KR0177218B1 - 기판자동검사기의 핀 검색방법 - Google Patents
기판자동검사기의 핀 검색방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR0177218B1 KR0177218B1 KR1019950018227A KR19950018227A KR0177218B1 KR 0177218 B1 KR0177218 B1 KR 0177218B1 KR 1019950018227 A KR1019950018227 A KR 1019950018227A KR 19950018227 A KR19950018227 A KR 19950018227A KR 0177218 B1 KR0177218 B1 KR 0177218B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- pin
- fixture
- search
- low
- open
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
본 발명은 인쇄회로기판 검사 작업중에 픽스쳐상의 핀(PIN) 접촉 불량이나 스위칭보드의 접촉 불량을 제어 프로그램에 의해 간단하게 검색하기 위한 기판 자동 검사기의 핀검색 방법에 관한 것으로, 인쇄회로기판의 테스트 상태를 준비하는 단계와, 상기 준비상태가 완료되면 스위칭부(40)와 픽스쳐부(50)의 핀 검색을 선택하는 단계와, 핀 검색을 하여 선택된 핀을 클리어시켜 초기화 하는 단계와, 핀번호 출력을 위한 화면 멧세지를 모니터에 표시하는 단계와, 픽스쳐상의 로우핀 및 하이핀을 선택하는 단계와, ESC키를 치면 핀검색 선택 단계로 복귀되어 검색을 완료하고 ESC키를 치지 않으면 선택된 로우핀 또는 하이핀의 쇼트/오픈을 측정하는 단계와, 쇼트/오픈을 측정하여 오픈이면 픽스쳐상의 로우및 하이핀을 선택하는 단계부터 수행하고 쇼트이면 모니터에 핀번호를 출력하는 단계와, 하이핀 측정시 출력된 핀번호를 초기화시켜 상기 픽스쳐상의 로우핀 및 하이핀을 선택하는 단계부터 반복 하도록 하여 빠른 시간내에 픽스쳐 상의 접촉핀이나 스위칭부의 핀 접촉상태 및 핀번호를 정확하게 검색하여 신뢰성을 향상시킬 수 있는 것이다.
Description
제1도는 기판 자동 검사기의 시스템을 보인 구성 블럭도.
제2도는 본 발명에 따른 기판 자동 검사기의 핀 검색 방법을 해결하기 위한 동작 순서도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 컴퓨터 20 : 입, 출력포트
30 : 측정부 40 : 스위칭부
50 : 픽스쳐(FIXTURE)부
본 발명은 인쇄회로기판(PCB)을 자동으로 검사하기 위한 기판 자동 검사기(INCIRCUIT TESTER : ICT)에 관한 것으로, 특히 인쇄회로기판 검사 작업중에 픽스쳐상의 핀(PIN) 접촉 불량이나 스위칭보드의 접촉 불량을 제어 프로그램에 의해 간단하게 검색하기 위한 기판 자동 검사기의 핀 검색 방법에 관한 것이다.
보다 상세하게는 기판 자동 검사기 픽스쳐 상의 접촉핀이나 스위칭부의 핀 접촉상태 및 핀번호를 검색할 수 있도록 한 것이다.
종래에는 인쇄회로기판을 검사하기 위한 기판 자동 검사기에서 핀 접촉상태 및 핀번호를 알아내기 위해서는 컴퓨터(10)에 자기진단 기능을 설정하여 컴퓨터(10)가 측정부(30)를 통해 스위칭부(40) 릴레이의 온/오프 여부를 테스트하여 릴레이 불량상태를 찾아내었으나, 이는 스위칭부(40)나 픽스쳐부(50)의 핀 접촉상태 및 연결와이어 이상유,무를 판별하지 못했던 것이다.
또한 스위칭부(40)와 픽스쳐부(50)의 핀 접촉상태 및 와이어 불량상태를 확인 하기 위하여 L(코일)C(코덴서)R(저항)메타를 이용하여 작업자가 수작업으로 스위칭부(40)와 픽스쳐부(50)의 핀 접촉상태 및 와이어 불량상태를 확인 하였으나, 이는 측정시간이 많이 걸리고 작업자의 숙련도에 따라 연결 와이어가 뒤바뀔 수 있어 핀번호가 틀려지는 경우가 종종 발생하였던 것이다.
본 발명에서는 상기한 제반결점을 해소하기 위한 것으로, 인쇄회로기판 검사 작업중에 핀(PIN) 접촉 불량이나 스위칭보드의 접촉 불량을 제어 프로그램에 의해 간단하게 검색하여 빠른 시간내에 픽스쳐 상의 접촉핀이나 스위칭부의 핀 접촉상태 및 핀번호를 정확하게 검색할 수 있는 방법을 제공하여 신뢰성을 향상시킴에 그 목적이 있다.
