KR970002352A - 기판 자동 검사기(in-circuit tester : ict)의 핀(pin) 검색 방법 - Google Patents

기판 자동 검사기(in-circuit tester : ict)의 핀(pin) 검색 방법 Download PDF

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KR970002352A
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Abstract

본 발명은 인쇄회로기판 검사 작업중에 픽스쳐상의 핀(PIN) 접촉 불량이나 스위칭보드의 접촉 불량을 제어프로그램에 의해 간단하게 검색하기 위한 기판 자동 검사기의 핀 검색 방법에 관한 것으로, 인쇄회로기판의 테스트 상태를 준비하는 단계와, 상기 준비상태가 완료되면 스위칭부(40)와 픽스쳐부(50)의 핀 검색을 선택하는 단계와, 핀 검색을 하여 선택된 핀을 클리어시켜 초기화 하는 단계와, 핀번호 출력을 위한 화면 멧세지를 모니터에 표시하는 단계와, 픽스쳐상의 "로우"핀 및 "하이"핀을 선택하는 단계와, ESC키를 치면 핀검색 선택 단계로 복귀되어 검색을 완료하고 ESC키를 치지 않으면 선택된 로우핀 또는 하이핀의 쇼트/오픈을 측정하는 단계와, 쇼트/오픈을 측정하여 오픈이면 픽스쳐상의 "로우"핀 및 "하이"핀을 선택하는 단계부터 수행하고 쇼트이면 모니터에 핀번호를 출력하는 단계와, "하이"핀 측정시 출력된 핀번호를 초기화시켜 상기 픽스쳐상의 "로우"핀 및 "하이"핀을 선택하는 단계부터 반복 하도록 하여 빠른 시간내에 픽스쳐상의 접촉핀이나 스위칭부의 핀 접촉상태 및 핀번호를 정확하게 검색하여 신뢰성을 향상시킬 수 있는 것이다.

Description

기판 자동 검사기(IN-CIRCUIT TESTER : ICT)의 핀(PIN) 검색 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 기판 자동 검사기의 시스템을 보인 구성 블럭도, 제2도는 본 발명에 따른 기판 자동 검사기의 핀검색 방법을 해결하기 위한 동작 순서도.

Claims (1)

  1. 기판 자동 검사기의 핀 검색 방법에 있어서, 인쇄회로기판(PCB)의 테스트 상태를 준비하는 단계와, 상기 준비상태가 완료되면 스위칭부(40)와 픽스쳐부(50)의 핀 검색을 선택하는 단계와, 핀 검색을 하여 선택된 핀을 클리어시켜 초기화 하는단계와, 핀번호 출력을 위한 화면 멧세지를 모니터에 표시하는 단계와, 픽스쳐QN(50)상의 "로우"핀 및 "하이"핀을 선택하는 단계와, ESC키를 치면 핀검색 선택 단계로 복귀되어 검색을 완료하고 ESC키를 치지 않으면 선택된 "로우"핀 또는 "하이"핀의 쇼트/오픈을 측정하는 단계와, 쇼트/오픈을 측정하여 오픈이면 픽스쳐부(50)상의 "로우"핀 및 "하이"핀을 선택하는 단계부터 수행하고 쇼트이면 모니터에 핀번호를 출력하는 단계와, "하이"핀 측정시 출력된 핀번호를 초기화시켜 상기 픽스쳐상의 "로우"핀 및 "하이"핀을 선택하는 단계부터 반복하는 것을 특징으로 하는 기판 자동 검사기의 핀 검색 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950018227A 1995-06-29 1995-06-29 기판자동검사기의 핀 검색방법 KR0177218B1 (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100457332B1 (ko) * 1997-08-19 2005-08-17 삼성전자주식회사 테스트 시스템을 교정검사하기 위한 기준 패키지

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KR100457332B1 (ko) * 1997-08-19 2005-08-17 삼성전자주식회사 테스트 시스템을 교정검사하기 위한 기준 패키지

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