KR900010355A - 액정 모듈의 특성 검사방법 및 장치 - Google Patents
액정 모듈의 특성 검사방법 및 장치 Download PDFInfo
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 특성 검사장치 블럭도, 제2도는 본 발명의 상세도.
Claims (2)
- 모듈 구동회로에 의해 액정모듈이 동작되는 회로에 있어서, 상기 모듈 구동회로와 액정모듈 사이에 액정모듈의 로직부 전류값 및 전압값을 측정하는 전류계(A1) 및 전압계(V1)와, 판넬 구동부의 전류값 및 전압값을 측정하는 전류계(A2) 및 전압계(V2)를 구성한 것을 특징으로 하는 액정모듈의 특성 검사장치.
- 모듈 구동회로에 정상 동작중인 액정 모듈의 로직부와 판넬 구동부의 전류값 및 전압값을 측정하고, 이 측정값을 기준 전류값 및 전압값으로 설정한 후, 생산 완료된 액정모듈의 로직부와 판넬 구동부의 전류값 및 전압값을 검출하여 상기 기준값과 비교함으로써 제품의 이상유무 판단을 가능하도록 하는 액정모듈의 특성 검사방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019880017528A KR940004874B1 (ko) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | 액정모듈의 특성 검사방법 및 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019880017528A KR940004874B1 (ko) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | 액정모듈의 특성 검사방법 및 장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR900010355A true KR900010355A (ko) | 1990-07-07 |
| KR940004874B1 KR940004874B1 (ko) | 1994-06-02 |
Family
ID=19280708
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019880017528A KR940004874B1 (ko) | 1988-12-26 | 1988-12-26 | 액정모듈의 특성 검사방법 및 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR940004874B1 (ko) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100397183B1 (ko) * | 2001-05-10 | 2003-09-06 | 케이 이엔지(주) | 티에프티 엘시디 전극패턴 검사방법 및 장치 |
| KR100604147B1 (ko) * | 2004-10-07 | 2006-07-24 | 주식회사 성일텔레콤 | 엘씨디 보드 검사장치 |
| CN112762993A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-05-07 | 深圳市韦德勋光电科技有限公司 | 一种用于lcd逻辑板基板原材的探测装置及使用方法 |
-
1988
- 1988-12-26 KR KR1019880017528A patent/KR940004874B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100397183B1 (ko) * | 2001-05-10 | 2003-09-06 | 케이 이엔지(주) | 티에프티 엘시디 전극패턴 검사방법 및 장치 |
| KR100604147B1 (ko) * | 2004-10-07 | 2006-07-24 | 주식회사 성일텔레콤 | 엘씨디 보드 검사장치 |
| CN112762993A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-05-07 | 深圳市韦德勋光电科技有限公司 | 一种用于lcd逻辑板基板原材的探测装置及使用方法 |
| CN112762993B (zh) * | 2020-12-29 | 2021-10-08 | 深圳市韦德勋光电科技有限公司 | 一种用于lcd逻辑板基板原材的探测装置及使用方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR940004874B1 (ko) | 1994-06-02 |
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