이를 첨부 도면에 의해 설명한다.
기판 자동 검사기의 핀검색 방법은 다음과 같이 제어된다.
인쇄회로기판(PCB)의 테스트 상태를 준비하는 단계와, 상기 준비상태가 완료되면 스위칭부(40)와 픽스쳐부(50)의 핀 검색을 선택하는 단계와, 핀 검색을 하여 선택된 핀을 클리어시켜 초기화 하는 단계와, 핀번호를 출력을 위한 멧세지를 모니터에 표시하는 단계와, 픽스쳐QN(50)상의 로우핀 및 하이핀을 선택하는 단계와, ESC키를 치면 핀검색 선택 단계로 복귀되어 검색을 완료하고 ESC키를 치지 않으면 선택된 로우핀 또는 하이핀의 쇼트/오픈을 측정하는 단계와, 쇼트/오픈을 측정하여 오픈이면 픽스쳐부(50)상의 로우핀 및 하이핀을 선택하는 단계부터 수행하고 쇼트이면 모니터에 핀번호를 출력하는 단계와, 출력된 핀번호를 초기화시켜 상기 픽스쳐부(50)상의 로우핀 및 하이핀을 선택하는 단계부터 반복하는 단계로 이루어진다.
이하 첨부된 도면에 의하거여 본 발명에 따른 작용 및 효과를 설명한다.
제2도는 본 발명에 따른 기판 자동 검사기의 핀 검색 방법을 해결하기 위한 동작 순서도이다.
단계 201에서, 기판 자동 검사기(ICT)를 이용하여 인쇄회로기판(PCB)의 테스트 상태를 준비한다.
상기 테스트상태가 준바되면 단계202에서, 컴퓨터(10)의 키보드 조작에 의해 스위칭부(40)와 픽스쳐부(50)의 핀 검색 기능을 선택한다.
상기 핀 검색 기능이 선택되면 단계203에서, 컴퓨터(10)는 검색하고자하는 모든 피을 클리어시켜 초기화 시키고 단계204에서, 초기화된 핀번호의 출력을 위한 멧세지를 모니터 화면에 표시한다.
모니터 화면에 멧세지가 표시되면 단계 205에서, 스위칭부(40)나 픽스쳐부(50)의 로우핀(LOW PIN)이나 하이핀(HIGH PIN)을 선택한다.
이때 단계206에서, 작업자가 컴퓨터(10) 키보드상의 ESC키를 누르면 단계202로 빠져나가 핀 검색을 완료하고 작업자가 컴퓨터(10) 키보드상의 ESC키를 누르지 않으면, 단계207에서, 핀 검색용 핀이나 와이어로 스위칭부(40)가 이와 연결된 픽스쳐부(50)의 1번 핀에다 한쪽 핀을 꼽고 다른쪽 핀을 검색하고 싶은 픽스쳐부(50)상의 핀이나 스위칭보드(40)에 갖다대면 그 핀이 몇번 핀인지 아니면 오픈 및 쇼트 되었는지를 측정한다.
그 측정방법은 신호 공급원인 하이핀을 1번핀으로 고정시키고 로우핀을 2번핀에서 마지막 핀까지 증가시키며 선택한다.
즉, 하이핀을 통한 측정 신호원이 로우핀을 찾아 대기하게 되고 검색을 위한 연결시켜 놓은 와이어들 픽스쳐부(50)상의 임의의 핀이나 스위칭부(40)의 임의의 핀에 연결하게 되면 그 연결된 로우핀으로 신호원이 흐르게 되고 측정결과 쇼트 판정이 나고 나머지는 오픈으로 처리된다.
상기 측정결과 쇼트 판정이 나고 나머지는 오픈으로 처리되면 단계208에서, 오픈시에는 상기 단계205부터 반복 수행토록하고 쇼트시에는 단계209에서, 쇼트로 판별된 핀번호를 모니터 화면에 출력하여 표시한다.
상기 쇼트로 판별된 핀 번호를 모니터 화면에 출력하여 표시되면 댄계210에서, 핀을 초기화시켜 오픈시를 측정하기 위하여 상기 단계205부터 반복 수행한다.
상술한바와 같이 본 발명은 인쇄회로기판 검사 작업중에 핀(PIN) 접촉 불량이나 스위칭보드의 접촉 불량을 제어 프로그램에 의해 간단하게 검색하여 빠른 시간내에 픽스쳐상의 접촉핀이나 스위칭부의 핀 접촉상태 및 핀번호를 정확하게 검색하여 신뢰성을 향상시킬 수 있는 것이다.
