KR950007504Y1 - 피씨비(pcb) 자동 검사기(ict) 핀 검색장치 - Google Patents

피씨비(pcb) 자동 검사기(ict) 핀 검색장치 Download PDF

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KR950007504Y1
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Abstract

내용 없음.

Description

피씨비(PCB) 자동 검사기(ICT) 핀 검색장치
제1도는 본 고안에 따른 구성 블럭도.
제2도는 본 고안에 따른 정전류 저항 측정 원리도.
제3도는 본 고안에 따른 멀티플렉서와 정착물(FIXTURE) 연결 상태도.
제4도는 장착물 구조를 도시한 개략적인 일예시도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 정전압회로 2 : 기준전압용 정전압회로
3 : 정전류회로 4 : 앰프(AMP)
5 : 샘플,홀드부 6 : A/D 변환기
7 : 컴퓨터 8 : 멀티플렉서
9 : 정착물(FIXTURE) 10 : 정전류저항측정부
11 : 데이터처리부 R : 접촉저항
A, B : 저항측정단자 A0-A18, B0-B18: 릴레이
CNT : 커넥터(CONNECTOR) P0: 프로브접촉단자
P1-P17: 프로브(PROBE)
본 고안은 인 써키트 테스터(IN CIRCUIT TESTER : 이하 ICT)를 이용한 피씨비 기판 자동 검사기에 관한 것으로, 특히 회로의 쇼트(SHORT) 및 오픈(OPEN)과 부품의 미삽, 오삽입 등을 검사하기 위한 피씨비 자동 검사기 핀 검색 장치에 관한 것이다.
종래에는 피씨비(PCB)기판을 검사하는데 있어서, 정착물상의 각 핀 번호를 일일이 핀 주변에도 기록을 하여야 하고 그렇지 않을 경우에는 점검자가 직접 저항계를 사용하여 정착물상의 각 핀과 입력단과 커넥터 핀 간을 하나 하나씩 찍어서 확인해야 하므로 대단히 불편하고 생산라인에서 특정핀 검색시 많은 시간을 소비하고 오차가 많아 생산능률이 저하되므로 비경제적이었던 것이다.
따라서 본 고안은 상기와 같은 제반결점을 해소하기 위하여 안출된 것으로, 측정하고자 하는 핀(프로브)을 정전류저항측정부와 데이타처리부 및 컴퓨터로서 정착물상의 각 핀(프로브)의 위치나 핀 번호를 신속히 검색할 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.
이와 같은 목적을 가진 본 고안의 구성을 첨부된 도면에 의해 상세히 설명하면 다음과 같다.
정전압(예 : 3.5V)을 발생하는 정전압회로(1)와 인가된 정전압을 설정된 기준전압(예 : 2.5V)와 비교하여 출력하는 기준전압용 정전압회로(2)와 상기 정전압회로(1)와 기준전압용 정전압회로(2)에서 인가된 전압을 전류로 변환하는 정전류회로(3)로 된 정전류저항측정부(10)와, 프로브접촉단자(P0)와 정착물(9)의 각각의 프로브(P1-P17)를 연결하여 접촉저항(R)을 측정하기 위해 릴레이(A0-A18)(B0-B18)로 된 멀티플렉서(8)와, 상기 멀티플렉서(8)를 통해 측정된 전압을 증폭하는 앰프(4)와 아날로그신호의 표본값을 유지하는 샘플, 홀드부(5)와 표본값이 유지된 아날로그신호를 디지탈신호로 바꾸는 A/D변환기(6)로 된 데이타처리부(11)와, 상기 데이타처리부(11)에서 입력된 신호에 의해 프로브(P1-P17)를 검색하는 컴퓨터(7)를 구비한 피씨비 자동 검사기 핀 검색장치인 것이다.
이하 첨부된 도면에 의해 본 고안의 작용 및 효과를 설명하면 다음과 같다.
전원(Vcc)이 인가되면 정전류저항측정부(10)의 정전압회로(1)를 통해 발생된+3.5V의 정전압과 기준전압용 정전압회로(2)에 설정된+2.5V전압이 정전류회로(3)에 인가된다.
상기 정전류회로(3)에서는 인가된 전압을 프로브(P1-P17)에 접촉되는 접촉저항(R) 값을 측정하는 필요한 전류(I)로 변환하여 멀티플렉서(8)에 인가한다.
상기 멀티플렉서(8)는 인가된 전류에 의해 릴레이(A0)(B0)(A1)를 온(ON)시키고, 제2도와 같이 전류(I)를 공급하면 핀(PIN0)을 통해 프로브접촉단자(P0)까지 전원이 공급되어 모든 릴레이(A0-A18)(B0-B18)가 온(ON)이 된다.
이때 프로브(P1-P17) 검색을 위해 프로브접촉단자(P0)를 정착물(9)상의 각각의 프로브(P1-P17)에 순차적으로 접촉시키면 제2도와 같이 저항(R)에 프로브접촉 저항값을 나타낸다.
일예로 프로브(P1)의 위치를 정착물(9)에서 알고 싶을때 제3도의 멀티플렉서(8)에서 프로브(P1)에 해당하는 릴레이(B0)(B2)를 "온"시키고 프로브(P0)에 해당하는 릴레이(A0)(A1)를 "온"시킨뒤 상기 프로브(P0)로 정착물(9)의 프로브(P1-P17)에 하나씩 순차적으로 쇼트시켰을때 프로브(P1)에 닿으면 접촉저항(R)값이 쇼트저항 값으로 나타나고 나머지 프로브(P2-P17)에서는 접촉저항(R) 값이 오픈값 즉, 무한대로 나타난다.
따라서 접촉저항(R)값의 쇼트/오픈값에 따라 프로브(P1)의 위치를 쉽게 찾을 수 있다.
상기 프로브(P1)값을 데이타처리부(11)의 앰프(4)를 통해 증폭하고 샘플홀드부(5)를 거쳐 아날로그 표본값을 유지하여 A/D변환기(6)에서 디지탈신호로 변환시켜 컴퓨터(7)에 인가하여, 상기 컴퓨터(7)에서 이를 제어하여 정착물(9)상의 프로브(P1)를 접촉저항(R)값으로 알아 검색하게 되는 것이다.
나머지 다른 프로브(P2-P17)의 위치도 상기한 방법으로 쉽게 찾을 수 있다.
상술한 바와 같이 본 고안은 피씨비 생산 현장에서 인 써키트 테스터(ICT)를 사용할때 정착물(FIXTURE)은 꼭 필요하므로 프로브(특정핀)의 위치를 신속, 정확하게 확인하므로서 검색시간을 절약하여 생산성을 향상시킬 수 있는 것이다.

Claims (2)

  1. 정전압을 발생하는 정전압회로(1)와 인가된 정전압을 설정된 기준전압과 비교하여 출력하는 기준전압용 정전압회로(2)와 상기 정전압회로(1)와 기준전압용 정전압회로(2)에서 인가된 전압을 전류로 변환하는 정전류회로(3)로 된 정전류저항측정부(10)와, 프로브접촉단자(P0)와 정착물(9)의 각각의 프로브(P1-P17)를 연결하여 접촉저항(R)을 측정하기 위해 릴레이(A0-A18)(B0-B18)로 된 멀티플렉서(8)와, 상기 멀티플렉서(8)를 통해 측정된 전압을 증폭하는 앰프(4)와 아날로그신호의 표본값을 유지하는 샘플, 홀드부(5)와 표본값이 유지된 아날로그신호를 디지탈신호로 바꾸는 A/D변환기(6)로 된 데이타처리부(11)와, 상기 데이타처리부(11)에서 입력된 신호에 의해 프로브(P1-P17)를 검색하는 컴퓨터(7)를 구비한 것을 특징으로 하는 피씨비 자동 검사기 핀 검색장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 멀티플렉서(8)는, 릴레이(A0-A18)(B0-B18)로 구성한 것을 특징으로 하는 피씨비 자동 검사기 핀 검색장치.
KR92011063U 1992-06-20 1992-06-20 피씨비(pcb) 자동 검사기(ict) 핀 검색장치 KR950007504Y1 (ko)

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