KR940004335A - 매트릭스를 이용한 칩 테스터 - Google Patents

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KR940004335A
KR940004335A KR1019920014580A KR920014580A KR940004335A KR 940004335 A KR940004335 A KR 940004335A KR 1019920014580 A KR1019920014580 A KR 1019920014580A KR 920014580 A KR920014580 A KR 920014580A KR 940004335 A KR940004335 A KR 940004335A
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KR
South Korea
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chip
matrix
testing
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present
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KR1019920014580A
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Inventor
김영일
Original Assignee
문정환
금성일렉트론 주식회사
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Abstract

본 발명은 매트릭스를 이용한 칩 테스터에 관한 것으로, 종래에는 입출력은 같지만 핀 배열순서가 다른 칩의 비교시 보드상에서 테스트하려면 점퍼선을 사용하여 핀 매칭이 되도록 변경하여야 함으로 회로가 복잡하고 사용이 불편한 문제점이 있었다.
본 발명은 이러한 점을 감안하여, 칩간의 핀 배열이 다른 경우 매트릭스 기판을 사용하여 기판위에서 점퍼를 사용하여야 하는 부분을 누름스위치를 사용하여 간편하게 조작함으로써 신속하고 정확하게 테스트할 수 있게 된다.

Description

매트릭스를 이용한 칩 테스터
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 일반적인 IC칩의 핀 배열을 보인 설명도,
제2도는 제1도에 대한 각 칩간의 핀 매칭을 보인 상관도,
제4도는 본 발명 매트릭스를 이용한 칩 테스터의 구성도.

Claims (1)

  1. 핀 배열이 다른 칩을 꽂아 테스트하기 위한 칩소켓부(10)와, 보드(Board)상에 꽂은 칩을 상기 칩소켓부(10)와 칩과 비교 테스트 하기 위한 칩 테스팅부(20)와, 이 칩테스팅부(20)의 핀에 상기 칩소켓부(10)의 핀을 매칭시켜주는 매트릭스 스위칭부(30)로 구성함을 특징으로하는 매트릭스를 이용한 칩테스터.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019920014580A 1992-08-13 1992-08-13 매트릭스를 이용한 칩 테스터 KR940004335A (ko)

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