Claims (1)
- 프린트기판(PCB)상에 삽입되는 전자부품의 리드 즉, 핀의 상태를 기판자동검사기로 검색하는 방법에 있어서, 인쇄회로기판(PCB)의 테스트 상태를 준비하는 단계와, 상기 준비상태가 완료되면 스위칭부(40)와 픽스쳐부(50)의 핀 검색을 선택하는 단계와, 핀 검색을 하여 선택된 핀을 클리어 시켜 초기화하는 단계와, 핀번호출력을 위한 화면메세지를 모니터에 표시하는 단계와, 픽스쳐부(50)상의 로우핀 및 하이핀을 선택하는 단계와, ESC키를 치면 핀검색선택단계로 복귀되어 검색을 완료하고 ESC키를 치지 않으면 선택된 로우핀 또는 하이핀의 쇼트/오픈을 측정하는 단계와, 하이핀을 통한 측정신호원이 로우핀을 찾아 대기하고 핀검색을 위해 연결시켜 놓은 와이어를 픽스쳐부(50)상의 임의의 핀이나 스위칭부(40)의 임의의 핀에 연결하게 되면 그 연결된 로우핀으로 신호원이 흐르게 되고 측정결과 쇼트판정이 나고 나머지는 오픈으로 처리하도록 하는 측정을 실시하여 오픈이면 픽스쳐부(50)상의 로우핀 및 하이핀을 선택하는 단계부터 수행하고 쇼트이면 모니터에 핀번호를 출력하는 단계와, 하이핀 측정시 출력된 핀번호를 초기화시켜 상기 픽스쳐상의 로우핀 및 하이핀을 선택하는 단계부터 반복하는 것을 특징으로 하는 기판자동검사기의 핀검색방법.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950018227A KR0177218B1 (ko) | 1995-06-29 | 1995-06-29 | 기판자동검사기의 핀 검색방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950018227A KR0177218B1 (ko) | 1995-06-29 | 1995-06-29 | 기판자동검사기의 핀 검색방법 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970002352A KR970002352A (ko) | 1997-01-24 |
| KR0177218B1 true KR0177218B1 (ko) | 1999-04-01 |
Family
ID=19418808
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019950018227A KR0177218B1 (ko) | 1995-06-29 | 1995-06-29 | 기판자동검사기의 핀 검색방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR0177218B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100457332B1 (ko) * | 1997-08-19 | 2005-08-17 | 삼성전자주식회사 | 테스트 시스템을 교정검사하기 위한 기준 패키지 |
-
1995
- 1995-06-29 KR KR1019950018227A patent/KR0177218B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR970002352A (ko) | 1997-01-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3723867A (en) | Apparatus having a plurality of multi-position switches for automatically testing electronic circuit boards | |
| KR102305872B1 (ko) | 검사 시스템, 웨이퍼 맵 표시기, 웨이퍼 맵 표시 방법, 및 기록 매체에 저장된 컴퓨터 프로그램 | |
| US6389565B2 (en) | Mechanism and display for boundary-scan debugging information | |
| KR0177218B1 (ko) | 기판자동검사기의 핀 검색방법 | |
| US3946310A (en) | Logic test unit | |
| JPH085694A (ja) | ワイヤーハーネス検査装置 | |
| US11493549B2 (en) | System and method for performing loopback test on PCIe interface | |
| JP2002107417A (ja) | 半導体集積回路の試験装置及びその管理方法 | |
| JPH09203765A (ja) | ビジュアル併用型基板検査装置 | |
| US5442301A (en) | LSI test circuit | |
| US6815969B2 (en) | Semiconductor inspection device capable of performing various inspections on a semiconductor device | |
| JPH10142281A (ja) | 回路基板検査方法 | |
| JPH10170585A (ja) | 回路基板検査方法 | |
| CN221007789U (zh) | 一种fpga核心板io口检测电路和检测工装 | |
| JP3147855B2 (ja) | 実装基板の不良検査方法 | |
| JPH04315068A (ja) | プリント回路板の検査装置 | |
| KR100355716B1 (ko) | 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법 | |
| KR0177987B1 (ko) | 복수 개의 반도체 칩 테스트 방법 | |
| KR0135332B1 (ko) | 자동제어 아답터가 부착된 이중 집적회로 성능 검사장치 및 그 방법 | |
| JPH01156681A (ja) | 回路基板検査方法 | |
| JPH0495783A (ja) | 実装基板検査装置 | |
| KR950007504Y1 (ko) | 피씨비(pcb) 자동 검사기(ict) 핀 검색장치 | |
| JPS59184542A (ja) | 集積回路検査装置 | |
| KR0137697B1 (ko) | 자동시험장치에서 계측기를 이용한 부품 에러 자동탐지 장치 및 그 방법 | |
| JPH03197881A (ja) | インサーキットテスタにおける不良データの出力表示方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |