表
す。 〔発明の効果〕 上述の如く本発明によれば完成試験の前に点灯状態で電
極間の短絡を検査できる電極間短絡検査方法を提供する
ことができる。 ＣＱ） 生徒ａ＠／）変形伊比示峯糾視記 ′ｆＩ ２ 記 イズし林ξのｆｖＪ！！ｖｌケ庇Ａ１シネ鎚童シΣ二去
、を示１ｍ才！、５ａ１ ３ 記
電極間短絡検査方法を示す斜視図、 である。図において ■はガラス基板、 ２は透明電極、 ４は触針、 ５は液晶、 ６は液晶パネル、 ８は導電性ゴム、をそれぞれ表
す。 〔発明の効果〕 上述の如く本発明によれば完成試験の前に点灯状態で電
極間の短絡を検査できる電極間短絡検査方法を提供する
ことができる。 ＣＱ） 生徒ａ＠／）変形伊比示峯糾視記 ′ｆＩ ２ 記 イズし林ξのｆｖＪ！！ｖｌケ庇Ａ１シネ鎚童シΣ二去
、を示１ｍ才！、５ａ１ ３ 記
Claims (1)
- 透明電極（２）を具えた１対のガラス基板（１）間に液
晶（５）を充填して液晶パネル（６）を形成し、触針（
４）を介して該電極間に印加された電圧によって該液晶
パネル（６）を動作せしめ、隣接電極間における短絡の
有無を検査することを特徴とした電極間短絡検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1296809A JPH03156492A (ja) | 1989-11-15 | 1989-11-15 | 電極間短絡検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1296809A JPH03156492A (ja) | 1989-11-15 | 1989-11-15 | 電極間短絡検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03156492A true JPH03156492A (ja) | 1991-07-04 |
Family
ID=17838428
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1296809A Pending JPH03156492A (ja) | 1989-11-15 | 1989-11-15 | 電極間短絡検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03156492A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104991103A (zh) * | 2015-07-03 | 2015-10-21 | 柳州利元光电技术有限公司 | 一种精密玻璃定栅测试机 |
| WO2016033892A1 (zh) * | 2014-09-04 | 2016-03-10 | 京东方科技集团股份有限公司 | 确定光栅器件中的短路点的位置的方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63189897A (ja) * | 1987-02-02 | 1988-08-05 | 三菱電機株式会社 | マトリクス型デバイスの測定方法 |
| JPH01281488A (ja) * | 1988-05-07 | 1989-11-13 | Seiko Epson Corp | 液晶パネルの検査方法 |
-
1989
- 1989-11-15 JP JP1296809A patent/JPH03156492A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63189897A (ja) * | 1987-02-02 | 1988-08-05 | 三菱電機株式会社 | マトリクス型デバイスの測定方法 |
| JPH01281488A (ja) * | 1988-05-07 | 1989-11-13 | Seiko Epson Corp | 液晶パネルの検査方法 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2016033892A1 (zh) * | 2014-09-04 | 2016-03-10 | 京东方科技集团股份有限公司 | 确定光栅器件中的短路点的位置的方法 |
| US9857612B2 (en) | 2014-09-04 | 2018-01-02 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Method for determining location of short-circuit point in raster device |
| EP3190450A4 (en) * | 2014-09-04 | 2018-07-25 | Boe Technology Group Co. Ltd. | Method for determining position of short circuit point in grating device |
| CN104991103A (zh) * | 2015-07-03 | 2015-10-21 | 柳州利元光电技术有限公司 | 一种精密玻璃定栅测试机 |
| CN104991103B (zh) * | 2015-07-03 | 2019-02-26 | 柳州利元光电技术有限公司 | 一种精密玻璃定栅测试机 |
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